JPH0570840B2 - - Google Patents
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- JPH0570840B2 JPH0570840B2 JP59222417A JP22241784A JPH0570840B2 JP H0570840 B2 JPH0570840 B2 JP H0570840B2 JP 59222417 A JP59222417 A JP 59222417A JP 22241784 A JP22241784 A JP 22241784A JP H0570840 B2 JPH0570840 B2 JP H0570840B2
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は音声や文字などのパタンを認識する装
置に関し、特に雑音による影響を除去し耐雑音性
の高いパタン認識装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a device for recognizing patterns of speech, characters, etc., and particularly to a pattern recognition device that eliminates the influence of noise and has high noise resistance.
(従来技術とその問題点)
音声や文字などのパタンを認識する手段として
従来から種々の方法が試みられている。それらの
中で比較的簡単でかつ有効な方法としてパタンマ
ツチング法がある。パタンマツチング法では認識
対象を特徴ベクトルの系列で表現し標準パタンと
して記憶させておき、認識しようとするパタン
(入力パタンと呼ぶ)と比較し最も近いすなわち
距離の小さい標準パタンを選択し、その標準パタ
ンの属するカテゴリを認識結果として出力する。(Prior Art and its Problems) Various methods have been tried in the past as means for recognizing patterns of sounds, characters, etc. Among them, the pattern matching method is a relatively simple and effective method. In the pattern matching method, the recognition target is expressed as a series of feature vectors and stored as a standard pattern.The pattern to be recognized (called the input pattern) is compared with the standard pattern that is closest, that is, the standard pattern with the smallest distance is selected. The category to which the standard pattern belongs is output as a recognition result.
一方、認識装置を実際に使用する場合には、パ
タンに雑音が付加されることが多くあり認識率を
低下させる原因となつていた。雑音を除去して認
識する方法が昭和57年3月発行の日本音響学会講
演論文集3−4−6「単語認識の雑音処理に関す
る一実験」(以下文献1とする)に記載されてい
る。この方法はノイズサブトラクシヨン法と呼ば
れ、概要は以下に示すようである。 On the other hand, when the recognition device is actually used, noise is often added to the pattern, causing a reduction in the recognition rate. A method for recognition by removing noise is described in Proceedings of the Acoustical Society of Japan, 3-4-6, ``An Experiment on Noise Processing in Word Recognition'' (hereinafter referred to as Document 1), published in March 1982. This method is called the noise subtraction method, and its outline is as shown below.
今、認識対象を音声とした場合、パタンはスペ
クトルの時系列で表現できる。騒音環境下で観測
したスペクトルX(ω)は音声スペクトルS(ω)
に雑音スペクトルN(ω)が付加したものと考え
ることができるため、音声のない部分で雑音スペ
クトルN(ω)を推定し、観測したスペクトルX
(ω)より雑音スペクトルN^(ω)を差し引くこと
により音声スペクトルS^(ω)推定している。 Now, when the recognition target is speech, the pattern can be expressed as a time series of spectra. The spectrum X(ω) observed in a noisy environment is the audio spectrum S(ω)
Since it can be considered that a noise spectrum N(ω) is added to the
The speech spectrum S^(ω) is estimated by subtracting the noise spectrum N^(ω) from (ω).
S^(ω)=X(ω)−N^(ω) ……(1)
しかし、ノイズサブトラクシヨン法では雑音は
音声のある時間内は定常であるとして一定値を差
し引いているため、定常な雑音に対しては有効で
あるが非定常な雑音に対しては効果がない。 S^ (ω) = X (ω) − N^ (ω) ...(1) However, in the noise subtraction method, the noise is assumed to be stationary within a certain time of the voice and a constant value is subtracted, so Although this method is effective against regular noise, it is not effective against non-stationary noise.
以上述べたように従来方法では非定常な雑音が
付加した場合その雑音を推定することはできず雑
音を除去することができない。このため同一カテ
ゴリのパタンでも距離が大きくなり誤認識となり
認識率が低くなる欠点があつた。 As described above, in the conventional method, when non-stationary noise is added, the noise cannot be estimated and the noise cannot be removed. For this reason, even if the patterns belong to the same category, the distance between them becomes large, resulting in erroneous recognition and a low recognition rate.
(発明の目的)
本発明の目的は、非定常な雑音が付加された部
分にマスクを掛け、雑音が付加された部分のパタ
ン間の距離は使用しないことにより前記欠点を解
決し、非定常な雑音が付加した場合でも認識率の
低下しないパタン認識装置を提供することがあ
る。(Objective of the Invention) An object of the present invention is to solve the above-mentioned drawbacks by masking the part to which unsteady noise is added and not using the distance between the patterns in the part to which the noise is added. It is possible to provide a pattern recognition device in which the recognition rate does not decrease even when noise is added.
(発明の構成)
本発明によれば、入力パタンの特徴パタンを得
る特徴抽出部と、該特徴抽出部出力を一時記憶す
る入力パタンメモリと、標準パタンを記憶する標
準パタンメモリと、雑音が付加された区間を検出
する雑音検出部と、入力パタンと標準パタンの距
離を計算する距離計算部と、前記雑音検出部で検
出された雑音区間の距離をゼロとする距離マスク
部と、前記距離マスク部の出力を累積する距離累
積部と、前記距離累積部の出力から認識結果を判
定する判定部を持つことを特徴とするパタン認識
装置が得られる。(Structure of the Invention) According to the present invention, a feature extraction unit that obtains a feature pattern of an input pattern, an input pattern memory that temporarily stores the output of the feature extraction unit, a standard pattern memory that stores a standard pattern, and a noise added thereto. a distance calculation unit that calculates the distance between the input pattern and the standard pattern; a distance mask unit that sets the distance of the noise interval detected by the noise detection unit to zero; and the distance mask. There is obtained a pattern recognition device characterized by having a distance accumulator that accumulates outputs of the distance accumulator, and a determination unit that determines a recognition result from the output of the distance accumulator.
(本発明の原理)
次に本発明の原理について説明する。入力パタ
ンAと第nカテゴリの標準パタンBnを
A=a1,a2,……,aI ……(2)
Bn=b1 n,b2 n,……,bI n ……(3)
とすれば、入力パタンAと標準パタンBnとの距
離は
D(A,Bn)=1/II
〓i=1
d(ai,bi n) ……(4)
で与えられる。ここでd(ai,bi n)はaiベクトル
とbi nベクトルとの間の距離で例えば
d(ai,bi n)=k
〓R=1
|aik−bn ik| ……(5)
ただし
ai=(ai1,……,aik,……,aik)
なるチエビシエフ距離を用いることが考えられ
る。パタンマツチングによる認識では入力パタン
Aに最も近い標準パタンBnを捜すことである。
すなわち、認識結果は
n^=argmnin D(A,Bn) ……(6)
で求められる。ここでargmxin yはすべてのxに
対してyが最小となる時のxであることを示す。(Principle of the present invention) Next, the principle of the present invention will be explained. Input pattern A and standard pattern B n of the nth category are A = a 1 , a 2 , ..., a I ... (2) B n = b 1 n , b 2 n , ..., b I n ... (3) Then, the distance between the input pattern A and the standard pattern B n is D (A, B n )=1/I I 〓 i=1 d (a i , b i n ) ……(4) Given. Here, d (a i , b i n ) is the distance between the a i vector and the b i n vector, for example, d (a i , b i n )= k 〓 R=1 | a ik − b n ik | ...(5) However, it is conceivable to use the Thievishev distance where a i = (a i1 , ..., a ik , ..., a ik ). Recognition by pattern matching searches for the standard pattern B n that is closest to the input pattern A.
That is, the recognition result is obtained as n^=argmnin D(A, B n ) (6). Here, argmxin y indicates the x when y is the minimum for all x.
ところで、非定常な雑音が付加されたパタンは
第2図に示すように雑音が付加された区間におい
て元パタンより大きく変形している。このため雑
音が付加された区間の距離は異常に大きくなり、
本来小さな値となる正答の標準パタンとの距離D
(A,Bn)が大きくなり、誤認識となつていた。 By the way, as shown in FIG. 2, the pattern to which unsteady noise is added is more deformed than the original pattern in the section to which the noise is added. For this reason, the distance in the section where noise is added becomes abnormally large,
Distance D from the standard pattern of the correct answer, which is originally a small value
(A, B n ) became large, leading to misrecognition.
本発明では、特徴ベクトルの変化等で雑音付加
区間を検出し、その区間の特徴ベクトルに関する
距離を使用せず、雑音のない区間のみで距離を求
め認識を行う。すなわち、雑音のない区間は1を
雑音が付加された区間を0とするマスク系列
M=m1,m2,……,mi,……,mI ……(7)
ただしmi=1or0とする。 In the present invention, a noise-added section is detected based on a change in a feature vector, etc., and the distance is determined and recognized only in the section without noise, without using the distance related to the feature vector of the section. In other words, the mask sequence M=m 1 , m 2 , ..., m i , ..., m I ...(7) where m i = 1or0 shall be.
を各パタンについて求め、入力パタンAと標準パ
タンBnとの距離は
Dr(A,Bn)=1/IrI
〓i=1
ma i・mbn i・d(ai,bn i)
……(8)
ただし
Ir=I
〓I=1
ma i・mbn i ……(9)
で計算される。認識結果は
n^=argmin Dr(A,Bn) ……(10)
となる。このようにして求められたDr(A,Bn)
には雑音の影響が除去されているため耐雑音性の
良い認識装置が実現される。is obtained for each pattern, and the distance between input pattern A and standard pattern B n is Dr (A, B n ) = 1/I rI 〓 i=1 m a i・m bn i・d (a i , b n i )
...(8) However, I r = I 〓 I=1 m a i・m bn i ...(9) Calculated. The recognition result is n^=argmin Dr(A,B n )...(10). Dr (A, B n ) obtained in this way
Since the influence of noise is removed, a recognition device with good noise resistance can be realized.
(実施例 1)
次に本発明の実施例を図面を用いて説明する。
第1の実施例は第1図に示すように特徴抽出部
1、雑音検出部2、入力パタンメモリ3、標準パ
タンメモリ4、距離計算部5、距離マスク部6、
距離累積部7、判定部8より構成される。(Example 1) Next, an example of the present invention will be described using the drawings.
As shown in FIG. 1, the first embodiment includes a feature extraction section 1, a noise detection section 2, an input pattern memory 3, a standard pattern memory 4, a distance calculation section 5, a distance mask section 6,
It is composed of a distance accumulating section 7 and a determining section 8.
始めに入力された音声は特徴抽出部1にて例え
ばスペクトラムパラメータのような特徴を抽出し
特徴ベクトルへ変換され、時間軸の正規化を行つ
て入力パタンメモリ3へ記憶される。ここで時間
軸の正規化とはパタンごとの時間方向の長さを一
定になるように伸縮させることであり、伸縮の方
法は線形に行う方法、特徴ベクトルの変化が均一
になる方法などがある。このような特徴抽出部1
には、共立出版社の54年10月出版の「音声認識」
(以下文献2とする)の第113頁の図4,7に記載
されている前処理部、特徴抽出部、時間正規化部
を使用することができる。 The first input voice is extracted by a feature extractor 1, such as a spectrum parameter, and converted into a feature vector, normalized on the time axis, and stored in the input pattern memory 3. Here, normalization of the time axis means expanding and contracting the length of each pattern in the time direction so that it is constant, and there are two ways to expand and contract, such as a linear method and a method that makes changes in the feature vector uniform. . Such a feature extraction unit 1
"Speech Recognition" published by Kyoritsu Shuppansha in October 1954.
It is possible to use the preprocessing unit, feature extraction unit, and time normalization unit described in FIGS. 4 and 7 on page 113 of (hereinafter referred to as Document 2).
雑音検出部2は特徴ベクトルを監視し、その変
化が急激でかつ短い区間である場合に雑音が付加
されたと見なしマスク系列miをゼロとし入力パ
タンメモリ部3へ記憶させる。雑音検出部2はよ
く知られたマイクロプロセツサにより構成するこ
とができ第3図のように構成され、第4図に示す
フローチヤートに従つて動作する。すなわち、特
徴ベクトルの変化分Δi=|ai−ai-1|を監視し
Δis>THかつΔie>THかつ
ie−is<TL ……〓
なる時mis,……mie=0とする。ここで変化分に
対する閾値をTH、その時間間隔をTLとする。 The noise detection section 2 monitors the feature vector, and when the change is rapid and in a short period, it is assumed that noise has been added, and the mask sequence m i is set to zero and stored in the input pattern memory section 3. The noise detection section 2 can be constructed from a well-known microprocessor, and is constructed as shown in FIG. 3, and operates according to the flowchart shown in FIG. 4. In other words, the change in the feature vector Δi = |a i −a i-1 | is monitored, and when Δi s > TH and Δi e > TH and i e −i s < TL ...〓 m is , ... m ie =0. Here, let TH be the threshold value for the amount of change, and let TL be the time interval.
標準パタンメモリ4には、あらかじめ同様な特
徴抽出、雑音検出を行い各カテゴリのパタンBn
および雑音区間を示すマスク系列mbnを記憶させ
ておく。 The standard pattern memory 4 contains patterns B n of each category after similar feature extraction and noise detection.
and a mask sequence m bn indicating the noise section.
距離計算部5は(5)式による特徴ベクトル間の距
離を求める部分であり、第5図に示すように減算
器51、絶対値回路52、加算器53、アキユム
レータ54より構成され、入力パタンメモリ3よ
りaiベクトル、標準パタンメモリよりbi nベクトル
を読み出し、アキユムレータ54にd(ai,bi n)
が求められる。 The distance calculation unit 5 is a part that calculates the distance between feature vectors using equation (5), and as shown in FIG. Read the a i vector from 3 and the b i n vector from the standard pattern memory, and write d(a i , b i n ) to the accumulator 54.
is required.
距離マスク部6は第6図に示すように選択回路
61とOR回路62より構成される。OR回路6
2へは入力パタンメモリ部3と標準パタンメモリ
部4より読み出されたマスク系列mi aとmi bnが入
力され、その出力により距離計算部5の出力d
(ai,bi n)か0かを選択し出力する。すなわちOR
回路62の出力が1の場合はd(ai,bi n)が出力
され、OR回路62の出力が0の場合は0を出力
する。このようにして、距離マスク部6ではmi
a・mi bn・d(ai,bi n)を計算していることにな
る。 The distance mask section 6 is composed of a selection circuit 61 and an OR circuit 62, as shown in FIG. OR circuit 6
The mask sequences m i a and m i bn read out from the input pattern memory unit 3 and standard pattern memory unit 4 are input to 2, and the output d of the distance calculation unit 5 is
Select and output either (a i , b i n ) or 0. i.e. OR
When the output of the circuit 62 is 1, d(a i , b i n ) is output, and when the output of the OR circuit 62 is 0, 0 is output. In this way, in the distance mask section 6, m i
This means that a・mi bn ・d(a i , b i n ) is being calculated.
距離累積部7は第7図に示すように加算器71
とアキユムレータ72により距離mi a,mi bn・d
(ai,bn i)の累積が計算され、加算器73とアキ
ユムレータ74により加算長Ir=I
〓i=1
mi a・mi bnが
求められ、割算器75により距離Dr(A,Bn)が
求められる。 The distance accumulator 7 includes an adder 71 as shown in FIG.
and the distance m i a , m i bn・d by the accumulator 72
(a i , b n i ) is calculated, the adder 73 and the accumulator 74 calculate the addition length Ir= I 〓 i=1 m i a・m i bn , and the divider 75 calculates the distance Dr(A , B n ) are calculated.
判定部8は標準パタンのカテゴリnを順次標準
パタンメモリ部へ出力し、入力パタンとの距離
Dr(A,Bn)を受け取り、その最小値を計算し、
最小値が得られたカテゴリn^を出力する。 The determination unit 8 sequentially outputs the category n of the standard pattern to the standard pattern memory unit, and determines the distance from the input pattern.
Receive Dr(A, B n ), calculate its minimum value,
Output the category n^ for which the minimum value was obtained.
(実施例 2)
次に本発明の第2の実施例を図面を用いて説明
する。第1の実施例ではパタンの長さ(特徴ベク
トルの数)は一定となるように特徴抽出部で時間
正規化を行つていた。しかし、音声などは個々に
微妙な伸縮があるため、各標準パタンとの間で最
もよく合う伸縮を求めつつパタン間の距離を求め
るDPマツチング法が知られている。この詳細は
1983年11月7日発行の日経エレクロニクスの第
171頁から第208頁の「連続発声した単語音声を効
率的に認識する2段DPマツチング」(以下文献3
とする)に記載されている。その概略は次のとお
りである。(Example 2) Next, a second example of the present invention will be described using the drawings. In the first embodiment, the feature extractor performs time normalization so that the pattern length (number of feature vectors) is constant. However, since voices and the like individually have subtle expansion and contraction, a DP matching method is known that calculates the distance between patterns while finding the expansion and contraction that best matches each standard pattern. This details
Nikkei Electronics issue published November 7, 1983
“Two-stage DP matching for efficient recognition of continuously uttered word sounds” from pages 171 to 208 (Reference 3)
). The outline is as follows.
標準パタンBnの時間軸jを入力パタンの時間
軸iに写像する関数(時間正規化関数)をi=j
(i)とした時、時間正規化されたパタン間距離
Dd(A,Bn)は、
Dd(A,Bn)=1/IminI
〓i=1
d(i,j) ……(13)
j=j(i)
なる最小化問題の解として得られる。この最小
化問題は以下の漸化式を順次計算することによつ
て求められる。 A function (time normalization function) that maps the time axis j of the standard pattern B n to the time axis i of the input pattern is defined as i=j
When (i), time-normalized distance between patterns
D d (A, B n ) is the solution of the minimization problem where D d (A, B n )=1/Imin I 〓 i=1 d(i, j) ……(13) j=j(i) obtained as. This minimization problem is obtained by sequentially calculating the following recurrence formula.
初期条件 g(0,0)=0とし
g(i,j)=d(i,j)+ming(i-1,j)
g(i-2,j)
g(i-3,j) ……(14)
なる漸化式をj−rij+rなる範囲で計算
し入力パタンの終端Iと標準パタンの終端Jnなる
点のg(I,Jo)が求めるDd(A,Bn)となる。 Initial condition: g(0,0)=0, g(i,j)=d(i,j)+ming(i-1,j) g(i-2,j) g(i-3,j)... (14) Calculate the recurrence formula in the range j-rij+r, and g (I, J o ) at the terminal I of the input pattern and the terminal J n of the standard pattern become the sought D d (A, B n ). .
第2の実施例はこのDPマツチングによる時間
正規化を組込んだ装置であり、第8図に示すよう
に構成される。第2の実施例は第1の実施例にお
ける特徴注出部1と累積距離部7を除き同様の部
分を持つ。特徴抽出部1は第1の実施例の特徴抽
出部1より時間正規化部を除いた部分より構成さ
れ、パタンの特徴ベクトルが求められる。累積距
離部7は漸化式計算部721,DPマツチング制
御部722,Gメモリ部723より構成され、距
離マスク部6より得られる雑音除去された距離
ma i・mbn j・d(ai,bn j)を用いてDPマツチング法
により時間正規化距離Dd(A,Bn)を求める。こ
の漸化式計算部721,DPマツチング制御部7
22,Gメモリ部723は文献3の図11に記載
されている機能機能、機能をそれぞれ使用
することができる。 The second embodiment is an apparatus incorporating time normalization by DP matching, and is configured as shown in FIG. The second embodiment has the same parts as the first embodiment except for the feature extracting section 1 and the cumulative distance section 7. The feature extractor 1 is composed of the feature extractor 1 of the first embodiment except for the time normalizer, and obtains a feature vector of a pattern. The cumulative distance unit 7 is composed of a recurrence formula calculation unit 721, a DP matching control unit 722, and a G memory unit 723, and the distance obtained from the distance mask unit 6 from which noise has been removed is
The time-normalized distance D d ( A , B n ) is determined by the DP matching method using m a i ·m bn j ·d (a i , b n j ). This recurrence formula calculation section 721, DP matching control section 7
22, G memory unit 723 can use the functions described in FIG. 11 of Reference 3, respectively.
以上、本発明を実施例にもとづいて説明したが
これらの記載は本発明の権利範囲を限定するもの
ではない。特に本実施例では特徴ベクトル間の距
離を(5)式に示したチエビシエフ距離を用いたが、
ユークリツド距離
d(ai,bi n)=K
〓K=1
(aik−bn ik)2 ……(15)
や、内積
d(ai,bi n)=−K
〓K=1
aik・bn ik ……(16)
を用いることができる。また、DPマツチング法
は文献3に記載されている各種の方式を用いるこ
とができる。これらの自明な変更は本発明の権利
範囲に属するものである。 Although the present invention has been described above based on examples, these descriptions do not limit the scope of the rights of the present invention. In particular, in this example, the distance between feature vectors was used as the Tievishiev distance shown in equation (5).
Euclidean distance d(a i , b i n )= K 〓 K=1 (a ik −b n ik ) 2 ...(15) or inner product d(a i , b i n )=− K 〓 K=1 a ik・b n ik ...(16) can be used. Furthermore, various methods described in Document 3 can be used as the DP matching method. These obvious modifications are within the scope of the present invention.
(発明の効果)
以上説明したように本発明のパタン認識装置で
は、非定常な雑音が付加された区間の距離はゼロ
として雑音のない区間のみの距離の累積値で認識
する。これによつて、雑音の影響が除去され、雑
音付加による認識率の低下を防ぐことが可能とな
る。(Effects of the Invention) As explained above, in the pattern recognition apparatus of the present invention, the distance of the section to which unsteady noise is added is assumed to be zero, and the distance is recognized by the cumulative value of only the distance of the section without noise. This removes the influence of noise and prevents a reduction in recognition rate due to addition of noise.
第1図は本発明の第1の実施例を示すブロツク
図、第2図は本発明の原理を説明するための図、
第3図、第5図、第6図、第7図はそれぞれ第1
図の実施例の一部詳細構成を示すブロツク図、第
4図は雑音検出部のフローチヤート、第8図は第
2の実施例を示すブロツク図である。
図において、1は特徴抽出部、2は雑音検出
部、3は入力パタンメモリ部、4は標準パタンメ
モリ部、5は距離計算部、6は距離マスク部、7
は累積距離部、8は判定部である。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram for explaining the principle of the present invention,
Figures 3, 5, 6 and 7 are respectively
FIG. 4 is a block diagram showing a part of the detailed configuration of the embodiment shown in the figure, FIG. 4 is a flowchart of a noise detection section, and FIG. 8 is a block diagram showing a second embodiment. In the figure, 1 is a feature extraction section, 2 is a noise detection section, 3 is an input pattern memory section, 4 is a standard pattern memory section, 5 is a distance calculation section, 6 is a distance mask section, and 7
is a cumulative distance section, and 8 is a determination section.
Claims (1)
と、該特徴抽出部出力を一時記憶する入力パタン
メモリと、標準パタンを記憶する標準パタンメモ
リと前記入力パタンに雑音が付加された区間を検
出する雑音検出部と、入力パタンと標準パタンの
距離を計算する距離計算部と、前記雑音検出部で
検出された雑音区間の距離をゼロとする距離マス
ク部と、前記距離マスク部の出力を累積する距離
累積部と、前記距離累積部の出力から認識結果を
判定する判定部を持つことを特徴とするパタン認
識装置。1. A feature extractor that obtains a feature pattern of an input pattern, an input pattern memory that temporarily stores the output of the feature extractor, a standard pattern memory that stores a standard pattern, and a noise that detects a section where noise is added to the input pattern. a detection section, a distance calculation section that calculates the distance between the input pattern and the standard pattern, a distance mask section that sets the distance of the noise section detected by the noise detection section to zero, and a distance that accumulates the output of the distance mask section. A pattern recognition device comprising: an accumulating unit; and a determining unit that determines a recognition result from the output of the distance accumulating unit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59222417A JPS61100878A (en) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | Pattern recognizing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59222417A JPS61100878A (en) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | Pattern recognizing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61100878A JPS61100878A (en) | 1986-05-19 |
| JPH0570840B2 true JPH0570840B2 (en) | 1993-10-05 |
Family
ID=16782057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59222417A Granted JPS61100878A (en) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | Pattern recognizing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61100878A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109147798B (en) * | 2018-07-27 | 2023-06-09 | 北京三快在线科技有限公司 | Speech recognition method, device, electronic equipment and readable storage medium |
-
1984
- 1984-10-23 JP JP59222417A patent/JPS61100878A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61100878A (en) | 1986-05-19 |
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