JPH0580041A - クロマトグラフ用データ処理装置 - Google Patents
クロマトグラフ用データ処理装置Info
- Publication number
- JPH0580041A JPH0580041A JP24218291A JP24218291A JPH0580041A JP H0580041 A JPH0580041 A JP H0580041A JP 24218291 A JP24218291 A JP 24218291A JP 24218291 A JP24218291 A JP 24218291A JP H0580041 A JPH0580041 A JP H0580041A
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- Japan
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- Pending
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 標準保持時間を自動的に校正することのでき
るクロマトグラフ用データ処理装置を提供する。 【構成】 同定ピークの保持時間ｔoi，ピーク振幅値ａ
oi，成分濃度ｃoiからなる基準データを記憶する基準デ
ータ記憶手段（ＳＴ１）と、未知試料の分析に先立っ
て、成分濃度ｃj が既知である標準試料について、ピー
クの保持時間ｔj ，ピーク振幅値ａj を求めるデータ検
出手段（ＳＴ２）と、このデータ検出手段の求めた二次
元情報（ｔj ，ａj ）と、前記基準データ記憶手段の基
準データを基にして、標準試料についてのピーク同定を
行うピーク同定手段（ＳＴ３）と、このピーク同定手段
によって同定された各ピークの保持時間ｔj により、前
記基準データ記憶手段の標準保持時間ｔoiを自動的に校
正する自動校正手段（ＳＴ４）とを備える。
るクロマトグラフ用データ処理装置を提供する。 【構成】 同定ピークの保持時間ｔoi，ピーク振幅値ａ
oi，成分濃度ｃoiからなる基準データを記憶する基準デ
ータ記憶手段（ＳＴ１）と、未知試料の分析に先立っ
て、成分濃度ｃj が既知である標準試料について、ピー
クの保持時間ｔj ，ピーク振幅値ａj を求めるデータ検
出手段（ＳＴ２）と、このデータ検出手段の求めた二次
元情報（ｔj ，ａj ）と、前記基準データ記憶手段の基
準データを基にして、標準試料についてのピーク同定を
行うピーク同定手段（ＳＴ３）と、このピーク同定手段
によって同定された各ピークの保持時間ｔj により、前
記基準データ記憶手段の標準保持時間ｔoiを自動的に校
正する自動校正手段（ＳＴ４）とを備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ガスクロマトグラフ
や液体クロマトグラフ等を用いた化学分析装置に関す
る。
や液体クロマトグラフ等を用いた化学分析装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ガスクロマトグラフィーや液体クロマト
グラフィーにおけるピークの同定は、予め記憶されてい
るデータによって各ピークが出現するだろう予想時間
（標準保持時間ｔoi）と同定許容幅を定め、この同定許
容幅の中に存するピークを検出することにより行われ
る。
グラフィーにおけるピークの同定は、予め記憶されてい
るデータによって各ピークが出現するだろう予想時間
（標準保持時間ｔoi）と同定許容幅を定め、この同定許
容幅の中に存するピークを検出することにより行われ
る。
【０００３】ところが、カラムの劣化や分析条件の変動
によっては、ピークの出現時間がズレることがある。か
かる場合は、上記標準保持時間や同定許容幅などを適宜
に修正して目的ピークを正確に同定する必要がある。
によっては、ピークの出現時間がズレることがある。か
かる場合は、上記標準保持時間や同定許容幅などを適宜
に修正して目的ピークを正確に同定する必要がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の装置で
は、標準保持時間を正確に修正する手段がなく、そのた
め、実際に未知試料を分析する段階において、人間の判
断が必要となるなど極めて煩雑であり、また、ピーク同
定に客観性を欠く恐れもあった。この発明は、この問題
点に着目してなされたものであって、標準保持時間を自
動的に校正することのできるクロマトグラフ用データ処
理装置を提供することを目的とする。
は、標準保持時間を正確に修正する手段がなく、そのた
め、実際に未知試料を分析する段階において、人間の判
断が必要となるなど極めて煩雑であり、また、ピーク同
定に客観性を欠く恐れもあった。この発明は、この問題
点に着目してなされたものであって、標準保持時間を自
動的に校正することのできるクロマトグラフ用データ処
理装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決する
為、この発明に係るクロマトグラフ用データ処理装置
は、同定ピークの保持時間ｔoi，ピーク振幅値またはピ
ーク面積値ａoi，成分濃度ｃoiからなる基準データを記
憶する基準データ記憶手段と、未知試料の分析に先立っ
て、成分濃度ｃj が既知である標準試料について、ピー
クの保持時間ｔj ，ピーク振幅値またはピーク面積値ａ
j を求めるデータ検出手段と、このデータ検出手段の求
めた前記二次元情報（ｔj ，ａj ）と、前記基準データ
記憶手段の基準データを基にして、標準試料についての
ピーク同定を行うピーク同定手段と、このピーク同定手
段によって同定された各ピークの保持時間ｔj により、
前記基準データ記憶手段の標準保持時間ｔoiを自動的に
校正する自動校正手段とを備えている。
為、この発明に係るクロマトグラフ用データ処理装置
は、同定ピークの保持時間ｔoi，ピーク振幅値またはピ
ーク面積値ａoi，成分濃度ｃoiからなる基準データを記
憶する基準データ記憶手段と、未知試料の分析に先立っ
て、成分濃度ｃj が既知である標準試料について、ピー
クの保持時間ｔj ，ピーク振幅値またはピーク面積値ａ
j を求めるデータ検出手段と、このデータ検出手段の求
めた前記二次元情報（ｔj ，ａj ）と、前記基準データ
記憶手段の基準データを基にして、標準試料についての
ピーク同定を行うピーク同定手段と、このピーク同定手
段によって同定された各ピークの保持時間ｔj により、
前記基準データ記憶手段の標準保持時間ｔoiを自動的に
校正する自動校正手段とを備えている。
【０００６】
【作用】基準データ記憶手段は、基準試料について、同
定ピークの保持時間ｔoi，ピーク振幅値またはピーク面
積値ａoi，成分濃度ｃoi（ｉ＝１〜ｎ）からなる基準デ
ータを記憶している。なお、ｎは最大同定ピーク数であ
る。データ検出手段は、未知試料の分析に先立って、成
分濃度ｃj が既知である標準試料について、ピークの保
持時間ｔj ，ピーク振幅値またはピーク面積値ａj （ｊ
＝１〜Ｎ）を求める。なお、Ｎは最大検出ピーク数であ
る。
定ピークの保持時間ｔoi，ピーク振幅値またはピーク面
積値ａoi，成分濃度ｃoi（ｉ＝１〜ｎ）からなる基準デ
ータを記憶している。なお、ｎは最大同定ピーク数であ
る。データ検出手段は、未知試料の分析に先立って、成
分濃度ｃj が既知である標準試料について、ピークの保
持時間ｔj ，ピーク振幅値またはピーク面積値ａj （ｊ
＝１〜Ｎ）を求める。なお、Ｎは最大検出ピーク数であ
る。
【０００７】ピーク同定手段は、このデータ検出手段に
よる二次元情報（ｔj ，ａj ）と前記基準データ記憶手
段のデータ（ｔoi，ａoi，ｃoi）を基にして標準試料に
ついてのピーク同定を行う。自動校正手段は、このピー
ク同定手段によって同定されたピークの保持時間ｔ j に
より、前記基準データ記憶手段の標準保持時間ｔoiを自
動的に校正する。
よる二次元情報（ｔj ，ａj ）と前記基準データ記憶手
段のデータ（ｔoi，ａoi，ｃoi）を基にして標準試料に
ついてのピーク同定を行う。自動校正手段は、このピー
ク同定手段によって同定されたピークの保持時間ｔ j に
より、前記基準データ記憶手段の標準保持時間ｔoiを自
動的に校正する。
【０００８】そして、自動的に校正された標準保持時間
を用いて、その後の未知試料の分析をするので、この発
明に係るデータ分析装置は、分析精度が高い。
を用いて、その後の未知試料の分析をするので、この発
明に係るデータ分析装置は、分析精度が高い。
【０００９】
【実施例】図１は、この発明に係るデータ処理装置の一
実施例を示す回路ブロック図である。この装置は、この
装置全体の動作を制御し、後述する種々の演算を行うＣ
ＰＵ１と、クロマトグラム信号を受けるＡ／Ｄコンバー
タ２と、Ａ／Ｄコンバータ２からのデータ等を記憶する
ＲＡＭ３と、分析結果等を表示するＣＲＴ４及びプリン
タ５と、この装置の処理内容等を指示する為のキーボー
ド６と、この装置の処理プログラム等を記憶するＲＯＭ
７と、後述する種々の処理に必要なデータ等を記憶する
外部メモリ８とで構成されている。
実施例を示す回路ブロック図である。この装置は、この
装置全体の動作を制御し、後述する種々の演算を行うＣ
ＰＵ１と、クロマトグラム信号を受けるＡ／Ｄコンバー
タ２と、Ａ／Ｄコンバータ２からのデータ等を記憶する
ＲＡＭ３と、分析結果等を表示するＣＲＴ４及びプリン
タ５と、この装置の処理内容等を指示する為のキーボー
ド６と、この装置の処理プログラム等を記憶するＲＯＭ
７と、後述する種々の処理に必要なデータ等を記憶する
外部メモリ８とで構成されている。
【００１０】以下、この装置が標準保持時間を自動的に
校正をする動作を、図２のフローチャートに従って説明
する。 〔基準データを記憶する〕（ステップＳＴ（以下ＳＴと
略す）１）。 先ず、同定ピークの基準データを作成する必要があるの
で、ＣＰＵ１は、成分濃度が既知の基準試料についての
分析を行う。そして、各ピークの保持時間ｔoi、ピーク
振幅値またはピーク面積値ａoi、及び成分濃度ｃoiから
なる基準データＤREF を、例えば外部メモリ８に記憶す
る。 ＤREF ＝｛（ｔoi，ａoi，ｃoi）｝ （ｉ＝１〜ｎ） 〔標準試料を分析する〕（ＳＴ２）。
校正をする動作を、図２のフローチャートに従って説明
する。 〔基準データを記憶する〕（ステップＳＴ（以下ＳＴと
略す）１）。 先ず、同定ピークの基準データを作成する必要があるの
で、ＣＰＵ１は、成分濃度が既知の基準試料についての
分析を行う。そして、各ピークの保持時間ｔoi、ピーク
振幅値またはピーク面積値ａoi、及び成分濃度ｃoiから
なる基準データＤREF を、例えば外部メモリ８に記憶す
る。 ＤREF ＝｛（ｔoi，ａoi，ｃoi）｝ （ｉ＝１〜ｎ） 〔標準試料を分析する〕（ＳＴ２）。
【００１１】未知試料の分析に先立って、成分濃度が既
知の標準試料の分析を行い、各ピークの保持時間ｔ
j と、ピーク振幅値またはピーク面積値ａj とを求め
る。尚、このときの成分濃度は、前記基準データを求め
る場合の成分濃度と同一である必要はない。 ＤSTD ＝｛（ｔj ，ａj ）｝ （ｊ＝１〜Ｎ） 尚、図２は、標準試料についてのクロマトグラム信号の
一例を図示したものである。
知の標準試料の分析を行い、各ピークの保持時間ｔ
j と、ピーク振幅値またはピーク面積値ａj とを求め
る。尚、このときの成分濃度は、前記基準データを求め
る場合の成分濃度と同一である必要はない。 ＤSTD ＝｛（ｔj ，ａj ）｝ （ｊ＝１〜Ｎ） 尚、図２は、標準試料についてのクロマトグラム信号の
一例を図示したものである。
【００１２】〔各成分を同定する〕（ＳＴ３）。 続いて、処理２で求めた標準試料についてのデータＤ
STD ＝｛（ｔj ，ａj ）｝と、基準データＤREF ＝
｛（ｔoi，ａoi，ｃoi）｝の照合によって、各成分の同
定を行う。以下、基準データＤREF ＝｛（ｔoi，ａoi，
ｃoi）｝のうち、成分Ｘに対する基準データが（ｔOX，
ａOX，ｃOX）であり、標準試料の分析時（ＳＴ２）にお
ける成分Ｘの濃度がＣX であるとして、成分Ｘについて
の同定処理を説明する。つまり、ＣX ＝ｋｃOX （ｋは
比例定数）とする。
STD ＝｛（ｔj ，ａj ）｝と、基準データＤREF ＝
｛（ｔoi，ａoi，ｃoi）｝の照合によって、各成分の同
定を行う。以下、基準データＤREF ＝｛（ｔoi，ａoi，
ｃoi）｝のうち、成分Ｘに対する基準データが（ｔOX，
ａOX，ｃOX）であり、標準試料の分析時（ＳＴ２）にお
ける成分Ｘの濃度がＣX であるとして、成分Ｘについて
の同定処理を説明する。つまり、ＣX ＝ｋｃOX （ｋは
比例定数）とする。
【００１３】ピーク振幅値またはピーク面積値ＡX は、
成分濃度ＣX に比例すると考えられるので、成分Ｘにつ
いてのピークは、標準保持時間ｔOX，ピーク振幅値ＡX
（ここで、ＡX ＝ｋａOX） の近傍に出現するはずであ
る（図３の斜線部参照）。そこで、標準保持時間ｔOXを
中心とした同定許容幅と、ピーク振幅値ＡX を中心とし
た一定幅の範囲内のピークを、成分Ｘに対するピークで
あると同定する。つまり、図３の斜線部の中に含まれる
ピーク（保持時間ｔX ，ピーク振幅値ａX ）が、成分Ｘ
についてのピークと同定される。
成分濃度ＣX に比例すると考えられるので、成分Ｘにつ
いてのピークは、標準保持時間ｔOX，ピーク振幅値ＡX
（ここで、ＡX ＝ｋａOX） の近傍に出現するはずであ
る（図３の斜線部参照）。そこで、標準保持時間ｔOXを
中心とした同定許容幅と、ピーク振幅値ＡX を中心とし
た一定幅の範囲内のピークを、成分Ｘに対するピークで
あると同定する。つまり、図３の斜線部の中に含まれる
ピーク（保持時間ｔX ，ピーク振幅値ａX ）が、成分Ｘ
についてのピークと同定される。
【００１４】この同定処理においては、従来技術と異な
り、保持時間ｔOXとピーク値ＡX の二次元情報によって
ピーク同定を行うので、正確に目的ピークを捉えること
ができる。また、ある程度同定許容幅を広くとっても、
正確に目的ピークを捉えることができる。 〔標準保持時間を校正する〕（ＳＴ４）。
り、保持時間ｔOXとピーク値ＡX の二次元情報によって
ピーク同定を行うので、正確に目的ピークを捉えること
ができる。また、ある程度同定許容幅を広くとっても、
正確に目的ピークを捉えることができる。 〔標準保持時間を校正する〕（ＳＴ４）。
【００１５】上記ＳＴ３の標準試料の分析によって得た
同定ピークの保持時間は、次に分析する未知試料の同定
ピークの標準保持時間として採用するに充分な根拠があ
る。つまり、ＳＴ３で求まるデータは、カラムの劣化や
分析条件の変動を正確に反映したデータである。そこ
で、ＳＴ１で求めた標準保持時間ｔoiを、ＳＴ２，ＳＴ
３で求めた分析結果を用いて自動的に校正する。具体的
には、例えば成分Ｘについての標準保持時間ｔOXを、Ｓ
Ｔ３で同定されたピークについての保持時間ｔX に修正
する。
同定ピークの保持時間は、次に分析する未知試料の同定
ピークの標準保持時間として採用するに充分な根拠があ
る。つまり、ＳＴ３で求まるデータは、カラムの劣化や
分析条件の変動を正確に反映したデータである。そこ
で、ＳＴ１で求めた標準保持時間ｔoiを、ＳＴ２，ＳＴ
３で求めた分析結果を用いて自動的に校正する。具体的
には、例えば成分Ｘについての標準保持時間ｔOXを、Ｓ
Ｔ３で同定されたピークについての保持時間ｔX に修正
する。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、この発明に係るデ
ータ処理装置では、未知試料の分析に先立って基準デー
タと標準試料の分析をして、標準保持時間を自動的に校
正している。従って、操作者の主観的な判断は不要であ
り、また、より正確に未知試料を分析することができ
る。
ータ処理装置では、未知試料の分析に先立って基準デー
タと標準試料の分析をして、標準保持時間を自動的に校
正している。従って、操作者の主観的な判断は不要であ
り、また、より正確に未知試料を分析することができ
る。
【００１７】なお、標準試料の分析は、検量線を作成す
る為のキャリブレーション分析と兼ねることができるの
で、分析の手間は従来の装置と変わらない。
る為のキャリブレーション分析と兼ねることができるの
で、分析の手間は従来の装置と変わらない。
【図１】この発明の一実施例を示す回路ブロック図であ
る。
る。
【図２】図１の装置の動作を説明する為のフローチャー
トである。
トである。
【図３】クロマトグラム信号の一例を図示したものであ
る。
る。
ＳＴ１ 基準データ記憶手段 ＳＴ２ データ検出手段 ＳＴ３ ピーク同定手段 ＳＴ４ 自動校正手段
Claims (1)
- 【請求項１】同定ピークの保持時間ｔoi，ピーク振幅値
またはピーク面積値ａoi，成分濃度ｃoiからなる基準デ
ータを記憶する基準データ記憶手段と、 未知試料の分析に先立って、成分濃度ｃj が既知である
標準試料について、ピークの保持時間ｔj ，ピーク振幅
値またはピーク面積値ａj を求めるデータ検出手段と、 このデータ検出手段の求めた前記二次元情報（ｔj ，ａ
j ）と、前記基準データ記憶手段の基準データを基にし
て、標準試料についてのピーク同定を行うピーク同定手
段と、 このピーク同定手段によって同定された各ピークの保持
時間ｔj により、前記基準データ記憶手段の標準保持時
間ｔoiを自動的に校正する自動校正手段とを備えること
を特徴とするクロマトグラフ用データ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24218291A JPH0580041A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24218291A JPH0580041A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0580041A true JPH0580041A (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=17085531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24218291A Pending JPH0580041A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0580041A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002267646A (ja) * | 2001-03-08 | 2002-09-18 | Sekisui Chem Co Ltd | クロマトグラフのピーク検出方法及びクロマトグラフ装置 |
| GB2383963A (en) * | 2001-11-30 | 2003-07-16 | Agilent Technologies Inc | Correcting the time axis of local chromatographic data in comparison to stored reference data. |
| JP2006194776A (ja) * | 2005-01-14 | 2006-07-27 | Fis Inc | ガスクロマトグラフ装置およびそれを用いるｖｏｃ測定装置 |
| JP2008122081A (ja) * | 2006-11-08 | 2008-05-29 | Dkk Toa Corp | 分析計及び分析プログラム |
| JP2019056620A (ja) * | 2017-09-21 | 2019-04-11 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | クロマトグラフのデータ処理装置 |
| JP2023158945A (ja) * | 2022-04-19 | 2023-10-31 | アークレイ株式会社 | 制御装置、分離分析装置、分離分析方法、及び分離分析プログラム |
-
1991
- 1991-09-24 JP JP24218291A patent/JPH0580041A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002267646A (ja) * | 2001-03-08 | 2002-09-18 | Sekisui Chem Co Ltd | クロマトグラフのピーク検出方法及びクロマトグラフ装置 |
| GB2383963A (en) * | 2001-11-30 | 2003-07-16 | Agilent Technologies Inc | Correcting the time axis of local chromatographic data in comparison to stored reference data. |
| US6691053B2 (en) | 2001-11-30 | 2004-02-10 | Agilent Technologies, Inc. | Method of matching retention times among multiple chromatographic system |
| GB2383963B (en) * | 2001-11-30 | 2005-02-23 | Agilent Technologies Inc | Chromatographic system and method |
| US6915227B2 (en) | 2001-11-30 | 2005-07-05 | Agilent Technologies, Inc. | Method of matching retention times among multiple chromatographic system |
| JP2006194776A (ja) * | 2005-01-14 | 2006-07-27 | Fis Inc | ガスクロマトグラフ装置およびそれを用いるｖｏｃ測定装置 |
| JP2008122081A (ja) * | 2006-11-08 | 2008-05-29 | Dkk Toa Corp | 分析計及び分析プログラム |
| JP2019056620A (ja) * | 2017-09-21 | 2019-04-11 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | クロマトグラフのデータ処理装置 |
| US11567047B2 (en) | 2017-09-21 | 2023-01-31 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Chromatographic data system processing apparatus |
| JP2023158945A (ja) * | 2022-04-19 | 2023-10-31 | アークレイ株式会社 | 制御装置、分離分析装置、分離分析方法、及び分離分析プログラム |
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