JPH0566415A - アクテイブマトリクス型液晶表示装置 - Google Patents
アクテイブマトリクス型液晶表示装置Info
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- JPH0566415A JPH0566415A JP22684991A JP22684991A JPH0566415A JP H0566415 A JPH0566415 A JP H0566415A JP 22684991 A JP22684991 A JP 22684991A JP 22684991 A JP22684991 A JP 22684991A JP H0566415 A JPH0566415 A JP H0566415A
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- liquid crystal
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- active matrix
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Abstract
(57)【要約】
【目的】この発明は、レーザーによる画素欠陥補修が可
能で表示電極面積を殆ど犠牲にすることがないアクティ
ブマトリクス型液晶表示装置を提供することを目的とす
る。 【構成】この発明のアクティブマトリクス型液晶表示装
置は、絶縁基板上に形成された薄膜トランジスタと、こ
の薄膜トランジスタのソース電極に接続された表示電極
と、この表示電極に接続された補助容量電極とが、行選
択線および列選択線の交点付近にマトリクス状に配置さ
れたアレイ基板を備え、更に上記表示電極のうち第1の
表示電極38と、この第1の表示電極に隣接する行選択
線と列選択線の交点付近に配置された第2の表示電極4
5との間に、それぞれの電極と重複部分を有し、且つ電
気的に接続されていない導電体47が形成されてなり、
上記の目的を達成することが出来る。
能で表示電極面積を殆ど犠牲にすることがないアクティ
ブマトリクス型液晶表示装置を提供することを目的とす
る。 【構成】この発明のアクティブマトリクス型液晶表示装
置は、絶縁基板上に形成された薄膜トランジスタと、こ
の薄膜トランジスタのソース電極に接続された表示電極
と、この表示電極に接続された補助容量電極とが、行選
択線および列選択線の交点付近にマトリクス状に配置さ
れたアレイ基板を備え、更に上記表示電極のうち第1の
表示電極38と、この第1の表示電極に隣接する行選択
線と列選択線の交点付近に配置された第2の表示電極4
5との間に、それぞれの電極と重複部分を有し、且つ電
気的に接続されていない導電体47が形成されてなり、
上記の目的を達成することが出来る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、スイッチ素子として
薄膜トランジスタ(以下、TFTと略称)を用いたアク
ティブマトリクス型液晶表示装置に関する。
薄膜トランジスタ(以下、TFTと略称)を用いたアク
ティブマトリクス型液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般にアクティブマトリクス型液晶表示
装置は、画素毎に設けられたスイッチ素子によって、表
示素子アレイに画像信号を選択的に印加し、液晶を準ス
タティック的に駆動することにより、高精細・高コント
ラスト・高応答速度でクロストークの無い鮮明な画像を
得ようとするものである。
装置は、画素毎に設けられたスイッチ素子によって、表
示素子アレイに画像信号を選択的に印加し、液晶を準ス
タティック的に駆動することにより、高精細・高コント
ラスト・高応答速度でクロストークの無い鮮明な画像を
得ようとするものである。
【0003】ところで、図5はスイッチ素子としてTF
Tを用いたアクティブマトリクス型液晶表示装置の駆動
原理を説明するための等価回路図であり、走査線1と信
号線2との各交点には、TFT3を介して液晶4と画素
容量5が接続されている。そして、走査回路6は走査線
1に順次ゲートパルスを印加し、それに同期して信号ホ
ールド回路7は走査線1の1ライン分の画像信号を信号
線2に出力する。TFT3は所定の走査線1にゲートパ
ルスが印加されている間で導通状態となり、その時の所
定の信号線2に出力されている画像信号に応じて、画素
容量5に電荷が蓄積され、液晶4が駆動される。更に、
ゲートパルスが次の走査線1に移ると、TFT3は非導
通状態になり、蓄積された電荷は次に走査を受けるまで
保持される結果、液晶4の表示状態が維持される。
Tを用いたアクティブマトリクス型液晶表示装置の駆動
原理を説明するための等価回路図であり、走査線1と信
号線2との各交点には、TFT3を介して液晶4と画素
容量5が接続されている。そして、走査回路6は走査線
1に順次ゲートパルスを印加し、それに同期して信号ホ
ールド回路7は走査線1の1ライン分の画像信号を信号
線2に出力する。TFT3は所定の走査線1にゲートパ
ルスが印加されている間で導通状態となり、その時の所
定の信号線2に出力されている画像信号に応じて、画素
容量5に電荷が蓄積され、液晶4が駆動される。更に、
ゲートパルスが次の走査線1に移ると、TFT3は非導
通状態になり、蓄積された電荷は次に走査を受けるまで
保持される結果、液晶4の表示状態が維持される。
【0004】近年、フラットディスプレイの発展により
ディスプレイ搭載機器の小形化が急速に進展してきた
が、カラー化や更なる高精細化の要求から、アクティブ
マトリクス型液晶表示装置への期待が高まっている。
又、家庭用テレビ受像機やビデオモニターとしては、大
画面化の要求から同液晶表示装置を使用した投射型とし
て期待されている。
ディスプレイ搭載機器の小形化が急速に進展してきた
が、カラー化や更なる高精細化の要求から、アクティブ
マトリクス型液晶表示装置への期待が高まっている。
又、家庭用テレビ受像機やビデオモニターとしては、大
画面化の要求から同液晶表示装置を使用した投射型とし
て期待されている。
【0005】しかしながら、アクティブマトリクス型液
晶表示装置は、その製造過程で薄膜の成長とフォトリソ
グラフィーによる微細加工を要するため、大面積にわた
って無欠陥で製造することは困難とされている。そこ
で、アクティブマトリクス型液晶表示装置の直視型に対
応した大型化,高精細化,又は投射型に対応した小型
化,超高精細化するアクティブマトリクス型液晶表示素
子の量産のためには、生じた欠陥を後工程で補修する技
術の開発が必須であり、様々な提案がなされている。そ
の代表的な例として、レーザーを用いた画素補修法があ
る。
晶表示装置は、その製造過程で薄膜の成長とフォトリソ
グラフィーによる微細加工を要するため、大面積にわた
って無欠陥で製造することは困難とされている。そこ
で、アクティブマトリクス型液晶表示装置の直視型に対
応した大型化,高精細化,又は投射型に対応した小型
化,超高精細化するアクティブマトリクス型液晶表示素
子の量産のためには、生じた欠陥を後工程で補修する技
術の開発が必須であり、様々な提案がなされている。そ
の代表的な例として、レーザーを用いた画素補修法があ
る。
【0006】図6および図7はレーザー補修を考慮した
アクティブマトリクス型液晶表示装置の1画素分の一例
を示す概略図であり、図6は液晶表示装置のアレイ基板
の平面図、図7は図6のC−C′線に沿って切断し矢印
方向に見た液晶表示装置の断面図である。
アクティブマトリクス型液晶表示装置の1画素分の一例
を示す概略図であり、図6は液晶表示装置のアレイ基板
の平面図、図7は図6のC−C′線に沿って切断し矢印
方向に見た液晶表示装置の断面図である。
【0007】同図に示すように、画素の各構成要素はガ
ラス基板10上に形成されている。その一部が補助容量
電極を兼ねる表示電極11は、信号線2の長手方向に沿
って分割されており、その個々にTFT3が設けられて
いる。TFT3は走査線1と一体のゲート電極12,ゲ
ート絶縁膜13,信号線2と一体のドレイン電極14,
表示電極11に接着されたソース電極15,および半導
体層16から構成されている。そして、2つの表示電極
11の間には、ゲート絶縁膜13を介して両方の表示電
極11と重複するように導電体17が形成されている。
又、走査線1と概略平行な方向には、補助容量線18が
表示電極11と部分的にゲート絶縁膜13を介して対向
するように形成されており、表示電極11と補助容量線
18の重なり部分で負荷的な補助容量が得られる。
ラス基板10上に形成されている。その一部が補助容量
電極を兼ねる表示電極11は、信号線2の長手方向に沿
って分割されており、その個々にTFT3が設けられて
いる。TFT3は走査線1と一体のゲート電極12,ゲ
ート絶縁膜13,信号線2と一体のドレイン電極14,
表示電極11に接着されたソース電極15,および半導
体層16から構成されている。そして、2つの表示電極
11の間には、ゲート絶縁膜13を介して両方の表示電
極11と重複するように導電体17が形成されている。
又、走査線1と概略平行な方向には、補助容量線18が
表示電極11と部分的にゲート絶縁膜13を介して対向
するように形成されており、表示電極11と補助容量線
18の重なり部分で負荷的な補助容量が得られる。
【0008】この補助容量は、図5における画素容量5
を増加させ、保持期間でのTFT3の漏れ電流、および
表示電極11と他の電極との間の結合容量による表示電
極電位の変動を緩和する重要な働きを有している。
を増加させ、保持期間でのTFT3の漏れ電流、および
表示電極11と他の電極との間の結合容量による表示電
極電位の変動を緩和する重要な働きを有している。
【0009】一方、図7から明らかなように、ガラス基
板19上には共通電極20が形成されており、液晶4を
介してガラス基板10と対向している。そして、表示電
極11と共通電極20の間の電界により、所定の表示が
なされる。
板19上には共通電極20が形成されており、液晶4を
介してガラス基板10と対向している。そして、表示電
極11と共通電極20の間の電界により、所定の表示が
なされる。
【0010】図6に示した画素は、主に表示電極11・
補助容量線18間ショートの補修を考慮して形成された
ものである。一般に、補助容量部は非常に大きな面積を
有するための上記のショートが生じ易く、画素欠陥の原
因の殆どを占めている。
補助容量線18間ショートの補修を考慮して形成された
ものである。一般に、補助容量部は非常に大きな面積を
有するための上記のショートが生じ易く、画素欠陥の原
因の殆どを占めている。
【0011】図6における画素補修法を述べると、補助
容量線18上の×印部でショートが発生した場合、先ず
破線−(1) に沿ってレーザーカットを行ない、ショート
した補助容量電極部を表示電極11から切り離す。
容量線18上の×印部でショートが発生した場合、先ず
破線−(1) に沿ってレーザーカットを行ない、ショート
した補助容量電極部を表示電極11から切り離す。
【0012】次に、導電体17と表示電極11との重複
部をレーザーボンディングし、両方の表示電極11を電
気的に接続することで、残りの補助容量を両方の表示電
極11間で共有させ、補助容量減少の影響を小さく抑え
ようというものである。
部をレーザーボンディングし、両方の表示電極11を電
気的に接続することで、残りの補助容量を両方の表示電
極11間で共有させ、補助容量減少の影響を小さく抑え
ようというものである。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところで、アクティブ
マトリクス型も含めて液晶表示素子は自発光型ではな
く、その機能は単なる光シャッターに過ぎない。そのた
め、表示素子として重要な性能である明るさを得るため
には、液晶表示素子の光透過率が高い必要がある。この
ため、アレイ基板においては表示電極面積が出来る限り
広い必要がある。
マトリクス型も含めて液晶表示素子は自発光型ではな
く、その機能は単なる光シャッターに過ぎない。そのた
め、表示素子として重要な性能である明るさを得るため
には、液晶表示素子の光透過率が高い必要がある。この
ため、アレイ基板においては表示電極面積が出来る限り
広い必要がある。
【0014】このような要求の下で、図6に示した画素
欠陥補修法の例は、表示電極電位変動を抑えるために表
示電極11が分割されており、更にそれぞれの表示素子
にTFT3が形成されている。その分、画素欠陥補修の
効果はあるもののアレイ基板の表示電極面積が狭くなっ
てしまい、液晶表示素子に要求される透過率を犠牲にし
ていた。
欠陥補修法の例は、表示電極電位変動を抑えるために表
示電極11が分割されており、更にそれぞれの表示素子
にTFT3が形成されている。その分、画素欠陥補修の
効果はあるもののアレイ基板の表示電極面積が狭くなっ
てしまい、液晶表示素子に要求される透過率を犠牲にし
ていた。
【0015】この発明は、上記事情に鑑みなされたもの
で、レーザーによる画素欠陥補修が可能で表示電極面積
を殆ど犠牲にすることがないアクティブマトリクス型液
晶表示装置を提供することを目的とする。
で、レーザーによる画素欠陥補修が可能で表示電極面積
を殆ど犠牲にすることがないアクティブマトリクス型液
晶表示装置を提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】この発明は、第1の絶縁
基板上にゲート電極,ゲート絶縁膜,半導体膜,ソース
電極およびドレイン電極から構成された薄膜トランジス
タと、上記ソース電極に接続された表示電極と、この表
示電極に接続された補助容量とが、上記ゲート電極と一
体の行選択線および上記ドレイン電極と一体の列選択線
の交点付近にマトリクス状に配置されたアレイ基板と、
このアレイ基板と所定間隙で配設され第2の絶縁基板上
に共通電極が形成された対向基板と、上記アレイ基板と
上記対向基板との間に挾持された液晶と、を具備してな
るアクティブマトリクス型液晶表示装置において、
基板上にゲート電極,ゲート絶縁膜,半導体膜,ソース
電極およびドレイン電極から構成された薄膜トランジス
タと、上記ソース電極に接続された表示電極と、この表
示電極に接続された補助容量とが、上記ゲート電極と一
体の行選択線および上記ドレイン電極と一体の列選択線
の交点付近にマトリクス状に配置されたアレイ基板と、
このアレイ基板と所定間隙で配設され第2の絶縁基板上
に共通電極が形成された対向基板と、上記アレイ基板と
上記対向基板との間に挾持された液晶と、を具備してな
るアクティブマトリクス型液晶表示装置において、
【0017】上記表示電極のうち第1の表示電極と、こ
の第1の表示電極に隣接する行選択線と列選択線の交点
付近に配置された第2の表示電極との間に、それぞれの
電極と重複部分を有し、且つ電気的に接続されていない
導電体が形成されてなることを特徴とするアクティブマ
トリクス型液晶表示装置である。
の第1の表示電極に隣接する行選択線と列選択線の交点
付近に配置された第2の表示電極との間に、それぞれの
電極と重複部分を有し、且つ電気的に接続されていない
導電体が形成されてなることを特徴とするアクティブマ
トリクス型液晶表示装置である。
【0018】
【作用】この発明によれば、画素の構成要素の形状・配
置を工夫することにより、画素欠陥を補修し、画素欠陥
の殆ど無い高い表示品位と共に、明るい表示性能を有す
るアクティブマトリクス型液晶表示装置が得られる。
置を工夫することにより、画素欠陥を補修し、画素欠陥
の殆ど無い高い表示品位と共に、明るい表示性能を有す
るアクティブマトリクス型液晶表示装置が得られる。
【0019】
【実施例】以下、図面を参照して、この発明の一実施例
を詳細に説明する。
を詳細に説明する。
【0020】この発明のアクティブマトリクス型液晶表
示装置は図1および図2に示すように構成され、図1は
アレイ基板上の2画素分を示す平面図、図2は図1のA
−A′線に沿って切断し矢印方向から見たTFT部の断
面図である。
示装置は図1および図2に示すように構成され、図1は
アレイ基板上の2画素分を示す平面図、図2は図1のA
−A′線に沿って切断し矢印方向から見たTFT部の断
面図である。
【0021】即ち、図1から明らかなようにTFT30
は、絶縁基板49(図2参照)上に形成された行選択線
31と一体のゲート電極32,ゲート絶縁膜33,半導
体層34,列選択線35と一体のドレイン電極36,補
助容量電極37と一括形成された表示電極38に接着さ
れたソース電極39とから構成されている。
は、絶縁基板49(図2参照)上に形成された行選択線
31と一体のゲート電極32,ゲート絶縁膜33,半導
体層34,列選択線35と一体のドレイン電極36,補
助容量電極37と一括形成された表示電極38に接着さ
れたソース電極39とから構成されている。
【0022】同様にTFT40は、絶縁基板49(図2
参照)上に形成された行選択線31と一体のゲート電極
41,ゲート絶縁膜33,半導体層34,列選択線42
と一体のドレイン電極43,補助容量電極44と一括形
成された表示電極45に接着されたソース電極46とか
ら構成されている。
参照)上に形成された行選択線31と一体のゲート電極
41,ゲート絶縁膜33,半導体層34,列選択線42
と一体のドレイン電極43,補助容量電極44と一括形
成された表示電極45に接着されたソース電極46とか
ら構成されている。
【0023】そして、表示電極38と表示電極45の間
には、各電極38,45および列選択線42のいずれか
らも電気的に浮遊した導電体47が、各電極38,45
に重複するように形成されている。更に、補助容量電極
37,44を横切って、行選択線31と概略平行な方向
に補助容量線48が形成されている。このようなアレイ
基板を、図2を参照して製造工程に従って説明すること
にする。
には、各電極38,45および列選択線42のいずれか
らも電気的に浮遊した導電体47が、各電極38,45
に重複するように形成されている。更に、補助容量電極
37,44を横切って、行選択線31と概略平行な方向
に補助容量線48が形成されている。このようなアレイ
基板を、図2を参照して製造工程に従って説明すること
にする。
【0024】先ず、例えばガラスからなる絶縁基板49
の一主面上には、例えば遮光性材料であるCr(クロ
ム)膜をスパッタ法で被膜した後、所定の形状にフォト
エッチングすることによりゲート電極32,補助容量線
48および導電体47が形成され、更に、これを覆うよ
うに例えば酸化シリコン(SiOx)からなるゲート絶
縁膜33がプラズマCVD法により形成されている。こ
のゲート絶縁膜33は、ゲート電極32とソース電極3
9の間に介在する絶縁膜である。
の一主面上には、例えば遮光性材料であるCr(クロ
ム)膜をスパッタ法で被膜した後、所定の形状にフォト
エッチングすることによりゲート電極32,補助容量線
48および導電体47が形成され、更に、これを覆うよ
うに例えば酸化シリコン(SiOx)からなるゲート絶
縁膜33がプラズマCVD法により形成されている。こ
のゲート絶縁膜33は、ゲート電極32とソース電極3
9の間に介在する絶縁膜である。
【0025】ゲート絶縁膜33のゲート電極32に対向
する部分には、例えばi型の水素化アモルファスシリコ
ン(a−Si:H)からなる半導体層34がプラズマC
VD法を利用して形成されている。更に、半導体層34
上には互いに電気的に分離されたn型の水素化アモルフ
ァスシリコン(a−Si:H)からなるドレイン領域5
0とソース領域51が、同じくプラズマCVD法を利用
して設けられている。そして、半導体層34のソース領
域51側に隣接するゲート絶縁膜33上には、例えばI
TO(インジウム・チン・オキサイド)膜をスパッタ法
で被膜した後、所定の形状にフォトエッチングすること
により表示電極38,補助容量電極37が一括形成され
ている。又、ソース領域51にはソース電極39の一端
が接続され、ソース電極39の他端は表示電極38に延
在して接続されている。
する部分には、例えばi型の水素化アモルファスシリコ
ン(a−Si:H)からなる半導体層34がプラズマC
VD法を利用して形成されている。更に、半導体層34
上には互いに電気的に分離されたn型の水素化アモルフ
ァスシリコン(a−Si:H)からなるドレイン領域5
0とソース領域51が、同じくプラズマCVD法を利用
して設けられている。そして、半導体層34のソース領
域51側に隣接するゲート絶縁膜33上には、例えばI
TO(インジウム・チン・オキサイド)膜をスパッタ法
で被膜した後、所定の形状にフォトエッチングすること
により表示電極38,補助容量電極37が一括形成され
ている。又、ソース領域51にはソース電極39の一端
が接続され、ソース電極39の他端は表示電極38に延
在して接続されている。
【0026】更に、ドレイン領域50には、ドレイン電
極36の一端が接続されている。ここで、ドレイン電極
36とソース電極39は、例えばMo(モリブデン)膜
とAl(アルミニウム)膜とをスパッタ法で順次被膜し
た後、所定の形状にフォトエッチングするという同じ工
程で形成しており、又、図1における行選択線31もド
レイン電極36とソース電極39と同じ工程で形成して
いる。こうして所望のアレイ基板52が得られる。
極36の一端が接続されている。ここで、ドレイン電極
36とソース電極39は、例えばMo(モリブデン)膜
とAl(アルミニウム)膜とをスパッタ法で順次被膜し
た後、所定の形状にフォトエッチングするという同じ工
程で形成しており、又、図1における行選択線31もド
レイン電極36とソース電極39と同じ工程で形成して
いる。こうして所望のアレイ基板52が得られる。
【0027】一方、例えばガラスからなる絶縁基板53
の一主面上には、例えばITOからなる共通電極54が
形成されることにより、対向基板55が構成されてい
る。そして、アレイ基板52の一主面上には、更に全面
に例えばポリイミド(PI)からなる配向膜56が形成
されており、又、対向基板55の一主面上にも、全面に
同じく例えばポリイミド(PI)からなる配向膜57が
形成されている。そして、アレイ基板52と対向基板5
5の一主面上に、各々の配向膜56,57を所定の方向
に布等で擦ることにより、ラビングによる配向処理がそ
れぞれ施されるようになる。更に、アレイ基板52と対
向基板55とは、互いの一主面側が対向し且つ互いの配
向膜56,57が概略90°をなすように組み合わせら
れ、これより得られる間隙には液晶60が挾持されてい
る。
の一主面上には、例えばITOからなる共通電極54が
形成されることにより、対向基板55が構成されてい
る。そして、アレイ基板52の一主面上には、更に全面
に例えばポリイミド(PI)からなる配向膜56が形成
されており、又、対向基板55の一主面上にも、全面に
同じく例えばポリイミド(PI)からなる配向膜57が
形成されている。そして、アレイ基板52と対向基板5
5の一主面上に、各々の配向膜56,57を所定の方向
に布等で擦ることにより、ラビングによる配向処理がそ
れぞれ施されるようになる。更に、アレイ基板52と対
向基板55とは、互いの一主面側が対向し且つ互いの配
向膜56,57が概略90°をなすように組み合わせら
れ、これより得られる間隙には液晶60が挾持されてい
る。
【0028】そして、アレイ基板52と対向基板55の
他主面側には、それぞれ偏光板58,59が被着されて
おり、アレイ基板52と対向基板55のどちらか一方の
他主面側から照明を行なう形になっている。
他主面側には、それぞれ偏光板58,59が被着されて
おり、アレイ基板52と対向基板55のどちらか一方の
他主面側から照明を行なう形になっている。
【0029】この実施例では、補助容量部の×印に補助
容量電極37,44間ショートが生じた場合、先ず破線
(2) に沿ってレーザカッティングを行ない、欠陥が生じ
た補助容量電極37を表示電極38から切り離す。この
時点では、表示電極38は画素欠陥にはならないもの
の、周辺正常画素との画素電極電位差が無視出来ないほ
ど大きくなり、表示品位を落としてしまう。
容量電極37,44間ショートが生じた場合、先ず破線
(2) に沿ってレーザカッティングを行ない、欠陥が生じ
た補助容量電極37を表示電極38から切り離す。この
時点では、表示電極38は画素欠陥にはならないもの
の、周辺正常画素との画素電極電位差が無視出来ないほ
ど大きくなり、表示品位を落としてしまう。
【0030】そこで、次に表示電極38と表示電極45
との間に形成され電気的に浮遊させてあった導電体47
とそれぞれの電極とのレーザボンディングを行ない、表
示電極38と表示電極45とを電気的に接続し、補助容
量電極44と補助容量線48で構成される補助容量を表
示電極38,45で共有する。こうすることで画素欠陥
補修のために画素を分割する必要がなく、即ち、画素分
割に伴なう表示電極面積の減少がなく、表示素子として
明るい、且つ画素欠陥補修が可能で表示品位の良い、ア
クティブマトリクス型液晶表示装置が得られる。 (他の実施例)
との間に形成され電気的に浮遊させてあった導電体47
とそれぞれの電極とのレーザボンディングを行ない、表
示電極38と表示電極45とを電気的に接続し、補助容
量電極44と補助容量線48で構成される補助容量を表
示電極38,45で共有する。こうすることで画素欠陥
補修のために画素を分割する必要がなく、即ち、画素分
割に伴なう表示電極面積の減少がなく、表示素子として
明るい、且つ画素欠陥補修が可能で表示品位の良い、ア
クティブマトリクス型液晶表示装置が得られる。 (他の実施例)
【0031】図3および図4はこの発明の他の実施例を
示したもので、図3はアレイ基板上の2画素分を示す平
面図、図4は図3のB−B′線に沿って切断し矢印方向
に見たTFT部の断面図であり、上記実施例と同様効果
が得られる。
示したもので、図3はアレイ基板上の2画素分を示す平
面図、図4は図3のB−B′線に沿って切断し矢印方向
に見たTFT部の断面図であり、上記実施例と同様効果
が得られる。
【0032】この他の実施例では、上記実施例の場合に
比べ、電気的に浮遊させてある導電体47が図3の縦方
向に隣接した画素の表示電極38,45に重複するよう
に2箇所に形成されている点で異なっている。この他の
実施例における補修方法は、上記実施例の場合と同様で
ある。
比べ、電気的に浮遊させてある導電体47が図3の縦方
向に隣接した画素の表示電極38,45に重複するよう
に2箇所に形成されている点で異なっている。この他の
実施例における補修方法は、上記実施例の場合と同様で
ある。
【0033】
【発明の効果】この発明によれば、画素の構成要素の形
状・配置を工夫することにより、画素欠陥を補修し、画
素欠陥の殆ど無い高い表示品位と共に、明るい表示性能
を有するアクティブマトリクス型液晶表示装置を実現す
ることが出来る。
状・配置を工夫することにより、画素欠陥を補修し、画
素欠陥の殆ど無い高い表示品位と共に、明るい表示性能
を有するアクティブマトリクス型液晶表示装置を実現す
ることが出来る。
【図1】この発明の一実施例に係るアクティブマトリク
ス型液晶表示装置におけるアレイ基板上の2画素分を示
す平面図。
ス型液晶表示装置におけるアレイ基板上の2画素分を示
す平面図。
【図2】図1のA−A′線に沿って切断し矢印方向に見
たTFT部の断面図。
たTFT部の断面図。
【図3】この発明の他の実施例に係るアクティブマトリ
クス型液晶表示装置におけるアレイ基板上の2画素分を
示す平面図。
クス型液晶表示装置におけるアレイ基板上の2画素分を
示す平面図。
【図4】図3のB−B′線に沿って切断し矢印方向に見
たTFT部の断面図。
たTFT部の断面図。
【図5】従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置の
等価回路図。
等価回路図。
【図6】従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置に
おけるアレイ基板上の2画素分を示す平面図。
おけるアレイ基板上の2画素分を示す平面図。
【図7】図6のC−C′線に沿って切断し矢印方向に見
たTFT部の断面図。
たTFT部の断面図。
【符号の説明】30 ,40…TFT、31…行選択線、32,41…ゲ
ート電極、33…ゲート絶縁膜、34…半導体膜、3
5,42…列選択線、36,43…ドレイン電極、3
7,44…補助容量電極、38,45…表示電極、3
9,46…ソース電極、47…導電体、48…補助容量
線、49、53…絶縁基板、52…アレイ基板、54…
共通電極、55…対向基板、60…液晶。
ート電極、33…ゲート絶縁膜、34…半導体膜、3
5,42…列選択線、36,43…ドレイン電極、3
7,44…補助容量電極、38,45…表示電極、3
9,46…ソース電極、47…導電体、48…補助容量
線、49、53…絶縁基板、52…アレイ基板、54…
共通電極、55…対向基板、60…液晶。
Claims (1)
- 【請求項1】 第1の絶縁基板上にゲート電極,ゲート
絶縁膜,半導体膜,ソース電極およびドレイン電極から
構成された薄膜トランジスタと、上記ソース電極に接続
された表示電極と、この表示電極に接続された補助容量
電極とが、上記ゲート電極と一体の行選択線および上記
ドレイン電極と一体の列選択線の交点付近にマトリクス
状に配置されたアレイ基板と、 このアレイ基板と所定間隙で配設され第2の絶縁基板上
に共通電極が形成された対向基板と、 上記アレイ基板と上記対向基板との間に挾持された液晶
と、を具備してなるアクティブマトリクス型液晶表示装
置において、 上記表示電極のうち第1の表示電極と、この第1の表示
電極に隣接する行選択線と列選択線の交点付近に配置さ
れた第2の表示電極との間に、それぞれの電極と重複部
分を有し、且つ電気的に接続されていない導電体が形成
されてなることを特徴とするアクティブマトリクス型液
晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22684991A JPH0566415A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | アクテイブマトリクス型液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22684991A JPH0566415A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | アクテイブマトリクス型液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0566415A true JPH0566415A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=16851531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22684991A Pending JPH0566415A (ja) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | アクテイブマトリクス型液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0566415A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5373379A (en) * | 1992-05-13 | 1994-12-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Repairable liquid crystal display panel with laser fusible links |
| WO2002065203A1 (en) * | 2001-02-15 | 2002-08-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal display and its repairing method |
| WO2003014817A1 (en) * | 2001-08-08 | 2003-02-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
| KR100542300B1 (ko) * | 1998-06-22 | 2006-04-12 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정 표시 장치 |
| JP2010009047A (ja) * | 2008-06-25 | 2010-01-14 | Beijing Boe Optoelectronics Technology Co Ltd | アレイ基板及びアレイ基板の断線修復方法 |
| EP2357520A4 (en) * | 2008-12-10 | 2012-05-30 | Sharp Kk | ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, PROCESS FOR PREPARING AN ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, LIQUID CRYSTAL SCREEN, METHOD FOR PRODUCING A LIQUID CRYSTAL SCREEN, LIQUID CRYSTAL DISPLAY ARRANGEMENT, LIQUID CRYSTAL DISPLAY UNIT AND TV RECEIVER |
| KR20190072217A (ko) * | 2017-12-15 | 2019-06-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 전계발광 표시장치 |
-
1991
- 1991-09-06 JP JP22684991A patent/JPH0566415A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5373379A (en) * | 1992-05-13 | 1994-12-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Repairable liquid crystal display panel with laser fusible links |
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| US7061572B2 (en) | 2001-08-08 | 2006-06-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal display device with pixel electrode connecting portion and storage capacitor electrode performing initialization process |
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| US8659712B2 (en) | 2008-12-10 | 2014-02-25 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate, method for manufacturing active matrix substrate, liquid crystal panel, method for manufacturing liquid crystal panel, liquid crystal display device, liquid crystal display unit, and television receiver |
| KR20190072217A (ko) * | 2017-12-15 | 2019-06-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 전계발광 표시장치 |
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