JPH0577036B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0577036B2 JPH0577036B2 JP14946786A JP14946786A JPH0577036B2 JP H0577036 B2 JPH0577036 B2 JP H0577036B2 JP 14946786 A JP14946786 A JP 14946786A JP 14946786 A JP14946786 A JP 14946786A JP H0577036 B2 JPH0577036 B2 JP H0577036B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- discrimination level
- height analyzer
- radiation
- wave height
- gate signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の属する技術分野］
本発明は、試験器としてマルチチヤンネル波高
分析器を適用して、スケーラおよびレートメータ
等の放射線計測器のデイスクリミネーシヨンレベ
ルを画像的に、迅速に、精度よく設定し得るデイ
スクリミネーシヨンレベル設定装置に関する。
分析器を適用して、スケーラおよびレートメータ
等の放射線計測器のデイスクリミネーシヨンレベ
ルを画像的に、迅速に、精度よく設定し得るデイ
スクリミネーシヨンレベル設定装置に関する。
［従来技術とその問題点］
デイスクリミネーシヨンレベルは、放射線を精
度よく計数測定するために、従来次のような方法
で設定されていた。すなわち、第３図に示すよう
に、放射線計測器４内デイスクリミネータ６のレ
ベル設定器６Ａを単位ステツプで可変し、それぞ
れのステツプ毎の計数値を計数回路７にて測定す
る。この計数値をグラフにプロツトし、このグラ
フ上から、レベル設定器６Ａの特性を求めて、必
要なデイスクリミネーシヨンレベルに設定してい
た。なお、１は放射線源、２は放射線検出器、３
はプリアンプ、５はメンアンプ、７は計数回路で
ある。
度よく計数測定するために、従来次のような方法
で設定されていた。すなわち、第３図に示すよう
に、放射線計測器４内デイスクリミネータ６のレ
ベル設定器６Ａを単位ステツプで可変し、それぞ
れのステツプ毎の計数値を計数回路７にて測定す
る。この計数値をグラフにプロツトし、このグラ
フ上から、レベル設定器６Ａの特性を求めて、必
要なデイスクリミネーシヨンレベルに設定してい
た。なお、１は放射線源、２は放射線検出器、３
はプリアンプ、５はメンアンプ、７は計数回路で
ある。
また、検出器２からの出力信号値を予めオシロ
スコープで測定し、その必要値を基準として、電
気的に模擬信号を入力して、デイスクリミネーシ
ヨンレベルに設定していた。
スコープで測定し、その必要値を基準として、電
気的に模擬信号を入力して、デイスクリミネーシ
ヨンレベルに設定していた。
このような設定方法は、いずれも多数の測定箇
所のデイスクリミネーシヨンレベルを設定するた
めには、設定に要する時間がかかり過ぎることお
よびその設定が精度が約±10％程度で極めて悪い
等の問題があつた。
所のデイスクリミネーシヨンレベルを設定するた
めには、設定に要する時間がかかり過ぎることお
よびその設定が精度が約±10％程度で極めて悪い
等の問題があつた。
［発明の目的］
本発明は、上述の点に鑑み、従来技術の問題点
を有効に解決し、その設定時間が短縮され、しか
も設定精度が向上するデイスクリミネーシヨンレ
ベル設定装置を提供することを目的とする。
を有効に解決し、その設定時間が短縮され、しか
も設定精度が向上するデイスクリミネーシヨンレ
ベル設定装置を提供することを目的とする。
［発明の要点］
このように目的を達成するためには、本考案
は、放射線計測器のデイスクリミネータ出力がゲ
ート信号として入力されるマルチチヤンネル波高
分析器を備え、前記ゲート信号が同時計数または
非同時計数に切替えられて、前記マルチチヤンネ
ル波高分析器の放射線エネルギスペクトルのチヤ
ンネル数にてデイスクリミネーシヨンレベルが画
像的に設定されることを特徴とする。
は、放射線計測器のデイスクリミネータ出力がゲ
ート信号として入力されるマルチチヤンネル波高
分析器を備え、前記ゲート信号が同時計数または
非同時計数に切替えられて、前記マルチチヤンネ
ル波高分析器の放射線エネルギスペクトルのチヤ
ンネル数にてデイスクリミネーシヨンレベルが画
像的に設定されることを特徴とする。
なお、本発明の一実施態様によれば、マルチチ
ヤンネル波高分析器のデイスクリミネーシヨンレ
ベルの設定値を出力して数値的に記憶し得る。
ヤンネル波高分析器のデイスクリミネーシヨンレ
ベルの設定値を出力して数値的に記憶し得る。
［発明の実施例］
次に、本発明の実施例を図面に基づき、詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の一実施例の概略構成図、第２
図は第１図により放射線エネルギスペクトル図を
示し、(A)はゲート信号のない場合、(B)はゲート信
号が同時計数の場合、(C)はゲート信号が非同時計
数を場合を示す。第１図および第２図において第
３図と同一の機能を有する部分には、同一の符号
が付されている。デイスクリミネーシヨンレベル
設定装置１００は、放射線計測器４に試験器とし
て接続されるマルチチヤンネル波高分析器８およ
びこの分析器８に接続するプリンタ９とから構成
される。
図は第１図により放射線エネルギスペクトル図を
示し、(A)はゲート信号のない場合、(B)はゲート信
号が同時計数の場合、(C)はゲート信号が非同時計
数を場合を示す。第１図および第２図において第
３図と同一の機能を有する部分には、同一の符号
が付されている。デイスクリミネーシヨンレベル
設定装置１００は、放射線計測器４に試験器とし
て接続されるマルチチヤンネル波高分析器８およ
びこの分析器８に接続するプリンタ９とから構成
される。
このような構成により、デイスクリミネータ６
に設けられたデデイスクリミネーシヨンレベル設
定器６Ａを可変すると、計数回路７の計数値が変
化する。それ故に、デイスクリミネーシヨンレベ
ル設定値が放射線エネルギースペクトル上でどの
位置に設定されているかを識別できることは、放
射線計測上極めて重要で、デイスクリミネータ６
の出力信号Doをゲートし号としてマルチチヤン
ネル波高分析器８に入力する。一方、プリアンプ
３からの入力信号Ipにより計数された放射線エネ
ルギースペクトルRsが、第２図Ａに示すように
マルチチヤンネル波高分析器８上に表示される。
この際、第２図Ｂ，Ｃに示すように、ゲート信号
のモードを同時計数および非同時数に切替えるこ
とにより、この放射線エネルギスペクトルRsの
チヤンネル数から、デイスクリミネーシヨンレベ
ルDLを明瞭に直視できる。それ故に、このデイ
スクリミネーシヨンレベルDLを直視しながら、
デイスクミリネータ設定器６Ａを操作すれば、デ
イスクリミネーシヨンレベルDLは、画像的に正
確に、短時間で、設定される。本発明の装置によ
れば、デイスクリミネーシヨンレベルの設定精度
は±１％以下となり、しかも設定に要する時間は
従来技術に較べて1/30以下に短縮される。
に設けられたデデイスクリミネーシヨンレベル設
定器６Ａを可変すると、計数回路７の計数値が変
化する。それ故に、デイスクリミネーシヨンレベ
ル設定値が放射線エネルギースペクトル上でどの
位置に設定されているかを識別できることは、放
射線計測上極めて重要で、デイスクリミネータ６
の出力信号Doをゲートし号としてマルチチヤン
ネル波高分析器８に入力する。一方、プリアンプ
３からの入力信号Ipにより計数された放射線エネ
ルギースペクトルRsが、第２図Ａに示すように
マルチチヤンネル波高分析器８上に表示される。
この際、第２図Ｂ，Ｃに示すように、ゲート信号
のモードを同時計数および非同時数に切替えるこ
とにより、この放射線エネルギスペクトルRsの
チヤンネル数から、デイスクリミネーシヨンレベ
ルDLを明瞭に直視できる。それ故に、このデイ
スクリミネーシヨンレベルDLを直視しながら、
デイスクミリネータ設定器６Ａを操作すれば、デ
イスクリミネーシヨンレベルDLは、画像的に正
確に、短時間で、設定される。本発明の装置によ
れば、デイスクリミネーシヨンレベルの設定精度
は±１％以下となり、しかも設定に要する時間は
従来技術に較べて1/30以下に短縮される。
なお、マルチチヤンネル波高分析器８に接続さ
れるプリンタ９により、設定されたデイスクリミ
ネーシヨンレベルDLを数値的に記録することが
できる。
れるプリンタ９により、設定されたデイスクリミ
ネーシヨンレベルDLを数値的に記録することが
できる。
［発明の効果］
以上に説明するように、本発明は、放射線計測
器のデイスクリミネーシヨンレベルを設定する際
に、マルチチヤンネル波高分析器を試験器として
適用することにより、従来技術の問題点が有効に
解決され、放射線エネルギスペクトルを直視しな
がら、デイスクリミネーシヨンレベルを画像的に
かつ数値的に設定することが可能となり、設定精
度が向上し、設定時間が短縮され、しかもその設
定値が出力され記録される等の効果を奏する。
器のデイスクリミネーシヨンレベルを設定する際
に、マルチチヤンネル波高分析器を試験器として
適用することにより、従来技術の問題点が有効に
解決され、放射線エネルギスペクトルを直視しな
がら、デイスクリミネーシヨンレベルを画像的に
かつ数値的に設定することが可能となり、設定精
度が向上し、設定時間が短縮され、しかもその設
定値が出力され記録される等の効果を奏する。
第１図は本発明の一実施例の概略構成図、第２
図は第１図における放射線エネルギスペクトル図
を示し、同図Ａはゲート信号のない場合、同図Ｂ
はゲート信号が同時計数の場合、同図Ｃはゲート
信号が非同時計数の場合、第３図は従来の放射線
計測器のブロツク図である。 ４：放射線計測器、５：メインアンプ、６：デ
イスクリミネータ、６Ａ：デイスクリミネーシヨ
ンレベル設定器、７：計数回路、８：マルチチヤ
ンネル波高分析器、９：プリンタ、１００：デイ
スクリミネーシヨンレベル設定装置、DL：デイ
スクリミネーシヨンレベル、Do：デイスクリミ
ネーシヨンレベル出力信号、Ip：入力信号、
Rs：放射線エネルギスペクトル。
図は第１図における放射線エネルギスペクトル図
を示し、同図Ａはゲート信号のない場合、同図Ｂ
はゲート信号が同時計数の場合、同図Ｃはゲート
信号が非同時計数の場合、第３図は従来の放射線
計測器のブロツク図である。 ４：放射線計測器、５：メインアンプ、６：デ
イスクリミネータ、６Ａ：デイスクリミネーシヨ
ンレベル設定器、７：計数回路、８：マルチチヤ
ンネル波高分析器、９：プリンタ、１００：デイ
スクリミネーシヨンレベル設定装置、DL：デイ
スクリミネーシヨンレベル、Do：デイスクリミ
ネーシヨンレベル出力信号、Ip：入力信号、
Rs：放射線エネルギスペクトル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 放射線計測器のデイスクリミネータ出力がゲ
ート信号として入力されるマルチチヤンネル波高
分析器を備え、前記ゲート信号のモードが同時計
数および非同時計数に切替えられて、前記マルチ
チヤンネル波高分析器の放射線エネルギスペクト
ルのチヤンネル数からデイスクリミネーシヨンレ
ベルが画像的に設定されることを特徴とするデイ
スクリミネーシヨンレベル設定装置。 ２ 特許請求の範囲第１項に記載のデイスクリミ
ネーシヨンレベル設定装置において、マルチチヤ
ンネル波高分析器のデイスクリミネーシヨンレベ
ルの設定値を出力して数値的に記憶し得ることを
特徴とするデイスクリミネーシヨンレベル設定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14946786A JPS636485A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | デイスクリミネ−シヨンレベル設定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14946786A JPS636485A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | デイスクリミネ−シヨンレベル設定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS636485A JPS636485A (ja) | 1988-01-12 |
| JPH0577036B2 true JPH0577036B2 (ja) | 1993-10-25 |
Family
ID=15475774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14946786A Granted JPS636485A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | デイスクリミネ−シヨンレベル設定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS636485A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0751709B2 (ja) * | 1991-07-16 | 1995-06-05 | 出光興産株式会社 | 石油系炭化水素の接触分解法 |
| FR2734062B1 (fr) * | 1995-05-11 | 1997-06-13 | Commissariat Energie Atomique | Systeme et procede de validation du signal de detection d'une chaine de mesure a large bande de rayonnements nucleaires |
-
1986
- 1986-06-27 JP JP14946786A patent/JPS636485A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS636485A (ja) | 1988-01-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4130796A (en) | Calibrating and measuring circuit for a capacitive probe-type instrument | |
| US4779045A (en) | Automatic peak-to-peak amplitude measurement system | |
| CN109444187A (zh) | 康普顿散射实验仿真系统及仿真方法 | |
| JPH0577036B2 (ja) | ||
| US3657646A (en) | Method and apparatus of automatic estimation of nonregular curves, especially electromiographic curves and the digital system for realization of the method | |
| JPH0695118B2 (ja) | カウンタ装置 | |
| JP3332596B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
| US4151412A (en) | Method and apparatus for automatic spectrum scanning in a proportional counter | |
| US4322617A (en) | Method and apparatus for calibrating a gamma counter | |
| US3222598A (en) | Electroencephalograph wave analyzer | |
| RU2123190C1 (ru) | Способ определения метрологических характеристик однотипных средств измерений в группе | |
| JPH01169378A (ja) | 部分放電測定装置のデータ収集装置 | |
| US3691386A (en) | Data processing system employing quench simulation for enabling accurate computation of sample activity levels in liquid scintillation spectrometry | |
| SU849478A1 (ru) | Селектор импульсов | |
| RU2198410C2 (ru) | Многоканальное устройство для измерения среднеквадратического значения напряжения | |
| JPS6154488A (ja) | ライブタイム測定方法 | |
| JPH0396872A (ja) | コイル試験方法とその方法に用いる装置 | |
| JPS6223269B2 (ja) | ||
| JPS61201173A (ja) | 磁気デイスク特性測定装置 | |
| SU647616A1 (ru) | Способ компенсации искажений амплитудного спектра в многоканальном анализаторе и устройство дл его осуществлени | |
| SU1578765A1 (ru) | Цифрова измерительна система дл контрол параметров магнитофонов | |
| JPS631247Y2 (ja) | ||
| SU871111A1 (ru) | Способ проверки и градуировки высокочастотных вольтметров | |
| CA1163022A (en) | Apparatus for recording pulse height distribution in a fluorescent x-ray film thickness meter | |
| JPS63298087A (ja) | 計数率補正装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |