JPH0572292A - アナログ入力装置 - Google Patents
アナログ入力装置Info
- Publication number
- JPH0572292A JPH0572292A JP3233102A JP23310291A JPH0572292A JP H0572292 A JPH0572292 A JP H0572292A JP 3233102 A JP3233102 A JP 3233102A JP 23310291 A JP23310291 A JP 23310291A JP H0572292 A JPH0572292 A JP H0572292A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- analog input
- analog
- program
- host computer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 テストツールを別途準備することなく、試験
作業を簡単な構成により容易に行う。 【構成】 試験対象となるアナログ入力基板２に対して
ホストコンピュータ５からのプログラムまたは内部プロ
グラムに基づき種々の試験信号をアナログ入力装置１内
に設けられたアナログ試験装置３の試験信号出力部３５
から供給する。この試験結果はホストコンピュータ５に
通知される。
作業を簡単な構成により容易に行う。 【構成】 試験対象となるアナログ入力基板２に対して
ホストコンピュータ５からのプログラムまたは内部プロ
グラムに基づき種々の試験信号をアナログ入力装置１内
に設けられたアナログ試験装置３の試験信号出力部３５
から供給する。この試験結果はホストコンピュータ５に
通知される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、アナログ入力装置に関
する。
する。
【０００２】
【従来の技術】アナログ入力装置は、複数枚のアナログ
入力基板から構成されているものが多く、また多種多様
なものが存在している。このアナログ入力装置の保守・
点検または故障発生の際の試験作業には、アナログ入力
基板１枚１枚について電圧発生器や関数発生器等のテス
トツールを用いて試験信号を入力させて行っていた。
入力基板から構成されているものが多く、また多種多様
なものが存在している。このアナログ入力装置の保守・
点検または故障発生の際の試験作業には、アナログ入力
基板１枚１枚について電圧発生器や関数発生器等のテス
トツールを用いて試験信号を入力させて行っていた。
【０００３】このため、電圧発生器を準備して調整した
後、初めて試験開始が可能となる。
後、初めて試験開始が可能となる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このように従来のアナ
ログ入力装置の試験をするには、人手によりテストツー
ルを別途準備し所定の信号を出力するように調整をした
後、初めて試験が可能となるのであり、試験作業が煩わ
しく、また迅速な試験作業ができない。特に、直線性試
験等においては電圧切換えを何度となく繰り返さなけれ
ばならず、とりわけ煩わしい、という問題点があった。
ログ入力装置の試験をするには、人手によりテストツー
ルを別途準備し所定の信号を出力するように調整をした
後、初めて試験が可能となるのであり、試験作業が煩わ
しく、また迅速な試験作業ができない。特に、直線性試
験等においては電圧切換えを何度となく繰り返さなけれ
ばならず、とりわけ煩わしい、という問題点があった。
【０００５】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、テストツールを別途準備すること
なく、試験作業を簡単な構成により容易に行うことので
きるアナログ入力装置を提供することにある。
であり、その目的は、テストツールを別途準備すること
なく、試験作業を簡単な構成により容易に行うことので
きるアナログ入力装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、複数のアナログ入力基板を備え各種のア
ナログ信号を入力する装置において、 試験対象となる前記アナログ入力基板に対して外部プロ
グラムまたは内部プログラムに基づき種々の試験信号を
供給するとともにこの試験結果を外部に通知する手段を
内蔵したことを特徴とする。
めに本発明は、複数のアナログ入力基板を備え各種のア
ナログ信号を入力する装置において、 試験対象となる前記アナログ入力基板に対して外部プロ
グラムまたは内部プログラムに基づき種々の試験信号を
供給するとともにこの試験結果を外部に通知する手段を
内蔵したことを特徴とする。
【０００７】
【作用】上記構成によれば、アナログ入力装置の試験を
行う場合、ホストコンピュータ等から供給される外部プ
ログラムまたは内部プログラムにより、アナログ入力装
置を構成する試験対象となるアナログ入力基板に種々の
試験信号を供給する。その試験信号に対する試験結果は
前記ホストコンピュータに通知される。これにより、外
部から試験装置を接続することなく、極めて容易に試験
を行うことができる。しかも、試験結果もリアルタイム
にホスト側に通知できるので、試験作業をより一層能率
良く行うことができる。
行う場合、ホストコンピュータ等から供給される外部プ
ログラムまたは内部プログラムにより、アナログ入力装
置を構成する試験対象となるアナログ入力基板に種々の
試験信号を供給する。その試験信号に対する試験結果は
前記ホストコンピュータに通知される。これにより、外
部から試験装置を接続することなく、極めて容易に試験
を行うことができる。しかも、試験結果もリアルタイム
にホスト側に通知できるので、試験作業をより一層能率
良く行うことができる。
【０００８】
【実施例】図１は本発明に係るアナログ入力装置の一実
施例構成を示すブロック図である。
施例構成を示すブロック図である。
【０００９】図示のように、このアナログ入力装置１
は、試験対象となる複数枚のアナログ入力基板２と、ア
ナログ試験信号を出力可能なアナログ試験装置３と、試
験時においてアナログ試験装置３と試験対象となるアナ
ログ入力基板２とを接続してアナログ試験装置３からの
試験信号を試験対象アナログ入力基板２に供給するため
の折り返しケーブル４とを備えている。
は、試験対象となる複数枚のアナログ入力基板２と、ア
ナログ試験信号を出力可能なアナログ試験装置３と、試
験時においてアナログ試験装置３と試験対象となるアナ
ログ入力基板２とを接続してアナログ試験装置３からの
試験信号を試験対象アナログ入力基板２に供給するため
の折り返しケーブル４とを備えている。
【００１０】前記アナログ試験装置３は、ホストコンピ
ュータ５との入出力を行う入出力部３１と、試験装置３
を統括制御するＣＰＵ３２と、切換えスイッチ３３と、
電源３４と、電源３４からの電圧信号を試験信号として
アナログ入力基板２に出力する試験信号出力部３５と、
試験信号に対するアナログ入力基板２の試験結果をディ
ジタル信号に変換して入出力部３１に供給するＡ／Ｄ変
換回路３６とを備えている。
ュータ５との入出力を行う入出力部３１と、試験装置３
を統括制御するＣＰＵ３２と、切換えスイッチ３３と、
電源３４と、電源３４からの電圧信号を試験信号として
アナログ入力基板２に出力する試験信号出力部３５と、
試験信号に対するアナログ入力基板２の試験結果をディ
ジタル信号に変換して入出力部３１に供給するＡ／Ｄ変
換回路３６とを備えている。
【００１１】前記ホストコンピュータ５は、アナログ入
力基板２の試験用のプログラムをアナログ試験装置１に
供給するとともに、このアナログ試験装置１からの試験
結果を入力して、その結果の分析、分析結果の表示や印
刷をするためのものである。
力基板２の試験用のプログラムをアナログ試験装置１に
供給するとともに、このアナログ試験装置１からの試験
結果を入力して、その結果の分析、分析結果の表示や印
刷をするためのものである。
【００１２】上記の構成において、アナログ入力基板２
の保守・点検をする場合もしくは障害発生原因を究明す
る場合等において、試験をするとき、操作者は、先ず、
アナログ試験装置３と試験対象となるアナログ入力基板
２とを折り返しケーブル４を介して接続する。
の保守・点検をする場合もしくは障害発生原因を究明す
る場合等において、試験をするとき、操作者は、先ず、
アナログ試験装置３と試験対象となるアナログ入力基板
２とを折り返しケーブル４を介して接続する。
【００１３】次に、ホストコンピュータ５から試験プロ
グラムを出力させ、この試験プログラムを入出力部３１
を介してＣＰＵ３２に取り込む。ＣＰＵ３２は、取り込
んだ試験プログラムに基づいた切換え信号を生成して切
換えスイッチ３３に供給する。
グラムを出力させ、この試験プログラムを入出力部３１
を介してＣＰＵ３２に取り込む。ＣＰＵ３２は、取り込
んだ試験プログラムに基づいた切換え信号を生成して切
換えスイッチ３３に供給する。
【００１４】切換えスイッチ３３は、その接点切換えに
より電源３４の電圧信号を複数段に切換える。その電圧
信号は試験信号として試験信号出力部３５から折り返し
ケーブル４を介してアナログ入力基板２に出力される。
より電源３４の電圧信号を複数段に切換える。その電圧
信号は試験信号として試験信号出力部３５から折り返し
ケーブル４を介してアナログ入力基板２に出力される。
【００１５】アナログ入力基板２は、試験信号出力部３
５からの試験信号を入力してその信号に対する応答信号
をＡ／Ｄ変換回路３６によってディジタル変換し、その
ディジタル信号を入出力部３１を介してホストコンピュ
ータ５に出力する。
５からの試験信号を入力してその信号に対する応答信号
をＡ／Ｄ変換回路３６によってディジタル変換し、その
ディジタル信号を入出力部３１を介してホストコンピュ
ータ５に出力する。
【００１６】ホストコンピュータ５は、入力されたディ
ジタル信号を表示もしくは印刷させる。または、その分
析結果を表示もしくは印刷させる。操作者は、その表示
結果もしくは印刷結果を見てアナログ入力基板２の状態
を判断する。
ジタル信号を表示もしくは印刷させる。または、その分
析結果を表示もしくは印刷させる。操作者は、その表示
結果もしくは印刷結果を見てアナログ入力基板２の状態
を判断する。
【００１７】このように本実施例によれば、別途試験機
器を容易することなく、簡単にアナログ入力基板２の試
験をすることができる。また、人間による電圧調整等が
不要となり、また、ホストコンピュータ５による試験結
果の確認を容易に行うことができ、試験作業の能率が飛
躍的に向上する。
器を容易することなく、簡単にアナログ入力基板２の試
験をすることができる。また、人間による電圧調整等が
不要となり、また、ホストコンピュータ５による試験結
果の確認を容易に行うことができ、試験作業の能率が飛
躍的に向上する。
【００１８】なお、本実施例では、ホストコンピュータ
５から試験プログラムを発生されてアナログ試験装置３
に供給するようにしたが、アナログ試験装置３自身に、
試験プログラムを内蔵したＲＯＭ等を設け、この内部プ
ログラムに基づいて試験を行うようにしても良い。
５から試験プログラムを発生されてアナログ試験装置３
に供給するようにしたが、アナログ試験装置３自身に、
試験プログラムを内蔵したＲＯＭ等を設け、この内部プ
ログラムに基づいて試験を行うようにしても良い。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、試
験対象となるアナログ入力基板に対して外部プログラム
または内部プログラムに基づき種々の試験信号を供給す
るとともにこの試験結果を外部に通知する手段を内蔵し
たので、テストツールを別途準備することなく、試験作
業を簡単な構成により容易に行うことがのできる。
験対象となるアナログ入力基板に対して外部プログラム
または内部プログラムに基づき種々の試験信号を供給す
るとともにこの試験結果を外部に通知する手段を内蔵し
たので、テストツールを別途準備することなく、試験作
業を簡単な構成により容易に行うことがのできる。
【図１】本発明に係るアナログ入力装置の一実施例構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
１ アナログ入力装置 ２ アナログ入力基板 ３ アナログ試験装置 ３１ 入出力部 ３２ ＣＰＵ ３３ 切換えスイッチ ３４ 電源 ３５ 試験信号出力部 ３６ Ａ／Ｄ変換回路 ４ 折り返しケーブル ５ ホストコンピュータ
Claims (1)
- 【請求項１】 複数のアナログ入力基板を備え各種のア
ナログ信号を入力する装置において、 試験対象となる前記アナログ入力基板に対して外部プロ
グラムまたは内部プログラムに基づき種々の試験信号を
供給するとともにこの試験結果を外部に通知する手段を
内蔵したことを特徴とするアナログ入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3233102A JPH0572292A (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | アナログ入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3233102A JPH0572292A (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | アナログ入力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572292A true JPH0572292A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=16949811
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3233102A Pending JPH0572292A (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | アナログ入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0572292A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005274145A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-10-06 | Agilent Technol Inc | 測定方法、モジュールおよびシステム |
-
1991
- 1991-09-12 JP JP3233102A patent/JPH0572292A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005274145A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-10-06 | Agilent Technol Inc | 測定方法、モジュールおよびシステム |
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