JPH0562869U - スペクトラム・アナライザ - Google Patents
スペクトラム・アナライザInfo
- Publication number
- JPH0562869U JPH0562869U JP348692U JP348692U JPH0562869U JP H0562869 U JPH0562869 U JP H0562869U JP 348692 U JP348692 U JP 348692U JP 348692 U JP348692 U JP 348692U JP H0562869 U JPH0562869 U JP H0562869U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- emi
- measurement
- switch
- selection
- control circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 44
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 2
- 208000032365 Electromagnetic interference Diseases 0.000 abstract 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- BNPSSFBOAGDEEL-UHFFFAOYSA-N albuterol sulfate Chemical compound OS(O)(=O)=O.CC(C)(C)NCC(O)C1=CC=C(O)C(CO)=C1.CC(C)(C)NCC(O)C1=CC=C(O)C(CO)=C1 BNPSSFBOAGDEEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 1
- 230000035559 beat frequency Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 EMI(エレクトロ・マグネティック・イン
タフェレンス)特性を測定する場合の操作性を向上させ
る。 【構成】 EMI放射ノイズ測定用選択スイッチA1 〜
A5 と、EMI雑音電圧測定用選択スイッチB1 〜B3
と、EMI雑音電力測定用選択スイッチCと、必要に応
じEMI規格選択スイッチD1 〜D4 をキーボード15
に設ける。これらの各スイッチの選択状態と対応するB
W(測定帯域幅)、RBW(リゾリューション・バンド
幅)及びリファレンス・レベルの各設定値をメモリ16
に書き込む。制御回路12は各スイッチの選択情報を検
出して、対応するBW,RBW及びリファレンス・レベ
ルとなるように各部を制御し、またEMI規格ラインを
表示する。また制御回路12は、A/D変換器の出力
に、EMIアンテナ、EMI擬似電源回路網及びEMI
クランプの各ロス分を補正し、その補正データを画像メ
モリ11に書き込み、そのデータを表示させることもで
きる。
タフェレンス)特性を測定する場合の操作性を向上させ
る。 【構成】 EMI放射ノイズ測定用選択スイッチA1 〜
A5 と、EMI雑音電圧測定用選択スイッチB1 〜B3
と、EMI雑音電力測定用選択スイッチCと、必要に応
じEMI規格選択スイッチD1 〜D4 をキーボード15
に設ける。これらの各スイッチの選択状態と対応するB
W(測定帯域幅)、RBW(リゾリューション・バンド
幅)及びリファレンス・レベルの各設定値をメモリ16
に書き込む。制御回路12は各スイッチの選択情報を検
出して、対応するBW,RBW及びリファレンス・レベ
ルとなるように各部を制御し、またEMI規格ラインを
表示する。また制御回路12は、A/D変換器の出力
に、EMIアンテナ、EMI擬似電源回路網及びEMI
クランプの各ロス分を補正し、その補正データを画像メ
モリ11に書き込み、そのデータを表示させることもで
きる。
Description
【0001】
この考案はスペクトラム・アナライザに関し、特にEMI特性測定時の操作性 の向上に関する。
【0002】
従来のスペクトラム・アナライザを図3を参照して説明する。入力端子1に入 力されたRF信号は可変減衰器2で適当なレベルに調整されてミキサ3に入力さ れ、掃引発振器4の出力と周波数混合される。ミキサ3の出力はBPF(帯域通 過ろ波器)6に入力され、両入力のビート周波数信号(中間周波数信号)が選択 されて、ステップアンプ7に入力され、適当なレベルに増幅されて、検波器8に 入力され、エンベロープ検波される。検波器8の出力はアンプ9に入力され、適 当なレベルに増幅されて、A/D変換器10に入力され、A/D変換される。A /D変換器の出力は画像メモリ11に入力され、一画面分の表示データが書き込 まれる。画像メモリ11より読み出された表示データは表示器制御回路13を通 じて表示器14に表示される。表示器制御回路13にはVBW(ビデオ帯域幅) を決めるフィルタなども含まれている。
【0003】 ランプ信号発生器5よりのこぎり歯状のランプ電圧が掃引発振器4に供給され ると共に表示器制御回路13を通じて表示器14に供給されている。また制御回 路12により各部が制御される。装置のフロントパネルには図4に示すようなキ ーボード15が設けられている。キーボード15には、中心周波数、周波数スパ ン、スタート周波数、ストップ周波数、カップルド機能、リファレンス・レベル (管面表示領域の最上位のレベル)の設定スイッチK1 〜K6 とテンキーK10が 設けられている。制御回路12は、キーボード15の各設定スイッチにより入力 された設定データを取り込んで、各部を制御する。
【0004】 被測定装置のEMI(electromagnetic interference;電波雑音干渉又は電磁 妨害)特性の測定には一般にスペクトラム・アナライザが用いられている。 (a)EMI放射ノイズの測定では、所定の位置に、所定のEMI測定用アンテ ナを設けて、被測定装置より放射される妨害電波を受信し、その受信出力をスペ クトラム・アナライザに入力する。そして中心周波数スイッチK1 と周波数スパ ンスイッチK2 (或いはスタート周波数スイッチK3 とストップ周波数スイッチ K4 )とテンキーK8 とを用いて、BW(測定帯域幅)として、例えば30M 〜80M、80M〜120M、120M〜300M、300M〜500M 、500M〜1000MHzを制御回路12に内蔵のメモリに順次設定して測 定を行う。しかし〜のいずれにおいてもBPF6の帯域(中間周波数帯域) と対応するRBW(リゾリューション・バンド幅)=120KHzに、VBW( ビデオ・バンド幅)=1MHzを前記メモリに設定する。これらの設定は、カッ プルド機能スイッチK5 を押して、画面にメニューを表示させ、例えばテンキー K10により設定する。制御回路12はこれらの設定値に基ずいて各部を制御する 。なお、管面の測定データには10〜30dBのアンテナ・ファクタ(EMIア ンテナのロス分で、アンテナの種類により異なる)が含まれていることに注意し なければならない。 (b)AC電源側にもれるEMI雑音電圧の測定では、図5に示すように被測定 装置50のAC入力コンセント51とAC電源との間に所定のEMI擬似電源回 路網52を接続し、それを介して雑音電圧をピックアップして、スペクトラム・ アナライザに入力し、放射ノイズの測定と同様な操作で、BW=9K〜150 K、RBW=200Hz、VBW=1MHz;BW=150K〜3M、RBW =9KHz、VBW=1MHz;BW=3M〜30MHz、RBW=9KHz 、VBW=1MHzの3通りの組を順次メモリに設定して、同様に測定が行われ る。しかし、EMI擬似電源回路網52のロス分(種類により異なる)0〜2d Bが含まれることを考慮しなければならない。 (c)AC電源側にもれるEMI雑音電力の測定では、被測定装置50のAC入 力コンセント51とAC電源との間に所定のEMIクランプ53を接続し、その EMIクランプを介して雑音電力を取り出し、スペクトラム・アナライザに入力 する。また放射ノイズの測定と同様な操作でBW=30〜300MHz、RBW =120KHz、VBW=1MHzをメモリに設定して、同様に測定が行われる 。しかしEMIクランプ53によるロス分0〜10dBを考慮する必要がある。 ((c)項終り)。
【0005】 なお、前記(a)〜(c)の測定において、リファレンス・レベルスイッチK 6 を押して、テンキーK10によりリファレンス・レベルをメモリに設定する。 EMI規格には、FCC規格(アメリカ)、VDE規格(ドイツ)、VCCI 技術基準(日本)、CISPR(国際規格)等があり、互いに規格値が異なる。
【0006】
従来のスペクトラム・アナライザは、汎用装置であるため、特殊なEMI特性 の測定では設定操作箇所が多く、取扱いが面倒で、時間がかかると共に表示デー タにEMIアンテナ、EMI擬似電源回路網又はEMIクランプによるロス分が 含まれてしまう欠点があった。
【0007】 この考案の目的は、これら従来の欠点を解決して、EMI測定における設定操 作箇所が少く、EMIアンテナ等のロス分の補正を自動的に行うこともでき、従 って操作性に優れ、EMI測定に好適なスペクトラム・アナライザを提供しよう とするものである。
【0008】
(1)入力RF信号をミキサに入力し、掃引発振器の出力と混合し、そのミキ サの出力より中間周波数信号を選択して、増幅及び検波し、その検波波形をA/ D変換器に入力し、そのA/D変換の出力を画像メモリに書き込み、その書き込 んだデータを読み出して表示器に表示させるスペクトラム・アナライザにおいて 、請求項1の考案では、EMI放射ノイズ測定用選択スイッチと、EMI雑音電 圧測定用選択スイッチと、EMI雑音電力測定用選択スイッチとを有するキーボ ードと、前記キーボードの前記各測定用選択スイッチの選択状態と対応するBW (測定帯域幅)、RBW(リゾリューション・バンド幅)及びリファレンス・レ ベルの各設定値を書き込む記憶手段と、前記キーボードの前記各スイッチの選択 情報を検出して、対応する前記BW,RBW及びリファレンス・レベルとなるよ うに各部を制御する制御回路とを設ける。
【0009】 (2)請求項2の考案では、前記キーボードにEMI規格選択スイッチを設け ると共に各EMI規格の限度値を前記記憶手段に予め記憶させ、前記制御回路は 、前記EMI規格選択スイッチの選択情報を検出して、対応する前記EMI規格 の限度値を前記表示器に表示させる。 (3)請求項3の考案では、前記(1),(2)において、前記記憶手段に、 EMIアンテナ・ファクタ、EMI擬似電源回路網ロス及びEMIクランプロス を予め記憶させ、前記制御回路は、前記キーボードの各測定用スイッチの選択情 報を検出して、前記記憶されたEMIアンテナ・ファクタ,EMI擬似電源回路 網ロス又はEMIクランプロスを用いて前記A/D変換器の出力データを補正し 、その補正したデータを前記画像メモリに書き込む。
【0010】
この考案の実施例を図1、図2に、図3、と対応する部分に同じ符号を付し、 重複説明を省略する。この考案では、スペクトラム・アナライドの例えばフロン トパネルに、図1に示すような、EMI測定用のキーボード15を設ける。 (a)EMI放射ノイズ測定条件の選択 キーボード15のEMI放射ノイズ測定用選択スイッチA1 乃至A5 を押して BWとして従来例の〜を順次選択する。このとき共通に、RBW=120K Hz、VBW=1MHzが同時に選択される。 (b)EMI雑音電圧測定条件の選択 キーボード1のEMI雑音電圧測定用選択スイッチB1 乃至B3 を押して、B W,RBW及びVBWとして従来例で述べた〜を順次選択する。 (c)EMI雑音電力測定条件の選択 キーボード1のEMI雑音電力測定用選択スイッチCを押して、BW,RBW ,VBWとして従来例で述べた値を選択する。
【0011】 また、メモリ16を設けて、前記各選択スイッチA1 〜A5 ,B1 〜B3 ,C と対応するBW,RBW,VBW及びリファレンス・レベルの各データを予め書 き込んでおく。 更に、この考案では、キーボード1のEMI規格入力スイッチD1 〜D4 を選 択的に押して、例えばVCCI,CISPR,FCC及びVDEの各規格を選択 することもできる。また、メモリ16に予め、これらのスイッチD1 〜D4 と対 応するEMI規格データ(限度値)を書き込んでおく。
【0012】 制御回路12は、選択スイッチA1 〜A5 ,B1 〜B3 ,Cのオン情報を検出 して、BW,RBW,VBW及びリファレンス・レベルがメモリ16に記憶され た、対応する設定データとなるように、装置の各部を制御する。 また、制御回路12は、EMI規格選択スイッチD1 〜D4 のオン情報を検出 して、メモリ16に記憶された、対応する規格データに基ずいて、規格ラインを 表示器制御回路13を介して表示器14に表示させることもできる。
【0013】 また、メモリ16に、EMIアンテナ・ファクタ、EMI擬似電源回路網ロス 及びEMIクランプロスを予め記憶させておき、制御回路12が、キーボード1 5の各選択スイッチ(A1 〜A5 ,B1 〜B3 ,C)の選択情報を検出して、メ モリ16に記憶されたEMIアンテナ・ファクタ、EMI擬似電源回路網ロス又 はEMIクランプロスを用いて、A/D変換器10の出力データを補正し、その 補正したデータを画像メモリ11に書き込み、その書き込んだデータを読み出し て、表示器14に表示させることも可能である。
【0014】 なお、メモリ16として、専用のメモリを設けないで、制御回路12に内蔵の メモリを用いてもよいし、或いは画像メモリ11の一部を利用してもよい。 また必要によっては、規格ラインと測定レベルとの差を表示させたり、LOG 掃引を行うことも可能である。また、従来の各種設定スイッチやテンキーを併設 して、EMI以外の汎用の測定も行えるようにすることもできる。
【0015】 またEMI測定において前例ではVBWは全て1MHzに設定されているので 、表示器制御回路に収容されているVBW設定用フィルタを固定にして、制御回 路12による設定から外すようにしてもよい。(その場合にはVBWの設定デー タをメモリ16に設定しておく必要はない。)制御回路12に、CPU(中央演 算処理装置)を導入できるのは勿論である。
【0016】 図1の実施例では、EMI放射ノイズ測定用選択スイッチA1 〜A5 を設けた が、これらを1個のロータリースイッチで代用してもよい。他の選択スイッチに ついても同様である。
【0017】
この考案では、キーボード15に設けたEMI放射ノイズ測定用選択スイッチ A1 〜A5 、EMI雑音電圧測定用選択スイッチB1 〜B3 及びEMI雑音電力 測定用選択スイッチCをオンさせると制御回路12がそれを検出して、各スイッ チに対応するBW,RBW及びリファレンス・レベル(これらのデータはメモリ 16に予め記憶されている)となるように、各部を制御するので、従来のように 設定スイッチK1 〜K6 及びテンキーK10を用いて設定する必要が無くなり、操 作性を飛躍的に向上できる。
【0018】 またキーボード15にEMI規格選択スイッチD1 〜D4 を設け、各規格の限 度ラインを管面に表示させたり、EMIアンテナ、EMI擬似電源回路網及びE MIクランプのロス分を自動的に補正させ、その補正されたデータを表示させる ことも可能であり、使い勝手が極めてよい。
【図1】この考案のスペクトラム・アナライザに設けら
れるキーボードの一例を示す正面図。
れるキーボードの一例を示す正面図。
【図2】この考案のスペクトラム・アナライザのブロッ
ク図。
ク図。
【図3】従来のスペクトラム・アナライザのブロック
図。
図。
【図4】図3のキーボード15の正面図。
【図5】被測定装置とEMI擬似電源回路網(又はEM
Iクランプ)とスペトクラム・アナライザとの相互接続
関係を示す図。
Iクランプ)とスペトクラム・アナライザとの相互接続
関係を示す図。
Claims (3)
- 【請求項1】 入力RF信号をミキサに入力し、掃引発
振器の出力と混合し、そのミキサの出力より中間周波数
信号を選択して、増幅及び検波し、その検波波形をA/
D変換器に入力し、そのA/D変換の出力を画像メモリ
に書き込み、その書き込んだデータを読み出して表示器
に表示させるスペクトラム・アナライザにおいて、 EMI放射ノイズ測定用選択スイッチと、EMI雑音電
圧測定用選択スイッチと、EMI雑音電力測定用選択ス
イッチとを有するキーボードと、 前記キーボードの前記各測定用選択スイッチの選択状態
と対応するBW(測定帯域幅)、RBW(リゾリューシ
ョン・バンド幅)及びリファレンス・レベルの各設定値
を書き込む記憶手段と、 前記キーボードの前記各スイッチの選択情報を検出し
て、対応する前記BW,RBW及びリファレンス・レベ
ルとなるように各部を制御する制御回路とを具備するこ
とを特徴とする、 スペクトラム・アナライザ。 - 【請求項2】 前記キーボードにEMI規格選択スイッ
チを設けると共に各EMI規格の限度値を前記記憶手段
に予め記憶させ、前記制御回路は、前記EMI規格選択
スイッチの選択情報を検出して、対応する前記EMI規
格の限度値を前記表示器に表示させることを特徴とする
請求項1記載のスペクトラム・アナライザ。 - 【請求項3】 前記記憶手段に、EMIアンテナ・ファ
クタ、EMI擬似電源回路網ロス及びEMIクランプロ
スを予め記憶させ、前記制御回路は、前記キーボードの
各測定用選択スイッチの選択情報を検出して、前記記憶
されたEMIアンテナ・ファクタ,EMI擬似電源回路
網ロス又はEMIクランプロスを用いて前記A/D変換
器の出力データを補正し、その補正したデータを前記画
像メモリに書き込むようにしたことを特徴とする請求項
1又は2記載のスペクトラム・アナライザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992003486U JP2594282Y2 (ja) | 1992-02-03 | 1992-02-03 | スペクトラム・アナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992003486U JP2594282Y2 (ja) | 1992-02-03 | 1992-02-03 | スペクトラム・アナライザ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0562869U true JPH0562869U (ja) | 1993-08-20 |
| JP2594282Y2 JP2594282Y2 (ja) | 1999-04-26 |
Family
ID=11558671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992003486U Expired - Fee Related JP2594282Y2 (ja) | 1992-02-03 | 1992-02-03 | スペクトラム・アナライザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2594282Y2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001264372A (ja) * | 2000-03-17 | 2001-09-26 | Mitsubishi Electric Corp | 放射ノイズ測定データ表示方法、放射ノイズ測定システムおよび放射ノイズ測定用プログラム記憶媒体 |
| JP2007509333A (ja) * | 2003-10-27 | 2007-04-12 | ローデ ウント シュワルツ ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー | 周波数追跡を用いて電波干渉レベルを測定する方法および装置 |
| JP2017116286A (ja) * | 2015-12-21 | 2017-06-29 | アンリツ株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
-
1992
- 1992-02-03 JP JP1992003486U patent/JP2594282Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001264372A (ja) * | 2000-03-17 | 2001-09-26 | Mitsubishi Electric Corp | 放射ノイズ測定データ表示方法、放射ノイズ測定システムおよび放射ノイズ測定用プログラム記憶媒体 |
| JP2007509333A (ja) * | 2003-10-27 | 2007-04-12 | ローデ ウント シュワルツ ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー | 周波数追跡を用いて電波干渉レベルを測定する方法および装置 |
| JP2017116286A (ja) * | 2015-12-21 | 2017-06-29 | アンリツ株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2594282Y2 (ja) | 1999-04-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3135999B2 (ja) | Cn比測定装置 | |
| Rauscher et al. | Fundamentals of spectrum analysis | |
| US5089782A (en) | Vector network analyzer for swept frequency harmonic and mixer conversion loss measurements using either an internal or external signal source | |
| JPH0480344B2 (ja) | ||
| JPS6134473A (ja) | ネツトワ−ク・アナライザ | |
| JPH058388B2 (ja) | ||
| JPS6259784B2 (ja) | ||
| CN117007913A (zh) | 一种便携式射频综合自动化测试装置及其测试方法 | |
| US4918382A (en) | Method for distinguishing between real and spurious responses in a spectrum analyzer | |
| US4149122A (en) | Wideband tracking generator for harmonic mixing receivers | |
| JP2002296310A (ja) | 電力分布表示制御装置および電力分布表示制御方法 | |
| US4138645A (en) | Wideband signal calibration system | |
| JP2594282Y2 (ja) | スペクトラム・アナライザ | |
| JP3294759B2 (ja) | スペクトラムアナライザ | |
| CN211047242U (zh) | 一种频谱监测及无线组网设备 | |
| JPH1164405A (ja) | 変調解析装置及びスペクトラムアナライザ | |
| JP3102657B2 (ja) | スペクトラム・アナライザ | |
| JPH07209352A (ja) | スペクトラム・アナライザ | |
| JP3748225B2 (ja) | 変調信号解析装置 | |
| US4138646A (en) | Wideband absolute calibration system | |
| JP2662406B2 (ja) | 部分放電測定装置のデータ収集装置 | |
| CN106301625A (zh) | 一种天馈线测试和频谱分析装置 | |
| JP2769844B2 (ja) | スペクトラム・アナライザ | |
| CN223155111U (zh) | 一种电磁场可视化检测装置 | |
| JPH07111451B2 (ja) | 妨害耐性測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19981222 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |