JPH0572206A - 磁界を用いた凝集反応の検出方法 - Google Patents
磁界を用いた凝集反応の検出方法Info
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- JPH0572206A JPH0572206A JP18412391A JP18412391A JPH0572206A JP H0572206 A JPH0572206 A JP H0572206A JP 18412391 A JP18412391 A JP 18412391A JP 18412391 A JP18412391 A JP 18412391A JP H0572206 A JPH0572206 A JP H0572206A
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 凝集反応を迅速かつ高感度で検出できる磁界
を用いた凝集反応の検出方法を提供する。 【構成】 被検液と抗体または抗原を固定した磁性粒子
とを直流磁界（４）を印加して凝集反応させた後、該反
応液に半波整流磁界（４）を印加しながら、その磁界の
方向とは異なる方向の直線偏光（１，２）を入射させ
て、前記反応液での散乱光を入射直線偏光と直交する偏
光面を有する検光子５を経て受光（６）し、その受光出
力のパワースペクトル密度に基づいて凝集反応を検出す
る。
を用いた凝集反応の検出方法を提供する。 【構成】 被検液と抗体または抗原を固定した磁性粒子
とを直流磁界（４）を印加して凝集反応させた後、該反
応液に半波整流磁界（４）を印加しながら、その磁界の
方向とは異なる方向の直線偏光（１，２）を入射させ
て、前記反応液での散乱光を入射直線偏光と直交する偏
光面を有する検光子５を経て受光（６）し、その受光出
力のパワースペクトル密度に基づいて凝集反応を検出す
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、抗原−抗体反応に基
づく凝集反応を、抗体または抗原を固定した磁性体から
成る微粒子の磁界による変位に基づく散乱光を利用して
検出する磁界を用いた凝集反応の検出方法に関するもの
である。
づく凝集反応を、抗体または抗原を固定した磁性体から
成る微粒子の磁界による変位に基づく散乱光を利用して
検出する磁界を用いた凝集反応の検出方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】磁界を用いた凝集反応の検出方法とし
て、従来、特開昭６２−１１８２５５号公報に開示され
たものがある。この検出方法においては、抗体または抗
原を固定した磁性粒子を交番磁界により変位させ、その
変位に基づく散乱光を利用して凝集反応を検出するよう
にしている。すなわち、磁性粒子に交番磁界を作用させ
ると、磁性粒子は誘導磁化と交番磁界との相互作用によ
り、交番磁界の周波数ｆ0 と同じ周波数ｆ0 で回転す
る。このように、磁性粒子が周波数ｆ0 で回転すると、
凝集した粒子は球形でないために、その光学的異方性が
２ｆ0 で変化して、散乱光のパワースペクトル密度が粒
子の凝集に応じて変化することになる。したがって、こ
のパワースペクトル密度の２ｆ0 成分の強度あるいは２
ｆ0 近傍のパワースペクトル密度の形状から、抗原−抗
体反応が起こったか否かを検出して抗原の有無を同定し
たり、抗原濃度を定量することができる。
て、従来、特開昭６２−１１８２５５号公報に開示され
たものがある。この検出方法においては、抗体または抗
原を固定した磁性粒子を交番磁界により変位させ、その
変位に基づく散乱光を利用して凝集反応を検出するよう
にしている。すなわち、磁性粒子に交番磁界を作用させ
ると、磁性粒子は誘導磁化と交番磁界との相互作用によ
り、交番磁界の周波数ｆ0 と同じ周波数ｆ0 で回転す
る。このように、磁性粒子が周波数ｆ0 で回転すると、
凝集した粒子は球形でないために、その光学的異方性が
２ｆ0 で変化して、散乱光のパワースペクトル密度が粒
子の凝集に応じて変化することになる。したがって、こ
のパワースペクトル密度の２ｆ0 成分の強度あるいは２
ｆ0 近傍のパワースペクトル密度の形状から、抗原−抗
体反応が起こったか否かを検出して抗原の有無を同定し
たり、抗原濃度を定量することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の検出方法にあっては、懸濁液の粘性等の影響で
磁性粒子を速い速度で回転させることができず、例えば
0.1Hz 程度の非常に低い周波数ｆ0 の交番磁界しか印加
できないため、測定に時間がかかるという問題があっ
た。
た従来の検出方法にあっては、懸濁液の粘性等の影響で
磁性粒子を速い速度で回転させることができず、例えば
0.1Hz 程度の非常に低い周波数ｆ0 の交番磁界しか印加
できないため、測定に時間がかかるという問題があっ
た。
【０００４】この発明はこのような従来の問題点に着目
してなされたもので、凝集反応を迅速かつ高感度で検出
できる磁界を用いた凝集反応の検出方法を提供すること
を目的とする。
してなされたもので、凝集反応を迅速かつ高感度で検出
できる磁界を用いた凝集反応の検出方法を提供すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明では、被検液と抗体または抗原を固定した
磁性粒子とを直流磁界を印加して凝集反応させた後、該
反応液に半波整流磁界を印加しながら、その磁界の方向
とは異なる方向の直線偏光を入射させて、前記反応液で
の散乱光を入射直線偏光と直交する偏光面を有する検光
子を経て受光し、その受光出力のパワースペクトル密度
に基づいて凝集反応を検出する。
め、この発明では、被検液と抗体または抗原を固定した
磁性粒子とを直流磁界を印加して凝集反応させた後、該
反応液に半波整流磁界を印加しながら、その磁界の方向
とは異なる方向の直線偏光を入射させて、前記反応液で
の散乱光を入射直線偏光と直交する偏光面を有する検光
子を経て受光し、その受光出力のパワースペクトル密度
に基づいて凝集反応を検出する。
【０００６】
【作用】図１はこの発明を実施する凝集反応検出装置の
一例の構成を示すものである。光源１からの光は、偏光
プリズム２に入射させて水平面に対して45°の方向の振
動成分を有する直線偏光を取り出し、この直線偏光を磁
性粒子を含む液体を収容する試料セル３に入射させる。
また、試料セル３の近傍には、外部磁界発生装置４を配
置し、これにより試料セル３内の液体に水平面方向の所
要の磁界を印加するようにする。試料セル３内の液体に
よる散乱光は、偏光プリズム５に入射させ、ここで試料
セル３への入射直線偏光成分と直交する偏光成分の光を
取り出して光電子増倍管６で受光する。上記の光源１か
ら光電子増倍管６に到る光路中に配置される偏光プリズ
ム２の偏光面E1の方向、外部磁界発生装置４での磁界Ｈ
の方向および偏光プリズム５の偏光面E2の方向の関係を
図２に示す。
一例の構成を示すものである。光源１からの光は、偏光
プリズム２に入射させて水平面に対して45°の方向の振
動成分を有する直線偏光を取り出し、この直線偏光を磁
性粒子を含む液体を収容する試料セル３に入射させる。
また、試料セル３の近傍には、外部磁界発生装置４を配
置し、これにより試料セル３内の液体に水平面方向の所
要の磁界を印加するようにする。試料セル３内の液体に
よる散乱光は、偏光プリズム５に入射させ、ここで試料
セル３への入射直線偏光成分と直交する偏光成分の光を
取り出して光電子増倍管６で受光する。上記の光源１か
ら光電子増倍管６に到る光路中に配置される偏光プリズ
ム２の偏光面E1の方向、外部磁界発生装置４での磁界Ｈ
の方向および偏光プリズム５の偏光面E2の方向の関係を
図２に示す。
【０００７】図１において、光電子増倍管５の出力は、
低雑音増幅器７で増幅してローパスフィルタ８に供給
し、ここで高周波数の雑音やエイリアスを除去した後、
増幅器９に供給して増幅する。増幅器９の出力は、Ａ／
Ｄ変換器１０に供給してデジタルの電圧信号に変換し、
このデジタル信号をコンピュータ１１に供給して高速フ
ーリエ変換（ＦＦＴ）等の演算を行いパワースペクトル
密度を測定する。
低雑音増幅器７で増幅してローパスフィルタ８に供給
し、ここで高周波数の雑音やエイリアスを除去した後、
増幅器９に供給して増幅する。増幅器９の出力は、Ａ／
Ｄ変換器１０に供給してデジタルの電圧信号に変換し、
このデジタル信号をコンピュータ１１に供給して高速フ
ーリエ変換（ＦＦＴ）等の演算を行いパワースペクトル
密度を測定する。
【０００８】ここで、磁性粒子として酸化鉄を含む直径
０．７μｍのラテックス粒子（商品名；エスタポール，
ローヌプーラン社製）を用い、このラテックス粒子を緩
衝液とともに試料セル３内に収容して、外部磁界発生装
置４から５０Ｏｅの均一磁界を印加すると、ラテックス
粒子はこの外部磁界の影響によって外部磁界の方向に連
結して並ぶことが知られている（参考文献；R,W,Chantr
ell etal. J.Phys.D:Appl,Phys,13(1980)L119 〜122
）。なお、このように粒子が磁界の方向に並ぶのは、
外部磁界の印加によって粒子に磁気モーメントが発生
し、これによる磁気的吸引相互作用によって粒子が互い
に引きつけ合うからである。一方、上記のラテックス粒
子および緩衝液からなる粒子懸濁液に、電解質として塩
化ナトリウムを加えると、溶液内の電解イオン強度の変
化によりラテックス粒子の表面電荷による反発力が減少
して互いに凝集し、その凝集は電解質濃度が高い程大き
くなる。
０．７μｍのラテックス粒子（商品名；エスタポール，
ローヌプーラン社製）を用い、このラテックス粒子を緩
衝液とともに試料セル３内に収容して、外部磁界発生装
置４から５０Ｏｅの均一磁界を印加すると、ラテックス
粒子はこの外部磁界の影響によって外部磁界の方向に連
結して並ぶことが知られている（参考文献；R,W,Chantr
ell etal. J.Phys.D:Appl,Phys,13(1980)L119 〜122
）。なお、このように粒子が磁界の方向に並ぶのは、
外部磁界の印加によって粒子に磁気モーメントが発生
し、これによる磁気的吸引相互作用によって粒子が互い
に引きつけ合うからである。一方、上記のラテックス粒
子および緩衝液からなる粒子懸濁液に、電解質として塩
化ナトリウムを加えると、溶液内の電解イオン強度の変
化によりラテックス粒子の表面電荷による反発力が減少
して互いに凝集し、その凝集は電解質濃度が高い程大き
くなる。
【０００９】そこで、上記の粒子懸濁液に塩化ナトリウ
ムを添加して粒子の凝集を起こさせる際に、外部磁界発
生装置４から５０Ｏｅの均一磁界を印加してラテックス
粒子を数珠状に連結させ、これにより凝集の確率を高め
る。この均一磁界の印加を２分間続けて数珠状の粒子が
できたところで、次に外部磁界発生装置４から試料セル
３内の溶液に図３に示すような、一定周期で磁界がオン
−オフを繰り返す正弦波状の半波整流磁界を印加する。
このように、半波整流磁界を印加すると、それに同期し
て磁界がオンの状態では、図４Ａに示すようにラテック
ス粒子は磁界の方向に沿って並び、磁界がオフの状態で
は、図４Ｂに示すように磁気的吸引力が解除されてブラ
ウン運動を開始する。ここで、偏光プリズム２および５
の偏光面が直交し、半波整流磁界の印加方向が試料セル
３への入射直線偏光に対して45°となっているので、連
結した粒子は並んだ方向に対してcosine成分の前方散乱
光を発し、この前方散乱光が偏光プリズム５を経て光電
子増倍管６に入射する。一方、凝集を起こしていない未
反応の粒子からの余計な散乱光は、互いに垂直となって
いる偏光プリズム２および５の組合せによりカットされ
る。
ムを添加して粒子の凝集を起こさせる際に、外部磁界発
生装置４から５０Ｏｅの均一磁界を印加してラテックス
粒子を数珠状に連結させ、これにより凝集の確率を高め
る。この均一磁界の印加を２分間続けて数珠状の粒子が
できたところで、次に外部磁界発生装置４から試料セル
３内の溶液に図３に示すような、一定周期で磁界がオン
−オフを繰り返す正弦波状の半波整流磁界を印加する。
このように、半波整流磁界を印加すると、それに同期し
て磁界がオンの状態では、図４Ａに示すようにラテック
ス粒子は磁界の方向に沿って並び、磁界がオフの状態で
は、図４Ｂに示すように磁気的吸引力が解除されてブラ
ウン運動を開始する。ここで、偏光プリズム２および５
の偏光面が直交し、半波整流磁界の印加方向が試料セル
３への入射直線偏光に対して45°となっているので、連
結した粒子は並んだ方向に対してcosine成分の前方散乱
光を発し、この前方散乱光が偏光プリズム５を経て光電
子増倍管６に入射する。一方、凝集を起こしていない未
反応の粒子からの余計な散乱光は、互いに垂直となって
いる偏光プリズム２および５の組合せによりカットされ
る。
【００１０】図５は上記のようにして半波整流磁界を印
加したときの凝集反応によるパワースペクトル密度を示
すもので、破線は 0.17mol／ｌの塩化ナトリウムを添加
した後の凝集粒子による散乱光強度ゆらぎのパワースペ
クトル密度を、実線は水を添加した後のパワースペクト
ル密度をそれぞれ示す。なお、半波整流磁界は、粒子が
最も並び易く、かつ散乱強度を最も大きくとれる３Ｏ
ｅ、１Ｈｚとした。図５から明らかなように、いずれの
パワースペクトル密度も、いくつかの周波数にピークを
持っているが、最も大きなピークは半波整流磁界の周波
数１Ｈｚに同調する成分で、それよりも小さいピークは
高調波成分と考えられる。ここで、塩化ナトリウムを添
加したときのパワースペクトル密度の方がレベルが高
く、かつピークも大きく出ているのは、粒子が良く凝集
し、長い連結をして半波整流磁界の変化に追従している
からである。なお、水を加えた場合でも、スペクトルに
ピークが現れているのは、以前から幾分凝集を起こして
いる粒子が既に存在しているためと考えられる。
加したときの凝集反応によるパワースペクトル密度を示
すもので、破線は 0.17mol／ｌの塩化ナトリウムを添加
した後の凝集粒子による散乱光強度ゆらぎのパワースペ
クトル密度を、実線は水を添加した後のパワースペクト
ル密度をそれぞれ示す。なお、半波整流磁界は、粒子が
最も並び易く、かつ散乱強度を最も大きくとれる３Ｏ
ｅ、１Ｈｚとした。図５から明らかなように、いずれの
パワースペクトル密度も、いくつかの周波数にピークを
持っているが、最も大きなピークは半波整流磁界の周波
数１Ｈｚに同調する成分で、それよりも小さいピークは
高調波成分と考えられる。ここで、塩化ナトリウムを添
加したときのパワースペクトル密度の方がレベルが高
く、かつピークも大きく出ているのは、粒子が良く凝集
し、長い連結をして半波整流磁界の変化に追従している
からである。なお、水を加えた場合でも、スペクトルに
ピークが現れているのは、以前から幾分凝集を起こして
いる粒子が既に存在しているためと考えられる。
【００１１】このように、偏光プリズム２および５の偏
光面を直交させて、偏光プリズム２の偏光面に対して45
°の方向に外部磁界を印加することにより、前方散乱光
を最も効率良く検出することができる。なお、上記構成
において偏光プリズム２の偏光面を水平面に対して垂直
方向に設定すると、粒子の連結方向が入射光の偏光方向
に対して垂直となってしまい、散乱光が検出されなくな
る。一方、直線偏光を球形粒子に照射すると、図６Ａに
示すように球形粒子内に入射光の偏光成分と同じ振動成
分を持つ電気双極子が誘起され、外部磁界の印加により
粒子が連結すると、図６Ｂに示すように散乱光の振動成
分は粒子の連結方向にほぼ一致し、その散乱光強度は粒
子の連結長が長い程強くなる。
光面を直交させて、偏光プリズム２の偏光面に対して45
°の方向に外部磁界を印加することにより、前方散乱光
を最も効率良く検出することができる。なお、上記構成
において偏光プリズム２の偏光面を水平面に対して垂直
方向に設定すると、粒子の連結方向が入射光の偏光方向
に対して垂直となってしまい、散乱光が検出されなくな
る。一方、直線偏光を球形粒子に照射すると、図６Ａに
示すように球形粒子内に入射光の偏光成分と同じ振動成
分を持つ電気双極子が誘起され、外部磁界の印加により
粒子が連結すると、図６Ｂに示すように散乱光の振動成
分は粒子の連結方向にほぼ一致し、その散乱光強度は粒
子の連結長が長い程強くなる。
【００１２】以上のことから、スペクトルのピーク比を
下記のように定義すれば、このピーク比から凝集反応を
定量的に測定することが可能となる。 なお、緩衝液（水）導入によるパワースペクトル密度の
ピーク値を分母としたのは、反応前に既に凝集を起こし
ている粒子による影響を打ち消すためである。
下記のように定義すれば、このピーク比から凝集反応を
定量的に測定することが可能となる。 なお、緩衝液（水）導入によるパワースペクトル密度の
ピーク値を分母としたのは、反応前に既に凝集を起こし
ている粒子による影響を打ち消すためである。
【００１３】図７は添加した塩化ナトリウム濃度とピー
ク比との関係を示すもので、●印は粒子の重量濃度が0.
05mg／cm3 、○印は粒子の重量濃度が 0.1mg／cm3 、△
印は粒子の重量濃度が 0.5mg／cm3 の場合をそれぞれ示
す。図７から明らかなように、重量濃度が0.05mg／cm3
および0.1mg ／cm3 の場合においては、塩化ナトリウム
濃度が0.03〜0.17mol ／l 程度の範囲で、ピーク比が10
3 以上も急激に上昇する。また、ピーク比が大きく変化
する範囲に対応する塩化ナトリウム濃度の範囲も、粒子
濃度依存性を示し、粒子の重量濃度が大きいと測定でき
る塩化ナトリウム濃度も高い方にずれる。
ク比との関係を示すもので、●印は粒子の重量濃度が0.
05mg／cm3 、○印は粒子の重量濃度が 0.1mg／cm3 、△
印は粒子の重量濃度が 0.5mg／cm3 の場合をそれぞれ示
す。図７から明らかなように、重量濃度が0.05mg／cm3
および0.1mg ／cm3 の場合においては、塩化ナトリウム
濃度が0.03〜0.17mol ／l 程度の範囲で、ピーク比が10
3 以上も急激に上昇する。また、ピーク比が大きく変化
する範囲に対応する塩化ナトリウム濃度の範囲も、粒子
濃度依存性を示し、粒子の重量濃度が大きいと測定でき
る塩化ナトリウム濃度も高い方にずれる。
【００１４】したがって、磁性粒子の表面に抗体または
抗原を固定し、抗原または抗体濃度が既知の標準液を用
いて、予めピーク比と濃度との関係を示す検量線を作成
しておけば、未知濃度のサンプルのピーク比を測定する
ことによりその抗原または抗体濃度を高感度で定量的に
測定することが可能となる。しかも、従来の検出方法に
おいては0.1Hz 程度の非常に低い周波数の交番磁界を印
加するのに対して、この発明では１Hz程度の非常に高い
周波数の半波整流磁界を印加することができるので、迅
速な検出が可能となる。
抗原を固定し、抗原または抗体濃度が既知の標準液を用
いて、予めピーク比と濃度との関係を示す検量線を作成
しておけば、未知濃度のサンプルのピーク比を測定する
ことによりその抗原または抗体濃度を高感度で定量的に
測定することが可能となる。しかも、従来の検出方法に
おいては0.1Hz 程度の非常に低い周波数の交番磁界を印
加するのに対して、この発明では１Hz程度の非常に高い
周波数の半波整流磁界を印加することができるので、迅
速な検出が可能となる。
【００１５】
【実施例】この発明の実施例においては、図１に示した
凝集反応検出装置において、光源１として波長632.8nm
の He-Neレーザを用い、外部磁界発生装置４としてHelm
holtz コイルを用いる。先ず、試料セル３内に、表面に
抗体または抗原を結合した磁性体より成る球形の微粒
子、例えば表面に免疫グロブリンＧ（IgＧ）を固定した
粒径 0.1μｍ〜0.05μｍのＮｉ，Ｃｏあるいはそれらの
合金より成る強磁性体で自発磁化のないものを分散させ
た緩衝液を加える。次に、この粒子懸濁液に外部磁界発
生装置４から５０Ｏｅの均一磁界を２分間印加し、これ
により磁性粒子を数珠状に連結させて凝集の確率を高め
た後、外部磁界を３Ｏｅ，１Ｈｚの正弦波状の半波整流
磁界に切り換え、この半波整流磁界印加中の前方散乱光
の強度ゆらぎのパワースペクトル密度のピーク値を求め
る。
凝集反応検出装置において、光源１として波長632.8nm
の He-Neレーザを用い、外部磁界発生装置４としてHelm
holtz コイルを用いる。先ず、試料セル３内に、表面に
抗体または抗原を結合した磁性体より成る球形の微粒
子、例えば表面に免疫グロブリンＧ（IgＧ）を固定した
粒径 0.1μｍ〜0.05μｍのＮｉ，Ｃｏあるいはそれらの
合金より成る強磁性体で自発磁化のないものを分散させ
た緩衝液を加える。次に、この粒子懸濁液に外部磁界発
生装置４から５０Ｏｅの均一磁界を２分間印加し、これ
により磁性粒子を数珠状に連結させて凝集の確率を高め
た後、外部磁界を３Ｏｅ，１Ｈｚの正弦波状の半波整流
磁界に切り換え、この半波整流磁界印加中の前方散乱光
の強度ゆらぎのパワースペクトル密度のピーク値を求め
る。
【００１６】その後、試料セル３内に抗原または抗体を
含む被検液を加えて抗原−抗体反応を開始させる。この
抗原−抗体反応の間、上記と同様にして外部磁界発生装
置４から５０Ｏｅの均一磁界を２分間印加し、これによ
り磁性粒子を数珠状に連結させて抗原−抗体反応による
凝集の確率を高めた後、外部磁界を３Ｏｅ，１Ｈｚの正
弦波状の半波整流磁界に切り換え、この半波整流磁界印
加中の前方散乱光の強度ゆらぎのパワースペクトル密度
のピーク値を求める。次に、最初に求めた被検液注入前
のパワースペクトル密度のピーク値と、その後被検液を
注入して抗原−抗体反応を起こさせて求めたパワースペ
クトル密度のピーク値との比を求め、このピーク比に基
づいて予め作成された検量線から被検液の抗原または抗
体濃度を定量する。
含む被検液を加えて抗原−抗体反応を開始させる。この
抗原−抗体反応の間、上記と同様にして外部磁界発生装
置４から５０Ｏｅの均一磁界を２分間印加し、これによ
り磁性粒子を数珠状に連結させて抗原−抗体反応による
凝集の確率を高めた後、外部磁界を３Ｏｅ，１Ｈｚの正
弦波状の半波整流磁界に切り換え、この半波整流磁界印
加中の前方散乱光の強度ゆらぎのパワースペクトル密度
のピーク値を求める。次に、最初に求めた被検液注入前
のパワースペクトル密度のピーク値と、その後被検液を
注入して抗原−抗体反応を起こさせて求めたパワースペ
クトル密度のピーク値との比を求め、このピーク比に基
づいて予め作成された検量線から被検液の抗原または抗
体濃度を定量する。
【００１７】なお、この発明は上述した実施例にのみ限
定されるものではなく幾多の変更または変形が可能であ
る。例えば、上述した実施例では、被検液注入前の緩衝
液を加えたときのパワースペクトル密度のピーク値と、
被検液を注入して抗原−抗体反応を起こさせた反応後の
パワースペクトル密度のピーク値との比に基づいて被検
液中の抗原または抗体濃度を定量するようにしたが、反
応後のパワースペクトル密度のピーク値のみを求め、そ
のピーク値に基づいて被検液の抗原または抗体濃度を定
量したり、凝集の有無を検知することもできる。
定されるものではなく幾多の変更または変形が可能であ
る。例えば、上述した実施例では、被検液注入前の緩衝
液を加えたときのパワースペクトル密度のピーク値と、
被検液を注入して抗原−抗体反応を起こさせた反応後の
パワースペクトル密度のピーク値との比に基づいて被検
液中の抗原または抗体濃度を定量するようにしたが、反
応後のパワースペクトル密度のピーク値のみを求め、そ
のピーク値に基づいて被検液の抗原または抗体濃度を定
量したり、凝集の有無を検知することもできる。
【００１８】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、反応
の間は直流磁界を印加し、測定時は半波整流磁界を印加
しながら、その磁界の方向とは異なる方向の直線偏光を
用い、その反応液での散乱光のみを入射直線偏光と直交
する偏光面を有する検光子を経て受光してパワースペク
トル密度を求めるようにしたので、従来の交番磁界を印
加する検出方法に比べて、半波整流磁界の周波数を非常
に高くできると共に、凝集反応によるパワースペクトル
密度の変化量も大きく取れる。したがって、凝集反応を
迅速かつ高精度で検出することができる。
の間は直流磁界を印加し、測定時は半波整流磁界を印加
しながら、その磁界の方向とは異なる方向の直線偏光を
用い、その反応液での散乱光のみを入射直線偏光と直交
する偏光面を有する検光子を経て受光してパワースペク
トル密度を求めるようにしたので、従来の交番磁界を印
加する検出方法に比べて、半波整流磁界の周波数を非常
に高くできると共に、凝集反応によるパワースペクトル
密度の変化量も大きく取れる。したがって、凝集反応を
迅速かつ高精度で検出することができる。
【図１】この発明を実施する凝集反応検出装置の一例の
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図２】図１に示す２個の偏光プリズムの偏光面の方向
と外部磁界発生装置による磁界の方向との関係を示す図
である。
と外部磁界発生装置による磁界の方向との関係を示す図
である。
【図３】反応液に印加する半波整流磁界の波形を示す図
である。
である。
【図４】半波整流磁界による磁性粒子の動作を示す図で
ある。
ある。
【図５】半波整流磁界を印加したときの凝集反応による
パワースペクトル密度を示す図である。
パワースペクトル密度を示す図である。
【図６】直線偏光の照射により磁性粒子内に生じる電気
双極子の磁界による変位を示す図である。
双極子の磁界による変位を示す図である。
【図７】塩化ナトリウム濃度と凝集反応前後のパワース
ペクトル密度のピーク比との関係を示す図である。
ペクトル密度のピーク比との関係を示す図である。
１ 光源 ２ 偏光プリズム ３ 試料セル ４ 外部磁界発生装置 ５ 偏光プリズム ６ 光電子増倍管 ７ 低雑音増幅器 ８ ローパスフィルタ ９ 増幅器 10 Ａ／Ｄ変換器 11 コンピュータ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成４年９月９日
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２】
【図６】
【図１】
【図３】
【図４】
【図５】
【図７】
Claims (2)
- 【請求項１】 被検液と抗体または抗原を固定した磁性
粒子とを直流磁界を印加して凝集反応させた後、該反応
液に半波整流磁界を印加しながら、その磁界の方向とは
異なる方向の直線偏光を入射させて、前記反応液での散
乱光を入射直線偏光と直交する偏光面を有する検光子を
経て受光し、その受光出力のパワースペクトル密度に基
づいて凝集反応を検出することを特徴とする磁界を用い
た凝集反応の検出方法。 - 【請求項２】 前記パワースペクトル密度のピーク値の
凝集反応による変化量を求め、その変化量に基づいて凝
集反応を定量的に検出することを特徴とする請求項１記
載の磁界を用いた凝集反応の検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18412391A JPH0572206A (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 磁界を用いた凝集反応の検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18412391A JPH0572206A (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 磁界を用いた凝集反応の検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572206A true JPH0572206A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=16147781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18412391A Withdrawn JPH0572206A (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 磁界を用いた凝集反応の検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0572206A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014062901A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-04-10 | Toshiba Corp | 検体検査装置 |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP18412391A patent/JPH0572206A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014062901A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-04-10 | Toshiba Corp | 検体検査装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980903 |