JPH0577003B2 - - Google Patents

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JPH0577003B2
JPH0577003B2 JP10308486A JP10308486A JPH0577003B2 JP H0577003 B2 JPH0577003 B2 JP H0577003B2 JP 10308486 A JP10308486 A JP 10308486A JP 10308486 A JP10308486 A JP 10308486A JP H0577003 B2 JPH0577003 B2 JP H0577003B2
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Japan
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slit
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line sensor
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defect
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Fumiki Yokota
Wataru Kubota
Tooru Nishama
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Nissan Motor Co Ltd
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Nissan Motor Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えば自動車の車体パネル塗装面
などの曲面を有する被検査物の表面欠陥を検査す
るための表面欠陥検査装置に関する。
〔従来の技術〕
車体パネル塗装面などの被検査物の表面におけ
る傷、突起、ブツ、汚れ等の欠陥の検査は、非能
率で個人差のある作業員による目視検査から、指
向性の強いレーザ光を利用した自動検査に移行す
る傾向にある。
このようなレーザ光を利用した表面欠陥検査装
置としては、第13図に示すように、光源である
レーザスリツト光発生器1から被検査物の表面で
ある被検査面2にスリツト光LSTを投射して、
その反射光LST′を一担拡散板によるスクリーン
3に投影し、そのスクリーン3上の像をカメラ部
の集光レンズ4によつて集光してCCD等のライ
ンセンサ5上に結像させて検出することによつ
て、被検査面2上の表面欠陥を検出するようにし
た装置を本出願人が先に提案している(特願昭59
−83889号、特願昭59−83890号)。
この表面欠陥検査装置によれば、例えば第14
図に示すように、被検査面2上のスリツト光投射
位置に傷やブツ等の欠陥aがあると、レーザスリ
ツト光発生器1から投射されたスリツト光LST
がそこで散乱するため、被検査面2からの正反射
光LST′を受けるスクリーン3上には、図示のよ
うに欠陥aに対応するところで切れたスリツト像
SLが投影されることになる。
したがつて、このスクリーン3上のスリツト像
SLが投影される位置を常時撮影している第13
図のラインセンサ5のビデオ出力信号は、第15
図aに示すようになり、同図bに示すその包絡像
信号Vsとそれを積分して平均化した比較信号Vr
(スレツシヨルドレベル)とを比較して、同図c
に示すようにVs<Vrの時にのみハイレベル
“H”となり、それ以外ではローレベル“L”に
なる2値化信号を形成すれば、被検査面2上の欠
陥aを、この2値化信号のレベルが“H”になる
ことによつて検出することができ、その欠陥の大
きさもこのパルスの幅Wによつて知ることができ
る。
この場合、第13図のラインセンサ5は集光レ
ンズ4の合焦位置に配置したスクリーン3で拡散
された散乱光SCを受光することによつて、スク
リーン3上の投影スリツト像Sを撮像しているた
め、集光レンズ4の焦点を常時固定することがで
き、しかも拡散によつて投影スリツト像SLが拡
大されるため、表面欠陥の検出分解能が向上す
る。
このような表面欠陥検査装置によつて車体パネ
ル塗装面等の大面積の被検査面を検査するには、
この装置を例えばロボツトのハンドに取付けて、
被検査面に対して常に一定の距離で且つスリツト
光の入射角度も一定になるようにして走査すれば
よい。
その場合、レーザスリツト光発生器1とスクリ
ーン3と被検査面2との相対位置関係を、例えば
第16図に実線で示す状態に調整して、スリツト
光LSTの被検査面2による反射光が、スクリー
ン3上のラインセンサによつて撮像し得る範囲
(以下「検出可能範囲」という)3a内にスリツ
ト像SLを形成するようにする。
しかし、走査中に被検査面2で実線で示す正規
の状態に対して図に破線で示す被検査面2′のよ
うに傾斜(傾斜角度α、β)すると、スリツト光
LSTの被検査面への入射角度及び反射位置が変
化し、スクリーン3上に形成されるスリツト像
SL′が、正規の状態でのスリツト像SLに対してず
れて二次元的に傾斜し、検出可能範囲3aから外
れてしまうため検査不能になる。
そのため、ある程度の精度で常に正規の相対位
置関係を保つように補正を行なう必要がある。
そこで、このスリツト像SL又はSL′と交差する
方向に補正用の複数のラインセンサを配置して、
その受光点すなわち交差点位置の差からスリツト
像のずれ量及び傾斜(回転)角度を検出し、その
検出結果によつて被検査面2に対する検査装置の
姿勢を補正するようにしていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、このような表面欠陥検査装置に
あつては、ラインセンサの検出ライン(受光素子
列)が直線であるため、被検査物の表面が略平坦
なものの検査に限られ、せいぜい自動車の外板な
どの比較的曲率の小さな曲面の欠陥検査にしか適
用できないという問題点があつた。
この発明は、このような問題点を解決して、あ
る程度曲率の大きな曲面の欠陥検査にも使用でき
る表面欠陥検査装置を提供することを目的とす
る。
〔問題点を解決するための手段〕
そのためこの発明は、被検査物の表面にレーザ
スリツト光を投射してその反射光を拡散板による
スクリーン上に投影し、そのスリツト状の散乱光
をラインセンサによつて検出することによつて被
検査物の表面の欠陥を検査する表面欠陥検査装置
において、 上記スクリーンからのスリツト状の散乱光をビ
ームスプリツタによつて2方向に分光して、第1
の分光方向にその第1のスリツト状分光を検出す
る欠陥検出用ラインセンサをそのスリツト方向に
沿つて配置し、第2の分光方向にその第2のスリ
ツト状分光との交差位置を検出する3個以上の補
正用ラインセンサを間隔を置いて互いに平行に配
置すると共に、この各補正用ラインセンサによる
検出位置データから被検査物の表面形状の曲率を
算出して、その曲率に応じて欠陥検出用ラインセ
ンサの検出幅を変更する手段を設けたことによ
り、上記の目的を達成するものである。
〔作用〕
3個以上の補正用ラインセンサによる第2のス
リツト状分光の各検出位置の差から被検査物の表
面形状の曲率を算出し、その曲率に応じて欠陥検
出用ラインセンサの検出幅すなわち視野幅を検出
可能な最大幅に変更するので、曲率の大きい被検
査面でも検出幅を狭くすることにより検査可能に
なる。
〔実施例〕
以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
第2図は、この発明による表面欠陥検査装置に
よつて自動車のドアパネルの表面欠陥を検査して
いる状態を示す斜視図である。
この図において、6は表面欠陥検査装置の検出
ヘツドであり、取付盤7を介して走査装置として
のロボツト8のアーム先端部に取付けられてい
る。
この検出ヘツド6は、取付盤7に固定された基
部9と、この基部9に取付けられた第2の調整機
構10と、基部9に対してブラケツト11,11
を介して矢印θy方向に回動可能に取付けられた
可動ステー12と、この可動ステー12の裏面側
に矢示A方向に回動可能に取り付けられた第1の
調整機構13と、可動ステー12の前面一端部に
軸14を介して矢示θx方向に回動可能に取付け
られたレーザ発光器15と、可動ステー12の前
面他端部に固定して取付けられた検出器16と、
可動ステー12の下端中央部付近に取付けられた
欠陥マーカ17等によつて構成されている。
第2の調整機構10は、タコジエネレータ18
を取付けた駆動モータ19と、連結部20を介し
てこの駆動モータ19によつて回転される平歯車
21と、この平歯車21に噛み合つて軸22を矢
示θ1方向に回転させる平歯車23等によつて構成
され、駆動モータ19の回転を制御することによ
つて、軸22に固定したブラケツト11を介して
可動ステー12を基部9に対して矢示θy方向に
回動させることができる。
また第1の調整機構13は、タコジエネレータ
24を取付けた駆動モータ25と、この駆動モー
タ25によつて回転されるボールネジ26と、こ
のボールネジ26の回転によつて送られる駒部2
7と、この駒部27に回転自在に連結され、レー
ザ発生器15の軸14に固着されたレバー28
と、ボールネジ26を支持する支持枠29等によ
つて構成され、この支持枠29が可動ステー12
の裏面側に矢示A方向に回転可能に取り付けられ
ている。
そして、駆動モータ25の回転を制御すること
によつて、軸14を矢示θ2方向に回転させ、それ
によつてレーザ発生器15を矢示θx方向に回動
させることができる。
レーザ発生器15は、例えばHe−Neレーザ発
生器であり、発生したレーザビーム光をレーザス
リツト光LSに変換して、被検査物(この例では
自動車用ドアパネル30の塗装面30a)に投射
するレンズ系を具備している。
検出器16は、レーザ発生器15から投射され
て塗装面30aから正反射したレーザスリツト光
LSを投影して拡散するすりガラス等の透過型の
拡散板によるスクリーン31を先端に固着した検
出筒32と、そのスクリーン31上の予め定めた
ライン状の部位を撮像する集光レンズ33a及び
ラインセンサ等を有するカメラ部33とからな
り、その詳細は第1図A,Bによつて後述する。
17は欠陥マーカであり、レーザスリツト光
LSが照射された塗装面30aの位置にブツや傷
等の欠陥があつてその存在が検出された時に、レ
ーザスリツト光LSと干渉しないように欠陥の近
傍に拭き取り可能なコンパウンド等のマーキング
剤を吹き付けて、欠陥の存在を示すマークを付け
る。
次に、第1、第2の調整機構の詳細及びその作
用について第3図乃至第6図によつて説明する。
なお、第3図は検出ヘツド6の正面図、第4図
は第3図の右側面図、第5図は第1の調整機構1
3の正面図、第6図は第2の調整機構10の下面
図である。
先ず、第3図及び第4図に示すように、レーザ
発光器15と検出器16とは、レーザ発光器15
の光軸L1と検出器16側の光軸であるカメラ部
33の集光レンズ33aの光軸L2が、同一平面
内で交差角δで交差するように可動ステー12に
取付けてある。
そして、第1の調整機構13において、駆動モ
ータ25によつてボールネジ26が回転して駒部
27が矢示B方向に送られると、第5図に示すブ
ラケツト34を介して軸35により可動ステー1
2に対して回動自在に枢支した支持枠29が軸3
5を中心に矢示A方向に回動しつつ、駒部27に
軸36で回動自在に連結され、軸14(第4図)
に固定して連結したレバー28が軸14を中心に
矢示C方向に回動するため、第4図に示すように
可動ステー12の裏面に取付けたブラケツト37
に軸受を介して回転自在に取付けられ、レーザ発
光器15を固定した固定盤38を一端に固着した
軸14が、矢示θ2方向に回転するようになり、そ
れによつてレーザ発生器15が第3図に示すよう
に矢示θx方向に回動する。
このように、レーザ発生器15が矢示θx方向
に回動すると、その光軸L1と検出器16側の光
軸L2との交差角δが調整される。なお、この第
1の調整機構13における駆動モータ25は、後
述する補正用ラインセンサの検出結果に基づいて
回転制御されるが、その詳細は後述する。
次に、第2の調整機構10において、駆動モー
タ19によつて平歯車21が回転すると、第6図
に示すように基部9に軸受を介して回転自在に枢
支され、一端に平歯車21に歯合する平歯車23
を、軸まわりにブラケツト11,11を夫々固着
した軸22が矢示θ1方向に回転するため、ブラケ
ツト11,11を取付けた可動ステー12が第4
図に示すように矢示θy方向に回動する。
それによつて、検出ヘツド6全体が第4図の矢
示θy方向に回動し、レーザ発生器15と検出器
16の光軸L1,L2によつて形成される平面の塗
装面30aに対する傾斜角εが調整される。
なお、第2の調整機構10における駆動モータ
19は、傾斜角εがε=90゜、すなわち光軸L1
L2によつて形成される平面が塗装面30aの法
平面となるように、やはり後述する位置補正用ラ
インセンサの検出結果に基づいて回転制御される
が、その詳細も後述する。
次に、検出器16の内部構造及び光学系を第1
図A,Bを参照して説明する。
カメラ部33内には、集光レンズ33aの光軸
上にビームスプリツタ33bを設けており、塗装
面30aからの反射レーザスリツト光が拡散スク
リーン31上に投影拡散されることによつて得ら
れるスリツト像から、集光レンズ33aを介して
入射されるスリツト状の散乱光を第1の分光方向
u1と第2の分光方向u2との2方向に分光する。
そして、このビームスプリツタ33bによる第
1の分光方向u1に対するセンサ配置面33cに
は、ビームスプリツタ33bからの第1のスリツ
ト状分光を検出するべく、ビームスプリツタ33
b及び集光レンズ33aを介して拡散スクリーン
31上の予め定めたライン状の部位31aを撮像
する例えば2048ビツト(画素)の欠陥検出用ライ
ンセンサ(CCD又はMOS型のPDA)H0をスリ
ツト方向に沿つて配置してある。
なお、当然のことではあるが、ラインセンサ
H0と拡散スクリーン31とは集光レンズ33a
の合焦位置にある。
また、ビームスプリツタ33bによる第2の分
光方向u2に対するセンサ配置面33d(センサ配
置面33cと33dは互いに直交している)に
は、例えば2048ビツト(画素)の3個の補正用ラ
インセンサ(CCD又はMOS型のPDA)H1,H2
H3を互いに平行に、且つ各ラインセンサH1〜H3
とビームスプリツタ33bからの第2のスリツト
状分光とが互いに交差(この実施例では直交)す
るように配置している。
また、補正用ラインセンサH1〜H3とスクリー
ン31とはやはり集光レンズ33aの合焦点位置
にある。そして、ラインセンサH0の受光部の配
列に沿つた基準線がラインセンサH1〜H3の各中
央画素(1024ビツト目)と交差する位置関係とな
つている。
次に、この実施例による被検査物の表面形状の
曲率算出原理を第7図及び第8図によつて説明す
る。
第7図に示す3個の補正用ラインセンサH1
H2,H3に対して、第1図のビームスプリツタ3
3bからの第2のスリツト状分光によるスリツト
像SL′が図示のように湾曲して形成されたとす
る。
この時の各ラインセンサH1,H2,H3によるス
リツト像SL′の検出位置をA、B、C(ビツト)
とし、各ラインセンサの取付ピツチを第8図に示
すようにl0とすれば、このスリツト像SL′の半径
Rは、次式によつて求められる。
R=C0/2sinθ … ただし、第8図に示すr0とr1を次式により求め
ると、 r0=k(C−B) r1=k(C−A) (kはラインセンサのビツトと長さの換算定数) A−B間の長さC0は次式により算出される。
C0=√40 2+(012 … ここで、第8図に示すように角度α、βをとる
と、 tanα=(r0−r1)/2l0 tanβ=r0/l0 θ=(β−α)×2 であり、sinθは次式により算出される。
sinθ=2(tanβ−tanα)×(1+t
anα×tanβ)/(1+tan2α)×(1+tan2β)… 上記式と式によつてそれぞれ求められる
C0とsinθを、式に入れて算出されるRが被検査
物の表面の曲率半径を示す。なお、その逆数
(1/R)が曲率である。
次に、このようにして算出したRに応じて、欠
陥検出用ラインセンサH0の検出幅すなわち視野
幅の変更と、検出ヘツドの姿勢補正方法について
第9図乃至第11図によつて説明する。
第9図イは、欠陥検出用ラインセンサH0を補
正用ラインセンサH1〜H3と同一面に移動したと
仮定して破線で示し、その各ラインセンサH0
H3の検出ラインの配置関係を同図ロ及びハに模
式的に示しており、欠陥検出用ラインセンサH0
と補正用ラインセンサH2とは、中心の1024ビツ
ト目で直交する関係になる。
図中SL′は被検査面からの反射スリツト光によ
るスリツト像で、イは被検査面の曲面のRが小さ
い場合、ロは同じくRが大きい場合の例を示す。
Q1,Q3は位置補正用ラインセンサH1,H3による
スリツト像SL′の検出位置((ビツト)をそれぞ
れ示す。SWは視野幅、D0はオフセツト値であ
る。
そして、前述の曲率半径Rの大きさに対してこ
の視野幅Swとオフセツト値D0を例えば第10図
に示すように段階的に変更する。
すなわち、被検査面の曲面の曲率径が小さくな
る(曲率は大きくなる))に従つて、視野幅Sw
のように順次小さくし、オフセツト値は
ように順次大きくする。
さらに、第4図の傾斜角εを調整するための傾
斜角調整データDyと、第3図の交差角δを調整
するための交差角調整データDxをそれぞれ次式
によつて算出する。
Dy=Q3−Q1 … Dx=1024−(Q3+Q1)/2+D0 … この傾斜角調整データDyは、スリツト像SL′の
傾き、すなわち第2図乃至第4図に示した検出ヘ
ツド6のドアパネルの塗装面30a(被検査面)
に対する傾きを示すデータであり、この値がゼロ
になるように第2の調整機構10の駆動モータ1
9を回転させて検出ヘツド6の傾きを補正する。
また、交差角調整データDxは、スリツト像
SL′が欠陥検出用ラインセンサH0に対して平行移
動する方向の位置ずれ量、すなわち検出ヘツド6
とドアパネルの塗装面30a(被検査面)との間
隔の変化によるデータであり、第1の調整機構1
3の駆動モータ25を回転させて、光軸L1とL2
のなす角δを調整し、このデータDxがオフセツ
ト値D0になるようにレーザ発光器15の角度を
補正する。
このように、検出ヘツドの姿勢を補正して前述
の視野幅切換えを行なうことにより、第9図ロ,
ハに示すように少なくとも視野幅SW内では、ス
リツト像SL′が欠陥検出用ラインセンサH0の検出
ライン上に略載るようになる。
次に、この表面欠陥検査装置の制御系の一例を
第11図に示し、これを説明する。
この制御系は、センサ駆動回路40a〜43
a、2値化回路40b、位置カウンタ41b〜4
3bと、制御ユニツト44と、サーボアンプ5
0,51等によつて構成されている。
そして、制御ユニツト44は、演算部45a、
姿勢補正部45b、及び視野切換部45cの機能
をなす第1のマイクロコンピユータ45と、欠陥
検出部の機能をなす第2のマイクロコンピユータ
46と、D/A変換器47,48及び出力インタ
フエース回路(ドライバ)49からなり、第2図
のロボツト8の制御装置との間で図示のような信
号のやりとりをしている。
25,24は第2図乃至第6図に示した第1の
調整機構13の駆動モータとその回転速度を検出
するためにタコジエネレータ、19,18は同じ
く第2の調整機構10の駆動モータとその回転速
度を検出するタコジエネレータである。
また、53は欠陥マーカ17を駆動するエアシ
リンダ17aへの圧縮空気供給路を開閉する電磁
弁である。
次に、この制御系の動作を第12図も参照して
説明する。
制御ユニツト44の第1のマイクロコンピユー
タ45から計測指令SAが出力されると、各セン
サ駆動回路41a〜43aが3個の補正用ライン
センサH1〜H3をそれぞれ駆動して、それぞれ
2048ビツトの検出信号を読出し、位置カウンタ4
1b〜43bにハイレベルとなつているビツトま
でのビツト数をカウントさせる。
この各位置カウンタ41b〜43bによるカウ
ントデータQ1,Q2,Q3が、第7図及び第8図に
おいて各ラインセンサH1,H2,H3とスリツト像
SL′との交差位置A、C、Bに相当する。
そこで、第1のマイクロコンピユータ45は、
第12図に示すフローチヤートを示すように動作
して、この各カウントデータQ1,Q2,Q3を読込
んで、演算部45aにおいて前述の式、及び
の演算を行なつて(但し、A=Q1、B=Q3
C=Q2)、塗装面3aの曲率半径Rを算出する。
そして、そのRの値に応じて、予めメモリに格
納してある第11図に示したようなテーブルによ
り、視野幅SWを決定し、オフセツト値D0も決定
する。さらに、前述の式の演算により傾斜角調
整データDyを、式の演算により交差調整デー
タDxをそれぞれ計算する。
そして、姿勢補正部45bから交差角調整デー
タDxと傾斜角調整データDyを出力し、それをそ
れぞれD/A変換器47,48によつて電圧信号
Vx,Vy(補正方向により正負がある)に変換す
る。
この電圧信号Vxにより、サーボアンプ50が
タコジエネレータ24から速度フイードバツクを
かけられながら第1の調整機構13の駆動モータ
25を回転させ、第2図及び第3図に示したレー
ザ発光器15を回動させて光軸L1とL2の交差角
δを補正し、Dx=D0になるようにする。
また、電圧信号Vyにより、サーボアンプ51
がタコジエネレータ18から速度フイードバツク
をかけられながら第2の調整機構10の駆動モー
タ19を回転させ、検出ヘツド6全体を回動させ
て傾斜角εを補正し、Dy=0になるようにする。
このようにして検出ヘツド6の姿勢補正が完了
すると、ロボツト側からの検出指令により、制御
ユニツト44の第2のマイクロコンピユータ(欠
陥検出部)46がセンサ駆動回路40aへ計測指
令SBを出力する。
それにより、センサ駆動検出回路40aは欠陥
検出用ラインセンサH0を駆動して2048ビツトの
ビデオ信号を逐次読出し、2値化回路40bに入
力して第15図によつて説明した従来例と同様に
浮動2値化処理して、塗装面30aにおけるブツ
等の欠陥の大きさに応じた幅W(欠陥がない場合
W=0)のパルスを含む検出信号Spを出力する。
第2のマイクロコンピユータ46は、第1のマ
イクロコンピユータ45から入力された前述の視
野切換信号に応じて、検出信号Spの有効範囲を
制限し、その有効範囲内にパルスがあつた場合
に、そのパルス幅Wが予め検出欠陥幅指令によつ
て設定されている幅より大きいか否かを判別し、
大きい時にのみ欠陥検出信号SMを出力する。
この欠陥検出信号SMが出力されると、出力イ
ンタフエース回路49が電磁弁駆動信号を出力
し、それによつて電磁弁53が切換わつてエアシ
リンダ17aに圧縮空気を送り込み、欠陥マーカ
17のノズルが開いて塗装面30aの欠陥位置近
傍にコンパウンド等のマーキング材を吹き付け
る。
このようにして、姿勢補正と視野切換並びに表
面欠陥検出を行ないながら、例えば第2図に2点
鎖線で示すように、検出ヘツド6によつてドアパ
ネル30の塗装面30aのような被検査面を走査
することによつて、それが比較的曲率の大きい曲
面であつてもその全面の表面欠陥を自動的に検出
して、マーキングを施すことができる。
〔発明の効果〕
以上説明してきたように、この発明による表面
欠陥検査装置は、被検査面からの反射スリツト光
によつてスクリーン上に形成されるスリツト像か
らの散乱光を、ビームスプリツタによつて2方向
に分割し、その一方のスリツト状分光をそのスリ
ツト方向に沿つて欠陥検出用ラインセンサによつ
て検出し、もう一方のスリツト状分光との交差位
置を3個以上の補正用ラインセンサによつて検出
するようにし、その各補正用ラインセンサによる
検出位置データから被検査面の曲率を算出して、
その曲率に応じて欠陥検出用ラインセンサの検出
幅を変更するようにしたので、被検査面の曲率が
比較的大きい(曲率半径が小さい)場合でも、上
記検出幅を狭くすることによつて欠陥検出用ライ
ンセンサによるスリツト像の検出が可能になり、
精度よく表面欠陥を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図Aはこの発明の一実施例における検出器
の内部構造を一部破断して示す斜視図、第1図B
は同じくその検出器の光学系を示す光路図、第2
図はこの発明の実施例である表面欠陥検査装置に
よつて自動車のドアパネルの表面欠陥を検査して
いる状態を示す斜視図、第3図は第2図における
検出ヘツド6の欠陥マーカ17を除いた部分の詳
細を示す正面図、第4図は同じくその右側面図、
第5図は同じくその第1の調整機構13の正面
図、第6図は同じくその第2の調整機構10の下
面図、第7図は補正用ラインセンサとスリツト像
との関係例を示す正面図、第8図はこの発明にお
ける被検査面の曲率算出式を説明するための説明
図、第9図イ〜ハは欠陥検出用ラインセンサと補
正用ラインセンサの位置関係及び曲率半径Rによ
る視野幅及びオフセツト値の相違を示す説明図、
第10図は曲率半径Rの値による視野幅とオフセ
ツト値の変更例を示す線図、第11図はこの発明
による表面欠陥検査装置の制御系の一例を示すブ
ロツク図、第12図は第11図における第1のマ
イクロコンピユータ45による演算動作の一例を
示すフロー図、第13図はこの発明を適用する表
面欠陥検査装置の原理説明図、第14図は同じく
その作用説明図、第15図は同じくそのラインセ
ンサによるビデオ出力信号の2値化処理を説明す
るための波形図、第16図は検査装置の姿勢補正
の原理を説明するための説明図である。 6……検出ヘツド、8……ロボツト、10……
第2の調整機構、13……第1の調整機構、15
……レーザ発生器、16……検出器、17……欠
陥マーカ、19,25……駆動モータ、30……
自動車用ドアパネル(被検査物)、30a……塗
装面(被検査面)、31……スクリーン、33…
…カメラ部、33a……集光レンズ、33b……
ビームスプリツタ、40a〜43a……センサ駆
動回路、40b……2値化回路、41b〜43b
……位置カウンタ、44……制御ユニツト、45
……第1のマイクロコンピユータ、46……第2
のマイクロコンピユータ、50,51……サーボ
アンプ、53……電磁弁、H0……欠陥検出用ラ
インセンサ、H1,H2,H3……補正用ラインセン
サ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検査物の表面にレーザスリツト光を投射し
    てその反射光を拡散板によるスクリーン上に投影
    し、そのスリツト状の散乱光をラインセンサによ
    つて検出することによつて前記被検査物の表面の
    欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、 前記スクリーンからのスリツト状の散乱光を2
    方向に分光するビームスプリツタを設け、このビ
    ームスプリツタによる第1のスリツト状分光を検
    出する欠陥検出用ラインセンサをそのスリツト方
    向に沿つて配置し、前記ビームスプリツタによる
    第2のスリツト状分光との交差位置を検出する3
    個以上の補正用ラインセンサを間隔を置いて互い
    に平行に配置すると共に、この各補正用ラインセ
    ンサによる検出位置データから前記被検査物の表
    面形状の曲率を算出して、その曲率に応じて前記
    欠陥検出用ラインセンサの検出幅を変更する手段
    を設けたことを特徴とする表面欠陥検査装置。
JP61103084A 1986-05-07 1986-05-07 表面欠陥検査装置 Granted JPS62261006A (ja)

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