JPH056314U - 穴の基準面に対する直角度測定機構 - Google Patents
穴の基準面に対する直角度測定機構Info
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- JPH056314U JPH056314U JP5335291U JP5335291U JPH056314U JP H056314 U JPH056314 U JP H056314U JP 5335291 U JP5335291 U JP 5335291U JP 5335291 U JP5335291 U JP 5335291U JP H056314 U JPH056314 U JP H056314U
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 9
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 42
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Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 変位量検出器の数を８個から２個減らし、６
個の変位量検出器で穴の中心の直角度を求める。 【構成】 ３方向に上段と下段で６個の変位量検出器を
配置し、各変位量検出器の変位量から穴の中心の直角度
を演算で求める。
個の変位量検出器で穴の中心の直角度を求める。 【構成】 ３方向に上段と下段で６個の変位量検出器を
配置し、各変位量検出器の変位量から穴の中心の直角度
を演算で求める。
Description
【０００１】
この考案は、６個の検出器による穴の基準面に対する直角度測定機構について のものである。
【０００２】
次に、従来技術による直角度測定機構の構成を図２により説明する。図２アは 平面図、図２イは正面図である。図２の１Ａ〜１Ｈは変位量検出器、２Ａ〜２Ｈ は接触子、３Ａ〜３Ｈはタッチレバー、４は測定対象物、５は基準面、６は基準 座、７はプレート、８は測定される穴である。図２では、変位量検出器１Ａ〜１ Ｈを上段４個、下段４個に配置し、穴８を直交する４個の変位量検出器で上段と 下段の穴径を測定し、測定対象物４の穴の中心の基準面５に対する直角度を合計 ８個の変位量検出器１Ａ〜１Ｈで求める。
【０００３】 図２の直角度測定機構は、プレート７に取付けられる変位量検出器１Ａ〜１Ｈ と、変位量検出器１Ａ〜１Ｈに変位量を伝えるタッチレバー３Ａ〜３Ｈ、タッチ レバー３Ａ〜３Ｈに固定されて測定対象物４と接触し、変位を拾い出すための接 触子２Ａ〜２Ｈによって構成される。なお、測定対象物４はプレート７と一体の 基準座６で接する。穴８の直角度は変位量検出器１Ａ〜１Ｄ方向と１Ｅ〜１Ｈの 方向に分けて求め、それぞれの値から演算で穴８の直角度を求める。図２の他に ３次元測定装置により穴の中心の直角度を求める方法もある。
【０００４】
図２では８個の変位量検出器を使用するので、変位量検出器に変位量を伝える ためのタッチレバーと接触子のスペースが大きく、測定する穴８の内径寸法が制 限される。３次元測定装置を使用する場合は、測定に時間がかかる。
【０００５】 この考案は、３方向上下２段の６個の変位量検出器を配置して、各変位量検出 器の変位量を演算し、穴の中心の直角度を求めるようにし、変位量検出器の数を ８個から２個減らし、より小径の穴の直角度も求められる直角度測定機構の提供 を目的とする。
【０００６】
この目的を達成するため、この考案では、３方向に上段と下段で６個の変位量 検出器を配置し、各変位量検出器の変位量から穴の中心の直角度を演算で求める 。
【０００７】
次に、この考案による穴の基準面に対する直角度測定機構の構成を図１により 説明する。図１では、６個の変位量検出器１Ａ〜１Ｆを１２０°ごと３方向に上 段と下段に配置し、接触子２Ａ〜２Ｆ、タッチレバー３Ａ〜３Ｆを穴８に対して 径方向の変位がとれるように配置する。上段に配置された変位量検出器３つによ り上段の穴８の内径の中心が求められ、下段に配置された変位量検出器３つによ り下段の穴８の内径の中心が求められる。それぞれの中心から演算で穴８の直角 度が求められる。
【０００８】 次に、図１の平面図と正面図を図３により説明する。図３アは平面図、図３イ は正面図である。図３は、プレート７に取付けられる変位量検出器１Ａ〜１Ｆと 、変位量検出器１Ａ〜１Ｆに変位量を伝えるタッチレバー３Ａ〜３Ｆ及びタッチ レバー３Ａ〜３Ｆに固定されて測定対象物４と接触し、変位を拾い出す接触子２ Ａ〜２Ｆで構成される。図３では、１２０゜ごとの３方向に変位量検出器１Ａ〜 １Ｆを配置する。なお、測定対象物４は、プレート７と１体の基準座６で接する 。
【０００９】 次に、図３による測定の概略を図４により説明する。図４では、変位量検出器 １Ａ・１Ｃ・１Ｅの変位量をそれぞれａ・ｃ・ｅとする。同様に、変位量検出器 １Ｂ・１Ｄ・１Ｆの変位量をそれぞれｂ・ｄ・ｆとする。検出器１Ａ・１Ｃ・１ Ｅにより求める円の中心を（Ｘ１、Ｙ１）、検出器１Ｂ・１Ｄ・１Ｆにより求め る円の中心を（Ｘ２、Ｙ２）とすると、円の３点が与えられれば円の中心は演算 で求められるので、演算により穴８の直角度が求められる。
【００１０】
この考案によれば、３方向上下２段の６個の変位量検出器を配置して、各変位 量検出器の変位量を演算し、穴の中心の直角度を求めるので、変位量検出器の数 を８個から２個減らし、より小径の穴の直角度も求めることができる。
【図１】この考案による直角度測定機構の構成図であ
る。
る。
【図２】従来技術による直角度測定機構の構成図であ
る。
る。
【図３】図１の平面図と正面図である。
【図４】図３による測定概略図である。
１Ａ〜１Ｈ 変位量検出器 ２Ａ〜２Ｈ 接触子 ３Ａ〜３Ｈ タッチレバー ４ 測定対象物 ５ 測定対象物の基準面 ６ 基準座 ７ プレート ８ 穴
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項１】 ３方向に上段と下段で６個の変位量検出
器を配置し、各変位量検出器の変位量から穴の中心の直
角度を演算で求めることを特徴とする穴の基準面に対す
る直角度測定機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991053352U JP2547170Y2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | 穴の基準面に対する直角度測定機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991053352U JP2547170Y2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | 穴の基準面に対する直角度測定機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH056314U true JPH056314U (ja) | 1993-01-29 |
| JP2547170Y2 JP2547170Y2 (ja) | 1997-09-10 |
Family
ID=12940397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991053352U Expired - Lifetime JP2547170Y2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | 穴の基準面に対する直角度測定機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2547170Y2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5776401A (en) * | 1980-10-30 | 1982-05-13 | Toshiba Corp | Displacement gage for cylindrical test piece |
| JPS6011004U (ja) * | 1983-07-04 | 1985-01-25 | 株式会社東芝 | 真直度計測器 |
| JPS60249010A (ja) * | 1984-05-25 | 1985-12-09 | Toshiba Corp | 測定装置 |
-
1991
- 1991-02-22 JP JP1991053352U patent/JP2547170Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5776401A (en) * | 1980-10-30 | 1982-05-13 | Toshiba Corp | Displacement gage for cylindrical test piece |
| JPS6011004U (ja) * | 1983-07-04 | 1985-01-25 | 株式会社東芝 | 真直度計測器 |
| JPS60249010A (ja) * | 1984-05-25 | 1985-12-09 | Toshiba Corp | 測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2547170Y2 (ja) | 1997-09-10 |
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