JPH0567341A - 光ヘツド - Google Patents
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- JPH0567341A JPH0567341A JP4046361A JP4636192A JPH0567341A JP H0567341 A JPH0567341 A JP H0567341A JP 4046361 A JP4046361 A JP 4046361A JP 4636192 A JP4636192 A JP 4636192A JP H0567341 A JPH0567341 A JP H0567341A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
-
- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 フォーカス誤差信号の検出に関しては、光検
出器上で光スポットが位置ずれを起こすことがなく、ま
た、トラッキング誤差信号については調整を行なうこと
ができ、さらに、−１次回折光についても信号検出に用
いることが可能な光ヘッドを提供する。 【構成】 ビームスプリッタ３と光検出器９との間に、
円筒レンズ７と回折方向または回折角の互いに異なる２
領域から成る回折格子８とを設置し、回折格子８の回折
光を０次回折光（直接透過光）を含めて光検出器９に導
く。０次回折光を用いて非点収差法によるフォーカス誤
差信号を検出し、±１次回折光を用いてトラッキング誤
差信号を検出する。
出器上で光スポットが位置ずれを起こすことがなく、ま
た、トラッキング誤差信号については調整を行なうこと
ができ、さらに、−１次回折光についても信号検出に用
いることが可能な光ヘッドを提供する。 【構成】 ビームスプリッタ３と光検出器９との間に、
円筒レンズ７と回折方向または回折角の互いに異なる２
領域から成る回折格子８とを設置し、回折格子８の回折
光を０次回折光（直接透過光）を含めて光検出器９に導
く。０次回折光を用いて非点収差法によるフォーカス誤
差信号を検出し、±１次回折光を用いてトラッキング誤
差信号を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学的情報記録媒体に
対し情報信号の再生または記録再生を行なう光ヘッドに
関し、特に、非点収差法によるフォーカス誤差信号とプ
ッシュプル法によるトラッキング誤差信号を１系統の光
学系で一括して検出し、かつ、フォーカス誤差信号とト
ラッキング誤差信号を独立して調整可能な光ヘッドの構
成に関するものである。
対し情報信号の再生または記録再生を行なう光ヘッドに
関し、特に、非点収差法によるフォーカス誤差信号とプ
ッシュプル法によるトラッキング誤差信号を１系統の光
学系で一括して検出し、かつ、フォーカス誤差信号とト
ラッキング誤差信号を独立して調整可能な光ヘッドの構
成に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図８は非点収差法によるフォーカス誤差
信号とプッシュプル法によるトラッキング誤差信号を検
出する従来の光ヘッドの構成を示す構成図である。半導
体レーザ１から発射された光束は、コリメートレンズ２
によって平行光となり、偏光ビームスプリッタ３、１／
４波長板４を透過し、反射ミラー１３によって進行方向
を変えられた後、対物レンズ５によって情報記録媒体で
あるディスク２１に照射される。
信号とプッシュプル法によるトラッキング誤差信号を検
出する従来の光ヘッドの構成を示す構成図である。半導
体レーザ１から発射された光束は、コリメートレンズ２
によって平行光となり、偏光ビームスプリッタ３、１／
４波長板４を透過し、反射ミラー１３によって進行方向
を変えられた後、対物レンズ５によって情報記録媒体で
あるディスク２１に照射される。
【０００３】ディスク２１からの反射光は、対物レンズ
５、反射ミラー１３、１／４波長板４を経て偏光ビーム
スプリッタ３で反射され、ビームスプリッタ２２に向か
う。ビームスプリッタ２２の反射面は、所定の光透過率
及び反射率を有しており、入射した光束は透過光と反射
光に２分される。
５、反射ミラー１３、１／４波長板４を経て偏光ビーム
スプリッタ３で反射され、ビームスプリッタ２２に向か
う。ビームスプリッタ２２の反射面は、所定の光透過率
及び反射率を有しており、入射した光束は透過光と反射
光に２分される。
【０００４】このうち、反射光は検出レンズ６を介した
後、円筒レンズ７を経て非点収差が与えられ、光検出器
２４に入射して非点収差法によるフォーカス誤差検出に
用いられる。また、透過光は光検出器２３に入射し、プ
ッシュプル法によるトラッキング誤差検出に用いられ
る。
後、円筒レンズ７を経て非点収差が与えられ、光検出器
２４に入射して非点収差法によるフォーカス誤差検出に
用いられる。また、透過光は光検出器２３に入射し、プ
ッシュプル法によるトラッキング誤差検出に用いられ
る。
【０００５】この構成では、光検出器２３及び２４の位
置をそれぞれ独立に調整可能であるが、フォーカス誤差
とトラッキング誤差の検出光学系が別々であるために、
光ヘッドの小型化、軽量化が困難であるという問題点が
あった。
置をそれぞれ独立に調整可能であるが、フォーカス誤差
とトラッキング誤差の検出光学系が別々であるために、
光ヘッドの小型化、軽量化が困難であるという問題点が
あった。
【０００６】これに対し、例えば、特開昭６３−１６１
５４３号公報に記載の光ヘッドにおいては、ビームスプ
リッタを用いて検出光学系をフォーカス誤差検出とトラ
ッキング誤差検出の２系統に分ける代わりに、回折方向
または回折角の異なる複数の領域からなる格子レンズ
（回折格子）を用い、偏光ビームスプリッタを経たディ
スクからの反射光を回折格子の領域ごとに回折し、＋１
次回折光によりフォーカス誤差信号とトラッキング誤差
信号を得ると共に、０次回折光により情報信号を検出す
る構成としていた。これにより、検出光学系の１系統化
が図られる。
５４３号公報に記載の光ヘッドにおいては、ビームスプ
リッタを用いて検出光学系をフォーカス誤差検出とトラ
ッキング誤差検出の２系統に分ける代わりに、回折方向
または回折角の異なる複数の領域からなる格子レンズ
（回折格子）を用い、偏光ビームスプリッタを経たディ
スクからの反射光を回折格子の領域ごとに回折し、＋１
次回折光によりフォーカス誤差信号とトラッキング誤差
信号を得ると共に、０次回折光により情報信号を検出す
る構成としていた。これにより、検出光学系の１系統化
が図られる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記既提案例
における光ヘッドでは、フォーカス誤差信号及びトラッ
キング誤差信号を回折格子による＋１次回折光を用いて
検出しているため、光源である半導体レーザが波長変動
を起こすと、回折格子での回折角が変動して、光検出器
上で光スポットが位置ずれを起こす。この時、特に、フ
ォーカス誤差信号については、光検出器上で光スポット
が特定の方向（即ち、光検出器における検出領域の境界
線方向）以外の方向に位置ずれを起こすと、正しいフォ
ーカス誤差信号が得られないという問題があった。ま
た、これを防止するためには、光検出器上で光スポット
が位置ずれを起こしても、前述の特定の方向にのみ位置
ずれが起きるように、回折格子と光検出器との相互の位
置関係を高精度に設定する必要があった。
における光ヘッドでは、フォーカス誤差信号及びトラッ
キング誤差信号を回折格子による＋１次回折光を用いて
検出しているため、光源である半導体レーザが波長変動
を起こすと、回折格子での回折角が変動して、光検出器
上で光スポットが位置ずれを起こす。この時、特に、フ
ォーカス誤差信号については、光検出器上で光スポット
が特定の方向（即ち、光検出器における検出領域の境界
線方向）以外の方向に位置ずれを起こすと、正しいフォ
ーカス誤差信号が得られないという問題があった。ま
た、これを防止するためには、光検出器上で光スポット
が位置ずれを起こしても、前述の特定の方向にのみ位置
ずれが起きるように、回折格子と光検出器との相互の位
置関係を高精度に設定する必要があった。
【０００８】また、正しいトラッキング誤差信号を得る
ためには、予めトラッキング誤差信号の調整が必要であ
るが、上記既提案例においては、その点について考慮さ
れていなかった。
ためには、予めトラッキング誤差信号の調整が必要であ
るが、上記既提案例においては、その点について考慮さ
れていなかった。
【０００９】さらに、回折格子で回折された回折光のう
ち、＋１次回折光はフォーカス誤差信号及びトラッキン
グ誤差信号の検出に用いられ、０次回折光は情報信号の
検出に用いられるが、−１次回折光についてはなんら信
号の検出に用いられないため、その分、全体的な光量の
利用率が低いという問題があった。
ち、＋１次回折光はフォーカス誤差信号及びトラッキン
グ誤差信号の検出に用いられ、０次回折光は情報信号の
検出に用いられるが、−１次回折光についてはなんら信
号の検出に用いられないため、その分、全体的な光量の
利用率が低いという問題があった。
【００１０】本発明の目的は、上記した従来技術の問題
点を解決し、フォーカス誤差信号の検出に関しては、光
検出器上で光スポットが位置ずれを起こすことがなく、
また、トラッキング誤差信号については調整を行なうこ
とができ、さらに、−１次回折光についても信号検出に
用いることが可能な光ヘッドを提供することにある。
点を解決し、フォーカス誤差信号の検出に関しては、光
検出器上で光スポットが位置ずれを起こすことがなく、
また、トラッキング誤差信号については調整を行なうこ
とができ、さらに、−１次回折光についても信号検出に
用いることが可能な光ヘッドを提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的は、ビームスプ
リッタと光検出器との間に非点収差発生手段と複数の領
域からなる回折格子とを設け、各領域による＋１次回折
光及び／または−１次回折光を用いてプッシュプル法に
よりトラッキング誤差信号を検出すると共に、回折格子
の直接透過光である０次回折光を用いて非点収差法によ
るフォーカス誤差信号を検出する構成とすることにより
達成される。
リッタと光検出器との間に非点収差発生手段と複数の領
域からなる回折格子とを設け、各領域による＋１次回折
光及び／または−１次回折光を用いてプッシュプル法に
よりトラッキング誤差信号を検出すると共に、回折格子
の直接透過光である０次回折光を用いて非点収差法によ
るフォーカス誤差信号を検出する構成とすることにより
達成される。
【００１２】
【作用】本発明では、前記ビームスプリッタにより分離
された光束は、前記非点収差発生手段で、フォーカス誤
差検出のための非点収差を与えられた後、前記回折格子
を経て前記光検出器に入射する。ここで前記回折格子
は、格子線の方向が互いに異なる２つの領域から成って
おり、その境界線がディスクのトラックの、回折格子へ
の投影された像の方向と一致するように、配設される。
従って、光束の略２分の１が一方の領域に入射し、残り
が他方の領域に入射する。この２つの領域からの＋１次
回折光及び／または−１次回折光をそれぞれ検出し、そ
の強度を比較することにより、プッシュプル法によるト
ラッキング誤差信号を得ることができる。また、前記回
折格子の０次回折光、即ち、直接透過光を用いて非点収
差法によるフォーカス誤差信号を検出できる。
された光束は、前記非点収差発生手段で、フォーカス誤
差検出のための非点収差を与えられた後、前記回折格子
を経て前記光検出器に入射する。ここで前記回折格子
は、格子線の方向が互いに異なる２つの領域から成って
おり、その境界線がディスクのトラックの、回折格子へ
の投影された像の方向と一致するように、配設される。
従って、光束の略２分の１が一方の領域に入射し、残り
が他方の領域に入射する。この２つの領域からの＋１次
回折光及び／または−１次回折光をそれぞれ検出し、そ
の強度を比較することにより、プッシュプル法によるト
ラッキング誤差信号を得ることができる。また、前記回
折格子の０次回折光、即ち、直接透過光を用いて非点収
差法によるフォーカス誤差信号を検出できる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の光ヘッドを図面を参照して詳
細に説明する。図１は本発明の第１の実施例としての光
ヘッドの構成を示す斜視図である。図１において、光源
である半導体レーザ１から発射された発散光束は、コリ
メートレンズ２により平行光束となり、偏光ビームスプ
リッタ（ＰＢＳ）３、１／４波長板４を経て、対物レン
ズ５により情報記録媒体であるディスク（図示せず）に
集光される。ディスクからの反射光は、再び、対物レン
ズ５、１／４波長板４を経て偏光ビームスプリッタ３で
反射され、検出レンズ６によって収束光となり、円筒レ
ンズ７でフォーカス誤差検出のための非点収差を与えら
れた後、回折格子８を経て光検出器９に入射する。
細に説明する。図１は本発明の第１の実施例としての光
ヘッドの構成を示す斜視図である。図１において、光源
である半導体レーザ１から発射された発散光束は、コリ
メートレンズ２により平行光束となり、偏光ビームスプ
リッタ（ＰＢＳ）３、１／４波長板４を経て、対物レン
ズ５により情報記録媒体であるディスク（図示せず）に
集光される。ディスクからの反射光は、再び、対物レン
ズ５、１／４波長板４を経て偏光ビームスプリッタ３で
反射され、検出レンズ６によって収束光となり、円筒レ
ンズ７でフォーカス誤差検出のための非点収差を与えら
れた後、回折格子８を経て光検出器９に入射する。
【００１４】回折格子８は、格子線の方向が互いに異な
る２つの領域８ａ、８ｂから成っており、その境界線８
ｃがディスクのトラック１０の、回折格子８上への投影
された像と一致するように、配設される。従って、２つ
の領域８ａ、８ｂからの回折光をそれぞれ検出し、その
強度を比較することにより、プッシュプル法によるトラ
ッキング誤差信号を得ることができる。また、回折格子
８の０次回折光、即ち、直接透過光を用いて非点収差法
によるフォーカス誤差信号を検出できる。
る２つの領域８ａ、８ｂから成っており、その境界線８
ｃがディスクのトラック１０の、回折格子８上への投影
された像と一致するように、配設される。従って、２つ
の領域８ａ、８ｂからの回折光をそれぞれ検出し、その
強度を比較することにより、プッシュプル法によるトラ
ッキング誤差信号を得ることができる。また、回折格子
８の０次回折光、即ち、直接透過光を用いて非点収差法
によるフォーカス誤差信号を検出できる。
【００１５】この詳細について、図２を用いて説明す
る。図２は図１の光ヘッドで用いられる回折格子と光検
出器と各信号を得るための演算回路の構成を詳細に示し
た正面図であり、（ａ）は回折格子８を、（ｂ）は光検
出器９と演算回路を、それぞれ示している。
る。図２は図１の光ヘッドで用いられる回折格子と光検
出器と各信号を得るための演算回路の構成を詳細に示し
た正面図であり、（ａ）は回折格子８を、（ｂ）は光検
出器９と演算回路を、それぞれ示している。
【００１６】回折格子８に入射した光束１０１は、境界
線８ｃで分割され、それぞれ領域８ａ、８ｂで回折され
る。光検出器９は、中央に４分割された受光領域９ａ〜
９ｄを有し、その周囲にそれぞれ独立した受光領域９ｅ
〜９ｈを有している。
線８ｃで分割され、それぞれ領域８ａ、８ｂで回折され
る。光検出器９は、中央に４分割された受光領域９ａ〜
９ｄを有し、その周囲にそれぞれ独立した受光領域９ｅ
〜９ｈを有している。
【００１７】回折格子８の０次回折光、即ち、直接透過
光は光検出器９の４分割受光領域９ａ〜９ｄに入射し、
各受光領域９ａ〜９ｄからは、それぞれ入射光強度信号
として光電流が得られる。そして、受光領域９ａ、９ｃ
からの光電流と受光領域９ｂ、９ｄからの光電流とを、
それぞれ電流電圧変換器３０ａ、３０ｂで電圧に変換し
た後、差動増幅器３２に入力することにより、非点収差
法によるフォーカス誤差信号を得ることができる。
光は光検出器９の４分割受光領域９ａ〜９ｄに入射し、
各受光領域９ａ〜９ｄからは、それぞれ入射光強度信号
として光電流が得られる。そして、受光領域９ａ、９ｃ
からの光電流と受光領域９ｂ、９ｄからの光電流とを、
それぞれ電流電圧変換器３０ａ、３０ｂで電圧に変換し
た後、差動増幅器３２に入力することにより、非点収差
法によるフォーカス誤差信号を得ることができる。
【００１８】一方、領域８ａで回折された±１次回折光
は、それぞれ光検出器９の受光領域９ｆ、９ｈに入射
し、領域８ｂで回折された±１次回折光は、それぞれ光
検出器９の受光領域９ｅ、９ｇに入射し、各受光領域９
ｅ〜９ｈからは、それぞれ入射光強度信号として光電流
が得られる。そして、受光領域９ｅ、９ｇからの光電流
と受光領域９ｆ、９ｈからの光電流とを、それぞれ電流
電圧変換器３１ａ、３１ｂで電圧に変換した後、差動増
幅器３３に入力することにより、プッシュプル法による
トラッキング誤差信号を得ることができる。
は、それぞれ光検出器９の受光領域９ｆ、９ｈに入射
し、領域８ｂで回折された±１次回折光は、それぞれ光
検出器９の受光領域９ｅ、９ｇに入射し、各受光領域９
ｅ〜９ｈからは、それぞれ入射光強度信号として光電流
が得られる。そして、受光領域９ｅ、９ｇからの光電流
と受光領域９ｆ、９ｈからの光電流とを、それぞれ電流
電圧変換器３１ａ、３１ｂで電圧に変換した後、差動増
幅器３３に入力することにより、プッシュプル法による
トラッキング誤差信号を得ることができる。
【００１９】図２において、受光領域９ｅ〜９ｈ上の光
束の像の半円形状は光検出器８上の形状に対して９０度
回転しているが、これは円筒レンズ７によって非点収差
が与えられているためである。受光領域９ｅ〜９ｈによ
って検出するのは像の形状ではなく各領域に入射する光
量であるため、像の形状が変化してもなんら問題はな
い。
束の像の半円形状は光検出器８上の形状に対して９０度
回転しているが、これは円筒レンズ７によって非点収差
が与えられているためである。受光領域９ｅ〜９ｈによ
って検出するのは像の形状ではなく各領域に入射する光
量であるため、像の形状が変化してもなんら問題はな
い。
【００２０】また、情報信号は受光領域９ｅ〜９ｈの入
射光強度信号の和、即ち、電流電圧変換器３１ａ、３１
ｂの出力の和を、加算器３４を用いてとることにより得
られる。或いは、受光領域９ａ〜９ｄの入射光強度信号
の和、または、全受光領域９ａ〜９ｈの総和をとっても
よい。
射光強度信号の和、即ち、電流電圧変換器３１ａ、３１
ｂの出力の和を、加算器３４を用いてとることにより得
られる。或いは、受光領域９ａ〜９ｄの入射光強度信号
の和、または、全受光領域９ａ〜９ｈの総和をとっても
よい。
【００２１】ところで、ディスク上での合焦状態のとき
にフォーカス誤差信号が所定の値となるように調整を行
なう、いわゆるフォーカス誤差信号の調整は、検出レン
ズ６と円筒レンズ７とを一体に光軸方向１１０に移動さ
せることにより、行なうことが可能である。或いは、光
検出器９を光軸方向に移動させてもよい。また、ディス
ク上でのジャストトラッキング状態のときトラッキング
誤差信号が所定の値となるように調整を行なう、いわゆ
るトラッキング誤差信号の調整は、回折格子８を境界線
８ｃと垂直な方向１１１に移動することにより、フォー
カス調整と独立に行うことができる。
にフォーカス誤差信号が所定の値となるように調整を行
なう、いわゆるフォーカス誤差信号の調整は、検出レン
ズ６と円筒レンズ７とを一体に光軸方向１１０に移動さ
せることにより、行なうことが可能である。或いは、光
検出器９を光軸方向に移動させてもよい。また、ディス
ク上でのジャストトラッキング状態のときトラッキング
誤差信号が所定の値となるように調整を行なう、いわゆ
るトラッキング誤差信号の調整は、回折格子８を境界線
８ｃと垂直な方向１１１に移動することにより、フォー
カス調整と独立に行うことができる。
【００２２】以上の構成により、１系統の簡単な光学系
で、非点収差法によるフォーカス誤差信号、プッシュプ
ル法によるトラッキング誤差信号及び情報信号を一括し
て検出することができる。本実施例では、フォーカス誤
差信号の検出に回折格子８の０次回折光を用いているた
め、光源である半導体レーザ１の波長が変動した場合も
４分割受光領域９ａ〜９ｄ上の光スポットが移動せず、
正しいフォーカス誤差信号を得ることができる。
で、非点収差法によるフォーカス誤差信号、プッシュプ
ル法によるトラッキング誤差信号及び情報信号を一括し
て検出することができる。本実施例では、フォーカス誤
差信号の検出に回折格子８の０次回折光を用いているた
め、光源である半導体レーザ１の波長が変動した場合も
４分割受光領域９ａ〜９ｄ上の光スポットが移動せず、
正しいフォーカス誤差信号を得ることができる。
【００２３】また、トラッキング誤差信号の検出には±
１次回折光を用いているため、半導体レーザ１の波長変
動により受光領域９ｅ〜９ｈ上の光スポットが移動する
が、受光領域９ｅ〜９ｈでは各領域に入射する光量を検
出するため、受光領域９ｅ〜９ｈの大きさを光スポット
の移動を考慮して設計すれば問題ない。さらに、トラッ
キング誤差信号の検出には−１次回折光も用いているた
め、全体的な光量の利用率を向上させることができる。
１次回折光を用いているため、半導体レーザ１の波長変
動により受光領域９ｅ〜９ｈ上の光スポットが移動する
が、受光領域９ｅ〜９ｈでは各領域に入射する光量を検
出するため、受光領域９ｅ〜９ｈの大きさを光スポット
の移動を考慮して設計すれば問題ない。さらに、トラッ
キング誤差信号の検出には−１次回折光も用いているた
め、全体的な光量の利用率を向上させることができる。
【００２４】本実施例では、回折格子８を円筒レンズ７
と光検出器９との間に設置した構成を示したが、回折格
子８は、偏光ビームスプリッタ３と検出レンズ６との間
に設置してもよい。また、コリメートレンズ２と偏光ビ
ームスプリッタ３との間にビーム整形プリズムを設け、
半導体レーザ１の発光強度分布の非等方性を補正する構
成としたり、或いは、光学系中に反射鏡を設けて光路を
折り曲げた構成とすることもできる。これらの構成の変
更は、本発明の本質とはかかわりない。
と光検出器９との間に設置した構成を示したが、回折格
子８は、偏光ビームスプリッタ３と検出レンズ６との間
に設置してもよい。また、コリメートレンズ２と偏光ビ
ームスプリッタ３との間にビーム整形プリズムを設け、
半導体レーザ１の発光強度分布の非等方性を補正する構
成としたり、或いは、光学系中に反射鏡を設けて光路を
折り曲げた構成とすることもできる。これらの構成の変
更は、本発明の本質とはかかわりない。
【００２５】次に、本発明の第２の実施例を図３を用い
て説明する。図３は本発明の第２の実施例としての光ヘ
ッドで用いられる光検出器と各信号を得るための演算回
路の構成を詳細に示した正面図である。本実施例では、
トラッキング誤差信号及び情報信号を得るための演算回
路の構成を、前述の第１の実施例、即ち、図２（ｂ）に
示した構成と異ならせたものである。
て説明する。図３は本発明の第２の実施例としての光ヘ
ッドで用いられる光検出器と各信号を得るための演算回
路の構成を詳細に示した正面図である。本実施例では、
トラッキング誤差信号及び情報信号を得るための演算回
路の構成を、前述の第１の実施例、即ち、図２（ｂ）に
示した構成と異ならせたものである。
【００２６】従って、回折格子の０次回折光、即ち、直
接透過光は光検出器９の４分割受光領域９ａ〜９ｄに入
射し、各受光領域９ａ〜９ｄからは、それぞれ入射光強
度信号として光電流が得られる。そして、受光領域９
ａ、９ｃからの光電流と受光領域９ｂ、９ｄからの光電
流とを、それぞれ電流電圧変換器３０ａ、３０ｂで電圧
に変換した後、差動増幅器３２に入力することにより、
非点収差法によるフォーカス誤差信号を得ることができ
る。
接透過光は光検出器９の４分割受光領域９ａ〜９ｄに入
射し、各受光領域９ａ〜９ｄからは、それぞれ入射光強
度信号として光電流が得られる。そして、受光領域９
ａ、９ｃからの光電流と受光領域９ｂ、９ｄからの光電
流とを、それぞれ電流電圧変換器３０ａ、３０ｂで電圧
に変換した後、差動増幅器３２に入力することにより、
非点収差法によるフォーカス誤差信号を得ることができ
る。
【００２７】一方、領域８ａで回折された＋１次回折光
は、光検出器９の受光領域９ｆに入射し、領域８ｂで回
折された＋１次回折光は、光検出器９の受光領域９ｅに
入射し、各受光領域９ｅ、９ｆからは、それぞれ入射光
強度信号として光電流が得られる。そして、受光領域９
ｅからの光電流と受光領域９ｆからの光電流とを、それ
ぞれ電流電圧変換器３５ａ、３５ｂで電圧に変換した
後、差動増幅器３３に入力することにより、プッシュプ
ル法によるトラッキング誤差信号を得ることができる。
は、光検出器９の受光領域９ｆに入射し、領域８ｂで回
折された＋１次回折光は、光検出器９の受光領域９ｅに
入射し、各受光領域９ｅ、９ｆからは、それぞれ入射光
強度信号として光電流が得られる。そして、受光領域９
ｅからの光電流と受光領域９ｆからの光電流とを、それ
ぞれ電流電圧変換器３５ａ、３５ｂで電圧に変換した
後、差動増幅器３３に入力することにより、プッシュプ
ル法によるトラッキング誤差信号を得ることができる。
【００２８】また、領域８ａで回折された−１次回折光
は、光検出器９の受光領域９ｈに入射し、領域８ｂで回
折された−１次回折光は、光検出器９の受光領域９ｇに
入射し、各受光領域９ｇ、９ｈからは、それぞれ入射光
強度信号として光電流が得られる。そして、受光領域９
ｇ、９ｈからの光電流を電流電圧変換器３６で電圧に変
換して、情報信号を得ることができる。
は、光検出器９の受光領域９ｈに入射し、領域８ｂで回
折された−１次回折光は、光検出器９の受光領域９ｇに
入射し、各受光領域９ｇ、９ｈからは、それぞれ入射光
強度信号として光電流が得られる。そして、受光領域９
ｇ、９ｈからの光電流を電流電圧変換器３６で電圧に変
換して、情報信号を得ることができる。
【００２９】本実施例によれば、トラッキング誤差信号
の検出には＋１次回折光を、また、情報信号の検出には
−１次回折光を用いているため、第１の実施例と同様
に、全体的な光量の利用率を向上させることができる。
の検出には＋１次回折光を、また、情報信号の検出には
−１次回折光を用いているため、第１の実施例と同様
に、全体的な光量の利用率を向上させることができる。
【００３０】また、一般に、フォーカス誤差信号、トラ
ッキング誤差信号の周波数帯域はそれぞれ数ｋＨｚ乃至
数１０ｋＨｚであるのに対し、情報信号の周波数帯域
は、数ＭＨｚ程度である。従って、第１の実施例におい
ては、電流電圧変換器３１ａ、３１ｂをトラッキング誤
差信号の検出と情報信号の検出とでそれぞれ併用してい
るため、周波数帯域の広い高価な電流電圧変換器を２つ
用意する必要があった。これに対し、本実施例では、電
流電圧変換器３１ａ、３１ｂ、３６をトラッキング誤差
信号の検出と情報信号の検出とで分けて用いているた
め、それぞれの信号の周波数帯域に適した電流電圧変換
器を用意することができ、しかも、周波数帯域の広い高
価な電流電圧変換器は情報信号の検出のために１つ用意
すればよいため、装置全体が安価で済むという効果があ
る。
ッキング誤差信号の周波数帯域はそれぞれ数ｋＨｚ乃至
数１０ｋＨｚであるのに対し、情報信号の周波数帯域
は、数ＭＨｚ程度である。従って、第１の実施例におい
ては、電流電圧変換器３１ａ、３１ｂをトラッキング誤
差信号の検出と情報信号の検出とでそれぞれ併用してい
るため、周波数帯域の広い高価な電流電圧変換器を２つ
用意する必要があった。これに対し、本実施例では、電
流電圧変換器３１ａ、３１ｂ、３６をトラッキング誤差
信号の検出と情報信号の検出とで分けて用いているた
め、それぞれの信号の周波数帯域に適した電流電圧変換
器を用意することができ、しかも、周波数帯域の広い高
価な電流電圧変換器は情報信号の検出のために１つ用意
すればよいため、装置全体が安価で済むという効果があ
る。
【００３１】次に、本発明の第３の実施例を図４を用い
て説明する。図４は本発明の第３の実施例としての光ヘ
ッドで用いられる回折格子と光検出器と各信号を得るた
めの演算回路の構成を詳細に示した正面図であり、
（ａ）は回折格子を、（ｂ）は光検出器と演算回路を、
それぞれ示している。
て説明する。図４は本発明の第３の実施例としての光ヘ
ッドで用いられる回折格子と光検出器と各信号を得るた
めの演算回路の構成を詳細に示した正面図であり、
（ａ）は回折格子を、（ｂ）は光検出器と演算回路を、
それぞれ示している。
【００３２】本実施例では、回折格子８′として、２つ
の領域の格子線の方向を互いに異ならせる代わりに、２
つの領域の格子線の間隔（格子ピッチ）が互いに異なる
ようにしたものである。
の領域の格子線の方向を互いに異ならせる代わりに、２
つの領域の格子線の間隔（格子ピッチ）が互いに異なる
ようにしたものである。
【００３３】図４に示すように、回折格子８′に入射し
た光束１０１は、境界線８ｃ′で分割され、それぞれ領
域８ａ′、８ｂ′で回折される。光検出器９′は、４分
割受光領域９ａ′〜９ｄ′と、それぞれ独立した受光領
域９ｅ′〜９ｈ′とを有している。
た光束１０１は、境界線８ｃ′で分割され、それぞれ領
域８ａ′、８ｂ′で回折される。光検出器９′は、４分
割受光領域９ａ′〜９ｄ′と、それぞれ独立した受光領
域９ｅ′〜９ｈ′とを有している。
【００３４】回折格子８′の０次回折光、即ち、直接透
過光は光検出器９′の４分割受光領域９ａ′〜９ｄ′に
入射し、各受光領域９ａ′〜９ｄ′からは、それぞれ入
射光強度信号として光電流が得られる。そして、受光領
域９ａ′、９ｃ′からの光電流と受光領域９ｂ′、９
ｄ′からの光電流とを、それぞれ電流電圧変換器３０
ａ、３０ｂで電圧に変換した後、差動増幅器３２に入力
することにより、非点収差法によるフォーカス誤差信号
を得ることができる。
過光は光検出器９′の４分割受光領域９ａ′〜９ｄ′に
入射し、各受光領域９ａ′〜９ｄ′からは、それぞれ入
射光強度信号として光電流が得られる。そして、受光領
域９ａ′、９ｃ′からの光電流と受光領域９ｂ′、９
ｄ′からの光電流とを、それぞれ電流電圧変換器３０
ａ、３０ｂで電圧に変換した後、差動増幅器３２に入力
することにより、非点収差法によるフォーカス誤差信号
を得ることができる。
【００３５】一方、領域８ａ′で回折された±１次回折
光は、それぞれ光検出器９′の受光領域９ｆ′、９ｈ′
に入射し、領域８ｂ′で回折された±１次回折光は、そ
れぞれ光検出器９′の受光領域９ｅ′、９ｇ′に入射
し、各受光領域９ｅ′〜９ｈ′からは、それぞれ入射光
強度信号として光電流が得られる。そして、受光領域９
ｅ′、９ｇ′からの光電流と受光領域９ｆ′、９ｈ′か
らの光電流とを、それぞれ電流電圧変換器３１ａ、３１
ｂで電圧に変換した後、差動増幅器３３に入力すること
により、プッシュプル法によるトラッキング誤差信号を
得ることができる。
光は、それぞれ光検出器９′の受光領域９ｆ′、９ｈ′
に入射し、領域８ｂ′で回折された±１次回折光は、そ
れぞれ光検出器９′の受光領域９ｅ′、９ｇ′に入射
し、各受光領域９ｅ′〜９ｈ′からは、それぞれ入射光
強度信号として光電流が得られる。そして、受光領域９
ｅ′、９ｇ′からの光電流と受光領域９ｆ′、９ｈ′か
らの光電流とを、それぞれ電流電圧変換器３１ａ、３１
ｂで電圧に変換した後、差動増幅器３３に入力すること
により、プッシュプル法によるトラッキング誤差信号を
得ることができる。
【００３６】また、情報信号は受光領域９ｅ′〜９ｈ′
の入射光強度信号の和、即ち、電流電圧変換器３１ａ、
３１ｂの出力の和を、加算器３４を用いてとることによ
り得られる。或いは、受光領域９ａ′〜９ｄ′の入射光
強度信号の和、または、全受光領域９ａ′〜９ｈ′の総
和をとってもよい。
の入射光強度信号の和、即ち、電流電圧変換器３１ａ、
３１ｂの出力の和を、加算器３４を用いてとることによ
り得られる。或いは、受光領域９ａ′〜９ｄ′の入射光
強度信号の和、または、全受光領域９ａ′〜９ｈ′の総
和をとってもよい。
【００３７】以上の構成によっても、１系統の簡単な光
学系で、非点収差法によるフォーカス誤差信号、プッシ
ュプル法によるトラッキング誤差信号及び情報信号を一
括して検出することができる。さらに、回折格子の２つ
の領域で格子線の方向と間隔の両方を互いに異ならせて
もよい。
学系で、非点収差法によるフォーカス誤差信号、プッシ
ュプル法によるトラッキング誤差信号及び情報信号を一
括して検出することができる。さらに、回折格子の２つ
の領域で格子線の方向と間隔の両方を互いに異ならせて
もよい。
【００３８】また、前述の第２の実施例と同様に、トラ
ッキング誤差信号の検出には＋１次回折光を、情報信号
の検出には−１次回折光を用いると共に、トラッキング
誤差信号の検出と情報信号の検出とで電流電圧変換器を
分けて用いてもよい。
ッキング誤差信号の検出には＋１次回折光を、情報信号
の検出には−１次回折光を用いると共に、トラッキング
誤差信号の検出と情報信号の検出とで電流電圧変換器を
分けて用いてもよい。
【００３９】次に、本発明の第４の実施例を図５を用い
て説明する。図５は本発明の第４の実施例としての光へ
ッドで用いられる回折格子の構成を詳細に示した正面図
である。本実施例では、回折格子８″として、全面に格
子を設けるのではなく、一部に格子を設けるようにした
ものである。
て説明する。図５は本発明の第４の実施例としての光へ
ッドで用いられる回折格子の構成を詳細に示した正面図
である。本実施例では、回折格子８″として、全面に格
子を設けるのではなく、一部に格子を設けるようにした
ものである。
【００４０】図５に示すように、２つの格子領域８
ａ″、８ｂ″は回折格子８″の全面ではなく一部分に設
けられている。２つの格子領域８ａ″、８ｂ″は、前述
の第１〜第３の実施例と同様に、その格子線の方向また
は間隔が互いに異なるように構成されている。
ａ″、８ｂ″は回折格子８″の全面ではなく一部分に設
けられている。２つの格子領域８ａ″、８ｂ″は、前述
の第１〜第３の実施例と同様に、その格子線の方向また
は間隔が互いに異なるように構成されている。
【００４１】ところで、プッシュプル法によるトラッキ
ング誤差信号の検出では、ディスクのトラックに追従し
て対物レンズが移動すると、光検出器上ではそれに合わ
せて光スポットが移動するため、検出されるトラッキン
グ誤差信号にオフセットが生じるという問題があった。
ング誤差信号の検出では、ディスクのトラックに追従し
て対物レンズが移動すると、光検出器上ではそれに合わ
せて光スポットが移動するため、検出されるトラッキン
グ誤差信号にオフセットが生じるという問題があった。
【００４２】そこで、本実施例では、格子領域を回折格
子８″の一部に設け、ディスク（図示せず）からの反射
光束の強度パターンのうちの一部のみをトラッキング誤
差検出用の光検出器に導くようにすることにより、上記
した対物レンズ移動によるトラッキング誤差信号のオフ
セットを低減するようにした。
子８″の一部に設け、ディスク（図示せず）からの反射
光束の強度パターンのうちの一部のみをトラッキング誤
差検出用の光検出器に導くようにすることにより、上記
した対物レンズ移動によるトラッキング誤差信号のオフ
セットを低減するようにした。
【００４３】次に、本発明の第５の実施例を図６を用い
て説明する。図６は本発明の第５の実施例としての光ヘ
ッドの構成を示す構成図である。本実施例は、本発明を
光磁気ディスク用光ヘッドに適用したものである。図６
に示すように、光源である半導体レーザ１を発射した発
散光束は、コリメートレンズ２で平行光束に変換され、
ビーム整形プリズム１１によって半導体レーザ１の発光
強度分布の非等方性を補正された後、偏光子１２、反射
ミラー１３を経て、対物レンズ５により記録媒体である
光磁気ディスク２０上に集光される。
て説明する。図６は本発明の第５の実施例としての光ヘ
ッドの構成を示す構成図である。本実施例は、本発明を
光磁気ディスク用光ヘッドに適用したものである。図６
に示すように、光源である半導体レーザ１を発射した発
散光束は、コリメートレンズ２で平行光束に変換され、
ビーム整形プリズム１１によって半導体レーザ１の発光
強度分布の非等方性を補正された後、偏光子１２、反射
ミラー１３を経て、対物レンズ５により記録媒体である
光磁気ディスク２０上に集光される。
【００４４】光磁気ディスク２０からの反射光は、対物
レンズ５、反射ミラー１３を経て、偏光子１２によって
半導体レーザ１と光磁気ディスク２０とを結ぶ光路から
分離され、ビームスプリッタ１４に向かう。ビームスプ
リッタ１４の反射面は、所定の光透過率及び反射率を有
しており、入射した光束は透過光と反射光とに２分され
る。
レンズ５、反射ミラー１３を経て、偏光子１２によって
半導体レーザ１と光磁気ディスク２０とを結ぶ光路から
分離され、ビームスプリッタ１４に向かう。ビームスプ
リッタ１４の反射面は、所定の光透過率及び反射率を有
しており、入射した光束は透過光と反射光とに２分され
る。
【００４５】このうち、反射光は検出レンズ６を経た
後、円筒レンズ７で非点収差が与えられ、その後、回折
格子８を経て光検出器９に入射する。この回折格子８及
び光検出器９は、図１，図２，図４または図５に示した
ものと同様であり、既に述べた方法でフォーカス及びト
ラッキング誤差信号を得ることができる。
後、円筒レンズ７で非点収差が与えられ、その後、回折
格子８を経て光検出器９に入射する。この回折格子８及
び光検出器９は、図１，図２，図４または図５に示した
ものと同様であり、既に述べた方法でフォーカス及びト
ラッキング誤差信号を得ることができる。
【００４６】また、ビームスプリッタ１４の透過光は２
分の１波長板１５を経て、偏光方向が４５度回転した
後、偏光ビームスプリッタ１６に入射し、互いに直交す
る２つの偏光に分離されて、それぞれ光検出器１７及び
１８に入射する。光検出器１７、１８の検出信号の差を
とることにより、光磁気ディスク２０に記録された信号
を再生できる。
分の１波長板１５を経て、偏光方向が４５度回転した
後、偏光ビームスプリッタ１６に入射し、互いに直交す
る２つの偏光に分離されて、それぞれ光検出器１７及び
１８に入射する。光検出器１７、１８の検出信号の差を
とることにより、光磁気ディスク２０に記録された信号
を再生できる。
【００４７】本実施例の構成によれば、光磁気ディスク
用光ヘッドにおいて、フォーカス及びトラッキング誤差
信号を簡単な光学系で一括して検出することができ、光
ヘッドの小型化、軽量化の効果がある。
用光ヘッドにおいて、フォーカス及びトラッキング誤差
信号を簡単な光学系で一括して検出することができ、光
ヘッドの小型化、軽量化の効果がある。
【００４８】次に、本発明の第６の実施例を図７を用い
て説明する。図７は本発明の第６の実施例としての光ヘ
ッドを示す構成図である。図７に示すように、半導体レ
ーザ１を発射した光束は、コリメートレンズ２で平行光
束に変換され、ビーム整形プリズム１１、偏光子１２、
反射ミラー１３を経て、対物レンズ５により記録媒体で
ある光磁気ディスク２０上に集光される。
て説明する。図７は本発明の第６の実施例としての光ヘ
ッドを示す構成図である。図７に示すように、半導体レ
ーザ１を発射した光束は、コリメートレンズ２で平行光
束に変換され、ビーム整形プリズム１１、偏光子１２、
反射ミラー１３を経て、対物レンズ５により記録媒体で
ある光磁気ディスク２０上に集光される。
【００４９】光磁気ディスク２０からの反射光は、対物
レンズ５、反射ミラー１３を経て、偏光子１２によって
反射され、２分の１波長板１５を経て、偏光ビームスプ
リッタ１６に入射し、互いに直交する２つの偏光に分離
される。
レンズ５、反射ミラー１３を経て、偏光子１２によって
反射され、２分の１波長板１５を経て、偏光ビームスプ
リッタ１６に入射し、互いに直交する２つの偏光に分離
される。
【００５０】このうち、透過光は光検出器１７に入射す
る。一方、反射光は検出レンズ６を経た後、円筒レンズ
７で非点収差が与えられ、その後、回折格子８を経て光
検出器９に入射する。この回折格子８及び光検出器９
は、図１，図２，図４または図５に示したものと同様で
あり、既に述べた方法でフォーカス及びトラッキング誤
差信号を得ることができる。また、光磁気信号は、光検
出器９の各領域の検出信号の総和と光検出器１７の検出
信号との差をとることにより得られる。
る。一方、反射光は検出レンズ６を経た後、円筒レンズ
７で非点収差が与えられ、その後、回折格子８を経て光
検出器９に入射する。この回折格子８及び光検出器９
は、図１，図２，図４または図５に示したものと同様で
あり、既に述べた方法でフォーカス及びトラッキング誤
差信号を得ることができる。また、光磁気信号は、光検
出器９の各領域の検出信号の総和と光検出器１７の検出
信号との差をとることにより得られる。
【００５１】本実施例の構成によれば、光磁気ディスク
用光ヘッドにおいて、フォーカス及びトラッキング誤差
信号を簡単な光学系で一括して検出すると共に、この検
出光学系を光磁気信号の差動検出の一方の検出系として
も用いることができ、光ヘッドの小型化、軽量化の効果
がある。
用光ヘッドにおいて、フォーカス及びトラッキング誤差
信号を簡単な光学系で一括して検出すると共に、この検
出光学系を光磁気信号の差動検出の一方の検出系として
も用いることができ、光ヘッドの小型化、軽量化の効果
がある。
【００５２】
【発明の効果】本発明によれば、光学的情報記録媒体に
対し情報信号の再生または記録再生を行なう光ヘッドに
おいて、フォーカス誤差信号の検出に関しては、光検出
器上で光スポットが位置ずれを起こすことがなく、ま
た、トラッキング誤差信号についてはフォーカス誤差信
号と独立に調整を行なうことができ、さらに、−１次回
折光についてもトラッキング誤差信号検出用または情報
信号検出用として信号検出に用いることができる。
対し情報信号の再生または記録再生を行なう光ヘッドに
おいて、フォーカス誤差信号の検出に関しては、光検出
器上で光スポットが位置ずれを起こすことがなく、ま
た、トラッキング誤差信号についてはフォーカス誤差信
号と独立に調整を行なうことができ、さらに、−１次回
折光についてもトラッキング誤差信号検出用または情報
信号検出用として信号検出に用いることができる。
【図１】本発明の第１の実施例としての光ヘッドの構成
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図２】図１の光ヘッドで用いられる回折格子と光検出
器と各信号を得るための演算回路の構成を詳細に示した
正面図である。
器と各信号を得るための演算回路の構成を詳細に示した
正面図である。
【図３】本発明の第２の実施例としての光ヘッドで用い
られる光検出器と各信号を得るための演算回路の構成を
詳細に示した正面図である。
られる光検出器と各信号を得るための演算回路の構成を
詳細に示した正面図である。
【図４】本発明の第３の実施例としての光ヘッドで用い
られる回折格子と光検出器と各信号を得るための演算回
路の構成を詳細に示した正面図である。
られる回折格子と光検出器と各信号を得るための演算回
路の構成を詳細に示した正面図である。
【図５】本発明の第４の実施例としての光へッドで用い
られる回折格子の構成を詳細に示した正面図である。
られる回折格子の構成を詳細に示した正面図である。
【図６】本発明の第５の実施例としての光ヘッドの構成
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図７】本発明の第６の実施例としての光ヘッドの構成
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図８】従来の光ヘッドの構成を示す構成図である。
１…半導体レーザ、３…偏光ビームスプリッタ、５…対
物レンズ、６…検出レンズ、７…円筒レンズ、８…回折
格子、９…光検出器、１０…トラック。
物レンズ、６…検出レンズ、７…円筒レンズ、８…回折
格子、９…光検出器、１０…トラック。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井上 雅之 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所映像メデイア研究所内 (72)発明者 有本 昭 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 中村 滋 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 仲尾 武司 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内
Claims (6)
- 【請求項１】 レーザ光束を発射する半導体レーザと、
該半導体レーザからのレーザ光束を集光して、光学的情
報記録媒体におけるトラックの形成された記録面上に光
スポットとして照射すると共に、該記録面上で反射され
たレーザ光束を集光する対物レンズと、前記記録面上で
反射され前記対物レンズで集光されたレーザ光束を前記
半導体レーザと前記光学的情報記録媒体とを結ぶ光路よ
り分離するビームスプリッタと、該ビームスプリッタに
より分離されたレーザ光束を回折し、回折光として出射
する回折格子と、該回折格子からの回折光を０次回折光
も含めて受光する光検出器と、を少なくとも有する光ヘ
ッドにおいて、 前記光検出器によって受光された０次回折光より、前記
光学的情報記録媒体に照射される光スポットのスポット
径の大きさに応じたフォーカス誤差信号を検出すると共
に、前記光検出器によって受光された＋１次回折光及び
／または−１次回折光より、前記光学的情報記録媒体に
照射される光スポットの前記トラックからの位置ずれ量
に応じたトラッキング誤差信号を検出することを特徴と
する光ヘッド。 - 【請求項２】 レーザ光束を発射する半導体レーザと、
該半導体レーザからのレーザ光束を集光して、光学的情
報記録媒体におけるトラックの形成された記録面上に光
スポットとして照射すると共に、該記録面上で反射され
たレーザ光束を集光する対物レンズと、前記記録面上で
反射され前記対物レンズで集光されたレーザ光束を前記
半導体レーザと前記光学的情報記録媒体とを結ぶ光路よ
り分離するビームスプリッタと、回折方向または回折角
の異なる複数の領域から成ると共に、前記ビームスプリ
ッタにより分離されたレーザ光束を回折し、回折光とし
て出射する回折格子と、該回折格子からの回折光を０次
回折光も含めて受光する光検出器と、前記ビームスプリ
ッタから前記回折格子に至るレーザ光束または前記回折
格子から前記光検出器に至る回折光に非点収差を与える
非点収差発生手段と、を少なくとも有する光ヘッドにお
いて、 前記光検出器によって受光された０次回折光より、前記
光学的情報記録媒体に照射される光スポットのスポット
径の大きさに応じたフォーカス誤差信号を非点収差法に
より検出し、前記光検出器によって受光された＋１次回
折光及び／または−１次回折光より、前記光学的情報記
録媒体に照射される光スポットの前記トラックからの位
置ずれ量に応じたトラッキング誤差信号を検出すること
を特徴とする光ヘッド。 - 【請求項３】 請求項２に記載の光ヘッドにおいて、前
記回折格子は、該回折格子上に投影される前記光学的情
報記録媒体におけるトラックの像の方向に沿って形成さ
れる分割線にて、回折方向または回折角が互いに異なる
２つの領域に分割されていることを特徴とする光ヘッ
ド。 - 【請求項４】 請求項１，２または３に記載の光ヘッド
において、前記トラッキング誤差信号を、前記光検出器
によって受光された＋１次回折光のみ（もしくは−１次
回折光のみ）により検出すると共に、前記光検出器によ
って受光された−１次回折光（もしくは＋１次回折光）
より、前記光学的情報記録媒体に照射される光スポット
の前記記録面上における反射光量に応じた情報信号を検
出することを特徴とする光ヘッド。 - 【請求項５】 レーザ光束を発射する半導体レーザと、
該半導体レーザからのレーザ光束を集光して、磁気光学
的情報記録媒体におけるトラックの形成された記録面上
に光スポットとして照射すると共に、該記録面上で反射
されたレーザ光束を集光する対物レンズと、前記記録面
上で反射され前記対物レンズで集光されたレーザ光束を
前記半導体レーザと前記磁気光学的情報記録媒体とを結
ぶ光路より分離する第１のビームスプリッタと、該第１
のビームスプリッタにより分離されたレーザ光束を反射
及び透過して、反射光束及び透過光束の２つの光束に分
離する第２のビームスプリッタと、該第２のビームスプ
リッタにより分離された透過光束（もしくは反射光束）
を互いに偏光方向が直交する２つの偏光光束に分離する
偏光分離手段と、該偏光分離手段により分離された２つ
の偏光光束をそれぞれ受光する第１の光検出器と、回折
方向または回折角の異なる複数の領域から成ると共に、
前記第２のビームスプリッタにより分離された反射光束
（もしくは透過光束）を回折し、回折光として出射する
回折格子と、該回折格子からの回折光を０次回折光も含
めて受光する第２の光検出器と、前記第２のビームスプ
リッタから前記回折格子に至る反射光束（もしくは透過
光束）または前記回折格子から前記第２の光検出器に至
る回折光に非点収差を与える非点収差発生手段と、を少
なくとも有する光ヘッドにおいて、 前記第２の光検出器によって受光された０次回折光よ
り、前記磁気光学的情報記録媒体に照射される光スポッ
トのスポット径の大きさに応じたフォーカス誤差信号を
非点収差法により検出し、前記第２の光検出器によって
受光された＋１次回折光及び／または−１次回折光よ
り、前記磁気光学的情報記録媒体に照射される光スポッ
トの前記トラックからの位置ずれ量に応じたトラッキン
グ誤差信号を検出することを特徴とする光ヘッド。 - 【請求項６】 レーザ光束を発射する半導体レーザと、
該半導体レーザからのレーザ光束を集光して、磁気光学
的情報記録媒体におけるトラックの形成された記録面上
に光スポットとして照射すると共に、該記録面上で反射
されたレーザ光束を集光する対物レンズと、前記記録面
上で反射され前記対物レンズで集光されたレーザ光束を
前記半導体レーザと前記磁気光学的情報記録媒体とを結
ぶ光路より分離するビームスプリッタと、該ビームスプ
リッタにより分離されたレーザ光束を互いに偏光方向が
直交する２つの偏光光束に分離する偏光分離手段と、該
偏光分離手段により分離された２つの偏光光束のうち、
一方の偏光光束を受光する第１の光検出器と、回折方向
または回折角の異なる複数の領域から成ると共に、前記
偏光分離手段により分離された２つの偏光光束のうち、
他方の偏光光束を回折し、回折光として出射する回折格
子と、該回折格子からの回折光を０次回折光も含めて受
光する第２の光検出器と、前記偏光分離手段から前記回
折格子に至る偏光光束または前記回折格子から前記第２
の光検出器に至る回折光に非点収差を与える非点収差発
生手段と、を少なくとも有する光ヘッドにおいて、 前記第２の光検出器によって受光された０次回折光よ
り、前記磁気光学的情報記録媒体に照射される光スポッ
トのスポット径の大きさに応じたフォーカス誤差信号を
非点収差法により検出し、前記第２の光検出器によって
受光された＋１次回折光及び／または−１次回折光よ
り、前記磁気光学的情報記録媒体に照射される光スポッ
トの前記トラックからの位置ずれ量に応じたトラッキン
グ誤差信号を検出することを特徴とする光ヘッド。
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