JPH0566733B2 - - Google Patents

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JPH0566733B2
JPH0566733B2 JP59202890A JP20289084A JPH0566733B2 JP H0566733 B2 JPH0566733 B2 JP H0566733B2 JP 59202890 A JP59202890 A JP 59202890A JP 20289084 A JP20289084 A JP 20289084A JP H0566733 B2 JPH0566733 B2 JP H0566733B2
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JP
Japan
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cassette
doors
canopy
door
box
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JP59202890A
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Jei Toorisu Baakurei
Paritsuku Maihaa
Roorensu Surashaa Deebitsudo
Ii Jonsuton Maaku
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HP Inc
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Hewlett Packard Co
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Publication date
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Publication of JPS60227437A publication Critical patent/JPS60227437A/ja
Publication of JPH0566733B2 publication Critical patent/JPH0566733B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/30Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
    • H10P72/34Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H10P72/3408Docking arrangements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S414/00Material or article handling
    • Y10S414/135Associated with semiconductor wafer handling
    • Y10S414/139Associated with semiconductor wafer handling including wafer charging or discharging means for vacuum chamber
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S414/00Material or article handling
    • Y10S414/135Associated with semiconductor wafer handling
    • Y10S414/14Wafer cassette transporting

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は集積回路処理装置において、集積回路
ウエーハを外部環境にさらすことなく処理する集
積回路処理用インターフエース装置に関する。
処理の歩どまりは長い間集積回路(IC)の製
造においての大きな関心事であつた。IC処理の
失敗の主な原因は処理環境に埃のような微粒子が
存在することである。したがつて従来のIC処理
は空気を絶えず循環し空中微粒子をろ過取除する
クリーンルームで行われる。更に、作業員は、作
業員がクリーンルームを動き廻るとき入り込む多
数の微粒子を減らす目的で特殊な服を着用する。
最終段階では、最も傷つき易いIC処理段階の多
くはさらに、ろ過空気の層流のもとで行なわれ、
局部的微粒子汚染源からも保護している。
残念ながら、このような環境には幾つかの欠点
がある。第1に、このように特別に設計した部屋
は構成および保守とにかなり費用がかかるばかり
でなく、このような環境での作業は不便である。
第2に、製品不良を起こす微粒子の大きさは通
常、製品の形体の最小の大きさの1/4から1/3以上
であるから、新しいIC製品の寸法が小さくなる
につれて、処理の歩どまりを許容範囲に維持する
ためには汚染レベルを絶えず減らすことが必要で
ある。この問題は、形体の最小の大きさが超大規
模集積回路(VLSI)においては1ミクロンより
小さくなるので特にきびしくなる。ICの集積度
を一層増加させるのが要求されるにつれて、広大
なクリーンルーム全体をよりクリーンにするには
限界がある。
本発明はICの製造において伝統的なクリーン
ルームを使用しないようにするものである。かわ
りに、ウエーハ上にふりかかる微粒子束を格段に
減らして微粒子汚染を減らす新しい標準化された
機械的インターフエース(SMIF)システムを採
用する。これは輸送、保管、およびほとんどの処
理段階の期間中、機械的に、ウエーハを取巻く気
体をウエーハに対して本質的に静止させ、且つ外
部の周囲環境がウエーハの環境に入り込むことが
できないようにしている。実験によれば、SMIF
システムのウエーハ処理では従来のクラス100の
クリーンルームによるウエーハ処理方式と比較し
てウエーハの微粒子汚染がほとんど10倍も減るこ
とが示された。更に、SMIFシステムの微粒子汚
染のレベルは周囲の外部環境とは無関係なので、
ICの製造は清浄でない施設の中で行うことがで
きる。このように、高価で不便なクリーンルーム
が除かれるばかりでなく、微粒子汚染物の集中が
少ないため高密度VLSIプロセスに対して処理の
歩どまりが維持できるばかりか向上さえできる。
実験ではVLSI回路のかなりな数の処理欠陥は
粒子によつて起り、これら粒子の多くはたとえ無
塵服を着用しても人間の操作に関係して生ずるこ
とがわかつている。座つている人間が軽く手、前
腕、頭を動かすと適切な無塵服を着ていても毎分
100000個を超す粒子を発生し、その粒子の大きさ
はすべて0.3ミクロンより大きい。したがつて
SMIFシステムは二つの部分から構成される。(1)
処理機器の各部のウエーハ処理器具を取囲んだ清
浄ガスを充填した天蓋と、(2)機械から機械へウエ
ーハを運ぶ小型で静浄な静止ガスの箱とである。
装置の各種部分は微粒子の無い独特なドツキング
可能なドアによつて空気閉鎖する必要なしに機械
的に連絡される。このドアは機械の各種部分上に
あつて、埃つぽい外部環境によりドアの外表面に
たまつた微粒子を捕えるように取付けられている
ドアから成る。一旦結合すると、ドアは一体とな
つて清浄な内部空間に移動し、装置の構成部品の
間に微粒子の無いインターフエースを開く。次い
でウエーハは人間の侵入なしに機械の腕とエレベ
ータとで装置内に移動される。実際のウエーハの
運動もロボツト式の操作機構を使用して完全に自
動化できて更に生産性が向上できる。このように
ICウエーハの人手による取扱いを省き、ICプロ
セスの大部分を通じてウエーハを静止空気環境に
維持することによつて、微粒子を減らし、プロセ
スの歩どまりが向上する。以下図面を用いて本発
明を説明する。
概念的に、SMIFシステムは次の二つの部分か
ら構成される。
(1) 処理機器の各部分のウエーハ処理器具を取り
囲む清浄空気を満たした天蓋と、 (2) ウエーハを機械から機械へ運ぶ小形の清浄空
気を満たした箱。
実際には、SMIF装置は、SMIFサブシステム
を形成する幾つかの小さな清浄空気の箱と天蓋と
から組立てており、そしてシブシステムはそれぞ
れ3個のSMIFサブシステム構成要素から組立て
られている。
第1図に示すとおり第1のSMIFサブシステム
構成要素は天蓋10である。天蓋10は処理機器
15の各ウエーハ処理機構(たとえば、フオトレ
ジスト塗布機、マスク合わせ器、検査機器など)
を覆う取外し易いシールドである。一般に、天蓋
10はレクサンのような透明なプラスチツクで構
成され、後に必要となる天蓋10の内部の検査あ
るいは保守を行い易くなつている。他のサブシス
テム構成要素はSMIFカセツトポート20と
SMIFカセツト操作器30とであつて、これらは
所定位置で天蓋10に取り付けられている。天蓋
10は処理機器15の処理機構を囲んでいるの
で、クリーンルーム内で処理機器15を囲む必要
はない。
第2A図はSMIFカセツトポート20の詳細を
示す。ポート20は代表的には天蓋取付板50を
用いて天蓋10の水平面40に取付けられる。ポ
ート20は更にポートドア60とポートドアエレ
ベータ機構70とを含んでいる。このエレベータ
機構70はICウエーハ82が入つているカセツ
ト80を天蓋10の内部に運び込む。ウエーハ8
2は第2B図に示すように、ウエーハ制動器85
によつてカセツト80内に保持される。このウエ
ーハ制動器85は、ドア100に取り付けられ、
そしてカセツト80の重量で付勢される。
SMIF箱90は、カセツト80を処理機器15
の一つの処理機構から他へ輸送するのに使用する
が、SMIFポート20を介して天蓋10と連絡し
ている。SMIF箱90は楔形のリツプ95により
SMIFポート20と整列しておりポート20のド
ア60と連動するドア100が付いている。ドア
60と100とは共に、第2図に開いた位置(下
に下がつた位置)を示してあるが、微粒子を侵入
させないドツキング可能なインターフエース11
0を構成している。これについての詳細を簡潔に
述べる。インターフエース110はポート20に
箱90をラツチする手段ともなつており、したが
つてエレベータ機構70は箱90と天蓋10との
間でカセツト80を自由に輸送することができ
る。トア60と100とはこれらの外面の微粒子
の大部分がドア60と100との間に捕えられる
ように作られている(後述する)。このように、
カセツト80に保持されているウエーハはインタ
ーフエース110を開いたとき汚染されることは
ない。
一旦カセツト80が天蓋10の中に入ると、カ
セツト80は必要に応じてカセツト操作器30で
操作することができる。人手操作のカセツト操作
器30を第3図に示す。操作器30は一般に長さ
60〜92cmの腕120と、内端(清浄空気で覆われ
ている)にカセツト把持器130、外端(外気で
覆われている)に握り部140とを備えている。
軸受150は腕120に角運動および内・外運動
をさせると共にきたない外気が侵入しないように
空気を封止する。カセツト把持器130は把持器
スイツチ155で作動してカセツト80を保持
し、次いで握り部140に取付けられているつま
み160で垂直軸の周りに回転することができ
る。操作器取付板170は軸受150と、ポート
作動スイツチ180とを支持している。このポー
ト作動スイツチ180は、ドア60と100との
ラツチとエレベータ機構70の運動とを作動させ
る。機械的ダンパ181が腕120の運動の3軸
に沿つて設けられていて把持器130の運動の速
さを制限している。操作器取付板170は第1図
に示すとおり天蓋10にボルト止めされている。
第3B図および第3C図はカセツト操作器30
の他の実施例を示しており、182は握り棒、1
83はウエーハ把持器である。握り棒182は把
持器130が無いカセツト操作器30であつて目
的物を天蓋10の内部に押込むのに使用する。ウ
エーハ把持器183はカセツト把持器130の代
わりに三つ又爪184または同様な機構を備えた
カセツト操作器30であつてウエーハを必要に応
じ直接把持することができる。
前述の天蓋10とSMIF箱90とは全体として
人間の介在が不要でしかもICウエーハの表面に
たまる微粒子を減らすために常時ろ過した空気を
流動させてはいないことを注目すべきである。そ
のかわり、ICの清浄さは静止空気の内部環境を
維持することにより得られる。天蓋10と箱90
とにはそれぞれ粒子をろ過できる開口11および
91を設けることができ、(第4図を参照)内部
および外部(周囲)の空気圧を連続的に等しくす
ることができる。このようなろ過圧力等化開口1
1と91とにより、インターフエース110を開
きウエーハを箱90から天蓋10に移動させると
き天蓋10と箱90との間の圧力差と空気流とを
最少限にすることができる。更に、天蓋10と箱
90との内部に接近するには、囲みの内部では本
質的に体積が一定でありしたがつてICウエーハ
が動き回つたとき内部体積がそれ程変らないよう
になつている機械の腕を用いて行う。したがつ
て、処理中に内部空気圧の変化がほとんどまたは
全く無いから、天蓋10または箱90には気密封
止の必要が無く、ICウエーハ面上の微粒子は空
気の流動が禁止されることにより更に減少する。
第4図はSMIFカセツトポート20を天蓋10
に取付けた場合の断面図で、垂直に開く機種を示
す。水平に開く機種も、垂直に開く機種にわずか
な機械的変更を加えることにより達成できる。す
なわち、ドアを保持するのに重力を利用すること
ができないから、ドア60と100との間に第5
図に示すように正のばね負荷ラツチ185と解放
ケーブル187とを設けるようにすればよい。カ
セツト箱90は1個のカセツト80を入れるよう
になつていてICウエーハを保持するカセツト8
0そのものよりわずかに大きいだけである。カセ
ツト箱90は一般に側面が透明になつていて必要
になる場合人間がたやすく観察できる。先に述べ
た微粒子のないドツキング可能なインターフエー
ス110によつて、天蓋10およびSMIF箱90
のような独立した二つの清浄環境装置を清浄に微
粒子の存在なしに結合できる。インターフエース
110は風媒微粒子、特に大きさの範囲が0.1な
いし0.2ミクロンのものが、きれいな機械容器中
に入つて来ないようにしている。
第4図は封入体の天蓋10と箱90とが接触域
190に沿つて結合された状態を示す。カセツト
80、ドア100および箱90はラツチ210、
案内リツプ275等により一体化されている。本
発明においては、空間10′および90′を、外部
環境にまたは天蓋10および90のドア60およ
び100の外表面に露出させずに接触域190を
開く必要がある。特に、ドア60および100を
開くとき、接触開口195の中にある接触域19
0の外表面の部分は互いに接触しており、それに
よりドア60と100の間の外面上に存在する微
粒子を捕える。そして接触域190はドア60と
100とは一体となつて空間10′の内部に移動
している間接触しつづける。
ドア60と100とは軸200に関して円対称
または直角対称である。インターフエース110
を開くまで、ドア100は機密軸受すなわちブツ
シング215で空間90の壁を貫通するラツチ2
10によつて所定の位置に保持されている。天蓋
10と箱90とはリツプ95においてクランプ2
20で結合されている。第4図に示す特定の実施
例においてエレベータ70のピストン230は、
天蓋10と箱90の中に空間を確保するために、
空間10′と90′の外側に置かれる。ピストン2
30は腕240とロツド250とでドア60と結
合している。ロツド250は天蓋10の壁を貫通
し、そして埃つぽい周囲の空気が侵入しないよう
にベローズ260によつて囲まれている。通気孔
270はエレベータ70が動きベローズ260が
伸び縮みするときベローズ260の内側の空気圧
を等しくするために設けられている。通気孔27
0を通過する空気は埃つぽい周囲空気であるが、
ベローズ260が空間10′と腕250とを気密
に隔離しているので空間10′が汚染されること
はないことに注目すべきである。インターフエー
ス110を開くには、ラツチ210を解放し、ピ
ストン230を伸ばし、そしてエレベータ70に
よりドア60と100とを一体として空間10′
内に移す。それによりカセツト80は案内リツプ
275の助けで整列されて空間10′の中に運び
込まれる。同時に二つのドア60と100との間
の表面微粒子は捕えられ、埃つぽい周囲の空気が
侵入しないようにされる。
ドア60と100との間の表面微粒子を捕える
ためには、これらのドアが互いに一様に且つ密接
にそれぞれの外周280と285の周りで接触す
るだけでよい。ドア60と100とはインターフ
エース110の全体に亘つて互いに平らに合わさ
る必要はない。事実、ドア60と100との間に
は、外周280と285との内側に空隙290が
残つていることが望ましい。空隙290はドア6
0と100との間で圧縮性の空気空間を作り、そ
の結果ドア60と100との間に捕えられた埃つ
ぽい空気が、ドア60と100とを一緒に移動す
るとき、軸200に垂直な面内に高速で投入する
ことがなくなる。これがないと、捕えられた埃つ
ぽい空気の一部分が空間10と90とに流入する
可能性がある。空隙290はドア60と100と
が、接触域190が大きな密着表面である場合に
起り得るような空気圧によつて密着することがな
いようにもしている。普通は空隙290は接触開
口195の80%以上を占めている。
理想的には、ドア60と100とは外周280
と285とが一つの連続した表面となるように固
定されるべきである。したがつて、外周280と
285とが接触するジヨグル295は可能なかぎ
り小さく(たとえば、約2.5〜5.1ミリより小さ
い)しておくべきである。何故ならジヨグル29
5の上にある微粒子はインターフエース110を
開いたとき清浄な空間10および90の中に持ち
込まれるからである。外周280にはいくらかの
微粒子が存在するであろうから、ドア60に微粒
子受側溝297を設けてインターフエース110
を開いたとき外周280および285をころがり
落ちる微粒子を捕える。かわりに、外周280と
285からの微粒子を始終天蓋10の底に落着か
せれば微粒子受側溝297を省略することができ
る。また箱90が天蓋10から分離されるとき、
ドア100はカセツト80および箱90と共に移
動し、箱90やカセツト80中のウエーハに埃や
他の汚染源が侵入するのを防止する。カセツト8
0は全体として閉鎖した封入体であるのでクリー
ンルームの必要性なしに、自由に運搬することが
できる。
第6図はSMIF箱保管ユニツト300を示す。
箱保管ユニツト300は基本的にはカセツト箱9
0を貯える開いたラツクである。
第7図はICウエーハを保持するカセツト80
を保管するカセツト保管ユニツト320を示す。
カセツト保管ユニツト320は天蓋10、ポート
20、およびそれに付属する操作器30を備える
デシケータ箱である。カセツト保管ユニツト32
0は典型的にはカセツト処理バツフアとして働
く。
最初カセツトは第8図に示すようにシステムイ
ンターロツク330を介してSMIFシステムに入
る。これは代表的に一端には出入室340を他端
にSMIFポート20を有する幅約120cmのグロー
ブ・ボツクスである。新しいウエーハ・パツケー
ジ345からカセツト(図示せず)にウエーハを
移すために必要な複雑な運動機構よりは手袋35
0を使用する必要がある。カセツト80とウエー
ハとは出入室340を通つてSMIF装置に入つた
り出たりする。システムインターロツク330の
内圧は人間の手が手袋350に出入りするとき急
激に変化することがあるから、システムインター
ロツク330は緊密に構成して外部のろ過しない
空気が侵入しないようにすること、およびシステ
ムインターロツク330に空気ろ過ユニツト35
5を使用する必要があることに注意すべきであ
る。空気ろ過ユニツト355には従来の強制空気
フイルタまたは静電集塵器のような微粒子収集器
を一緒に入れてもよい。一般に微粒子汚染の観点
からは第1図に示すように天蓋10に機械的操作
器30を使用するよりは、あまり望ましくない
が、天蓋10の内部で更に運動に弾力性を持たせ
るために手袋350を使用することができる。こ
のような手袋350の使用は、手袋350を使用
することによつて引き起こされる外部のろ過しな
い空気の侵入により汚染される可能性のあるIC
ウエーハが存在しない期間に、天蓋10の内部を
保守するには特に有用である。
ろ過ユニツト355はこのような保守期間に侵
入したかもしれない微粒子を除去するため天蓋上
に使用することもできる。
ICはそれ自身の閉鎖容器で輸送され取扱いは
機械の腕で行われるので、静止または可動のロボ
ツトを使用することによつてICの生産設備を完
全に自動化することも可能である。このロボツト
は各SMIF構成要素に結合されるコンピユータ制
御ロボツト製作器に接続される。処理が人手で行
われようとあるいは自動的に行われようと、
SMIF構成要素を従来のIC処理機器と組合わせる
ことによつてIC製造区域はまず第1に従来のク
リーンルーム環境を必要とせずに構成でき同時に
ICの清浄さも向上することになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による集積回路処理用インター
フエース装置を含む集積回路処理装置の概略斜視
図、第2A図は本発明による集積回路処理用イン
ターフエース装置を含むカセツトポートの斜視
図、第2B図は集積回路を収納するカセツトの斜
視図、第3A図乃至第3C図はカセツト操作器の
斜視図、第4図はカセツトポートと天蓋との結合
状態を示した集積回路処理装置の断面図、第5図
はインターフエース装置の他の実施例を示した
図、第6図はカセツトを内蔵するボツクスの収納
ユニツトの斜視図、第7図はICウエーハを内蔵
するカセツトを収納するためのユニツトの斜視
図、第8図はカセツトを最初にカセツトポートに
入れるためのシステム・インターロツクの斜視図
である。 15:集積回路処理装置、10:天蓋、20:
カセツト・ポート、30:カセツト操作器、7
0:エレベータ機構、80:カセツト、90:ボ
ツクス、60,100:ドア、110:インター
フエース、80:カセツト、82:ウエーハ、8
5:ダンパー、50:天蓋取付板、120:腕、
130:カセツト把持器、150:軸受、18
1:ダンパー、140:握り部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 集積回路ウエーハを収納するカセツトを覆う
    第1封入体の開口部を封止する第1ドアと、第2
    封入体の開口部を封止する第2ドアと、前記第
    1、第2ドアを対向させて前記第1、第2封入体
    を結合する手段と、前記第1、第2ドアを一体化
    して上下に移動させ、前記第1、第2封入体から
    分離し、前記第1ドア上にある前記カセツトを前
    記第2封入体内に移動させるエレベータ手段とを
    含み、前記第1、第2ドアのうち少なくとも一方
    の外表面は凹状部を有し、前記第1、第2ドアを
    対向配置させたとき、これらドアの間に空〓部が
    生じ、前記第1、第2封入体が分離状態にあつた
    とき前記ドアの外表面に付着した汚染物は前記第
    1、第2ドアを対向配置させたとき、これらドア
    の間に捕獲されるようにした集積回路用インター
    フエース装置。 2 前記第2ドアの外周部には微粒子受用の側溝
    が設けられている特許請求の範囲第1項に記載の
    集積回路用インターフエース装置。 3 前記カセツトを前記第2封入体内に移動する
    とき前記第1、第2ドアは重力により一体に支持
    される特許請求の範囲第1項に記載の集積回路用
    インターフエース装置。
JP59202890A 1983-09-28 1984-09-27 集積回路用インターフェース装置 Granted JPS60227437A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/536,600 US4532970A (en) 1983-09-28 1983-09-28 Particle-free dockable interface for integrated circuit processing
US536600 1983-09-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60227437A JPS60227437A (ja) 1985-11-12
JPH0566733B2 true JPH0566733B2 (ja) 1993-09-22

Family

ID=24139181

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59202890A Granted JPS60227437A (ja) 1983-09-28 1984-09-27 集積回路用インターフェース装置

Country Status (2)

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US (1) US4532970A (ja)
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