JPH0557631U - 電子上皿天秤 - Google Patents
電子上皿天秤Info
- Publication number
- JPH0557631U JPH0557631U JP20792U JP20792U JPH0557631U JP H0557631 U JPH0557631 U JP H0557631U JP 20792 U JP20792 U JP 20792U JP 20792 U JP20792 U JP 20792U JP H0557631 U JPH0557631 U JP H0557631U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- balance
- coil body
- coil
- test piece
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Coating With Molten Metal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電磁波の影響を受けない電子上皿天秤を提供
する。 【構成】 支持台1に支持されて磁極ギャップ2a間に
上下動自在とされるコイル体6を配置した複数の永久磁
石2と、この永久磁石2を貫通して上下動自在に設けら
れて上端部に試験片Sを載置する上皿4をまた下端部に
コイル体6を固定するコイル支持架台5をそれぞれ取付
けた上皿支持部材3と、コイル体6に電流を供給する直
流電源8と、コイル体6に流れる電流を測定する電流計
9と、コイル支持架台5の高さ位置を検出する位置検出
器11とからなる電子上皿天秤12の上皿4に、電磁シール
ド機能材料で製作された容器13を搭載することにより、
溶融亜鉛めっき鋼板などの強磁性材料の試験片Sの質量
測定時に電磁波の影響を受けることなく、正確に測定す
ることができる。
する。 【構成】 支持台1に支持されて磁極ギャップ2a間に
上下動自在とされるコイル体6を配置した複数の永久磁
石2と、この永久磁石2を貫通して上下動自在に設けら
れて上端部に試験片Sを載置する上皿4をまた下端部に
コイル体6を固定するコイル支持架台5をそれぞれ取付
けた上皿支持部材3と、コイル体6に電流を供給する直
流電源8と、コイル体6に流れる電流を測定する電流計
9と、コイル支持架台5の高さ位置を検出する位置検出
器11とからなる電子上皿天秤12の上皿4に、電磁シール
ド機能材料で製作された容器13を搭載することにより、
溶融亜鉛めっき鋼板などの強磁性材料の試験片Sの質量
測定時に電磁波の影響を受けることなく、正確に測定す
ることができる。
Description
【0001】
本考案は、電子上皿天秤に関する。
【0002】
従来から鉄鋼製品に施した溶融亜鉛めっきの付着量測定については、日本工業 規格(JIS H 0401)の規定に基づいてなされており、とくに薄板製品では塩化ア ンチモン法が用いられる。この塩化アンチモン法による測定は、図3に示すよう に、つぎの手順によってなされる。
【0003】 すなわち、大きな薄板製品から直径64.5mmまたは57.2×57.2mmの試験片を採 取して清浄にし、この試験片を見込み付着量の1%まで質量測定する。試験 片を規定の塩化アンチモン溶液に浸漬してめっき層が溶解して除去されたら取り 出し、水洗して綿布でよくぬぐった後、十分に乾燥して、再び質量を測定す る。溶解前後における質量の減量値を試験片のめっき表面積で除して求めたの を付着量とするのである。
【0004】 近年では、表裏で異なるめっき付着量の製品もあり、表裏のそれぞれの付着量 を求める必要がほとんどであるので、このようなときは片面をシールして、露出 した面を測定対象にして上記した手順に準じて質量測定がなされるのである。 その質量測定に用いる天秤としては、その種類や精度については前記したJIS 規格には特に規定されておらず、0.01gまで測れればよいとしている。この0.01 gという値は、付着量が100 g/m2程度の試験片を表裏同時に溶解した場合の全付 着量の1%から規定された測定下限である。しかし、近年の製造技術の進歩によ り溶融亜鉛めっきは薄目付けになっており、50g/m2程度の製品も出現しているこ とから、たとえば表裏それぞれの付着量の1%まで測定するには、0.01gまで正 確に測定する必要がある。
【0005】 従来用いられている天秤には、上皿等比天秤や化学直示天秤,電子上皿天秤な どがある。しかし、上皿等比天秤や化学直示天秤は基準分銅やマイクロメータな どによる煩わしい秤量作業とか試験室の空調整備などの環境的制約を要するのに 対し、電子上皿天秤はマイクロコンピュータによりデジタル表示ができ、ゼロ点 調整や感度調整あるいは風袋消去などを自動的に行えるとか、測定条件へのフィ ードバック、他の分析機器とのインターフェイスなどの多くのすぐれた機能を有 することから注目されている。
【0006】 この電子上皿天秤の構成を、図4の模式図を用いて説明する。すなわち、支持 台1に支持された2個の永久磁石2,2の間を上下動自在に貫通する棒状の上皿 支持部材3の上端部に試験片Sを載置する上皿4が取付けられ、またその下端部 に設けられたコイル支持架台5には永久磁石2の磁極ギャップ2a間を上下動自 在とされるコイル体6,6が取付けられる。このコイル体6,6は回線7によっ て直流電源8と直列に接続され、回線7の途中には電流計9が接続される。なお 、上皿支持部材3は上皿4とコイル支持架台5にその一端が固定されるパラレル ガイド10によって常に垂直に保たれ、またコイル支持架台5にはその高さ位置を 検出する位置検出器11が取付けられている。
【0007】 この電子上皿天秤12で試験片Sの質量を測定するときの動作について説明する と、まず予め位置検出器11でコイル体6の高さ位置を測定してから、上皿4に試 験片Sを載置する。そうすると、試験片Sの重みでコイル体6が押し下げられる が、このとき直流電源8からコイル体6に電流を流すことにより試験片Sは上方 へ持ち上げられる力が働くことになる。いま、磁極ギャップ2a間における磁場 の強さをBとし、コイル体6に流す電流をIとしたとき、試験片Sに作用する持 ち上げ力FはF=L・B・I(ここで、Lはコイル体6によって決まる定数)で 演算される値だけ誘起される。そこで、コイル体6が元の高さ位置まで持ち上が ったときの電流値Iと持ち上げ力Fとは比例関係にあることから、電流計9で電 流値Iを測定することにより、試験片Sの質量が求められることになる。
【0008】
ところで、電子上皿天秤12を用いて溶融亜鉛めっき鋼板の試験片Sを測定する 場合に、測定値にバラツキが生じて測定精度がよくないという問題がある。すな わち、溶融亜鉛めっき鋼板は強磁性材料の一種であるから、その試験片Sは鉄の 結晶配列がわずかながら方向性を有する。それゆえ、上皿4に置く方向によって は磁極ギャップ2aとコイル体6に発生する電磁波の影響を受けて質量の表示が 異なることになり、測定精度を著しく損なうのである。
【0009】 本考案は、このような課題を解決した電子上皿天秤を提供することを目的とす る。
【0010】
本考案は、支持台に支持されて磁極ギャップ間に上下動自在とされるコイル体 を配置した複数の永久磁石と、この永久磁石を貫通して上下動自在に設けられて 上端部に試験片を載置する上皿を下端部に前記コイル体を固定するコイル支持架 台をそれぞれ取付けた上皿支持部材と、前記コイル体に電流を供給する直流電源 と、前記コイル体に流れる電流を測定する電流計と、前記コイル支持架台の高さ 位置を検出する位置検出器とからなる電子上皿天秤において、前記上皿に搭載す る電磁シールド機能材料で製作された容器を備えたことを特徴とする電子上皿天 秤である。なお、前記上皿を電磁シールド機能材料で製作するようにしてもよい 。
【0011】
本考案によれば、電子上皿天秤で試験片の質量を測定する際に、電磁シールド 機能を有する材料で製作された容器を上皿の上に載せ、その上に試験片を載置す るようにしたので、電磁波の影響を受けることなく試験片の質量を正確に測定す ることができる。なお、上皿そのものの材質を電磁シールド機能を有する材料で 製作するようにしても同等の作用効果を奏する。
【0012】
以下に、本考案の実施例について、図面を参照して説明する。図1は本考案の 実施例を模式的に示す構成図で、従来例と同一部材は同一符号を付している。図 において、13は電磁シールド機能を有する材料で製作された箱状の容器であり、 電子上皿天秤12を用いて溶融亜鉛めっき鋼板などの強磁性材料の試験片Sの質量 を測定しようとする場合は、この容器13を上皿4に搭載して風袋消去し、その後 容器13の中に試験片Sを収納して、従来と同様の手順で試験片Sの質量測定を行 って、そのめっき付着量を求めるのである。この容器13の製作に用いられる電磁 シールド機能材料としては、たとえば電解鉄シートにめっきなどの防錆処理を施 したものなどが選定される。
【0013】 なお、この容器13については上記した箱状の実施例に限るものではない。すな わち、図2(a) に示すように容器13と同一材質の上蓋14を設けた容器13Aにすれ ば、完璧な電磁シールド効果を得ることができる。あるいは、たとえば図2(b) のように上皿4に密着した皿状の容器13Bとしてもよいし、図2(c) のように大 きな試験片S′が入るような形状の容器13Cとしてもよい。また、容器13そのも のを電磁シールド機能を有する材料で構成するようにしても同等の作用効果を奏 することはいうまでもない。
【0014】 直径64.5mmの溶融亜鉛めっき鋼板の試験片SをJIS H 0401規格での塩化アンチ モン法に従って付着量を測定する際に、その測定範囲が0〜100 g,最小表示が 0.0001gで、上皿4の材質がステンレスの電子上皿天秤12を用いた。このとき、 電解鉄シートにZnめっきを施し有機樹脂で覆った電磁シールドシートを電磁シー ルド機能材料として用い、前出の図2(a) に示した上蓋付容器13Aと図2(b) に 示した皿状容器13Bとをそれぞれ製作して測定に供した。また、試験片Sの載置 する角度を試験片Sの圧延方向を0°として、時計方向に90°づつ回転させて計 4回の測定を行った。
【0015】 上蓋付容器13Aでの測定データを本考案例1とし、皿状容器13Bでの測定デー タを本考案例2として表1にそれぞれ示した。なお、比較のために、電磁シール ド機能材料を用いない従来法で同様に試験片Sを回転させて質量を測定したデー タを従来例とし、化学直示天秤による測定結果とともに併せて表1に示した。
【0016】
【表1】
【0017】 この表から明らかなように、従来法では各測定間にはバラツキRが0.0083gも あるのに対し、本考案例1においては試験片Sの方向による差がまったくないこ とがわかる。また、本考案例2においてもそのバラツキR0.0001gであって、こ の値は付着量50g/m2の製品においても最大で0.1 %と極くわずかでめっき付着量 の1%まで測定する上で実用上まったく問題がない。さらに、本考案の電子上皿 天秤の測定結果はいずれも、化学直示天秤と同等の正確さで測定できる。
【0018】
本考案の電子上皿天秤によれば、たとえ強磁性材料の試験片であってもその載 置の方向に関係なく正確な質量測定ができるから、製品の品質管理の向上に寄与 することが可能である。
【図1】本考案の実施例を模式的に示す構成図である。
【図2】(a) ,(b) ,(c) は本考案の容器の他の実施例
を示す側断面図である。
を示す側断面図である。
【図3】塩化アンチモン法による測定手順を示す流れ図
である。
である。
【図4】電子上皿天秤の従来例を模式的に示す構成図で
ある。
ある。
1 支持台 2 永久磁石 3 上皿支持部材 4 上皿 5 コイル支持架台 6 コイル体 7 回線 8 直流電源 9 電流計 10 パラレルガイド 11 位置検出器 12 電子上皿天秤 13 容器 14 上蓋 S 試験片
Claims (2)
- 【請求項1】 支持台に支持されて磁極ギャップ間に
上下動自在とされるコイル体を配置した複数の永久磁石
と、この永久磁石を貫通して上下動自在に設けられて上
端部に試験片を載置する上皿を下端部に前記コイル体を
固定するコイル支持架台をそれぞれ取付けた上皿支持部
材と、前記コイル体に電流を供給する直流電源と、前記
コイル体に流れる電流を測定する電流計と、前記コイル
支持架台の高さ位置を検出する位置検出器とからなる電
子上皿天秤において、前記上皿に搭載する電磁シールド
機能材料で製作された容器を備えたことを特徴とする電
子上皿天秤。 - 【請求項2】 前記上皿が電磁シールド機能材料で製
作されたものであることを特徴とする請求項1記載の電
子上皿天秤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20792U JPH0557631U (ja) | 1992-01-08 | 1992-01-08 | 電子上皿天秤 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20792U JPH0557631U (ja) | 1992-01-08 | 1992-01-08 | 電子上皿天秤 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0557631U true JPH0557631U (ja) | 1993-07-30 |
Family
ID=11467528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20792U Pending JPH0557631U (ja) | 1992-01-08 | 1992-01-08 | 電子上皿天秤 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0557631U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020148761A (ja) * | 2019-03-11 | 2020-09-17 | メトラー−トレド ゲーエムベーハー | コンパクトな直接測定システム |
| WO2026017324A1 (en) * | 2024-07-16 | 2026-01-22 | Metryx Ltd. | Apparatus for determining information relating to the weight or mass of a wafer |
-
1992
- 1992-01-08 JP JP20792U patent/JPH0557631U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020148761A (ja) * | 2019-03-11 | 2020-09-17 | メトラー−トレド ゲーエムベーハー | コンパクトな直接測定システム |
| WO2026017324A1 (en) * | 2024-07-16 | 2026-01-22 | Metryx Ltd. | Apparatus for determining information relating to the weight or mass of a wafer |
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