JPH056399U - 材料照射装置 - Google Patents
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- JPH056399U JPH056399U JP054157U JP5415791U JPH056399U JP H056399 U JPH056399 U JP H056399U JP 054157 U JP054157 U JP 054157U JP 5415791 U JP5415791 U JP 5415791U JP H056399 U JPH056399 U JP H056399U
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- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高圧ガスを封入したクリ−プ破断試験片を内
臓した試験用カプセルを束ね、試料温度を制御しながら
照射する材料照射装置において、安全に長時間の破断試
験のできるような材料照射装置を提供する。 【構成】 カプセルの溶接部の位置を変更し、カプセル
外側の低温ナトリウム冷却材と接するように配設した。 【効果】 本考案により、カプセルを破損することな
く、数百気圧の高圧ガスを封入したクリ−プ試験片によ
る破断試験を、長時間にわたり安全に実施できるように
なった。
臓した試験用カプセルを束ね、試料温度を制御しながら
照射する材料照射装置において、安全に長時間の破断試
験のできるような材料照射装置を提供する。 【構成】 カプセルの溶接部の位置を変更し、カプセル
外側の低温ナトリウム冷却材と接するように配設した。 【効果】 本考案により、カプセルを破損することな
く、数百気圧の高圧ガスを封入したクリ−プ試験片によ
る破断試験を、長時間にわたり安全に実施できるように
なった。
Description
本考案は、原子炉で使用する材料照射装置に係り、特に高速増殖炉用(以下F BRと記す)の材料照射装置の改良に関する。
【0001】
FBRで使用する燃料の寿命は、被覆管、ラッパ管などの炉心構成材料の中性 子照射に起因したスエリング、クリ−プ、脆化などに依存する。このため炉心構 成材料の開発には実際に原子炉内で中性子照射試験を行い、材料の特性を確認す る必要がある。
【0002】 図4は従来からFBRにおいて使用されている材料照射装置のカプセルの縦断 面模式図である。すなはち、1はカプセル、2は試験片、3は試験片を収納する 試験片バスケット、4はカプセル内筒管、5はカプセル外筒管、6はカプセル内 部端栓、7はカプセル内筒管4と内部端栓6の溶接部、8はガスギャップ部、9 はガス入口管、10はガス出口管、11はナトリウム入口管、12はナトリウム 出口管である。すなわち、溶接部7はカプセルの内壁面側にある。
【0003】 試験片2は試験片バスケット3に収納され、ガスギャップ8はカプセル内筒管 4とカプセル外筒管5とで形成される。 また、試験片2の温度は、これらを構成する部品の中性子吸収によって発生す るガンマ発熱とガスギャップ8の断熱層によって調整される。
【0004】 原子炉内の照射下におけるナトリウム環境効果を確証するために、試験片2は ナトリウム環境下で照射される。カプセル内のナトリウムは、原子炉の冷却材ナ トリウムをナトリウム入口管11から取り入れ、出口管12から放出する。試験 片2、試験片バスケット3、カプセル内筒管4、カプセル内のナトリウム等から 発生するガンマ線による熱は、試験片2と接して流れるナトリウムとガスギャッ プ8を通ってカプセル外筒管5に伝わり、カプセル外筒管5と接して流れるナト リウム冷却材によって除去される。
【0005】 従来の材料照射装置については、実願平2−402241号公報に記載されて いるが、溶接部については特に検討されていない。 図5は従来の材料照射装置の説明図であり、図4に示したような複数個のカプ セル1を径方向および軸方向に軸心管13に取り付けて配置したものである。
【0006】
上記のように、従来の材料照射装置のカプセル1はその内壁面に溶接部を設け ている。照射中、カプセル1は試験片2を確実に保持しなければならない。もし カプセル1が破損し、試験片2もしくは破断した試験片2の1部がその破損した カプセル1から外に放出されると、放出された試験片2の1部が原子炉の炉心内 をナトリウムと共に循環するので、系内の他の燃料集合体、照射装置、冷却材配 管等を損傷させる恐れがある。
【0007】 カプセル1の各部の強度のうち、強度の最も低い部分はカプセル内筒管4とカ プセル内部端栓6の溶接部7である。この溶接部7に加わる応力として、(1) 溶接部の構造不連続による応力、(2)溶接部の内筒管壁の温度差による応力、 (3)溶接部の内筒管壁スエリング差による応力および(4)封入ガス圧力によ る応力(クリ−プ破断試験の場合、試験片2の中に数百気圧の高圧ガスが封入さ れ、破断時に放出される)がある。
【0008】 すなわち、クリ−プ破断試験の場合、破断した試験片2から放出される高圧ガ スによる大きな応力(4)が溶接部7に、さらに付加されることによりカプセル 1が破損する危険性は増大する。試験片内に高圧ガスの封入してない、単なる材 料照射試験片の場合は、上記の(1)、(2)、(3)のみが溶接部7に加わる ことになる。この場合は、約9×1022n/cm2までの積算中性子束範囲内で 溶接部は破損することはない。しかし、これ以上の積算中性子束で照射されると 溶接部7は破損する。
【0009】 本考案は、上記の状況に鑑みてなされたもので、カプセル内の溶接部の配置を 変更することにより、高圧ガスを内臓した試験片の破断試験を行なうことのでき る材料照射装置を提供することを目的とする。
【0010】
上記課題を解決するための本考案に係る材料照射装置の構成は、流動ナトリウ ム中に複数個の試験片を収納することができる内筒と不活性ガスの断熱層と外筒 とを備えた試験用のカプセルを、原子炉炉心内に挿入する軸心管の外周部に複数 個束ねると共に軸心管の軸方向にも複数段に設けてなる材料照射装置において、 前記カプセルの溶接部を、カプセルの外側で、冷却材に接触しやすい位置に配設 するようにしたことである。
【0011】
クリ−プ破断試験を目的として使用されるカプセルの溶接部には、前記の各種 応力(1)、(2)、(3)の他に(4)クリ−プ破断試験片の破断時に放出さ れる封入ガス圧力による応力が加わる。このため、従来例のカプセルでは、溶接 部で破損する可能性が多かった。
【0012】 図3はクリ−プ破断試験の封入ガス圧と照射温度の関係図である。 すなわち、溶接部の破損を避ける方法の1つとして溶接部7の肉厚を厚くする 方法がある。試験片2をクリ−プ破断させるに必要な封入ガス圧(必要封入ガス 圧)とその封入ガス圧に耐えるに必要な溶接部7の肉厚を計算により求めたもの である。
【0013】 図3において、実線22は1、000時間後に試験片をクリ−プ破断させるに 必要な試験片内の封入ガス圧、実線23は10、000時間後に試験片をクリ− プ破断させるに必要な試験片内の封入ガス圧である。また、破線24、25、2 6、27および28はそれぞれ、カプセル内筒管4−カプセル内部端栓6の溶接 部7の肉厚が1、2、3、4および5mmの時の溶接部7が耐えうる最大の試験 片内封入ガス圧(限界封入ガス圧)である。
【0014】 図3に示したように、1、000時間の照射後、試験片2をクリ−プにより破 断させるに必要な封入ガス圧は実線22で示すように、照射温度450℃で88 0kg/cm2、700℃では360kg/cm2となる。また、10、000時 間後に、試験片2をクリ−プで破断させるに必要な封入ガス圧は実線23に示す ように、1、000時間の封入ガス圧と比べて幾分低く、照射温度450℃で8 20kg/cm2、700℃では210kg/cm2となる。
【0015】 さらに、溶接部7が破損しないようにするために必要な溶接部7の肉厚を破線 で示す。破線24、25、26、27および28は溶接部7の肉厚がそれぞれ1 2、3、4および5mmの時の試験片内に封入できるガス(限界封入ガス圧)を 示し、この限界封入ガス圧を越えるガスを試験片内に封入して、クリ−プ破断試 験を行なった時は、溶接部7の破断応力を越える応力((1)、(2)、(3) および(4)の各応力の合計)が溶接部7に加わることにより、溶接部7が破損 することを示す。
【0016】 破線24で示す溶接部7の肉厚1mmでは照射温度450℃で限界封入ガス圧 170kg/cm2また、700℃では限界封入ガス圧110kg/cm2以下の 封入ガス圧でしかクリ−プ破断試験を行なうことはできない。
【0017】 1、000時間、照射温度700℃のクリ−プ破断試験では、試験片内の必要 封入ガス圧は360kg/cm2、10、000時間、照射温度700℃のクリ −プ破断試験でさえも、試験片内の必要封入ガス圧は210kg/cm2である 。 このため、溶接部7の肉厚が1mmでは10、000時間内のクリ−プ破断 試験は実施できない。
【0018】 照射温度700℃でクリ−プ破断試験を行なうには、破線27で示す約4mm の溶接部肉厚が必要になる。また、照射温度550℃でクリ−プ破断試験を行な うには、破線28で示す約5mmの溶接部肉厚が必要である。しかし、このよう な厚肉の溶接は困難で、TIG溶接で可能な溶接部7の肉厚は1mm程度である ことから、クリ−プ破断により試験片2から放出される高圧ガスに耐えられる厚 肉のカプセル1を製作することは困難である。
【0019】 しかし、溶接部の位置を、カプセル内壁面側からカプセル外側のより低温のナ トリウム冷却材と接する位置に変えることにより、上記の(4)項のクリ−プ破 断試験を行なっても、溶接部は封入ガス圧による応力が加わる場所にはないため に、溶接部で破損することはない。
【0020】 また、クリ−プ破断試験を行なわない通常の材料照射試験の場合でも、溶接部 での両材料の温度差はカプセル内の温度と比べて低温のナトリウム冷却材により 冷却されているため、両材料の温度差は小さくなる。このため、(2)の溶接部 の内筒管壁温度差による応力および(3)の溶接部の内筒管壁スエリング差によ る応力が小さく、従来の溶接部がカプセル内壁面側にあった場合よりも約2倍長 く、20、000時間程度の照射試験を継続できることがわかった。
【0021】 このように、カプセルの強度的に最も弱い溶接部を、カプセル内壁面側からカ プセル外側の冷却材と接するような場所に配置することにより、従来の材料照射 装置では行なえなかったクリ−プ破断試験が、行なえるようになっただけではな く、さらに通常の材料照射試験においても、より長期にわたって実施できるよう になった。
【0022】
以下、本考案の一実施例を図1および図2を用いて説明する。図1は、本考案 の一実施例のカプセルの縦断面模式図、図2は、同カプセルを配設した材料照射 装置の模式図である。図1および図2において、2は試験片、3は試験片バスケ ット、4は内筒管、5は外筒管、8はガスギャップ部、9はガス入口管、10は ガス出口管、11はナトリウム入口管、12はナトリウム出口管、13は軸心管 、15はカプセル内筒管−カプセル外筒管の溶接部、16は上部端栓、17は下 部端栓、18は端栓内空間部、19はカプセル、20は材料照射装置である。
【0023】 本カプセルの構成は、500kg/cm2の高圧ガスを封入したクリ−プ破断 試験片2は外径17.5mm、肉厚0.5mmのステンレス製バスケット3に保 持され、内径18mm、外径19mmのステンレス製カプセル内筒管4内に収納 されている。試験片2の温度を高めるためのガスギャップ部8は、カプセル内筒 管4と内径19.3mm、外径20.3mmのステンレス製カプセル5の間に形 成される。ガスは外部のガス供給装置でヘリウム/アルゴン混合ガスに調整され た後、カプセルのガス入口管9より供給され、ガス出口管10から排出される。
【0024】 カプセルの溶接部15はカプセル内筒管4とカプセル外筒管5の間であり、カ プセルの外側で低温のナトリウム冷却材と接する。上部端栓16および下部端栓 17の内部18は軸方向への熱の逃げを防ぐために、熱伝導率の低いアルゴンガ ス等が封入されている。なお、端栓内部18はアルゴンガス等の低熱伝導率のガ スでなく、真空にしてもよい。
【0025】 カプセル19とこれら端栓16、17はねじ構造によって固定される。 カプセル19は、溶接部15で溶接固定されているカプセル内筒管4とカプセ ル外筒管5、上部端栓16および下部端栓17から構成されている。
【0026】 カプセルの組立方法は、最初にカプセル円筒管4に下部端栓17をねじ込みし て、固定させる。試験片バスケット3をカプセル19の上部から挿入した後、試 験片2を配置する。その後、上部端栓16をカプセル円筒管4にねじ込みにて固 定し、カプセル19を組み立てる。照射試験後は、これらの上・下部端栓16、 17をカプセル円筒管4から取外すことにより、試験片2をカプセル19の外へ 取り出すことができる。
【0027】 カプセルの溶接部15がカプセル19の外側に配設されているため、クリ−プ 破断試験片2から高圧のガスがカプセル19内に放出されても、溶接部15には クリ−プ破断時のガス圧による応力は加わらない。しかも、溶接部15が低温の ナトリウム冷却材に取り囲まれているために、溶接部15の両部材4、5の温度 差が小さく、これにより、また材料スエリング差も小さく、これより発生する応 力も小さくなるという効果がある。 図2は図1に示したような複数個のカプセル19を軸方向および径方向に軸心 管13に取り付けて配置した本考案の材料照射装置20である。
【0028】
以上記載したように、本考案の材料照射装置は、カプセル内の溶接部の配置を 変更することにより、数百気圧の高圧ガスを封入したクリ−プ試験片をカプセル 内に配置して、安全にクリ−プ破断試験を行なうことができるようになった。さ らに通常の材料照射試験も長期間に渡って実施できるようになった。
【提出日】平成3年9月5日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
本考案は、原子炉で使用する材料照射装置に係り、特に高速増殖炉用(以下F BRと記す)の材料照射装置の改良に関する。
【0001】
FBRで使用する燃料の寿命は、被覆管、ラッパ管などの炉心構成材料の中性 子照射に起因したスエリング、クリ−プ、脆化などに依存する。このため炉心構 成材料の開発には実際に原子炉内で中性子照射試験を行い、材料の特性を確認す る必要がある。
【0002】 図3は従来からFBRにおいて使用されている材料照射装置のカプセルの縦断 面模式図である。すなはち、1はカプセル、2は試験片、3は試験片を収納する 試験片バスケット、4はカプセル内筒管、5はカプセル外筒管、6はカプセル内 部端栓、7はカプセル内筒管4と内部端栓6の溶接部、8はガスギャップ部、9 はガス入口管、10はガス出口管、11はナトリウム入口管、12はナトリウム 出口管である。すなわち、溶接部7はカプセルの内壁面側にある。
【0003】 試験片2は試験片バスケット3に収納され、ガスギャップ8はカプセル内筒管 4とカプセル外筒管5とで形成される。 また、試験片2の温度は、これらを構成する部品の中性子吸収によって発生す るガンマ発熱とガスギャップ8の断熱層によって調整される。
【0004】 原子炉内の照射下におけるナトリウム環境効果を確証するために、試験片2は ナトリウム環境下で照射される。カプセル内のナトリウムは、原子炉の冷却材ナ トリウムをナトリウム入口管11から取り入れ、出口管12から放出する。試験 片2、試験片バスケット3、カプセル内筒管4、カプセル内のナトリウム等から 発生するガンマ線による熱は、試験片2と接して流れるナトリウムとガスギャッ プ8を通ってカプセル外筒管5に伝わり、カプセル外筒管5と接して流れるナト リウム冷却材によって除去される。
【0005】 従来の材料照射装置については、実願平2−402241号公報に記載されて いるが、溶接部については特に検討されていない。 図4は従来の材料照射装置の説明図であり、図3に示したような複数個のカプ セル1を径方向および軸方向に軸心管13に取り付けて配置したものである。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】 上記のように、従来の材料照射装置のカプセル1はその内壁面に溶接部を設け ている。照射中、カプセル1は試験片2を確実に保持しなければならない。もし カプセル1が破損し、試験片2もしくは破断した試験片2の1部がその破損した カプセル1から外に放出されると、放出された試験片2の1部が原子炉の炉心内 をナトリウムと共に循環するので、系内の他の燃料集合体、照射装置、冷却材配 管等を損傷させる恐れがある。
【0007】 カプセル1の各部の強度のうち、強度の最も低い部分はカプセル内筒管4とカ プセル内部端栓6の溶接部7である。この溶接部7に加わる応力として、(1) 溶接部の構造不連続による応力、(2)溶接部の内筒管壁の温度差による応力、 (3)溶接部の内筒管壁スエリング差による応力および(4)封入ガス圧力によ る応力(クリ−プ破断試験の場合、試験片2の中に数百気圧の高圧ガスが封入さ れ、破断時に放出される)がある。
【0008】 すなわち、クリ−プ破断試験の場合、破断した試験片2から放出される高圧ガ スによる大きな応力(4)が溶接部7に、さらに付加されることによりカプセル 1が破損する危険性は増大する。試験片内に高圧ガスの封入してない、単なる材 料照射試験片の場合は、上記の(1)、(2)、(3)のみが溶接部7に加わる ことになる。この場合は、約9×1022n/cm2までの積算中性子束範囲内( 照射時間<9000hr)で溶接部は破損することはない。しかし、これ以上の 積算中性子束で照射されると溶接部7は破損する可能性がある。
【0009】 本考案は、上記の状況に鑑みてなされたもので、カプセル内の溶接部の配置を 変更することにより従来より長時間照射可能で、しかも高圧ガスを内臓した試験 片の破断試験を行なうことのできる材料照射装置を提供することを目的とする。
【0010】
上記課題を解決するための本考案に係る材料照射装置の構成は、流動ナトリウ ム中に複数個の試験片を収納することができる内筒と不活性ガスの断熱層と外筒 とを備えた試験用のカプセルを、原子炉炉心内に挿入する軸心管の外周部に複数 個束ねると共に軸心管の軸方向にも複数段に設けてなる材料照射装置において、 前記カプセルの溶接部を、カプセルの外側で、冷却材に接触しやすい位置に配設 するようにしたことである。
【0011】
クリ−プ破断試験を目的として使用されるカプセルの溶接部には、前記の各種 応力(1)、(2)、(3)の他に(4)クリ−プ破断試験片の破断時に放出さ れる封入ガス圧力による応力が加わる。このため、従来例のカプセルでは、溶接 部で破損する可能性が多かった。
【0012】 しかし、溶接部の位置を、カプセル内壁面側からカプセル外側のより低温のナ トリウム冷却材と接する位置に変えることにより、溶接部での両材料の温度差は カプセル内の温度と比べて低温のナトリウム冷却材により冷却されているため、 両材料の温度差は小さくなる。このため、(2)の溶接部の内筒管壁温度差によ る応力および(3)の溶接部の内筒管壁スエリング差による応力が小さく、従来 の溶接部がカプセル内壁面側にあった場合よりも約2倍長く、20、000時間 程度の照射試験を継続できることがわかった。
【0013】 さらに、クリ−プ破断試験片がカプセルに内臓されていても、クリ−プ破断時 に高圧のガスがカプセル内に放出されても、ガスの圧力が溶接部に負荷されるこ とがない。このため、従来のクリ−プ破断試験片内臓カプセルよりも長時間の照 射試験を継続することができる。
【0014】 このように、カプセルの強度的に最も弱い溶接部を、カプセル内壁面側からカ プセル外側の冷却材と接するような場所に配置することにより、従来の材料照射 装置では行なえなかったクリ−プ破断試験が、行なえるようになっただけではな く、さらに通常の材料照射試験においても、より長期にわたって実施できるよう になった。
【0015】
以下、本考案の一実施例を図1および図2を用いて説明する。図1は、本考案 の一実施例のカプセルの縦断面模式図、図2は、同カプセルを配設した材料照射 装置の模式図である。図1および図2において、2は試験片、3は試験片バスケ ット、4は内筒管、5は外筒管、8はガスギャップ部、9はガス入口管、10は ガス出口管、11はナトリウム入口管、12はナトリウム出口管、13は軸心管 15はカプセル内筒管−カプセル外筒管の溶接部、16は上部端栓、17は下部 端栓、18は端栓内空間部、19はカプセル、20は材料照射装置である。
【0016】 本カプセルの構成は、500kg/cm2の高圧ガスを封入したクリ−プ破断 試験片2は外径17.5mm、肉厚0.5mmのステンレス製バスケット3に保 持され、内径18mm、外径19mmのステンレス製カプセル内筒管4内に収納 されている。試験片2の温度を高めるためのガスギャップ部8は、カプセル内筒 管4と内径19.3mm、外径20.3mmのステンレス製カプセル5の間に形 成される。ガスは外部のガス供給装置でヘリウム/アルゴン混合ガスに調整され た後、カプセルのガス入口管9より供給され、ガス出口管10から排出される。
【0017】 カプセルの溶接部15はカプセル内筒管4とカプセル外筒管5の間であり、カ プセルの外側で低温のナトリウム冷却材と接する。上部端栓16および下部端栓 17の内部18は軸方向への熱の逃げを防ぐために、熱伝導率の低いアルゴンガ ス等が封入されている。なお、端栓内部18はアルゴンガス等の低熱伝導率のガ スでなく、真空にしてもよい。
【0018】 カプセル19とこれら端栓16、17はねじ構造によって固定される。 カプセル19は、溶接部15で溶接固定されているカプセル内筒管4とカプセ ル外筒管5、上部端栓16および下部端栓17から構成されている。
【0019】 カプセルの組立方法は、最初にカプセル円筒管4に下部端栓17をねじ込みし て、固定させる。試験片バスケット3をカプセル19の上部から挿入した後、試 験片2を配置する。その後、上部端栓16をカプセル円筒管4にねじ込みにて固 定し、カプセル19を組み立てる。照射試験後は、これらの上・下部端栓16、 17をカプセル円筒管4から取外すことにより、試験片2をカプセル19の外へ 取り出すことができる。
【0020】 カプセルの溶接部15がカプセル19の外側に配設されているため、クリ−プ 破断試験片2から高圧のガスがカプセル19内に放出されても、溶接部15には クリ−プ破断時のガス圧による応力は加わらない。しかも、溶接部15が低温の ナトリウム冷却材に取り囲まれているために、溶接部15の両部材4、5の温度 差が小さく、これにより、また材料スエリング差も小さく、これより発生する応 力も小さくなるという効果がある。 図2は図1に示したような複数個のカプセル19を軸方向および径方向に軸心 管13に取り付けて配置した本考案の材料照射装置20である。
【0021】
以上記載したように、本考案の材料照射装置は、カプセル内の溶接部の配置を 変更することにより、数百気圧の高圧ガスを封入したクリ−プ試験片をカプセル 内に配置して、安全にクリ−プ破断試験を行なうことができるようになった。さ らに通常の材料照射試験も長期間に渡って実施できるようになった。
【図1】本考案の一実施例のカプセルの縦断面模式図で
ある。
ある。
【図2】本考案の一実施例のカプセルを配置した材料照
射装置の模式図である。
射装置の模式図である。
【図3】本考案にかかるクリ−プ破断試験の封入ガス圧
と照射温度の関係図である。
と照射温度の関係図である。
【図4】従来例のカプセルの縦断面模式図である。
【図5】従来例のカプセルを配置した材料照射装置の模
式図である。
式図である。
【符号の説明】 1、19 カプセル 2 試験片 3 試験片バスケット 4 内筒管 5 外筒管 6 カプセル内部端栓 7 カプセル内筒管−カプセル内部端栓の溶接
部 8 ガスギャップ部 9 ガス入口管 10 ガス出口管 11 ナトリウム入口管 12 ナトリウム出口管 13 軸心管 14、20 材料照射装置 15 カプセル内筒管−カプセル外筒管の溶接部 16 上部端栓 17 下部端栓 18 端栓内空間部
部 8 ガスギャップ部 9 ガス入口管 10 ガス出口管 11 ナトリウム入口管 12 ナトリウム出口管 13 軸心管 14、20 材料照射装置 15 カプセル内筒管−カプセル外筒管の溶接部 16 上部端栓 17 下部端栓 18 端栓内空間部
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成3年9月5日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【考案の名称】 材料照射装置
【実用新案登録請求の範囲】
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例のカプセルの縦断面模式図で
ある。
ある。
【図2】本考案の一実施例のカプセルを配置した材料照
射装置の模式図である。
射装置の模式図である。
【図3】従来例のカプセルの縦断面模式図である。
【図4】従来例のカプセルを配置した材料照射装置の模
式図である。
式図である。
【符号の説明】 1、19 カプセル 2 試験片 3 試験片バスケット 4 内筒管 5 外筒管 6 カプセル内部端栓 7 カプセル内筒管−カプセル内部端栓の溶接
部 8 ガスギャップ部 9 ガス入口管 10 ガス出口管 11 ナトリウム入口管 12 ナトリウム出口管 13 軸心管 14、20 材料照射装置 15 カプセル内筒管−カプセル外筒管の溶接部 16 上部端栓 17 下部端栓 18 端栓内空間部
部 8 ガスギャップ部 9 ガス入口管 10 ガス出口管 11 ナトリウム入口管 12 ナトリウム出口管 13 軸心管 14、20 材料照射装置 15 カプセル内筒管−カプセル外筒管の溶接部 16 上部端栓 17 下部端栓 18 端栓内空間部
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項1】 流動ナトリウム中に複数個の試験片を収
納することができる内筒と不活性ガスの断熱層と外筒と
を備えた試験用のカプセルを、原子炉炉心内に挿入する
軸心管の外周部に複数個束ねると共に軸心管の軸方向に
も複数段に設けてなる材料照射装置において、前記カプ
セルの溶接部を、カプセルの外側で、冷却材に接触しや
すい位置に配設したことを特徴とする材料照射装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP054157U JPH056399U (ja) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | 材料照射装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP054157U JPH056399U (ja) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | 材料照射装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH056399U true JPH056399U (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=12962716
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP054157U Pending JPH056399U (ja) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | 材料照射装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH056399U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101048095B1 (ko) * | 2009-09-22 | 2011-07-11 | 한국원자력연구원 | 저온 조사시험용 캡슐 및 이를 구비하는 저온 조사시험용 장치 |
-
1991
- 1991-07-12 JP JP054157U patent/JPH056399U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101048095B1 (ko) * | 2009-09-22 | 2011-07-11 | 한국원자력연구원 | 저온 조사시험용 캡슐 및 이를 구비하는 저온 조사시험용 장치 |
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