JPH0570762B2 - - Google Patents
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- JPH0570762B2 JPH0570762B2 JP61088443A JP8844386A JPH0570762B2 JP H0570762 B2 JPH0570762 B2 JP H0570762B2 JP 61088443 A JP61088443 A JP 61088443A JP 8844386 A JP8844386 A JP 8844386A JP H0570762 B2 JPH0570762 B2 JP H0570762B2
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- Japan
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- signal
- duty ratio
- scanning
- digital
- adjustment
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/156—Arrangements in which a continuous pulse train is transformed into a train having a desired pattern
- H03K5/1565—Arrangements in which a continuous pulse train is transformed into a train having a desired pattern the output pulses having a constant duty cycle
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/01—Shaping pulses
- H03K5/08—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding
- H03K5/082—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding with an adaptive threshold
- H03K5/086—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding with an adaptive threshold generated by feedback
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、デイジタル信号のデユーテイレシオ
に比例する実際信号がデユーテイレシオの目標値
に比例する目標信号と比較されかつ比較によつて
差信号が形成される、長さ又は角度のデイジタル
測定装置における周期的走査信号から得られたデ
イジタル信号のデユーテイレシオの調整方法およ
び装置に関する。
に比例する実際信号がデユーテイレシオの目標値
に比例する目標信号と比較されかつ比較によつて
差信号が形成される、長さ又は角度のデイジタル
測定装置における周期的走査信号から得られたデ
イジタル信号のデユーテイレシオの調整方法およ
び装置に関する。
光電式デイジタル長さ又は角度測定システムは
例えば工作機械で工作物の加工のための相対的に
移動可能な機械部分の相対位置の測定のために又
は測定機で検出対象物の位置又は寸法の検出のた
めに使用される。
例えば工作機械で工作物の加工のための相対的に
移動可能な機械部分の相対位置の測定のために又
は測定機で検出対象物の位置又は寸法の検出のた
めに使用される。
この種の測定システムの分解能は利用される精
度測定尺の格子定数によつて制限される。補間法
によつて測定分解能が高められうる。穂間度の高
さは特に信号パラメータの良否に依存する。振幅
のばらつき、合成された直流電圧部分、位相誤差
及び許容できない高調波を含む形の誤差の多い信
号パラメータはこの種の補間法に狭い限界を付す
ることになる。そのような誤差を伴う信号パラメ
ータの消去のための装置を備えた長さ又は角度測
定システムは既に公知である。
度測定尺の格子定数によつて制限される。補間法
によつて測定分解能が高められうる。穂間度の高
さは特に信号パラメータの良否に依存する。振幅
のばらつき、合成された直流電圧部分、位相誤差
及び許容できない高調波を含む形の誤差の多い信
号パラメータはこの種の補間法に狭い限界を付す
ることになる。そのような誤差を伴う信号パラメ
ータの消去のための装置を備えた長さ又は角度測
定システムは既に公知である。
（従来の技術）
西独国特許公開公報2729697号において走査信
号による誤差を伴う信号の修正のための装置を備
えた測定システムが記載されている。信号パラメ
ータの求められた変位はデイジタル修正値として
記憶装置に補間プロセスの前にコンピユータによ
るデイジタル走査信号の修正のために記憶され
る。この方法では記憶ユニツトと比較的多くの演
算が必要である。
号による誤差を伴う信号の修正のための装置を備
えた測定システムが記載されている。信号パラメ
ータの求められた変位はデイジタル修正値として
記憶装置に補間プロセスの前にコンピユータによ
るデイジタル走査信号の修正のために記憶され
る。この方法では記憶ユニツトと比較的多くの演
算が必要である。
西独国特許明細書1945206号明細書において長
さ又は角度に依存した電気信号の補間のための装
置が開示されており、この場合電気信号は相異な
る閾値を備えた一列の比較器を介して案内され
る。このような相異なる閾値は電気的信号の予め
設定された信号波形及び振幅に適合される。これ
に対して電気的信号の振幅に適合される。これに
対して電気的信号の振幅に依存して参照信号が発
生し、参照信号は閾値を予め設定された補間ステ
ツプに相応して適合させ又は電気信号の振幅を参
照信号は閾値を予め設定された補間ステツプに相
応して適合させ又は電気信号の振幅を参照信号に
依存した増幅の変更によつて一定に保持する。こ
の装置では電気信号の全ての周波数で、運転中連
続して修正信号が形成されかつ比較器の電気信号
又は制御入力に重ね合わされる。
さ又は角度に依存した電気信号の補間のための装
置が開示されており、この場合電気信号は相異な
る閾値を備えた一列の比較器を介して案内され
る。このような相異なる閾値は電気的信号の予め
設定された信号波形及び振幅に適合される。これ
に対して電気的信号の振幅に適合される。これに
対して電気的信号の振幅に依存して参照信号が発
生し、参照信号は閾値を予め設定された補間ステ
ツプに相応して適合させ又は電気信号の振幅を参
照信号は閾値を予め設定された補間ステツプに相
応して適合させ又は電気信号の振幅を参照信号に
依存した増幅の変更によつて一定に保持する。こ
の装置では電気信号の全ての周波数で、運転中連
続して修正信号が形成されかつ比較器の電気信号
又は制御入力に重ね合わされる。
西独国特許公開公報3046797号には誤差の修正
が記載されており、誤差は光電測定システムの電
気的正弦信号の直流水準変位から生ずる。電気信
号の最大値及び最小値から平均値がつくられ、平
均値は極値の近くで誤差信号の発生のための参照
値と比較される。この誤差信号は修正されて電気
的信号は重ねられる。修正は90゜位相のずれた別
の電気信号に依存して行われる。
が記載されており、誤差は光電測定システムの電
気的正弦信号の直流水準変位から生ずる。電気信
号の最大値及び最小値から平均値がつくられ、平
均値は極値の近くで誤差信号の発生のための参照
値と比較される。この誤差信号は修正されて電気
的信号は重ねられる。修正は90゜位相のずれた別
の電気信号に依存して行われる。
西独国特許出願第2459749号明細書から回転数
計測用発信器監視装置が公知である。運動に依存
した電気信号は積分器によりデユーテイレシオに
比例する信号に変形される。この信号は上限参照
値及び下限参照値と比較される。この参照値に対
する過不足の際警報信号が発せられる。
計測用発信器監視装置が公知である。運動に依存
した電気信号は積分器によりデユーテイレシオに
比例する信号に変形される。この信号は上限参照
値及び下限参照値と比較される。この参照値に対
する過不足の際警報信号が発せられる。
西独国特許明細書2061588号はパルスプレス列
のデユーテイレシオの調整のための回路を示す。
その際閉じた調整回路の帰還路に予め設定された
周波数以下の調整値のみが増幅器に供給されるロ
ーパスが配設されている。
のデユーテイレシオの調整のための回路を示す。
その際閉じた調整回路の帰還路に予め設定された
周波数以下の調整値のみが増幅器に供給されるロ
ーパスが配設されている。
これらの公知の方法と装置は運転中断後に測定
システムの再運転をした後、誤差のある電気信号
の調整のための誤差信号は存在しないという共通
した欠点を有する。そのわけは調整回路における
電気的構成要素は振動している状態でのみ調整に
必要な調整信号を供給することができるからであ
る。
システムの再運転をした後、誤差のある電気信号
の調整のための誤差信号は存在しないという共通
した欠点を有する。そのわけは調整回路における
電気的構成要素は振動している状態でのみ調整に
必要な調整信号を供給することができるからであ
る。
その他、公知の方法と装置では周期的電気信号
の全ての周波数で誤差信号が形成される。しかし
周期的電気信号の低周波数ではこの誤差信号は温
度−、エイジング−又はドリフト影響を消去する
ために調整に必要な何らかの信号をも示さない。
そのわけは調整回路に使用される電子的構成部分
は許容周波数体域の下方でのみ許容可能に作動す
るだけだからである。
の全ての周波数で誤差信号が形成される。しかし
周期的電気信号の低周波数ではこの誤差信号は温
度−、エイジング−又はドリフト影響を消去する
ために調整に必要な何らかの信号をも示さない。
そのわけは調整回路に使用される電子的構成部分
は許容周波数体域の下方でのみ許容可能に作動す
るだけだからである。
（発明の課題）
本発明は矩形波信号のデユーテイレシオが一定
に保持されることができることにより、この種の
測定システムで例えば温度−、エイジング−又は
ドリフト影響に起因する誤差を含む信号パラメー
タを消去することを課題の基礎とする。また本発
明による装置は信号パラメータの修正をできるか
ぎり簡単にかつ故障のなしに可能にされなければ
ならない。
に保持されることができることにより、この種の
測定システムで例えば温度−、エイジング−又は
ドリフト影響に起因する誤差を含む信号パラメー
タを消去することを課題の基礎とする。また本発
明による装置は信号パラメータの修正をできるか
ぎり簡単にかつ故障のなしに可能にされなければ
ならない。
（課題の解決のための手段）
この課題は本発明によれば、デユーテイレシオ
の調整方法において、ａ）デイジタル信号の確定
した周波数範囲内で、差信号がデイジタル信号の
繰り返し頻度によつて制御されるスイツチを介し
て、瞬間的に生ずる差信号に依存する調整信号の
形成のための装置に供給され、ｂ）デイジタル信
号の確定した周波数範囲外では、前記装置への差
信号の供給がスイツチによつて中断されかつ調整
信号の値が記憶装置に記憶された値に依存して形
成され、その値は記憶装置における、調整された
周波数範囲に達しないか又は該周波数を越える直
前に存在した差信号に比例しており、そしてｃ）
調整信号が前記両ケースにおいて走査信号と加算
されそしてこの加算後の走査信号が閾値を特定す
る制御信号との比較の下にデイジタル信号のデユ
ーテイレシオに作用する前記方法、及びデユーテ
イレシオの調整方法を実施するための装置におい
て、測定尺は走査信号の発生のために走査ユニツ
トに対して運動可能であり、走査ユニツトにデイ
ジタル信号の発生のための構成ユニツトが接続さ
れており、このデイジタル信号は積分部材に供給
可能でありかつ積分部材の後方には差信号の形成
のための構成ユニツトが配設され、そして構成ユ
ニツトに調整信号の形成のための、記憶装置を備
えた装置が接続されそして構成ユニツトと前記装
置の間に繰り返し周波数に依存するスイツチが接
続されており、それによつて前記装置から出た調
整信号は走査信号と加算され、そしてこの加算後
の走査信号を閾値を特定する制御信号との比較の
下にデイジタル信号のデユーテイレシオに作用す
ることを特徴とする、前記装置によつて解決され
る。
の調整方法において、ａ）デイジタル信号の確定
した周波数範囲内で、差信号がデイジタル信号の
繰り返し頻度によつて制御されるスイツチを介し
て、瞬間的に生ずる差信号に依存する調整信号の
形成のための装置に供給され、ｂ）デイジタル信
号の確定した周波数範囲外では、前記装置への差
信号の供給がスイツチによつて中断されかつ調整
信号の値が記憶装置に記憶された値に依存して形
成され、その値は記憶装置における、調整された
周波数範囲に達しないか又は該周波数を越える直
前に存在した差信号に比例しており、そしてｃ）
調整信号が前記両ケースにおいて走査信号と加算
されそしてこの加算後の走査信号が閾値を特定す
る制御信号との比較の下にデイジタル信号のデユ
ーテイレシオに作用する前記方法、及びデユーテ
イレシオの調整方法を実施するための装置におい
て、測定尺は走査信号の発生のために走査ユニツ
トに対して運動可能であり、走査ユニツトにデイ
ジタル信号の発生のための構成ユニツトが接続さ
れており、このデイジタル信号は積分部材に供給
可能でありかつ積分部材の後方には差信号の形成
のための構成ユニツトが配設され、そして構成ユ
ニツトに調整信号の形成のための、記憶装置を備
えた装置が接続されそして構成ユニツトと前記装
置の間に繰り返し周波数に依存するスイツチが接
続されており、それによつて前記装置から出た調
整信号は走査信号と加算され、そしてこの加算後
の走査信号を閾値を特定する制御信号との比較の
下にデイジタル信号のデユーテイレシオに作用す
ることを特徴とする、前記装置によつて解決され
る。
本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
（実施例）
第１図は相互に移動可能な図示しない２つの対
象物の相対位置の測定のための公知のインクリメ
ンタル光電測定システムＭが示されており、装置
は例えば工作機械の又は機械の２つの機械部分に
よつて形成されることができる。測定システムＭ
は２つの矩形信号Ｓ４，Ｓ５を発信し、そのデユ
ーテイレシオは矩形信号Ｓ４，Ｓ５の再処理の前
に予め設定された値に調整される。第１の対象物
と結合した格子測定尺１は第２の対象物と結合さ
れた走査ユニツト２に対して測定方向Ｘに動かさ
れ、走査格子２は格子定数の１／４づつずらされ
た４つの走査格子を有し、その各々に光電要素が
付設されている。４つの走査格子は格子定数の
１／２だけずらされた二対の走査格子を形成す
る。走査ユニツト２は格子定数の１／４だけずら
された４つの走査格子及びこれらに属する光電要
素による格子測定尺の走査の際に同様に格子定数
の１／４だけずれた４つの走査信号Ｓ０１
（sinX）、Ｓ０３（cosX）、Ｓ０２（−sinX）、Ｓ
０４（−cosX）を発生する。第１走査信号Ｓ０
１及びこれに対して１／２格子定数位相のずれた
第２の走査信号Ｓ０２が第１測定信号Ｓ１
（sinX）−（−sinX）の形成のための第１差動増幅
機３に供給される。第３走査信号Ｓ０３及びこれ
に対して１／２格子定数だけ位相のずれた第４走
査信号Ｓ０４は第２測定信号Ｓ２（cosX）−（−
cosX）の形成のための第２差動増幅器４に供給
される。
象物の相対位置の測定のための公知のインクリメ
ンタル光電測定システムＭが示されており、装置
は例えば工作機械の又は機械の２つの機械部分に
よつて形成されることができる。測定システムＭ
は２つの矩形信号Ｓ４，Ｓ５を発信し、そのデユ
ーテイレシオは矩形信号Ｓ４，Ｓ５の再処理の前
に予め設定された値に調整される。第１の対象物
と結合した格子測定尺１は第２の対象物と結合さ
れた走査ユニツト２に対して測定方向Ｘに動かさ
れ、走査格子２は格子定数の１／４づつずらされ
た４つの走査格子を有し、その各々に光電要素が
付設されている。４つの走査格子は格子定数の
１／２だけずらされた二対の走査格子を形成す
る。走査ユニツト２は格子定数の１／４だけずら
された４つの走査格子及びこれらに属する光電要
素による格子測定尺の走査の際に同様に格子定数
の１／４だけずれた４つの走査信号Ｓ０１
（sinX）、Ｓ０３（cosX）、Ｓ０２（−sinX）、Ｓ
０４（−cosX）を発生する。第１走査信号Ｓ０
１及びこれに対して１／２格子定数位相のずれた
第２の走査信号Ｓ０２が第１測定信号Ｓ１
（sinX）−（−sinX）の形成のための第１差動増幅
機３に供給される。第３走査信号Ｓ０３及びこれ
に対して１／２格子定数だけ位相のずれた第４走
査信号Ｓ０４は第２測定信号Ｓ２（cosX）−（−
cosX）の形成のための第２差動増幅器４に供給
される。
両測定信号Ｓ１，Ｓ２は格子定数の１／４ピツ
チだけ位相をずらされかつ理想的な場合ゼロ線に
対して対称である、そのわけは走査信号Ｓ０１，
Ｓ０２とＳ０３，Ｓ０４との差動増幅器３，４の
差の形成によつてその直流電流又は直流電圧部分
GAが消去されるからである。しかし差形成の
際、両光電要素対の光電要素の特性が相違する場
合、このことは一般的に市販の光電要素ではそう
ではあるが、誤差が発生し得る。更に例えば温度
−、エイジング−又はドリフト影響によつて光電
要素の特性の変化が起こり得る。個々の光電要素
と光源の間、光電要素と走査格子定数の１／４と
の間又は光源と格子測定尺１との間の距離の相違
は両測定信号Ｓ１，Ｓ２の直流電流又は直流電圧
部分GAに通じ得る。
チだけ位相をずらされかつ理想的な場合ゼロ線に
対して対称である、そのわけは走査信号Ｓ０１，
Ｓ０２とＳ０３，Ｓ０４との差動増幅器３，４の
差の形成によつてその直流電流又は直流電圧部分
GAが消去されるからである。しかし差形成の
際、両光電要素対の光電要素の特性が相違する場
合、このことは一般的に市販の光電要素ではそう
ではあるが、誤差が発生し得る。更に例えば温度
−、エイジング−又はドリフト影響によつて光電
要素の特性の変化が起こり得る。個々の光電要素
と光源の間、光電要素と走査格子定数の１／４と
の間又は光源と格子測定尺１との間の距離の相違
は両測定信号Ｓ１，Ｓ２の直流電流又は直流電圧
部分GAに通じ得る。
両測定信号SS１，Ｓ２のうち次に第２測定信
号Ｓ２の修正のみを記載するが第１測定信号Ｓ１
の修正は第１測定信号の修正と全く同様である。
測定信号Ｓ２はトリガ８で矩形波信号Ｓ４に変え
られる前に増幅されかつ再処理のために補間装置
を備えた評価装置６及び可逆カウンタ並びに両対
象物の相対的位置のための位置測定値の表示のた
めの表示装置に供給される。誤差のない長さ又は
角度の評価及び補間のために矩形波Ｓ４は一定の
デユーテイレシオを有しなければならない。
号Ｓ２の修正のみを記載するが第１測定信号Ｓ１
の修正は第１測定信号の修正と全く同様である。
測定信号Ｓ２はトリガ８で矩形波信号Ｓ４に変え
られる前に増幅されかつ再処理のために補間装置
を備えた評価装置６及び可逆カウンタ並びに両対
象物の相対的位置のための位置測定値の表示のた
めの表示装置に供給される。誤差のない長さ又は
角度の評価及び補間のために矩形波Ｓ４は一定の
デユーテイレシオを有しなければならない。
デユーテイレシオの調整のために測定信号Ｓ２
は増幅後トリガ８は増幅された測定信号Ｓ３を殆
ど一定の信号水準術SB，SUを有する矩形波信号
Ｓ４に変える。トリガ８のトリガ閾値は制御信号
Ｓ８０によつて好適にされ、増幅された測定信号
Ｓ３のゼロ線Ｎの水準上に一定に保持される。矩
形波電圧UVに依存している。矩形波信号Ｓ４は
信号水準SB，SUを安定化させる切り換え段９に
供給されその結果出力に一定の信号水準SB，SU
の安定化された矩形波信号Ｓ６がある。
は増幅後トリガ８は増幅された測定信号Ｓ３を殆
ど一定の信号水準術SB，SUを有する矩形波信号
Ｓ４に変える。トリガ８のトリガ閾値は制御信号
Ｓ８０によつて好適にされ、増幅された測定信号
Ｓ３のゼロ線Ｎの水準上に一定に保持される。矩
形波電圧UVに依存している。矩形波信号Ｓ４は
信号水準SB，SUを安定化させる切り換え段９に
供給されその結果出力に一定の信号水準SB，SU
の安定化された矩形波信号Ｓ６がある。
デユーテイレシオは周期Ｔに対するパルスの持
続長さT1の比として定義され、ここではＴ＝T1
−T2であり、T2は周期Ｔ中のパルスのない区間
長さを表す。
続長さT1の比として定義され、ここではＴ＝T1
−T2であり、T2は周期Ｔ中のパルスのない区間
長さを表す。
予め設定された値にデユーテイレシオを調整す
るために安定化された矩形波信号Ｓ６が積分部材
１０に供給され、積分部材１０は振動した状態で
安定化された矩形波信号Ｓ６をデユーテイレシオ
に比例する実際値信号Ｓ７に変換する。調整増幅
器１１においてこの実際値信号Ｓ７が要求される
一定のデユーテイレシオに相応して一定の目標値
Ｓ８と比較され、かつ比較による差信号Ｓ９が形
成される。第１図に示すように一般に一定の目標
値Ｓ８はトリガ給電電圧UVから導かれる。差信
号Ｓ９はアナログ調整回路をこのスイツチ１２で
調整可能な信号周波数ｆの上方で差信号Ｓ９は装
置Ｅに達し、装置Ｅは抵抗１３、調整信号Ｓ１０
の形成のための調整ユニツト１４、調整ユニツト
１４に並列に接続された記憶装置１５及び抵抗１
９から成る。調整ユニツト１４は第２図によれば
一定電流電源１７を備えたMOS−FET１６から
成り、一方メモリ１５はコンデンサ１８によつて
形成される。MOS−FET１６のゲートＧは好ま
しくは高抵抗の抵抗体１３と接続されている。電
源Ｓは設置されており、、ドレインＤはコンデン
サ１８の第２電極、後続の抵抗１９及び定電流電
源１７と接続している。
るために安定化された矩形波信号Ｓ６が積分部材
１０に供給され、積分部材１０は振動した状態で
安定化された矩形波信号Ｓ６をデユーテイレシオ
に比例する実際値信号Ｓ７に変換する。調整増幅
器１１においてこの実際値信号Ｓ７が要求される
一定のデユーテイレシオに相応して一定の目標値
Ｓ８と比較され、かつ比較による差信号Ｓ９が形
成される。第１図に示すように一般に一定の目標
値Ｓ８はトリガ給電電圧UVから導かれる。差信
号Ｓ９はアナログ調整回路をこのスイツチ１２で
調整可能な信号周波数ｆの上方で差信号Ｓ９は装
置Ｅに達し、装置Ｅは抵抗１３、調整信号Ｓ１０
の形成のための調整ユニツト１４、調整ユニツト
１４に並列に接続された記憶装置１５及び抵抗１
９から成る。調整ユニツト１４は第２図によれば
一定電流電源１７を備えたMOS−FET１６から
成り、一方メモリ１５はコンデンサ１８によつて
形成される。MOS−FET１６のゲートＧは好ま
しくは高抵抗の抵抗体１３と接続されている。電
源Ｓは設置されており、、ドレインＤはコンデン
サ１８の第２電極、後続の抵抗１９及び定電流電
源１７と接続している。
差信号Ｓ９はMOS−FET１６のゲートＧ及び
コンデンサ１８の電極に達し、その結果ゲート電
圧UG及びコンデンサ電圧UKが構成される。こ
の電圧UG及びUK、従つて差信号Ｓ９に依存し
て電源電流JOが一定電流電源１７から流れる。
電源電流JOの僅かな部分はドレインＤを経て、
ドレイン電流JDとして電源Ｓに向かつて流れ、
電源電流JOの他の部分は調整電流JBとして調整
電流JBが調整信号Ｓ１０に変換される抵抗１９
を経て増幅器５に達する。増幅器５は和増幅器と
して形成されており、この増幅器５の入力に訂正
されるべき測定信号及び矩形波信号Ｓ４のデユー
テイレシオの調整のための調整信号Ｓ１０が存在
する。
コンデンサ１８の電極に達し、その結果ゲート電
圧UG及びコンデンサ電圧UKが構成される。こ
の電圧UG及びUK、従つて差信号Ｓ９に依存し
て電源電流JOが一定電流電源１７から流れる。
電源電流JOの僅かな部分はドレインＤを経て、
ドレイン電流JDとして電源Ｓに向かつて流れ、
電源電流JOの他の部分は調整電流JBとして調整
電流JBが調整信号Ｓ１０に変換される抵抗１９
を経て増幅器５に達する。増幅器５は和増幅器と
して形成されており、この増幅器５の入力に訂正
されるべき測定信号及び矩形波信号Ｓ４のデユー
テイレシオの調整のための調整信号Ｓ１０が存在
する。
両信号Ｓ２及びＳ１０は増幅器５によつて加算
されかつ増幅され、増幅器５の出力に修正された
測定信号Ｓ３０が保持され、この測定信号はトリ
ガ８によつて予め設定された一定のデユーテイレ
シオを有するように形成された矩形波信号Ｓ４０
に変換される。
されかつ増幅され、増幅器５の出力に修正された
測定信号Ｓ３０が保持され、この測定信号はトリ
ガ８によつて予め設定された一定のデユーテイレ
シオを有するように形成された矩形波信号Ｓ４０
に変換される。
周波数に依存するスイツチ１２で調整される矩
形波Ｓ４の下方の周波数ｆ従つて測定信号Ｓ２の
周波数に達していない場合、差信号Ｓ９はスイツ
チ１２が開いているために最早調整ユニツト１４
及び記憶装置１５には達しない。電源電流JO、
ドレイン電流JD及び調整電流JBはコンデンサ１
８の貯えられた電荷によつてのみ制御される。
形波Ｓ４の下方の周波数ｆ従つて測定信号Ｓ２の
周波数に達していない場合、差信号Ｓ９はスイツ
チ１２が開いているために最早調整ユニツト１４
及び記憶装置１５には達しない。電源電流JO、
ドレイン電流JD及び調整電流JBはコンデンサ１
８の貯えられた電荷によつてのみ制御される。
これへの電荷は調整された周波数に達する前に
差動増幅器１１によつて形成された差信号Ｓ９に
比例し、かつスイツチ１２が閉じた際に抵抗１３
を経てコンデンサ１８の電極に達する。長い運転
中断の際でも測定システムＭの再運転後直ちに調
整電流JBがコンデンサ１８の貯えられた電荷に
よつて決定される。図示の説明では調整ユニツト
１４及びメモリユニツト１５の並列接続は積分回
路として作用し、その結果特定の時間長さの調整
信号Ｓ１０のみが測定信号Ｓ２に合成される。
差動増幅器１１によつて形成された差信号Ｓ９に
比例し、かつスイツチ１２が閉じた際に抵抗１３
を経てコンデンサ１８の電極に達する。長い運転
中断の際でも測定システムＭの再運転後直ちに調
整電流JBがコンデンサ１８の貯えられた電荷に
よつて決定される。図示の説明では調整ユニツト
１４及びメモリユニツト１５の並列接続は積分回
路として作用し、その結果特定の時間長さの調整
信号Ｓ１０のみが測定信号Ｓ２に合成される。
第３図は第１図による回路の種々の構成部分で
発生する信号ダイヤフラムを示す。
発生する信号ダイヤフラムを示す。
正弦曲線状に増幅された測定信号Ｓ３は直流電
流部分又は直流電圧部分GAなしの誤差のない状
態にあり、図示の第１周期Ｔの後にこの増幅され
た測定信号Ｓ３にドリフトの影響によつて増大さ
れて、直流電流又は直流電圧部分GAが重ねられ
る。トリガ８によつて得られた矩形波信号Ｓ４は
増幅された測定信号Ｓ３の振幅と無関係である。
上部信号レベルSBと下部信号レベルSUはトリガ
給電電圧UV及びトリガ８の特性にのみ依存す
る。トリガ閾値は制御信号Ｓ８０によつてゼロラ
インＮにぴつたりと調整される。
流部分又は直流電圧部分GAなしの誤差のない状
態にあり、図示の第１周期Ｔの後にこの増幅され
た測定信号Ｓ３にドリフトの影響によつて増大さ
れて、直流電流又は直流電圧部分GAが重ねられ
る。トリガ８によつて得られた矩形波信号Ｓ４は
増幅された測定信号Ｓ３の振幅と無関係である。
上部信号レベルSBと下部信号レベルSUはトリガ
給電電圧UV及びトリガ８の特性にのみ依存す
る。トリガ閾値は制御信号Ｓ８０によつてゼロラ
インＮにぴつたりと調整される。
矩形波信号Ｓ４のデユーテイレシオに比例する
実際値信号Ｓ７は要求される一定のデユーテイレ
シオに比例する調整可能な目標値信号Ｓ８と比較
されかつ差信号Ｓ９が形成される。この差信号Ｓ
９に調整信号Ｓ１０が比例しており、調整信号Ｓ
１０は和増幅器５において測定信号Ｓ２と加算さ
れ修正された増幅測定信号Ｓ３０を生ずる。訂正
された増幅測定信号Ｓ３０の処理は第１図の記載
で増幅された測定信号Ｓ３について説明したと同
様に行われ、その結果トリガ８の後に要求される
一定のデユーテイレシオの訂正された矩形波信号
Ｓ４０が使用される。この場合調整ユニツト１４
とメモリユニツト１５の並列接続回路は反転しな
いものとする。
実際値信号Ｓ７は要求される一定のデユーテイレ
シオに比例する調整可能な目標値信号Ｓ８と比較
されかつ差信号Ｓ９が形成される。この差信号Ｓ
９に調整信号Ｓ１０が比例しており、調整信号Ｓ
１０は和増幅器５において測定信号Ｓ２と加算さ
れ修正された増幅測定信号Ｓ３０を生ずる。訂正
された増幅測定信号Ｓ３０の処理は第１図の記載
で増幅された測定信号Ｓ３について説明したと同
様に行われ、その結果トリガ８の後に要求される
一定のデユーテイレシオの訂正された矩形波信号
Ｓ４０が使用される。この場合調整ユニツト１４
とメモリユニツト１５の並列接続回路は反転しな
いものとする。
矩形波信号Ｓ４の調整のみが記載されており、
矩形波信号は増幅された測定信号Ｓ３から導入さ
れるが、そのデユーテイレシオが調整されること
ができる矩形波信号毎に走査信号から直接又は増
幅されてない測定信号から導入されることも可能
である。
矩形波信号は増幅された測定信号Ｓ３から導入さ
れるが、そのデユーテイレシオが調整されること
ができる矩形波信号毎に走査信号から直接又は増
幅されてない測定信号から導入されることも可能
である。
矩形波信号Ｓ４又は修正された矩形波信号Ｓ４
０は図示の例では再処理のための評価装置６に供
給される。実際上増幅された走査信号Ｓ３又は訂
正された増幅走査信号Ｓ３０を通常、例えば再処
理のために取り出される、測定システムＭの外方
の端子Ｃに導かれる。
０は図示の例では再処理のための評価装置６に供
給される。実際上増幅された走査信号Ｓ３又は訂
正された増幅走査信号Ｓ３０を通常、例えば再処
理のために取り出される、測定システムＭの外方
の端子Ｃに導かれる。
走査信号及び測定信号が正弦曲線とは異なつて
もよい。一定電流は必ずしも図示のように実施さ
れる必要はなく抵抗によつても形成され得る。
もよい。一定電流は必ずしも図示のように実施さ
れる必要はなく抵抗によつても形成され得る。
周波数に依存するスイツチは周波数−直流電圧
変換器及びリレーを含む装置から成ることができ
る。その際周波数−直流電圧変換器は直流電圧を
出し、その大きさは測定信号の周波数又はトリガ
された測定信号の周波数に比例する。この直流電
圧に依存してリレーの接点は作動される。
変換器及びリレーを含む装置から成ることができ
る。その際周波数−直流電圧変換器は直流電圧を
出し、その大きさは測定信号の周波数又はトリガ
された測定信号の周波数に比例する。この直流電
圧に依存してリレーの接点は作動される。
メモリユニツトとしてコンデンサが使用され、
これはMOS増幅器に並列に接続されている。デ
ユーテイレシオに比例する実際値信号はこの場合
周波数に依存するスイツチに供給されかつスイツ
チが閉じた場合にMOS−増幅器の入力に達し、
MOS−増幅器の第２入力に目標値信号が入力さ
れ、コンデンサの第２電極が接続されている
MOS−増幅器の出力に調整信号が取り出される
ことができる。
これはMOS増幅器に並列に接続されている。デ
ユーテイレシオに比例する実際値信号はこの場合
周波数に依存するスイツチに供給されかつスイツ
チが閉じた場合にMOS−増幅器の入力に達し、
MOS−増幅器の第２入力に目標値信号が入力さ
れ、コンデンサの第２電極が接続されている
MOS−増幅器の出力に調整信号が取り出される
ことができる。
調整信号によつてトリガのトリガ閾値も変えら
れることができ、この間調整信号は矩形波信号の
デユーテイレシオの調整のためのトリガが制御信
号に重ねられる。
れることができ、この間調整信号は矩形波信号の
デユーテイレシオの調整のためのトリガが制御信
号に重ねられる。
周波数に依存したスイツチは記載の実施例では
増幅された測定信号の調整された周波数ｆの上方
でのみ閉じるように形成されている。しかしこの
スイツチは図示しない方法で下方及び上方に調整
可能な周波数ｆを備えた予め設定された周波数内
でのみ調整リレーを閉じるような特性をも有する
ことができる。
増幅された測定信号の調整された周波数ｆの上方
でのみ閉じるように形成されている。しかしこの
スイツチは図示しない方法で下方及び上方に調整
可能な周波数ｆを備えた予め設定された周波数内
でのみ調整リレーを閉じるような特性をも有する
ことができる。
調整ユニツトとメモリユニツトとを備えた構成
は対応した構成部分の使用の際には直列に接続さ
れることもできる。
は対応した構成部分の使用の際には直列に接続さ
れることもできる。
本発明は光電測定装置に限られず、むしろ磁気
的、誘導的及び光電的測定装置も使用されること
ができる。
的、誘導的及び光電的測定装置も使用されること
ができる。
（発明の効果）
本発明によつて矩形波信号のデユーテイレシオ
が一定され、その結果調整回路中の電気的構成部
分の周波数特性によつてもたらされる追加的累積
誤差が発生しない。また運転中断後のデユーテイ
レシオの調整も完全に行われる。
が一定され、その結果調整回路中の電気的構成部
分の周波数特性によつてもたらされる追加的累積
誤差が発生しない。また運転中断後のデユーテイ
レシオの調整も完全に行われる。
第１図は本発明による方法の使用のための好適
なた回路の図式図、第２図は第１図の詳細を示す
図、そして第３図は信号ダイヤグラムである。 図中符号 Ｓ０１，Ｓ０２，Ｓ０３，Ｓ０４，
Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４…周期的電気信号、Ｓ９
…差信号、Ｓ１０…調整値。
なた回路の図式図、第２図は第１図の詳細を示す
図、そして第３図は信号ダイヤグラムである。 図中符号 Ｓ０１，Ｓ０２，Ｓ０３，Ｓ０４，
Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４…周期的電気信号、Ｓ９
…差信号、Ｓ１０…調整値。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ デイジタル信号のデユーテイレシオに比例す
る実際信号がデユーテイレシオの目標値に比例す
る目標信号と比較されかつ比較によつて差信号が
形成される、長さ又は角度のデイジタル測定装置
における周期的走査信号から得られたデイジタル
信号のデユーテイレシオの調整方法において、 ａ）デイジタル信号Ｓ４の確定した周波数範囲内
で、差信号Ｓ９がデイジタル信号Ｓ４の繰り返し
周波数によつて制御されるスイツチ１２を介し
て、瞬間的に生ずる差信号Ｓ９に依存する調整信
号Ｓ１０の形成のための装置Ｅに供給され、 ｂ）デイジタル信号Ｓ４の確定した周波数範囲外
では、前記装置Ｅへの差信号Ｓ９の供給がスイツ
チ１２によつて中断されかつ調整信号Ｓ１０の値
が記憶装置１５に記憶された値に依存して形成さ
れ、その値は記憶装置１５における、調整された
周波数範囲に達しないか又は該周波数を越える直
前に存在した差信号Ｓ９に比例しており、そして ｃ）調整信号Ｓ１０が前記両ケースにおいて走査
信号Ｓ２と加算されそしてこの加算後の走査信号
Ｓ３０が閾値を特定する制御信号Ｓ８０との比較
の下にデイジタル信号Ｓ４のデユーテイレシオに
作用することを特徴とする前記方法。 ２ 調整信号Ｓ１０が、その値が予め設定された
時間長に渡つて存在した場合にのみ、走査信号Ｓ
２と組み合わせられる特許請求の範囲第１項記載
の方法。 ３ 調整信号Ｓ１０が走査信号Ｓ２に加えられ
る、特許請求の範囲第１項又は第２項記載の方
法。 ４ デイジタル信号のデユーテイレシオに比例す
る実際信号がデユーテイレシオの目標値に比例す
る目標信号と比較されかつ比較によつて差信号が
形成される、長さ又は角度のデイジタル測定装置
における周波数走査信号から得られるデイジタル
信号のデユーテイレシオの調整方法を実施するた
めの装置において、 測定尺１は走査信号Ｓ２の発生のために走査ユ
ニツト２に対して運動可能であり、走査ユニツト
２にデイジタル信号Ｓ４の発生のための構成ユニ
ツト８が接続されており、このデイジタル信号Ｓ
４は積分部材１０に供給可能でありかつ積分部材
１０の後方には差信号Ｓ９の形成のための構成ユ
ニツト１１が配設され、そして構成ユニツト１１
に調整信号Ｓ１０の形成のための、記憶装置を備
えた装置Ｅが接続されそして構成ユニツト１１と
前記装置Ｅの間に繰り返し周波数に依存するスイ
ツチ１２が接続されており、それによつて前記装
置Ｅから出た調整信号Ｓ１０は走査信号Ｓ２と加
算され、そしてこの加算後の走査信号Ｓ３０が閾
値を特定する制御信号Ｓ８０との比較の下にデイ
ジタル信号Ｓ４のデユーテイレシオに作用するこ
とを特徴とする、前記装置。 ５ 調整信号Ｓ１０の形成のための装置Ｅが記憶
ユニツト１５と調整ユニツト１４との並列接続を
有する、特許請求の範囲第４項記載の装置。 ６ 調整ユニツト１４がMOS−FET１６から成
り、そのドレイン電極Ｄに定電流電源１７が接続
されかつそのゲート入力Ｇに差信号Ｓ９が存在す
る、特許請求の範囲第５項記載の装置。 ７ 記憶ユニツト１５がコンデンサ１８から成
る、特許請求の範囲第５項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19853514155 DE3514155A1 (de) | 1985-04-19 | 1985-04-19 | Verfahren und einrichtung zur regelung des tastverhaeltnisses wenigstens eines elektrischen signals |
| DE3514155.7 | 1985-04-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6296816A JPS6296816A (ja) | 1987-05-06 |
| JPH0570762B2 true JPH0570762B2 (ja) | 1993-10-05 |
Family
ID=6268575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61088443A Granted JPS6296816A (ja) | 1985-04-19 | 1986-04-18 | 少なくとも１つの電気信号のデューティレシォの調整方法及びその装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4739197A (ja) |
| EP (1) | EP0204897B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6296816A (ja) |
| AT (1) | ATE43438T1 (ja) |
| DE (2) | DE3514155A1 (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3633768A1 (de) * | 1986-10-03 | 1988-04-14 | Endress Hauser Gmbh Co | Verfahren und anordnung zur erzeugung eines mittelwertfreien binaeren signals |
| JPS63290046A (ja) * | 1987-05-21 | 1988-11-28 | Pioneer Electronic Corp | パルス幅ひずみ補正回路 |
| DE3718192A1 (de) * | 1987-05-29 | 1988-12-08 | Hommelwerke Gmbh | Vorrichtung zur messung des abstandes zwischen der vorrichtung und einer messflaeche |
| DE4018615A1 (de) * | 1989-06-09 | 1990-12-13 | Licentia Gmbh | Schaltungsanordnung zur aufbereitung eines oszillatorsignals |
| DE19815438B4 (de) | 1997-04-16 | 2007-08-02 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Positionsmeßeinrichtung und Verfahren zum Betrieb einer Positionsmeßeinrichtung |
| DE19826875A1 (de) * | 1998-06-17 | 1999-12-23 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Numerische Steuerung mit einem räumlich getrennten Eingabegerät |
| EP1166047B1 (de) | 1999-03-30 | 2003-06-11 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Verfahren und schaltungsanordnung zur korrektur von periodischen signalen eines inkrementalen positionsmesssystems |
| DE10066138B4 (de) * | 1999-03-30 | 2004-09-23 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Korrektur von periodischen Signalen eines inkrementalen Positionsmesssystems |
| DE10018298B4 (de) * | 2000-04-13 | 2012-04-05 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Schwingungsdetektion bei einer Positionsmeßeinrichtung |
| JP3557584B2 (ja) * | 2000-09-08 | 2004-08-25 | 双葉電子工業株式会社 | リニヤスケールにおける計測信号生成回路 |
| US7088160B2 (en) * | 2004-04-08 | 2006-08-08 | Infineon Technologies Ag | Circuit arrangement for regulating a parameter of an electrical signal |
| DE102008062451B4 (de) | 2008-12-15 | 2021-08-12 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren zur beschleunigungsunabhängigen Regelung des Tastverhältnisses |
| DE102008062452B4 (de) | 2008-12-15 | 2021-08-26 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur frequenzunabhängigen Regelung des Tastverhältnisses |
| US9993142B2 (en) | 2013-03-28 | 2018-06-12 | Endochoice, Inc. | Fluid distribution device for a multiple viewing elements endoscope |
| DE102023211899A1 (de) * | 2023-11-29 | 2025-06-05 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Verfahren zum Ermitteln einer Drehzahl und/oder einer von einer Drehzahl abgeleiteten Bewegungsgröße, Computerprogrammprodukt, Computereinrichtung |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1945206C3 (de) * | 1969-09-06 | 1974-02-21 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Einrichtung zur Interpolation |
| DE2061588B1 (de) * | 1970-12-15 | 1972-05-25 | Siemens Ag | Schaltung zur Entzerrung und/oder Konstanthaltung des Tastverhältnisses |
| CH585408A5 (ja) * | 1974-12-12 | 1977-02-28 | Sulzer Ag | |
| DE2729697A1 (de) * | 1977-07-01 | 1979-01-04 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Verfahren zur interpolation |
| GB2065395B (en) * | 1979-11-29 | 1983-07-06 | Sony Corp | Frequency controlled signal generating circuit arrangements |
| US4318617A (en) * | 1979-12-14 | 1982-03-09 | Keuffel & Esser Company | DC Shift error correction for electro-optical measuring system |
| GB2085599B (en) * | 1980-09-30 | 1984-09-19 | Gould Advance Ltd | Automatic drift correction |
| US4599570A (en) * | 1982-07-21 | 1986-07-08 | Sperry Corporation | Phase detector with independent offset correction |
| US4641087A (en) * | 1985-02-01 | 1987-02-03 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Phase comparator apparatus and method |
-
1985
- 1985-04-19 DE DE19853514155 patent/DE3514155A1/de active Granted
-
1986
- 1986-03-13 EP EP86103378A patent/EP0204897B1/de not_active Expired
- 1986-03-13 DE DE8686103378T patent/DE3663592D1/de not_active Expired
- 1986-03-13 AT AT86103378T patent/ATE43438T1/de not_active IP Right Cessation
- 1986-04-07 US US06/849,009 patent/US4739197A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-04-18 JP JP61088443A patent/JPS6296816A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3514155C2 (ja) | 1989-09-21 |
| DE3663592D1 (en) | 1989-06-29 |
| US4739197A (en) | 1988-04-19 |
| EP0204897B1 (de) | 1989-05-24 |
| JPS6296816A (ja) | 1987-05-06 |
| EP0204897A1 (de) | 1986-12-17 |
| ATE43438T1 (de) | 1989-06-15 |
| DE3514155A1 (de) | 1986-10-23 |
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