JPH0569452B2 - - Google Patents
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- JPH0569452B2 JPH0569452B2 JP62239100A JP23910087A JPH0569452B2 JP H0569452 B2 JPH0569452 B2 JP H0569452B2 JP 62239100 A JP62239100 A JP 62239100A JP 23910087 A JP23910087 A JP 23910087A JP H0569452 B2 JPH0569452 B2 JP H0569452B2
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- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F1/00—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
- G01F1/76—Devices for measuring mass flow of a fluid or a fluent solid material
- G01F1/78—Direct mass flowmeters
- G01F1/80—Direct mass flowmeters operating by measuring pressure, force, momentum, or frequency of a fluid flow to which a rotational movement has been imparted
- G01F1/84—Coriolis or gyroscopic mass flowmeters
- G01F1/8409—Coriolis or gyroscopic mass flowmeters constructional details
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、支持管および、該支持管中で軸方向
に配置され両端の支持された少くとも1つの直線
状の測定管を有する機械的振動装置および、該測
定管をその中心において屈曲振動させる振動発生
器および、機械振動を該振動発生器の両側の等し
い間隔の個所で検出して、検出された振動の周波
数および位相位置を表わす電気振動センサ信号を
発生する振動センサおよび、該振動センサ信号を
供給されてそれらの信号の位相差から質量流の測
定値を表わす測定信号を形成する評価回路を備え
たコリオリの原理で動作する質量流測定装置に関
する。
に配置され両端の支持された少くとも1つの直線
状の測定管を有する機械的振動装置および、該測
定管をその中心において屈曲振動させる振動発生
器および、機械振動を該振動発生器の両側の等し
い間隔の個所で検出して、検出された振動の周波
数および位相位置を表わす電気振動センサ信号を
発生する振動センサおよび、該振動センサ信号を
供給されてそれらの信号の位相差から質量流の測
定値を表わす測定信号を形成する評価回路を備え
たコリオリの原理で動作する質量流測定装置に関
する。
従来の技術
この種のコリオリ原理で動作する質量流測定装
置の場合、振動する直線状の測定管を流れる測定
媒質がコリオリ力を発生し、このコリオリ力が各
測定管の両端において、機械振動の相互間の位差
ずれを生ぜさせることは知られている。この位相
ずれの量が質量流に対する尺度となる。この位相
ずれは2つの振動センサを用いて測定され、振動
センサはその測定した振動を、振動の位相位置を
特徴づける電気振動センサ信号に変換する。振動
センサ信号間の位相差にもとづいて評価回路は、
質量流の測定値を示す測定信号を形成する。
置の場合、振動する直線状の測定管を流れる測定
媒質がコリオリ力を発生し、このコリオリ力が各
測定管の両端において、機械振動の相互間の位差
ずれを生ぜさせることは知られている。この位相
ずれの量が質量流に対する尺度となる。この位相
ずれは2つの振動センサを用いて測定され、振動
センサはその測定した振動を、振動の位相位置を
特徴づける電気振動センサ信号に変換する。振動
センサ信号間の位相差にもとづいて評価回路は、
質量流の測定値を示す測定信号を形成する。
発明が解決しようとする問題点
この種の質量流測定装置の場合、測定信号によ
り示される流量値は温度誤差を伴なう。この種の
温度誤差の原因は例えば支持管と振動装置との間
の温度差、動作中の温度変化、ならびに支持管お
よび振動装置を形成する材料の熱膨張係数の相異
である。
り示される流量値は温度誤差を伴なう。この種の
温度誤差の原因は例えば支持管と振動装置との間
の温度差、動作中の温度変化、ならびに支持管お
よび振動装置を形成する材料の熱膨張係数の相異
である。
本発明の課題は、測定信号における温度誤差が
大幅に補償された冒頭に述べた質量流測定装置を
提供することである。
大幅に補償された冒頭に述べた質量流測定装置を
提供することである。
問題点を解決するための手段
この課題は本発明により次のようにして解決さ
れる、即ち第1温度センサを設け、該第1温度セ
ンサは支持管の温度を測定してこの温度を表わす
第1温度センサ信号を形成するようにし、さらに
第2温度センサを設け、該第2温度センサは機械
振動装置の温度を測定してこの温度を表わす第2
温度センサ信号を形成するようにし、さらに補正
回路が前記の両方の温度信号を供給されて前記の
測定信号に、測定された温度にもとづいて、測定
結果に対する温度の影響を除去するための補正を
するようにしたのである。
れる、即ち第1温度センサを設け、該第1温度セ
ンサは支持管の温度を測定してこの温度を表わす
第1温度センサ信号を形成するようにし、さらに
第2温度センサを設け、該第2温度センサは機械
振動装置の温度を測定してこの温度を表わす第2
温度センサ信号を形成するようにし、さらに補正
回路が前記の両方の温度信号を供給されて前記の
測定信号に、測定された温度にもとづいて、測定
結果に対する温度の影響を除去するための補正を
するようにしたのである。
2つの温度すなわち支持管の温度と振動装置の
温度を別個に検出することにより、支持管中で両
端の支持された直線状の測定管を有する質量流測
定装置において、簡単に測定信号の補正が行なえ
るようになり、この補正により温度誤差が十分に
補償されるようになる。
温度を別個に検出することにより、支持管中で両
端の支持された直線状の測定管を有する質量流測
定装置において、簡単に測定信号の補正が行なえ
るようになり、この補正により温度誤差が十分に
補償されるようになる。
そのため本発明により構成される質量流測定装
置は周囲温度の広い範囲にわたりならびに種々の
かつ変動する温度の媒質の質量流を正確に測定で
きるようになる。
置は周囲温度の広い範囲にわたりならびに種々の
かつ変動する温度の媒質の質量流を正確に測定で
きるようになる。
本発明の実施態様が従属請求項に示されてい
る。
る。
実施例の説明
次に本発明の実施例につき図面を用いて説明す
る。
る。
第1図に側面が部分的に切欠されて示され、さ
らに第2図に断面の示されている質量流測定装置
10は、強固な支持管11を有し、その内側に機
械的振動装置12が設けられている。この支持管
11は管区間13から形成され、その各端部には
端部レセプタクル14ないし15が溶接されてい
る。各端部レセプタクルには、フランジ18ない
し19を支持する接続支持体16ないし17が、
ねじ留めされている。フランジ18および19を
用いて質量測定装置が、その質量流の測定される
べき測定媒質の流れる管路に挿入される。支持管
11は薄板ケーシング20により囲まれている。
らに第2図に断面の示されている質量流測定装置
10は、強固な支持管11を有し、その内側に機
械的振動装置12が設けられている。この支持管
11は管区間13から形成され、その各端部には
端部レセプタクル14ないし15が溶接されてい
る。各端部レセプタクルには、フランジ18ない
し19を支持する接続支持体16ないし17が、
ねじ留めされている。フランジ18および19を
用いて質量測定装置が、その質量流の測定される
べき測定媒質の流れる管路に挿入される。支持管
11は薄板ケーシング20により囲まれている。
機械的振動装置12は2つの平行な測定管21
および22から成る。これらの測定管は両端がそ
れぞれ配流部材23ないし24と、両測定管が流
体技術的に並列に接続されるように、相互に結合
される。測定管21および22は管区間13の全
長にわたり延在し、配流部材は端部レセプタクル
14および15の内側に設けられる。両方の配流
部材23および24は、第3図に示されているよ
うに、完全に同一に形成されて配置されている。
しかし第1図の部分断面図には、端部レセプタク
ル14の内部に設けられた配流部材23だけが示
されている。しかし以下の配流部材23の説明
は、振動装置の他端に設けられている配流部材2
4に対しても当てはまる。
および22から成る。これらの測定管は両端がそ
れぞれ配流部材23ないし24と、両測定管が流
体技術的に並列に接続されるように、相互に結合
される。測定管21および22は管区間13の全
長にわたり延在し、配流部材は端部レセプタクル
14および15の内側に設けられる。両方の配流
部材23および24は、第3図に示されているよ
うに、完全に同一に形成されて配置されている。
しかし第1図の部分断面図には、端部レセプタク
ル14の内部に設けられた配流部材23だけが示
されている。しかし以下の配流部材23の説明
は、振動装置の他端に設けられている配流部材2
4に対しても当てはまる。
配流部材23は内側に流れチヤネル25を有す
る。この流れチヤネルは接続部材16へ流入する
流体を両測定管21および22へ等量に配分す
る。同様に、他端に取り付けられた配流部材24
は両測定管の流体を合流させる。そのため合流さ
れた流体が接続技持体17の中を流れる。もちろ
ん流れ方向を反転させることもできる。
る。この流れチヤネルは接続部材16へ流入する
流体を両測定管21および22へ等量に配分す
る。同様に、他端に取り付けられた配流部材24
は両測定管の流体を合流させる。そのため合流さ
れた流体が接続技持体17の中を流れる。もちろ
ん流れ方向を反転させることもできる。
配流部材23は、円錐形に形成されたリング状
のダイヤフラム26の内側の縁と結合されてい
る。ダイヤフラム26の外側の縁は支持リング2
8と結合されている。この支持リングは端部レセ
プタクル14の中にはめこまれており、かつ軸方
向に内部へ多少突出する支持部材16の端面に当
接支持されている。有利にはダイヤフラム26お
よび支持リング28は配流部材23と一体に製造
される。同様に配流部材24(第3図)に、支持
部材29の中へ突出するリング状の円錐形ダイヤ
フラム27が形成される。そのため振動装置12
はダイヤフラム26および27を用いて、軸方向
に支持管11の中に懸架されている。この場合、
振動装置12と支持管11との間の唯一つの接触
接続は、両端に設けられたダイヤフラム26およ
び27を介して形成される。
のダイヤフラム26の内側の縁と結合されてい
る。ダイヤフラム26の外側の縁は支持リング2
8と結合されている。この支持リングは端部レセ
プタクル14の中にはめこまれており、かつ軸方
向に内部へ多少突出する支持部材16の端面に当
接支持されている。有利にはダイヤフラム26お
よび支持リング28は配流部材23と一体に製造
される。同様に配流部材24(第3図)に、支持
部材29の中へ突出するリング状の円錐形ダイヤ
フラム27が形成される。そのため振動装置12
はダイヤフラム26および27を用いて、軸方向
に支持管11の中に懸架されている。この場合、
振動装置12と支持管11との間の唯一つの接触
接続は、両端に設けられたダイヤフラム26およ
び27を介して形成される。
支持管11の中央に振動発生器30(第2図お
よび第3図)が設けられている。この振動発生器
は両測定管21および22に、互いに逆方向の屈
曲振動を行なわせることができる。この屈曲振動
の振動平面は、両測定管の共通の平面に存在す
る、即ち第1図の図面平面と垂直である。振動発
生器30は管区間13の壁に固定されている電磁
石31から形成される。この電磁石に、測定管2
1に取り付けられている磁極子32が対向する。
電磁石31のコイルに交流電流が供給されると、
電磁石31と磁極子32との間の交番する吸引力
により測定管21が屈曲振動を行なう。この屈曲
振動は他方では配流部材23および24を介して
測定管22へ伝達結合される。そのため結極、両
測定管21および22は相互に逆位相の屈曲振動
を行なう。励振交流電流は電子励振回路33から
供給される。この電子励振回路は、薄板ケーシン
グ20に取り付けられている回路ケーシング34
の中に収容されている。このことは第1図および
第2図において回路板35により示されている。
よび第3図)が設けられている。この振動発生器
は両測定管21および22に、互いに逆方向の屈
曲振動を行なわせることができる。この屈曲振動
の振動平面は、両測定管の共通の平面に存在す
る、即ち第1図の図面平面と垂直である。振動発
生器30は管区間13の壁に固定されている電磁
石31から形成される。この電磁石に、測定管2
1に取り付けられている磁極子32が対向する。
電磁石31のコイルに交流電流が供給されると、
電磁石31と磁極子32との間の交番する吸引力
により測定管21が屈曲振動を行なう。この屈曲
振動は他方では配流部材23および24を介して
測定管22へ伝達結合される。そのため結極、両
測定管21および22は相互に逆位相の屈曲振動
を行なう。励振交流電流は電子励振回路33から
供給される。この電子励振回路は、薄板ケーシン
グ20に取り付けられている回路ケーシング34
の中に収容されている。このことは第1図および
第2図において回路板35により示されている。
質量流の測定はこの種の流体測定装置の場合、
次の動作にもとづく、即ち振動する測定管21お
よび22の中を流れる測定媒質がコリオリの力を
発生させ、このコリオリの力が機械的振動の相互
間の位相ずれを各測定管の両端に生ぜさせる動作
にもとづく。この位相ずれの量が質量流に対する
尺度となる。この位相ずれの測定のために、振動
発生器30の両側にこの両側から等しい間隔を置
いて2つの振動センサ36および37が取り付け
られている。振動センサ36および37は測定管
21および22の機械振動を検出してこれを電気
センサ信号に変換する。この電気センサ信号は検
出された振動の位相位置を識別させる。振動セン
サ信号は電子評価回路38(第3図)へ導びかれ
る。この電子評価回路は第1図および第2図にお
いて回路板39で示されている。
次の動作にもとづく、即ち振動する測定管21お
よび22の中を流れる測定媒質がコリオリの力を
発生させ、このコリオリの力が機械的振動の相互
間の位相ずれを各測定管の両端に生ぜさせる動作
にもとづく。この位相ずれの量が質量流に対する
尺度となる。この位相ずれの測定のために、振動
発生器30の両側にこの両側から等しい間隔を置
いて2つの振動センサ36および37が取り付け
られている。振動センサ36および37は測定管
21および22の機械振動を検出してこれを電気
センサ信号に変換する。この電気センサ信号は検
出された振動の位相位置を識別させる。振動セン
サ信号は電子評価回路38(第3図)へ導びかれ
る。この電子評価回路は第1図および第2図にお
いて回路板39で示されている。
振動センサ37の出力信号はさらに励振回路3
3(第3図)へ導びかれる。この励振回路の出力
側から振動発生器30の電磁石31へ、交流電流
を供給する。この交流電流は振動センサの出力信
号と同じ値の周波数と、測定管21および22が
それらの固有共振周波数で屈曲振動を励振される
ような位相位置とを有する。
3(第3図)へ導びかれる。この励振回路の出力
側から振動発生器30の電磁石31へ、交流電流
を供給する。この交流電流は振動センサの出力信
号と同じ値の周波数と、測定管21および22が
それらの固有共振周波数で屈曲振動を励振される
ような位相位置とを有する。
評価回路38(第3図)は両振動センサの間の
位相差を求めてその出力側に測定信号を送出す
る。この測定信号はこの位相差により示される、
質量流の測定値Qを示す。しかしながらこの測定
値Qは、機械的振動装置12の振動特性に対する
温度の影響のために誤差を有する。
位相差を求めてその出力側に測定信号を送出す
る。この測定信号はこの位相差により示される、
質量流の測定値Qを示す。しかしながらこの測定
値Qは、機械的振動装置12の振動特性に対する
温度の影響のために誤差を有する。
この種の温度の影響は、単独にまたは互いに結
び付いて生ずることのある種々の原因を有するこ
とがある。支持管11および振動装置12が同じ
温度を有する時でさえも、支持管と振動装置が異
なる熱膨張係数を有する異なる材料から形成され
る時は、温度に依存する機械的な応力を発生する
ことがあり得る。測定管の温度が支持管の温度と
異なる時は、測定結果に対して温度の影響が一層
強く作用する。このことは例えば、周囲温度とは
異なる温度を有する測定媒質の質量流を測定すべ
き時に、当てはまる。著しく高温のまたは著しく
低温の測定媒質の場合は、支持管と測定管との間
に著しく大きい温度差が存在する。最後に、測定
媒質の温度および/または周囲温度が一定でない
時は、ダイナミツクな温度変化も考慮する必要が
ある。
び付いて生ずることのある種々の原因を有するこ
とがある。支持管11および振動装置12が同じ
温度を有する時でさえも、支持管と振動装置が異
なる熱膨張係数を有する異なる材料から形成され
る時は、温度に依存する機械的な応力を発生する
ことがあり得る。測定管の温度が支持管の温度と
異なる時は、測定結果に対して温度の影響が一層
強く作用する。このことは例えば、周囲温度とは
異なる温度を有する測定媒質の質量流を測定すべ
き時に、当てはまる。著しく高温のまたは著しく
低温の測定媒質の場合は、支持管と測定管との間
に著しく大きい温度差が存在する。最後に、測定
媒質の温度および/または周囲温度が一定でない
時は、ダイナミツクな温度変化も考慮する必要が
ある。
前述の質量流測定装置には、測定結果に対する
この種の温度の影響を補償できる付加装置が設け
られている。この装置には第1温度センサ40が
所属する。この温度センサは支持管11の温度を
測定しこの温度を表わす第1電気温度センサ信号
を供給する。温度センサ40はこの目的のために
管区間13の外側に、支持管11の両方の端部レ
セプタクル14および15から間隔を置いて、設
けることができる。
この種の温度の影響を補償できる付加装置が設け
られている。この装置には第1温度センサ40が
所属する。この温度センサは支持管11の温度を
測定しこの温度を表わす第1電気温度センサ信号
を供給する。温度センサ40はこの目的のために
管区間13の外側に、支持管11の両方の端部レ
セプタクル14および15から間隔を置いて、設
けることができる。
第2温度センサ41が、機械的振動装置12の
温度を測定しこの温度を表わす第2の電気温度セ
ンサ信号を供給するように、取り付けられてい
る。第2温度センサはこの目的のために、支持管
の内部において機械的振動装置12の一部に取り
付けることもしようと思えばできるが、こうする
とこの第2温度センサは持続的に機械振動を受け
ることになり、耐久性に対する問題が生ずるであ
ろう。そのため図示の実施例の場合は、第2温度
センサ41も支持管11に次の個所に取り付けら
れる、即ち測定媒質の温度−振動装置12の温度
でもある−に実質的に等しい個所に、取り付けら
れる。この目的のために端部レセプタクル14
に、端部レセプタクル14の外面から斜め方向へ
支持リング28の近傍まで延びる切欠部42が、
設けられる。温度センサ41は切欠部42の端部
において支持リングのできるだけ近傍に設け、そ
の接続線路は切欠部42の中を外側へ導びかれ
る。支持リング28が測定媒質の温度に置かれる
ため温度センサ41は実質的に機械的振動装置1
2の温度を測定する。温度センサ41の形状に応
じて切欠部42を斜め方向の孔にまたは切削され
た斜め方向の溝にすることができる。
温度を測定しこの温度を表わす第2の電気温度セ
ンサ信号を供給するように、取り付けられてい
る。第2温度センサはこの目的のために、支持管
の内部において機械的振動装置12の一部に取り
付けることもしようと思えばできるが、こうする
とこの第2温度センサは持続的に機械振動を受け
ることになり、耐久性に対する問題が生ずるであ
ろう。そのため図示の実施例の場合は、第2温度
センサ41も支持管11に次の個所に取り付けら
れる、即ち測定媒質の温度−振動装置12の温度
でもある−に実質的に等しい個所に、取り付けら
れる。この目的のために端部レセプタクル14
に、端部レセプタクル14の外面から斜め方向へ
支持リング28の近傍まで延びる切欠部42が、
設けられる。温度センサ41は切欠部42の端部
において支持リングのできるだけ近傍に設け、そ
の接続線路は切欠部42の中を外側へ導びかれ
る。支持リング28が測定媒質の温度に置かれる
ため温度センサ41は実質的に機械的振動装置1
2の温度を測定する。温度センサ41の形状に応
じて切欠部42を斜め方向の孔にまたは切削され
た斜め方向の溝にすることができる。
温度センサ40および41は任意の公知の構成
にすることができる。例えば金属または半導体材
料から成る温度に依存する抵抗を用いることがで
きる。
にすることができる。例えば金属または半導体材
料から成る温度に依存する抵抗を用いることがで
きる。
両方の温度測定センサ40および41から供給
される温度センサ信号は補正回路43(第3図)
へ導びかれる。この補正回路も回路ケーシング3
4の中に収容して例えば評価回路38と共に回路
板39の上に設けられる。補正回路43はさら
に、質量流の補正されない測定値Qを表わす評価
回路38の出力信号が供給され、その出力側へ質
量流の補正された測定値Q′を表わす測定信号を
送出する。この目的のためにこの補正回路は補正
されない測定値に、温度センサ40および41に
より測定される両方の温度に依存する補正係数K
を次のように乗算する: Q′=K・Q (1) 上述の、直線状の測定管から成る、両端の固定
された振動装置を有する質量流測定装置に対して
は、次の補正係数が適用される。
される温度センサ信号は補正回路43(第3図)
へ導びかれる。この補正回路も回路ケーシング3
4の中に収容して例えば評価回路38と共に回路
板39の上に設けられる。補正回路43はさら
に、質量流の補正されない測定値Qを表わす評価
回路38の出力信号が供給され、その出力側へ質
量流の補正された測定値Q′を表わす測定信号を
送出する。この目的のためにこの補正回路は補正
されない測定値に、温度センサ40および41に
より測定される両方の温度に依存する補正係数K
を次のように乗算する: Q′=K・Q (1) 上述の、直線状の測定管から成る、両端の固定
された振動装置を有する質量流測定装置に対して
は、次の補正係数が適用される。
K=k0+k1T1+k2T2+k3T1 2+k4T2 2+k5T1T2
……(2) この場合、 T1:測定管温度 T2:支持管温度 k0,k1……:質量流測定装置の所定の実施例の特
性を表わす定数の係数 実際に示されたことは、次数の高い方の項は無
視できる。補正されない測定値Qに補正係数 K=K0+K1T1+K2T2 を乗算すれば、十分な精度の温度補償が達成され
る。
……(2) この場合、 T1:測定管温度 T2:支持管温度 k0,k1……:質量流測定装置の所定の実施例の特
性を表わす定数の係数 実際に示されたことは、次数の高い方の項は無
視できる。補正されない測定値Qに補正係数 K=K0+K1T1+K2T2 を乗算すれば、十分な精度の温度補償が達成され
る。
係数K0,K1およびK2は、質量流測定装置の所
定の実施例に対して、経験的に求められる。この
場合に当業者は、補正されない測定値Qに前述の
補正係数Kを乗算するように、両温度センサ信号
にもとづいて測定信号を変形する補正回路を設計
することは、何の困難も要しない。例えば評価回
路38の出力信号が測定値Qに比例するアナログ
信号である時は、補正回路43は、その増幅係数
が補正係数Kに比例して制御される増幅器を有す
ることができる。
定の実施例に対して、経験的に求められる。この
場合に当業者は、補正されない測定値Qに前述の
補正係数Kを乗算するように、両温度センサ信号
にもとづいて測定信号を変形する補正回路を設計
することは、何の困難も要しない。例えば評価回
路38の出力信号が測定値Qに比例するアナログ
信号である時は、補正回路43は、その増幅係数
が補正係数Kに比例して制御される増幅器を有す
ることができる。
しかし大抵の場合は評価回路38が、測定値Q
を振動センサ信号の位相ずれから求めるようにプ
ログラミングされたマイクロコンピユータとして
構成される。この場合は測定値Qの補正は、例え
ば同じマイクロコンピユータにおける付加的な補
正プログラムにより、行なわれる。
を振動センサ信号の位相ずれから求めるようにプ
ログラミングされたマイクロコンピユータとして
構成される。この場合は測定値Qの補正は、例え
ば同じマイクロコンピユータにおける付加的な補
正プログラムにより、行なわれる。
発明の効果
本発明により、測定信号に対する温度誤差の影
響の著しく低減された質量流測定装置が提供され
る。
響の著しく低減された質量流測定装置が提供され
る。
第1図は本発明によるコリオリの力にもとづい
て作動する質量流測定装置の部分切欠側面図、第
2図は第1図の質量流測定装置の線A−Bから見
た断面図、第3図は接続された電子回路ブロツク
図を有する質量流測定装置の切欠側面図を示す。 10……質量流測定装置、11……支持管、1
2……振動装置、14,15……端部レセプタク
ル、13……管区間、16,17……支持部材、
18,19……フランジ、20……薄板ケーシン
グ、21,22……測定管、23,24……配流
部材、25……流れチヤネル、26……ダイヤフ
ラム、28,29……支持リング、30……振動
発生器、31……電磁石、32……接極子、34
……回路ケーシング、36,37……振動セン
サ、38……電子評価回路、39……回路板、4
0,41……温度センサ、43……補正回路。
て作動する質量流測定装置の部分切欠側面図、第
2図は第1図の質量流測定装置の線A−Bから見
た断面図、第3図は接続された電子回路ブロツク
図を有する質量流測定装置の切欠側面図を示す。 10……質量流測定装置、11……支持管、1
2……振動装置、14,15……端部レセプタク
ル、13……管区間、16,17……支持部材、
18,19……フランジ、20……薄板ケーシン
グ、21,22……測定管、23,24……配流
部材、25……流れチヤネル、26……ダイヤフ
ラム、28,29……支持リング、30……振動
発生器、31……電磁石、32……接極子、34
……回路ケーシング、36,37……振動セン
サ、38……電子評価回路、39……回路板、4
0,41……温度センサ、43……補正回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 支持管および、該支持管中で軸方向に配置さ
れ両端の支持された少くとも1つの直線状の測定
管を有する機械的振動装置および、該測定管をそ
の中心において屈曲振動させる振動発生器およ
び、機械振動を該振動発生器の両側で等間隔の個
所で検出して、検出された振動の周波数および位
相位置を表わす電気振動センサ信号を発生する振
動センサおよび、該振動センサ信号を供給されて
それらの信号の位相差から質量流の測定値を表わ
す測定信号を形成する評価回路を備えたコリオリ
の原理で動作する質量流測定装置において、第1
温度センサを設け、該第1温度センサは支持管の
温度を測定してこの温度を表わす第1温度センサ
信号を形成するようにし、さらに第2温度センサ
を設け、該第2温度センサは機械振動装置の温度
を測定してこの温度を表わす第2温度センサ信号
を形成するようにし、さらに補正回路が前記の両
方の温度信号を供給されて前記の測定信号に、測
定された温度にもとづいて、測定結果に対する温
度の影響を除去するための補正をするようにした
ことを特徴とするコリオリの原理で動作する質量
流測定装置。 2 補正回路が質量流の測定値に補正係数 K=K0+K1T1+K2T2 を乗算するようにし、この場合、T1は振動装置
の温度、T2は支持管の温度、K0,K1,K2は質量
流の特性を表わす一定の係数を表わす、特許請求
の範囲第1項に記載の質量流測定装置。 3 評価回路および補正回路を相応にプログラミ
ングされたマイクロコンピユータにより構成した
質量流測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3632800.6 | 1986-09-26 | ||
| DE19863632800 DE3632800A1 (de) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | Nach dem coriolisprinzip arbeitendes massendurchflussmessgeraet |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63158420A JPS63158420A (ja) | 1988-07-01 |
| JPH0569452B2 true JPH0569452B2 (ja) | 1993-10-01 |
Family
ID=6310454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62239100A Granted JPS63158420A (ja) | 1986-09-26 | 1987-09-25 | コリオリの原理で動作する質量流測定装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4768384A (ja) |
| EP (1) | EP0261435B1 (ja) |
| JP (1) | JPS63158420A (ja) |
| DE (2) | DE3632800A1 (ja) |
| DK (1) | DK168971B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003528305A (ja) * | 2000-03-22 | 2003-09-24 | マイクロ・モーション・インコーポレーテッド | コリオリ流量計を極低温で操作する方法および装置 |
Families Citing this family (113)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| DE102007030690A1 (de) | 2007-06-30 | 2009-05-07 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Meßsystem für ein in einer Prozeßleitung strömendes Medium |
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| DE102007030699A1 (de) | 2007-06-30 | 2009-01-15 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Meßsystem für ein in einer Prozeßleitung strömendes Medium |
| DE102007063372A1 (de) | 2007-12-30 | 2009-07-02 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Meßsystem für ein in einer Prozeßleitung strömendes Medium |
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| DE102008022373A1 (de) | 2008-05-06 | 2009-11-12 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Meßgerät sowie Verfahren zum Überwachen eines Meßgeräts |
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