JPH0579950U

JPH0579950U - 複数のｉｃソケットの列を移動するｉｃテスタ

Info

Publication number: JPH0579950U
Application number: JP2657692U
Authority: JP
Inventors: 祐司野本
Original assignee: 安藤電気株式会社
Priority date: 1992-03-31
Filing date: 1992-03-31
Publication date: 1993-10-29

Abstract

(57)【要約】【目的】ＩＣソケット１Ａの列に挿入されたＩＣをコ
ンタクトプローブ３で測定中に、ＩＣソケット１Ｂの列
に挿入されたＩＣを入れ換える。【構成】複数のＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列は距離Ｌ
で配置される。ＩＣソケット基板２はＩＣソケット１Ａ
・１Ｂの列を載せ、上位置と下位置の距離Ｈの間を昇降
する。ＩＣソケット基板２には測定信号が供給される。
コンタクトプローブ３はＩＣソケット基板２が上位置の
ときはＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列とは非接続であり、
下位置のときはＩＣソケット１Ａの列またはＩＣソケッ
ト１Ｂの列に接続される。水平移動機構４はＩＣソケッ
ト基板２を移動し、ＩＣソケット１Ａの列またはＩＣソ
ケット１Ｂの列をコンタクトプローブ３の上に移動させ
る。垂直移動機構５はＩＣソケット基板２を上位置と下
位置に移動させる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、複数のＩＣソケットの列にＩＣを挿入し、ＩＣソケットの列を交互に水平に移動し、昇降してコンタクトプローブに接触させ、コンタクトプローブに供給される測定信号でＩＣを測定するＩＣテスタについてのものである。

【０００２】従来技術では、ＩＣ測定の能率をあげるために、複数のＩＣソケットにＩＣを挿入し、複数のＩＣソケットに複数のコンタクトプローブを接触させて複数のＩＣを同時に測定する。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

従来技術によれば、複数のＩＣを同時に測定することはできるが、ＩＣソケットにＩＣを装着したり、ＩＣソケットからＩＣを取出している間は、ＩＣを測定ができない。この考案は、複数のＩＣソケットの列にＩＣを挿入し、ＩＣソケットの列を交互に水平に移動し昇降させてコンタクトプローブに接触させ、第１列のＩＣソケットに挿入されたＩＣをコンタクトプローブで測定中に第２列のＩＣソケットに挿入されたＩＣを入れ換えられるＩＣテスタの提供を目的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】

この目的を達成するために、この考案では、距離Ｌで配置されるＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列と、ＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列を載せ、上位置と下位置の距離Ｈの間を昇降するＩＣソケット基板２と、測定信号が供給され、ＩＣソケット基板２が上位置のときはＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列に非接続であり、下位置のときはＩＣソケット１Ａの列またはＩＣソケット１Ｂの列に接続されるコンタクトプローブ３と、ＩＣソケット基板２を移動し、ＩＣソケット１Ａの列またはＩＣソケット１Ｂの列をコンタクトプローブ３の上に移動させる水平移動機構４と、ＩＣソケット基板２を上位置と下位置に移動させる垂直移動機構５とを備える。

【０００５】

【作用】

次に、この考案によるＩＣテスタの構成を図１により説明する。図１の１Ａと１ＢはＩＣソケットの列、２はＩＣソケット基板、３はコンタクトプローブ、４は水平移動機構、５は垂直移動機構である。ＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列は距離Ｌで配置される。ＩＣソケット基板２はＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列を載せ、後述のように上位置と下位置の距離Ｈの間を昇降する。ＩＣソケット基板２には図示を省略した測定器から測定信号が供給される。

【０００６】コンタクトプローブ３はＩＣソケット基板２が上位置のときはＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列とは非接続であり、下位置のときはＩＣソケット１Ａの列またはＩＣソケット１Ｂの列と接続される。水平移動機構４はＩＣソケット基板２を移動し、ＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列をコンタクトプローブ３の上に移動させる。垂直移動機構５はＩＣソケット基板２を上位置と下位置に移動させる。図１ではＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列として２個のＩＣソケットが例示されているが、ＩＣソケットの数を増やしてもよい。なお、ＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列の他に別のＩＣソケットの列を設けてもよい。

【０００７】次に、図１の作用を図２により説明する。図２アは、水平移動機構４でコンタクトプローブ３の上にＩＣソケット１Ａの列を移動し、垂直移動機構５でＩＣソケット基板２を上位置に移動した状態図である。ＩＣソケット１Ａ・１Ｂの列は紙面に垂直方向に配置される。

【０００８】図２イは、図２アの状態から垂直移動機構５によりＩＣソケット基板２を下位置に移動し、ＩＣソケット１Ａの列とコンタクトプローブ３を接続した状態図である。図２アのＩＣソケット基板２の位置と図２イのＩＣソケット基板２の位置の間が距離Ｈである。図２イの状態でＩＣソケット１Ａの列に挿入されたＩＣを試験する。ＩＣソケット１Ｂの列はコンタクトプローブ３に接続されていないので、ＩＣソケット１Ｂの列に挿入されて試験済みのＩＣをＩＣソケット１Ｂの列から抜き取ったり、これから試験するＩＣをＩＣソケット１Ｂの列に挿入したりする。

【０００９】図２ウは、図２イの状態でＩＣソケット１Ａの列に挿入されたＩＣの測定終了後、垂直移動機構５によりＩＣソケット基板２を下位置から上位置に上昇し、水平移動機構４によりＩＣソケット基板２を移動し、ＩＣソケット１Ｂの列をコンタクトプローブ３の上に移動させた状態図である。

【００１０】図２エは、図２ウの状態からＩＣソケット基板２を下位置に移動し、ＩＣソケット１Ｂの列とコンタクトプローブ３を接続した状態図である。図２エの状態でＩＣソケット１Ｂの列に挿入されたＩＣを試験する。図２エではＩＣソケット１Ａの列はコンタクトプローブ３に接続されていないので、ＩＣソケット１Ａの列に挿入されて試験済みのＩＣをＩＣソケット１Ａの列から抜き取ったり、これから試験するＩＣをＩＣソケット１Ａの列に挿入したりする。

【００１１】

【考案の効果】

この考案によれば、複数のＩＣソケットの列にＩＣを挿入し、ＩＣソケットの列を交互に移動し昇降させてコンタクトプローブに接触させ、第１列のＩＣソケットに挿入されたＩＣをコンタクトプローブで測定中に第２列のＩＣソケットに挿入されたＩＣを入れ換えることができるので、ＩＣ測定の能率を上げることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案によるＩＣテスタの構成図である。

【図２】図１の作用説明図である。

【符号の説明】

１ＡＩＣソケットの列１ＢＩＣソケットの列２ＩＣソケット基板３コンタクトプローブ４水平移動機構５垂直移動機構

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】距離Ｌで配置されるＩＣソケット(1A)・
(1B)の列と、ＩＣソケット(1A)・(1B)の列を載せ、上位置と下位置の
距離Ｈの間を昇降するＩＣソケット基板(2) と、測定信号が供給され、ＩＣソケット基板(2) が上位置の
ときはＩＣソケット(1A)・(1B)の列に非接続であり、下
位置のときはＩＣソケット(1A)の列またはＩＣソケット
(1B)の列に接続されるコンタクトプローブ(3) と、ＩＣソケット基板(2) を移動し、ＩＣソケット(1A)の列
またはＩＣソケット(1B)の列をコンタクトプローブ(3)
の上に移動させる水平移動機構(4) と、ＩＣソケット基板(2) を上位置と下位置に移動させる垂
直移動機構(5) とを備えることを特徴とする複数のＩＣ
ソケットの列を移動するＩＣテスタ。