JPH058531Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH058531Y2 JPH058531Y2 JP1985114835U JP11483585U JPH058531Y2 JP H058531 Y2 JPH058531 Y2 JP H058531Y2 JP 1985114835 U JP1985114835 U JP 1985114835U JP 11483585 U JP11483585 U JP 11483585U JP H058531 Y2 JPH058531 Y2 JP H058531Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- electronic component
- lead wire
- contact pieces
- point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は電子部品測定電極構造に関するもので
ある。従来、この種の構造は微少電圧、電流で
IC等を測定する測定電極として導電性材料によ
る板バネを多列、並列に構成したものがある。こ
れを電圧又は電流の比較的大なる電子部品の測定
に用いる場合、板バネの押圧力を増したり、接触
面積を大きくするなどの改良によつて対応してい
る。しかしながら、接触圧力の不安定性及び接触
部分の耐久性の劣化等に問題があり、自動測定装
置等への利用において高速、高頻度化への対応に
難点があつた。
ある。従来、この種の構造は微少電圧、電流で
IC等を測定する測定電極として導電性材料によ
る板バネを多列、並列に構成したものがある。こ
れを電圧又は電流の比較的大なる電子部品の測定
に用いる場合、板バネの押圧力を増したり、接触
面積を大きくするなどの改良によつて対応してい
る。しかしながら、接触圧力の不安定性及び接触
部分の耐久性の劣化等に問題があり、自動測定装
置等への利用において高速、高頻度化への対応に
難点があつた。
本考案は前述の従来構造の欠点を解消し、信頼
性及び耐久性の向上を達成し、自動測定装置への
利用に好適であり、更に成型樹脂のリード線への
バリ等による接触不安定を解決するものである。
第1図は本考案の電極構造の利用対象となる電子
部品の一例である。第1図は本体部aに対し、リ
ード線bが両端に出ているものをしめしたが、片
側のものもある。又、本体部a及びリード線bの
形状についても種々のものがある。第2図イ,
ロ,ハは本考案の実施例をしめす構造図である。
第2図イは正面図をしめし、1は電子部品、bは
そのリード線、2,3は導電性接触片、4は絶縁
性保持器、7は下方ストツパ、8はガイド溝をし
めす。第2図ロは接触片2における横断面図、第
2図ハは接触片3における横断面図であり、イと
同一符号は同一部分をしめし、5はコイルバネ、
6はネジである。被測定電子部品1を他の駆動源
により、図面の上方に押し上げ、リード線bを接
触片2及び3に接触せしめる。接触片2及び3は
リード線bの接触面に対して垂直ではなく、一定
角度をもつて傾斜させている。即ち、ガイド溝8
(点線でしめす)により、接触片2及び3は案内
され可動する。5は接触片のリード線bへの接触
圧力を加えるコイルバネであり、6はその接触圧
力の調製用のネジである。7はリード線bへの接
触片の下方への加圧によつての移動に際し、下方
移動の限界を定める絶縁性の下方ストツパであ
る。本考案の構造では被測定電子部品の押し上げ
時にリード線bと接触片2及び3の接触面におい
て、確実な接触加圧と共に滑り作用を生じ、リー
ド線bに付着している絶縁物、塵あいなどを容易
に除去しうるものである。次に、前述の滑り作用
による除去力及び接触圧力について、第3図イの
部分説明図及び第3図ロの応用ベクトル図を用い
て説明する。
性及び耐久性の向上を達成し、自動測定装置への
利用に好適であり、更に成型樹脂のリード線への
バリ等による接触不安定を解決するものである。
第1図は本考案の電極構造の利用対象となる電子
部品の一例である。第1図は本体部aに対し、リ
ード線bが両端に出ているものをしめしたが、片
側のものもある。又、本体部a及びリード線bの
形状についても種々のものがある。第2図イ,
ロ,ハは本考案の実施例をしめす構造図である。
第2図イは正面図をしめし、1は電子部品、bは
そのリード線、2,3は導電性接触片、4は絶縁
性保持器、7は下方ストツパ、8はガイド溝をし
めす。第2図ロは接触片2における横断面図、第
2図ハは接触片3における横断面図であり、イと
同一符号は同一部分をしめし、5はコイルバネ、
6はネジである。被測定電子部品1を他の駆動源
により、図面の上方に押し上げ、リード線bを接
触片2及び3に接触せしめる。接触片2及び3は
リード線bの接触面に対して垂直ではなく、一定
角度をもつて傾斜させている。即ち、ガイド溝8
(点線でしめす)により、接触片2及び3は案内
され可動する。5は接触片のリード線bへの接触
圧力を加えるコイルバネであり、6はその接触圧
力の調製用のネジである。7はリード線bへの接
触片の下方への加圧によつての移動に際し、下方
移動の限界を定める絶縁性の下方ストツパであ
る。本考案の構造では被測定電子部品の押し上げ
時にリード線bと接触片2及び3の接触面におい
て、確実な接触加圧と共に滑り作用を生じ、リー
ド線bに付着している絶縁物、塵あいなどを容易
に除去しうるものである。次に、前述の滑り作用
による除去力及び接触圧力について、第3図イの
部分説明図及び第3図ロの応用ベクトル図を用い
て説明する。
θ°=保持器の接触片2,3のガイド溝設定角度
℃ C=リード線bの接触片2,3への押し上げ量
mm d=リード線b上の接触片のすべり量 mm d=C/tanθ ……式(1) δ1:e点でのコイルバネたわみ量 mm δ2:f点でのコイルバネたわみ量 mm k:バネ定数 Kg/mm P1:e点での絶縁物除去力 Kg P2:f点での絶縁物除去力 Kg F0:e点でのコイルバネ設定圧力 F1:f点でのコイルバネ圧力 α=90°−Θ δ1・k=F0 δ2・k=F1 P1=F0・sinα ……式(2) P2=F1・sinα ……式(3) 前述式(1)において、接触片2,3の設定角度θ及
び押し上げ量Cを設定することによりすべり量が
決定される。
℃ C=リード線bの接触片2,3への押し上げ量
mm d=リード線b上の接触片のすべり量 mm d=C/tanθ ……式(1) δ1:e点でのコイルバネたわみ量 mm δ2:f点でのコイルバネたわみ量 mm k:バネ定数 Kg/mm P1:e点での絶縁物除去力 Kg P2:f点での絶縁物除去力 Kg F0:e点でのコイルバネ設定圧力 F1:f点でのコイルバネ圧力 α=90°−Θ δ1・k=F0 δ2・k=F1 P1=F0・sinα ……式(2) P2=F1・sinα ……式(3) 前述式(1)において、接触片2,3の設定角度θ及
び押し上げ量Cを設定することによりすべり量が
決定される。
式(2)、(3)においてe点での押し付け力(δ1・
k)が設定されればe点においてP1(最低)の除
去力よりf点のP2(最高)の除去力が発生し、リ
ード線b面上へ付着している絶縁物等の除去を行
う作用がある。これを実験結果により示すと例え
ばΘ=80°C=2.5mmとすると式(1)のすべり量d=
0.44mmのすべり量となる。除去力については、F0
=0.15Kg、F1=0.2Kg、α=10°でP1=0.026Kgより
P2=0.035Kgの除去力が発生する。したがつて26g
〜最大で35gの除去力が生じた後にF1Aの圧力で
接触している。
k)が設定されればe点においてP1(最低)の除
去力よりf点のP2(最高)の除去力が発生し、リ
ード線b面上へ付着している絶縁物等の除去を行
う作用がある。これを実験結果により示すと例え
ばΘ=80°C=2.5mmとすると式(1)のすべり量d=
0.44mmのすべり量となる。除去力については、F0
=0.15Kg、F1=0.2Kg、α=10°でP1=0.026Kgより
P2=0.035Kgの除去力が発生する。したがつて26g
〜最大で35gの除去力が生じた後にF1Aの圧力で
接触している。
F1A=F1cosα ……式(4)
よりF1A=196gの接触圧力となる。
なお、導電性接触片2,3としては燐青銅など
の耐摩耗性導電材料を用いる。又、図面において
は板状でしめしたが棒状にしてもよい。
の耐摩耗性導電材料を用いる。又、図面において
は板状でしめしたが棒状にしてもよい。
本考案の電子部品測定電極構造により、接触不
良発生率を従来構造の7〜10%に対し、1%以下
に減少できた。このように微少電圧、電流から高
電圧、電流まで広範囲の測定に適し、接触圧力の
安定性、耐久性の向上を図ることができ、自動測
定装置などに利用して有効であり、実用上の効果
大なるものである。
良発生率を従来構造の7〜10%に対し、1%以下
に減少できた。このように微少電圧、電流から高
電圧、電流まで広範囲の測定に適し、接触圧力の
安定性、耐久性の向上を図ることができ、自動測
定装置などに利用して有効であり、実用上の効果
大なるものである。
第1図は電子部品の斜視図、第2図イ,ロ,ハ
は本考案の実施例の構造図でイは正面図、ロ,ハ
は横断面図、第3図イ,ロは部分説明図及び応力
ベクトル図であり、1は電子部品、bはリード
線、2,3は導電性接触片、4は絶縁性保持器、
5はコイルばね、6はネジ、7は下方ストツパ、
8はガイド溝である。
は本考案の実施例の構造図でイは正面図、ロ,ハ
は横断面図、第3図イ,ロは部分説明図及び応力
ベクトル図であり、1は電子部品、bはリード
線、2,3は導電性接触片、4は絶縁性保持器、
5はコイルばね、6はネジ、7は下方ストツパ、
8はガイド溝である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 複数の板状の導電性接触片を絶縁性保持器に
配設すると共に、被測定電子部品の上方への押
し上げ機構を設けて、該接触片が該被測定電子
部品との接触面に対して傾斜して可動するよう
になし、且つ、該接触片を下方に押圧するバネ
及び下方ストツパを設けたことを特徴とする電
子部品測定電極構造。 (2) 絶縁性保持器に導電性接触片のガイド溝を設
けた実用新案登録請求の範囲第(1)項の電子部品
測定電極構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985114835U JPH058531Y2 (ja) | 1985-07-26 | 1985-07-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985114835U JPH058531Y2 (ja) | 1985-07-26 | 1985-07-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6224371U JPS6224371U (ja) | 1987-02-14 |
| JPH058531Y2 true JPH058531Y2 (ja) | 1993-03-03 |
Family
ID=30997934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985114835U Expired - Lifetime JPH058531Y2 (ja) | 1985-07-26 | 1985-07-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH058531Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61176456U (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-04 |
-
1985
- 1985-07-26 JP JP1985114835U patent/JPH058531Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6224371U (ja) | 1987-02-14 |
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