JPH0562848U - 分光光度計用治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】高精度なヘイズ率を算出することができる分光
光度計のサンプル移動用治具。 【構成】分光光度計の光源１からの光を、サンプル基板
２を光源１側に設置したときと、積分球４側に設置した
ときの二箇所でされぞれ直線透過光と拡散透過光を測定
する。この時、サンプル基板２を移動させるための治具
としてガイド手段が設けられる。該ガイド手段は、上
側、及び下側ガイドレール１４、１５、或いはガイド溝
２２、またはガイド凸部名などが用いられ、上記サンプ
ル基板２はガイド手段に合った形状の褶動手段が形成さ
れる。そして、上記ガイド手段の向きは測定光の方向に
予め調整される。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は積分球を用いた分光光度計に関し、特に同一サンプル基板の直線透過 率、拡散透過率を測定するのに好適な分光光度計用治具に関する。

【０００２】

【従来の技術】

分光光度計は、透明薄膜材料などの物性を測定する一つの項目として、サンプ ル表面の荒さの基準となるヘイズ率算出に用いられる場合がある。従来、上記分 光光度計を用いたヘイズ率算出方法を図６及び図７に示す分光光度計の概念図に したがって説明する。即ち、図６において、光源１から発した光はサンプル基板 ２を透過し、そのうち直線透過光３は積分球４内に入光し、その他は散乱光５と なって散乱される。そしてこの時、直線透過率が測定される。尚、サンプル基板 ２は一般に両面テープ６によって固定される。

【０００３】 次に、図７に示すごとく、サンプル基板２は積分球４の直前に移動させ、両面 テープ６によって固定する。そして、サンプル基板２を透過した光の透過率を測 定することにより、基板表面での散乱光５を含めた透過率を測定することができ る。この様に、前者の直線透過光３と、後者の散乱光５を含めた透過光、即ち拡 散透過光の２種類の透過光を測定することにより、下記の式から上記したヘイズ 率を算出するものである。即ち、 Ｈ：ヘイズ率 Ａ：拡散透過光 Ｂ：直線透過光 とすると、 Ｈ＝Ａ−Ｂ／Ｂ・１００ で表される。 この様にして、透明な薄膜材料の表面の荒さが算出される。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

上記したヘイズ率の値を正確に算出するためには、常に光源からの光をサンプ ル上の同一点に入射させる必要が有る。しかしながら、拡散透過光及び直線透過 光を（或いは透過率）測定するためには、図６及び図７に示すごとく、上記サン プル基板を移動させる必要がある。そして、従来の上記サンプル基板の移動方法 は両面テープを用いて手作業で行っていた。したがって、積分球側から所定距離 に設置されたサンプル基板を両面テープから剥がし、更にこれを積分球側に移動 させて両面テープ上に貼り付ける時、サンプル基板の移動前と移動後の光の入射 点を一致させる事は非常に困難であり、又、光の入射点を一致させるための調整 作業に長時間を要していた。

【０００５】 本考案は上記した課題を解決するために成されたものであって、その目的とす るところは、高精度なヘイズ率を算出することができる分光光度計用治具を提供 する事に有る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

前記問題点を解決するために、本考案では、光源からの光をサンプルに照射さ せ、該サンプルを透過した透過光を積分球に照射させて光の透過率を上記サンプ ルを保持するサンプルホルダーを上記光源側から上記積分球側へ治具でもって移 動させて測定する分光光度計用治具において、上記光源側と上記積分球側との間 に上記サンプルホルダーを平行移動させるためのガイド手段と、該ガイド手段は そのガイド方向が上記光源から上記サンプルを透過して上記積分球へ照射される 透過光のうち測定光に平行に構成されていると共に上記サンプルホルダーに上記 ガイド手段に沿って褶動可能な褶動手段とを備えたことを特徴とする分光光度計 用治具。

【０００７】

【作用】

本考案の分光光度計用治具では、分光光度計の光源側と積分球側との間にガイ ド手段を設け、該ガイド手段のガイド方向を、上記光源から発した光がサンプル を透過して積分球へ入射する光のうち、測定光と平行になるように予め設定して いるため、又、サンプルが保持されているサンプルホルダーに上記ガイド手段に 沿って褶動するための褶動手段が備えられているため、上記サンプルは完全に平 行移動されることになる。したがって、上記サンプルが光源側と積分球側とで受 ける光のスポットは全く同一箇所となる。この事は、サンプルの測定位置を変え て各種の透過光を測定し、サンプルの表面荒さを測定するような場合、高精度の 測定が可能となり、更にサンプルの移動が簡単に行えるため、測定時間が著しく 短縮されることになる。

【０００８】

【実施例】

本考案の一実施例を図１、図２、図３に示し、以下図面にしたがって説明する 。即ち、従来例で説明したように、分光光度計を用いて直線透過光と、拡散透過 光を測定する場合、光源１からの光はサンプル基板２の位置にかかわらず、常に サンプル基板２上の同一箇所にスポットを当てる必要がある。そのために、本考 案は図１に示すように、サンプル基板２をその両面を挟むようにして支える支え 板７と、該支え板７を固定するボルト８とからなるサンプルホルダー９と、該サ ンプルホルダー９を光源１側から積分球４の間を平行移動させるためのガイド手 段であるホルダー取り付け治具１０とを備えるものである。

【０００９】 図２は上記サンプルホルダー９を詳細に説明するための分解斜視図であり、図 ３は上記ホルダー取り付け治具１０の斜視図である。図２において、サンプルホ ルダー９は、二枚の支え板７でもってサンプル基板２を両側で挟持するごとくボ ルト８によって固定され、上記支え板７には光を通過させるための穴１３がそれ ぞれ形成されている。そして、サンプルホルダー９は図３に示すように、褶動手 段である上側ガイドレール１４を貫通させるための貫通孔１１と、下側ガイドレ ール１５上をスライド可能に形成されたガイド溝１２が形成され、それによって 、サンプルホルダー９は図１の矢印に示すように光源１側から積分球４側、或い はその逆方向へ円滑に平行移動が可能となる。

【００１０】 次に、図３に示すホルダー取り付け治具１０の斜視図について説明する。即ち 、前述した上側ガイドレール１４と下側ガイドレール１５は一体的に形成され、 且つ四隅に立てられた支柱１６によって固定されている。特に上側ガイドレール １４は上記サンプルホルダー９を着脱自在とするために、一方の側に同図円内の 拡大図に示すごとく、バネ押さえ金具１７を設け、バネ１８でもって常時上側ガ イドレール１４が図の矢印方向に押圧力が作用するように構成されている。この ように構成することにより、上側ガイドレール１４を図の矢印方向とは逆方向に バネ１８に抗して引けば、上側ガイドレール１４の他端は支柱１６から離れる事 になり、それによって生ずる間隙を通して、サンプルホルダー９の着脱操作がお こなはれる。尚、上側ガイドレール１４の他端が支柱１６に当接する部分に、予 め凹部を形成しておけば、サプルホルダー９の装着後であっても該ホルダー９の 平行移動は安定して行う事ができる。又、ホルダー取り付け治具１０は治具取り 付け金具１９によって固定され、更に該金具１９は上記分光光度計本体に固定さ れる。

【００１１】 図４は本考案の他の実施例を示す斜視図である。図から明らかなように、サン プルホルダー９はサンプル基板２を挟持した上記ホルダー９の両側にそれぞれ２ 段にわたって凸部２０が形成される。そして、ホルダー取り付け治具１０側は上 記凸部２０に対抗する対抗壁２１を両側に設けると共に、該対抗壁２１の内側に ガイド溝２２が形成され、それによって、上記凸部２０を備えたサンプルホルダ ー９は上記ガイド溝２２に沿って平行移動が可能となる。尚、上記対抗壁２１の 中間部に相対抗して形成された縦溝２３は、サンプルホルダー９を着脱させるた めのものである。

【００１２】 図５は本考案の更に他の実施例を示す斜視図である。図から明らかなように、 サンプルホルダー９はサンプル基板２を挟持したその両側に凹部２４が形成され る。一方、ホルダー取り付け治具１０側は、図４で説明した対抗壁２１に上記サ ンプルホルダー９の凹部２４に対抗する位置にガイド凸部２５が形成され、それ によって、上記サンプルホルダー９は上記ガイド凸部２５に沿って平行移動が可 能となる。又、上記ガイド凸部２５の中間部に切欠部２６を相対抗して形成して をけば、サンプルホルダー９は着脱可能となる。

【００１３】 この様に、本考案からなるホルダー取り付け治具を、光源からの直線透過光と 平行に、予め各種ガイド手段、即ちガイドレール、ガイド溝、或いはガイド凸部 の方向を設定しておけば、サンプルは上記ガイド手段に沿って容易に平行移動が 可能となり、サンプル上を照射する光のスポット位置はサンプルが移動しても変 化する事がない。又、サンプルは二枚の支え板によって挟持されているので、サ ンプルの形状、厚さなどに左右される事がなく、したがって必要以上にサンプル を細断させる事も不要となり、サンプルのセットも簡単に行う事ができる。

【００１４】

【考案の効果】

以上、説明したように、分光光度計を用いて透明薄膜サンプルの表面荒さを測 定するような場合、前述したようにサンプルを光源側と積分球側の二箇所で測定 し、しかも測定精度の上から上記二箇所の測定は光をサンプル上の同一箇所に入 射しなければならなかったものが、本考案からなるホルダー取り付け治具によっ てサンプルの平行移動が可能となり、それによって測定精度が向上すると共に、 サンプルの移動に伴うサンプル上の光のスポット合わせの調整時間は不要となり 、測定時間が著しく短縮されると言う効果も発揮する事になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案からなる分光光度計用治具の一実施例を
示す側面図である。

【図２】本考案からなるサンプルホルダーの一実施例を
示す分解斜視図である。

【図３】本考案からなるホルダー取り付け治具の一実施
例を示す斜視図である。

【図４】本考案からなる分光光度計用治具の他の実施例
を示す斜視図である。

【図５】本考案からなる分光光度計用治具の更に他の実
施例を示す斜視図である。

【図６】従来の分光光度計の概念図である。

【図７】従来の分光光度形の概念図である。

【符号の説明】

１ 光源 ２ サンプル基板 ４ 積分球 ６ 両面テープ ７ 支え板 ９ サンプルホルダー １０ ホルダー取り付け治具 １１ 貫通孔 １２、２２ ガイド溝 １４ 上側ガイドレール １５ 下側ガイドレール ２０ 凸部 ２１ 対抗壁 ２３ 縦溝 ２４ 凹部 ２５ ガイド凸部 ２６ 切欠部

Claims (1)

【整理番号】 ００３０７２２−０１ 【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】光源からの光をサンプルに照射させ、該サ
   ンプルを透過した透過光を積分球に照射させて光の透過
   率を上記サンプルを保持するサンプルホルダーを上記光
   源側から上記積分球側へ治具でもって移動させて測定す
   る分光光度計用治具において、上記光源側と上記積分球
   側との間に上記サンプルホルダーを平行移動させるため
   のガイド手段と、該ガイド手段はそのガイド方向が上記
   光源から上記サンプルを透過して上記積分球へ照射され
   る透過光のうち測定光に平行に構成されていると共に上
   記サンプルホルダーに上記ガイド手段に沿って褶動可能
   な褶動手段とを備えたことを特徴とする分光光度計用治
   具。