JPH0574782B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0574782B2 JPH0574782B2 JP59237318A JP23731884A JPH0574782B2 JP H0574782 B2 JPH0574782 B2 JP H0574782B2 JP 59237318 A JP59237318 A JP 59237318A JP 23731884 A JP23731884 A JP 23731884A JP H0574782 B2 JPH0574782 B2 JP H0574782B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass
- peak
- chromatograph
- ion
- computer
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
- 238000004587 chromatography analysis Methods 0.000 claims description 10
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 23
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本発明はマスクロマトグラフイを行うに適した
クロマトグラフ質量分析計に関する。
クロマトグラフ質量分析計に関する。
ロ 従来技術
マスクロマトグラフイと云うのは、試料分子を
電子衝撃法等でイオン化すると幾種類かの断片イ
オン（フラグメントイオン）が生成され、フラグ
メントイオンのでき方は個々の物質を特徴づける
ので、質量分析計でくり返し走査を行い幾種類か
のイオンを選定して出力するようにし、クロマト
グラフで分離された試料成分を質量分析計に導入
し各イオンの時間的な増減を記録するもので、ク
ロマトグラフで分離された試料成分の同定とか、
クロマトグラフで分離不充分な成分の弁別が可能
となる。
電子衝撃法等でイオン化すると幾種類かの断片イ
オン（フラグメントイオン）が生成され、フラグ
メントイオンのでき方は個々の物質を特徴づける
ので、質量分析計でくり返し走査を行い幾種類か
のイオンを選定して出力するようにし、クロマト
グラフで分離された試料成分を質量分析計に導入
し各イオンの時間的な増減を記録するもので、ク
ロマトグラフで分離された試料成分の同定とか、
クロマトグラフで分離不充分な成分の弁別が可能
となる。
クロマトグラフを行う場合、質量分析計では磁
場形では磁場を四重極形では高周波電圧をくり返
し走査して特定のイオンのみをコンピユータを用
いて選択的に出力して夫々のイオンの検出強度を
記録する。このとき質量走査の周期はクロマトグ
ラフの試料成分の一つのピークの幅内で何回かの
走査が行われるようにしておくことが必要であ
る。
場形では磁場を四重極形では高周波電圧をくり返
し走査して特定のイオンのみをコンピユータを用
いて選択的に出力して夫々のイオンの検出強度を
記録する。このとき質量走査の周期はクロマトグ
ラフの試料成分の一つのピークの幅内で何回かの
走査が行われるようにしておくことが必要であ
る。
所がクロマトグラフでキヤピラリカラムを用い
たような場合、始めに出て来る試料成分のピーク
は非常に幅がせまくシヤープであるが、後になる
程次第にピーク幅が広がつて来る。このような場
合、質量分析計の質量走査の周期は始めに出て来
るシヤープなピークに合せて短かく設定されるの
で、後の方の幅の広くなつたピークに対しては、
一つのピークにおける質量走査の回数が大へん多
くなり、イオン検出出力データをコンピユータ内
のメモリに格納し、後でデータの解析を行う場合
メモリの必要容量が増大し、記憶容量の無駄使い
となつていた。
たような場合、始めに出て来る試料成分のピーク
は非常に幅がせまくシヤープであるが、後になる
程次第にピーク幅が広がつて来る。このような場
合、質量分析計の質量走査の周期は始めに出て来
るシヤープなピークに合せて短かく設定されるの
で、後の方の幅の広くなつたピークに対しては、
一つのピークにおける質量走査の回数が大へん多
くなり、イオン検出出力データをコンピユータ内
のメモリに格納し、後でデータの解析を行う場合
メモリの必要容量が増大し、記憶容量の無駄使い
となつていた。
ハ 目的
本発明はマスクロマトグラフイを行うに当つて
必要メモリ容量の不必要な増大を抑制し、メモリ
容量の効率的使用を可能にすることを目的とす
る。
必要メモリ容量の不必要な増大を抑制し、メモリ
容量の効率的使用を可能にすることを目的とす
る。
ニ 構成
本発明はクロマトグラフによつて分離された試
料成分ピークの幅に応じて質量分析計の質量走査
周期を自動的に変えシヤープなピークでもブロー
ドなピークでも一つのピークに対する質量走査の
回数が略同じになるようにしたマスクロマトグラ
フイ装置を提供する。
料成分ピークの幅に応じて質量分析計の質量走査
周期を自動的に変えシヤープなピークでもブロー
ドなピークでも一つのピークに対する質量走査の
回数が略同じになるようにしたマスクロマトグラ
フイ装置を提供する。
ホ 実施例
第１図は本発明の一実施例の構成を示す。１は
ガスクロマトグラフ、２はガスクロマトグラフと
質量分析計とを結合する分子セパレータ等のイン
ターフエース、３はイオン源、４はイオン加速電
極、５は全イオン検出器、６は質通分析用磁場、
７はイオン検出器で、検出されたイオン強度デー
タはコンピユータ９の内部に格納される。コンピ
ユータ９はまた、装置全体を制御している。
ガスクロマトグラフ、２はガスクロマトグラフと
質量分析計とを結合する分子セパレータ等のイン
ターフエース、３はイオン源、４はイオン加速電
極、５は全イオン検出器、６は質通分析用磁場、
７はイオン検出器で、検出されたイオン強度デー
タはコンピユータ９の内部に格納される。コンピ
ユータ９はまた、装置全体を制御している。
１０はイオン加速電圧を発生している電源回路
８は磁場に電流を流すための励磁電源回路であ
る。励磁電源回路８は第２図に示すような鋸歯状
電流を発生して磁場６に電流を流しており、第２
図のＴが質量走査の一周期で、コンピユータ９に
よつてこの周期Ｔが制御されている。第３図はク
ロマトグラフの一例で全イオン検出器５の出力の
記録である。コンピユータ９は全イオン検出器５
の出力を一定周期でサンプリングしており、相隣
るサンプリングデータの差によつてクロマトグラ
フの微分信号を得ている。もつともこの微分信号
を得る方法は任意である。全イオン検出器を用い
ないでくり返し走査を行なつて得られた全てのイ
オンを加算してクロマトグラフとし、このクロマ
トグラフの信号を微分してもよい。
８は磁場に電流を流すための励磁電源回路であ
る。励磁電源回路８は第２図に示すような鋸歯状
電流を発生して磁場６に電流を流しており、第２
図のＴが質量走査の一周期で、コンピユータ９に
よつてこの周期Ｔが制御されている。第３図はク
ロマトグラフの一例で全イオン検出器５の出力の
記録である。コンピユータ９は全イオン検出器５
の出力を一定周期でサンプリングしており、相隣
るサンプリングデータの差によつてクロマトグラ
フの微分信号を得ている。もつともこの微分信号
を得る方法は任意である。全イオン検出器を用い
ないでくり返し走査を行なつて得られた全てのイ
オンを加算してクロマトグラフとし、このクロマ
トグラフの信号を微分してもよい。
コンピユータ９にはクロマトグラフの最初のピ
ークに対する質量走査の周期が設定してあり、最
初のピークに対してはコンピユータ９はこの周期
によつて励磁電源回路８を制御している。他方コ
ンピユータ９は質量走査の開始から終了までの時
間を計数して、その時間を適当に選択して設定し
てある整数で割算して得られる値の下位の桁を切
捨てゝ次回のピークにおける質量走査の周期とす
る。
ークに対する質量走査の周期が設定してあり、最
初のピークに対してはコンピユータ９はこの周期
によつて励磁電源回路８を制御している。他方コ
ンピユータ９は質量走査の開始から終了までの時
間を計数して、その時間を適当に選択して設定し
てある整数で割算して得られる値の下位の桁を切
捨てゝ次回のピークにおける質量走査の周期とす
る。
こゝで上記適当に選択して設定してある整数は
一つのピークにおける質量走査の回数であり、４
と５或は10と云つた整数を設定する。この実施例
はクロマトグラムのピークは相隣るものは余りピ
ーク幅が変らず、かつ次第にピーク幅が広がると
云う傾向に立脚して、一つのピークの幅によつて
次のピークにおける走査周期を決めるものであ
る。
一つのピークにおける質量走査の回数であり、４
と５或は10と云つた整数を設定する。この実施例
はクロマトグラムのピークは相隣るものは余りピ
ーク幅が変らず、かつ次第にピーク幅が広がると
云う傾向に立脚して、一つのピークの幅によつて
次のピークにおける走査周期を決めるものであ
る。
ヘ 効果
本発明によればマスクロマトグラフイを行う場
合、クロマトグラムの各ピークとも大体同回数ず
つ質量走査が繰返されるので、幅の広いピークに
対して不必要に大量のデータが蓄積されることが
なく、メモリの容量の有効利用が達成される。
合、クロマトグラムの各ピークとも大体同回数ず
つ質量走査が繰返されるので、幅の広いピークに
対して不必要に大量のデータが蓄積されることが
なく、メモリの容量の有効利用が達成される。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロツ
ク図、第２図はイオン加速電圧の波形グラフ、第
３図はクロマトグラムの一例のグラフである。 １……ガスクロマトグラフ、２……インターフ
エース、３……イオン源、４……イオン加速電
極、５……全イオン検出器、６……質量分析用磁
場、７……イオン検出器、１０……イオン加速電
圧電源回路、８……励磁電源回路。
ク図、第２図はイオン加速電圧の波形グラフ、第
３図はクロマトグラムの一例のグラフである。 １……ガスクロマトグラフ、２……インターフ
エース、３……イオン源、４……イオン加速電
極、５……全イオン検出器、６……質量分析用磁
場、７……イオン検出器、１０……イオン加速電
圧電源回路、８……励磁電源回路。
Claims (1)
- １ クロマトグラムのピークの幅に応じて質量走
査の周期を何れのピークに対しても走査回数が略
同程度になるよう、一つのピークの幅に基づいて
次のピークの質量走査周期を設定する制御系を設
けたマスクロマトグラフイ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59237318A JPS61116654A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | マスクロマトグラフイ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59237318A JPS61116654A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | マスクロマトグラフイ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61116654A JPS61116654A (ja) | 1986-06-04 |
| JPH0574782B2 true JPH0574782B2 (ja) | 1993-10-19 |
Family
ID=17013587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59237318A Granted JPS61116654A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | マスクロマトグラフイ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61116654A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2703835B2 (ja) * | 1991-04-26 | 1998-01-26 | 東京瓦斯株式会社 | ガス濃度測定方法及びその測定装置 |
| RU2231165C2 (ru) * | 2002-03-04 | 2004-06-20 | Трошков Михаил Львович | Многоколлекторный магнитный масс-спектрометр |
-
1984
- 1984-11-09 JP JP59237318A patent/JPS61116654A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61116654A (ja) | 1986-06-04 |
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