JPH05868Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH05868Y2 JPH05868Y2 JP14320386U JP14320386U JPH05868Y2 JP H05868 Y2 JPH05868 Y2 JP H05868Y2 JP 14320386 U JP14320386 U JP 14320386U JP 14320386 U JP14320386 U JP 14320386U JP H05868 Y2 JPH05868 Y2 JP H05868Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- taping
- probe
- block
- elements
- probe support
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 34
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
この考案は、紙テープ等で連結された電子部品
を順次搬送し、その特性値を連続的に測定する電
子部品自動測定装置に関するものである。[Detailed Description of the Invention] (Field of Industrial Application) This invention relates to an automatic electronic component measuring device that sequentially conveys electronic components connected by paper tape or the like and continuously measures their characteristic values.
（従来の技術）
従来、紙テープ等で連結された抵抗、コンデン
サ、トランジスタなどの電子部品（以下テーピン
グ素子という）の抵抗値、容量値、増幅度などを
測定する場合は、自動的に連続して測定するため
には、測定器のプローブか、あるいはテーピング
素子を順番に動かして、プローブをテーピング素
子のリード線部に押し当てて測定している。(Prior art) Conventionally, when measuring the resistance value, capacitance value, amplification degree, etc. of electronic components such as resistors, capacitors, and transistors (hereinafter referred to as taping elements) connected with paper tape, etc., the To make a measurement, the probe of the measuring device or the taping element is moved in sequence and the probe is pressed against the lead wire portion of the taping element.
（考案が解決しようとする問題点）
この場合、横型、縦型の各テーピング素子（日
本電子機械工業会規格EIAJ RC−1008A）に対
して、製造装置の中に組み込まれた、それぞれ専
用の送り機構で搬送するか、あるいはテーピング
素子を手で送ることによつて対応しており、各種
のテーピング素子を１台の設備で処理する手段は
なかつた。（間欠送り機構の先行技術としては、
例えば実開昭58−44151号公報がある。）
そこでこの考案は、各種のテーピング素子を自
動的に測定できる汎用性のあるテーピング素子測
定装置の提供を目的とする。(Problem to be solved by the invention) In this case, for each horizontal type and vertical type taping element (Japan Electronics Industry Association standard EIAJ RC-1008A), a dedicated feeder is installed in the manufacturing equipment. This has been handled by transporting the taping elements by a mechanism or by manually feeding the taping elements, and there has been no means to process various types of taping elements with one piece of equipment. (The prior art of the intermittent feed mechanism is
For example, there is Japanese Utility Model Application No. 58-44151. ) Therefore, the object of this invention is to provide a versatile taping element measuring device that can automatically measure various types of taping elements.
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成するため、この考案のテーピン
グ素子測定装置は、テープ等で連結された電子部
品からなるテーピング素子の特性値を自動的に測
定するテーピング素子測定装置であつて、電動モ
ータによつて駆動されるクランクと、前記クラン
クにより上下動されるブロツクと、前記ブロツク
上に載置されて下方に付勢するコイル・スプリン
グに係合された状態で上下動されるプローブ支柱
と、前記プローブ支柱に着脱可能に取り付けら
れ、各種テーピング素子に応じて交換可能なプロ
ーブ取付けプレートと、前記ブロツクによつて１
ピツチずつ回転され、前記プローブ支柱の上下動
と同期してテーピング素子を１個ずつ前進させる
ラチエツトとを有することを特徴とする構成であ
る。(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the taping element measuring device of this invention is a taping element measuring device that automatically measures the characteristic values of taping elements consisting of electronic components connected with tape etc. The device includes a crank driven by an electric motor, a block that is moved up and down by the crank, and a coil spring that is placed on the block and biased downward while being engaged with the block. A probe support that is moved, a probe mounting plate that is detachably attached to the probe support and that is replaceable according to various taping elements;
This structure is characterized by having a ratchet which is rotated pitch by pitch and advances the taping elements one by one in synchronization with the vertical movement of the probe support.
（作用）
まずテーピング素子に適合するプローブ取付け
プレートに交換する。電動モータによつてクラン
クが駆動されると、ブロツクが上下動する。この
ブロツクと一緒にプローブ支柱が上動され、同時
にこのブロツクによつてラチエツトが１ピツチだ
け回転され、テーピング素子を１個前進させる。
このとき上死点に達したプローブ支柱がコイル・
スプリングにより下方に引きもどされ、プローブ
の先端がテーピング素子のリード線に接触して測
定する。以下この動作が繰返される。(Operation) First, replace the probe mounting plate with one that matches the taping element. When the crank is driven by the electric motor, the block moves up and down. The probe post is moved up together with this block, which simultaneously rotates the ratchet one pitch and advances one taping element.
At this time, the probe column that has reached top dead center is connected to the coil.
The probe is pulled back downward by the spring, and the tip of the probe contacts the lead wire of the taping element for measurement. This operation is repeated thereafter.
（実施例）
以下実施例を示す図面に基づいて、この考案を
説明する。第１図は実施例の一部破断縦断面図を
示す。１は駆動モータ、２は駆動モータの軸中心
よりオフセツトされた位置に中心を有するクラン
ク、３はクランク２に連結されたピン、４は固定
板、５はピン３によつて上下動されるブロツクで
ある。ブロツク５は、その上にプローブ支柱６を
載置して上下動させ、同時に公知のラチエツト１
０の１ピツチ送りレバー１１を破線１１′まで押
しあげる。７はプローブ支柱６が上昇しきつた点
すなわち上死点から下に引きもどすコイル・スプ
リング、８は測定器（図示しない）のプローブで
あり、信号線９により測定器に接続されている。
Ｗはテーピング素子であり、ラチエツト１０の矢
印方向の回転によつて、あらかじめ設定されたラ
チエツト・ピツチＰと同期したピツチＰで矢印の
方向に順に送られる。１２はスライドするテーピ
ング素子Ｗの支持台であり、１３はテーピング素
子Ｗの種類に対応して交換可能なプローブ取付け
プレートである。第２図および第３図は、第１図
の装置において、それぞれ横型素子Ｗ１および縦
型素子Ｗ２に対するプローブ取付けプレート１３
およびプローブ８の平面図を示す。(Example) This invention will be described below based on drawings showing examples. FIG. 1 shows a partially cut away vertical sectional view of the embodiment. 1 is a drive motor, 2 is a crank whose center is offset from the shaft center of the drive motor, 3 is a pin connected to crank 2, 4 is a fixed plate, and 5 is a block that is moved up and down by pin 3. It is. The block 5 has a probe column 6 placed thereon and moves up and down, and at the same time a known ratchet 1
0. Push up the 1-pitch feed lever 11 to the broken line 11'. 7 is a coil spring that pulls the probe column 6 back down from the point at which it has risen, that is, the top dead center; 8 is a probe of a measuring device (not shown), which is connected to the measuring device by a signal line 9;
W is a taping element, and as the ratchet 10 rotates in the direction of the arrow, it is sent sequentially in the direction of the arrow at a pitch P synchronized with a preset ratchet pitch P. Reference numeral 12 is a support base for the sliding taping element W, and reference numeral 13 is a probe mounting plate that can be replaced depending on the type of taping element W. 2 and 3 show the probe mounting plate 13 for the horizontal element W1 and the vertical element W2, respectively, in the apparatus of FIG. 1.
and a plan view of the probe 8.
次にこのテーピング素子測定装置の作用を説明
する。まず縦型または横型のテーピング素子Ｗ
１，Ｗ２の種類に適合するプローブ取付けプレー
ト１３に交換する。電動モータ１によつてクラン
ク２が駆動されると、ブロツク５が上下動する。
このブロツク５によつてプローブ支柱６が上方に
移動され、同時にこのブロツク５によつてラチエ
ツト１０が１ピツチＰだけ回転され、テーピング
素子Ｗ１，Ｗ２を１個前進させる。このとき上死
点に達したプローブ支柱６がコイル・スプリング
７により下方に引きもどされ、プローブ８の先端
がテーピング素子Ｗ１，Ｗ２のリード線Waに接
触して測定する。この後、クランク２が次のサイ
クルに移行する。 Next, the operation of this taping element measuring device will be explained. First, vertical or horizontal taping element W
1. Replace the probe mounting plate 13 with one compatible with the type of W2. When the crank 2 is driven by the electric motor 1, the block 5 moves up and down.
The probe support column 6 is moved upward by this block 5, and at the same time, the ratchet 10 is rotated by one pitch P by this block 5, thereby advancing one taping element W1, W2. At this time, the probe support column 6 which has reached the top dead center is pulled back downward by the coil spring 7, and the tip of the probe 8 comes into contact with the lead wires Wa of the taping elements W1 and W2 for measurement. After this, the crank 2 moves to the next cycle.
（考案の効果）
この考案は以上説明したように、電動モータ駆
動のクランクにより上下動されるブロツクと、こ
のブロツクを介して上下動されるプローブ駆動機
構と、同じくこのブロツクによつて作動されるラ
チエツトを含むテーピング素子送り機構とを有す
るテーピング素子測定装置であり、かつプローブ
取付けプレートは交換可能としたことによつて、
テーピング素子の特性値を測定する場合、手でプ
ローブを動かす必要がなく、また各種のテーピン
グ素子に対して同一の装置で測定をすることがで
きる効果がある。(Effects of the invention) As explained above, this invention includes a block that is moved up and down by a crank driven by an electric motor, a probe drive mechanism that is moved up and down via this block, and a probe drive mechanism that is also operated by this block. This taping element measuring device has a taping element feeding mechanism including a ratchet, and the probe mounting plate is replaceable.
When measuring the characteristic values of a taping element, there is no need to move the probe by hand, and there is an advantage that measurements can be performed on various taping elements with the same device.
図はこの考案の実施例を示し、第１図は縦断面
図、第２図および第３図はそれぞれ横型および縦
型のテーピング素子に対するプローブ取付けプレ
ートの平面図である。
１……電動モータ、２……クランク、５……ブ
ロツク、６……プローブ支柱、７……コイル・ス
プリング、８……プローブ、１０……ラチエツ
ト、１３……プローブ取付けプレート、Ｗ……テ
ーピング素子。
The figures show an embodiment of the invention, with FIG. 1 being a longitudinal sectional view, and FIGS. 2 and 3 being plan views of a probe mounting plate for horizontal and vertical taping elements, respectively. 1...Electric motor, 2...Crank, 5...Block, 6...Probe support, 7...Coil spring, 8...Probe, 10...Ratchet, 13...Probe mounting plate, W...Taping element.
Claims (1)
ピング素子の特性値を自動的に測定するテーピン
グ素子測定装置であつて、電動モータによつて駆
動されるクランクと、前記クランクにより上下動
されるブロツクと、前記ブロツク上に載置されて
下方に付勢するコイル・スプリングに係合された
状態で上下動されるプローブ支柱と、前記プロー
ブ支柱に着脱可能に取り付けられ、各種テーピン
グ素子に応じて交換可能なプローブ取付けプレー
トと、前記ブロツクによつて１ピツチずつ回転さ
れ、前記プローブ支柱の上下動と同期してテーピ
ング素子を１個ずつ前進させるラチエツトとを有
することを特徴とするテーピング素子測定装置。 A taping element measuring device that automatically measures the characteristic values of a taping element consisting of electronic components connected with paper tape or the like, comprising: a crank driven by an electric motor; a block moved up and down by the crank; A probe support that is placed on the block and is moved up and down while being engaged with a coil spring that urges it downward, and a probe support that is detachably attached to the probe support and can be replaced according to various taping elements. A taping element measuring device comprising a probe mounting plate and a ratchet which is rotated one pitch at a time by the block and advances the taping elements one by one in synchronization with the vertical movement of the probe support.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14320386U JPH05868Y2 (en) | 1986-09-18 | 1986-09-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14320386U JPH05868Y2 (en) | 1986-09-18 | 1986-09-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6350069U JPS6350069U (en) | 1988-04-05 |
| JPH05868Y2 true JPH05868Y2 (en) | 1993-01-11 |
Family
ID=31052661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14320386U Expired - Lifetime JPH05868Y2 (en) | 1986-09-18 | 1986-09-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05868Y2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0524997U (en) * | 1991-09-09 | 1993-04-02 | セイレイ工業株式会社 | Cooling fan speed controller |
-
1986
- 1986-09-18 JP JP14320386U patent/JPH05868Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6350069U (en) | 1988-04-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4329776A (en) | Component inserting apparatus | |
| US4557043A (en) | Component lead processing apparatus | |
| CN204142908U (en) | Two PCBA measurement jig | |
| JPH05868Y2 (en) | ||
| JP3206331B2 (en) | Apparatus for attaching anisotropic conductive tape and method for attaching anisotropic conductive tape | |
| EP0321214A1 (en) | Cable harness manufacturing and electrical testing system | |
| CN119480429B (en) | Inductance production line | |
| CN119489052B (en) | Test equipment and test methods for FFC wire processing | |
| JP2003156532A (en) | Electronic component-measuring apparatus | |
| JPH0136592B2 (en) | ||
| JPH088150A (en) | Characteristic tester of taping electronic part | |
| CN213584549U (en) | Full-automatic terminal crimping equipment with adjustable crimping height | |
| CN213714922U (en) | Semiconductor device inner lead bonding strength testing device | |
| JPS59226482A (en) | Continuous unit of pressure contact type electric hardness and automatic pressure contacting machine therefor | |
| JP3059839B2 (en) | Flyback transformer manufacturing equipment | |
| JPH09312190A (en) | Electric wire pressure welding press in automobile wire harness manufacturing | |
| CN221559631U (en) | Electronic component's detection divides material bending device | |
| JPS59181631A (en) | Automatic handler for semiconductor device | |
| JPH086397Y2 (en) | Automatic pressure welding device for connector terminals and vinyl wires | |
| JPS6167299A (en) | Punching and containing device of electronic part | |
| JP4267515B2 (en) | Wire pressure welding apparatus, wire pressure welding method and electric junction box | |
| JPH0521996A (en) | Electronic component insertion device | |
| JPH07183695A (en) | Connector mounting method | |
| JPS6237177Y2 (en) | ||
| CN119657513A (en) | An integrated detection and sorting device for electronic components |