JPH0587868A - 電圧非直線抵抗体の電流電圧試験方法 - Google Patents
電圧非直線抵抗体の電流電圧試験方法Info
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- JPH0587868A JPH0587868A JP3251331A JP25133191A JPH0587868A JP H0587868 A JPH0587868 A JP H0587868A JP 3251331 A JP3251331 A JP 3251331A JP 25133191 A JP25133191 A JP 25133191A JP H0587868 A JPH0587868 A JP H0587868A
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】電圧非直線抵抗体を熱破壊することなく、１Ａ
の電流を抵抗体に流した場合の抵抗体に発生する電圧Ｖ
1Aを実測して正確な値を求める。 【構成】直流電源回路１に対しほぼ２．５ｍｓ以下の短
時間ＩＡ電流を発生して電圧非直線抵抗体３に印加する
ための短時間電流印加回路２を接続する。又、前記電圧
非直線抵抗体３に流れる電流を測定する電流測定回路５
と、前記電圧非直線抵抗体の両端に発生する電圧を測定
する電圧測定回路６を前記短時間電流印加回路２に接続
する。
の電流を抵抗体に流した場合の抵抗体に発生する電圧Ｖ
1Aを実測して正確な値を求める。 【構成】直流電源回路１に対しほぼ２．５ｍｓ以下の短
時間ＩＡ電流を発生して電圧非直線抵抗体３に印加する
ための短時間電流印加回路２を接続する。又、前記電圧
非直線抵抗体３に流れる電流を測定する電流測定回路５
と、前記電圧非直線抵抗体の両端に発生する電圧を測定
する電圧測定回路６を前記短時間電流印加回路２に接続
する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は雷サージによる高電圧
が送電線に印加された時、それを速やかに大地へ放電す
るとともに、その後生じる続流を電圧−電流特性が非直
線性の酸化亜鉛等を主材とする電圧非直線抵抗体により
遮断し、地絡事故の発生を防止する避雷碍子装置の電圧
非直線抵抗体単品あるいは積層品の所定電流に対する発
生電圧（制限電圧）を測定する電流電圧試験方法に関す
るものである。
が送電線に印加された時、それを速やかに大地へ放電す
るとともに、その後生じる続流を電圧−電流特性が非直
線性の酸化亜鉛等を主材とする電圧非直線抵抗体により
遮断し、地絡事故の発生を防止する避雷碍子装置の電圧
非直線抵抗体単品あるいは積層品の所定電流に対する発
生電圧（制限電圧）を測定する電流電圧試験方法に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、電圧非直線抵抗体は酸化亜鉛を
主成分とし、これに所定の添加物を混合して造粒物を作
り、この造粒物を所定の形状に成形した後、焼成して作
製している。
主成分とし、これに所定の添加物を混合して造粒物を作
り、この造粒物を所定の形状に成形した後、焼成して作
製している。
【０００３】従来、電圧非直線抵抗体の電流電圧試験装
置として、特開昭６３−７５６７１号公報に示すものが
提案されている。この装置においては電圧非直線抵抗体
の性質を評価するために所定の電流、例えば１ｍＡ、１
００μＡ、１０μＡ、１μＡにおける電圧等の電気的性
質を測定していた。
置として、特開昭６３−７５６７１号公報に示すものが
提案されている。この装置においては電圧非直線抵抗体
の性質を評価するために所定の電流、例えば１ｍＡ、１
００μＡ、１０μＡ、１μＡにおける電圧等の電気的性
質を測定していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記試験装置において
は、１ｍＡの電流を抵抗体に印加した時に生じる電圧、
Ｖ1mA の測定は直流電源を用いて行っているが、１Ａの
電流を印加した時に生じる電圧Ｖ1Aの測定を直流電源を
用いて行うと、抵抗体の電流−時間特性によって測定中
に抵抗体が熱破壊するおそれがあるため、直流電源によ
る電圧Ｖ1Aの測定をすることはできなかった。そのた
め、抵抗体の電圧−電流特性直線から求めたＶ1A／Ｖ
1mA 比に相関があることから、電圧Ｖ1mA を測定した
後、電圧Ｖ1Aを推定していた。従って、電圧Ｖ1Aの値が
正確に得られないという問題があった。
は、１ｍＡの電流を抵抗体に印加した時に生じる電圧、
Ｖ1mA の測定は直流電源を用いて行っているが、１Ａの
電流を印加した時に生じる電圧Ｖ1Aの測定を直流電源を
用いて行うと、抵抗体の電流−時間特性によって測定中
に抵抗体が熱破壊するおそれがあるため、直流電源によ
る電圧Ｖ1Aの測定をすることはできなかった。そのた
め、抵抗体の電圧−電流特性直線から求めたＶ1A／Ｖ
1mA 比に相関があることから、電圧Ｖ1mA を測定した
後、電圧Ｖ1Aを推定していた。従って、電圧Ｖ1Aの値が
正確に得られないという問題があった。
【０００５】又、抵抗体を複数個直列に積層した場合の
電圧Ｖ1mA の測定は、交流電源を用いて行っているが、
抵抗体単品と同様に積層抵抗体の電圧Ｖ1Aの測定を交流
電源を用いて行うと、電流−時間特性によって測定中に
抵抗体が熱破壊するおそれがあるため、交流電源による
電圧Ｖ1Aの測定はできなかった。そこで、推定した抵抗
体の電圧Ｖ1Aを累積して積層抵抗体の電圧Ｖ1Aを推定し
ていたので、正確な積層抵抗体の電圧Ｖ1Aを知ることが
できないという問題があった。
電圧Ｖ1mA の測定は、交流電源を用いて行っているが、
抵抗体単品と同様に積層抵抗体の電圧Ｖ1Aの測定を交流
電源を用いて行うと、電流−時間特性によって測定中に
抵抗体が熱破壊するおそれがあるため、交流電源による
電圧Ｖ1Aの測定はできなかった。そこで、推定した抵抗
体の電圧Ｖ1Aを累積して積層抵抗体の電圧Ｖ1Aを推定し
ていたので、正確な積層抵抗体の電圧Ｖ1Aを知ることが
できないという問題があった。
【０００６】この発明の目的は電圧非直線抵抗体を単品
あるいは積層した状態でその電気的特性、特に１Ａの電
流を流した場合の抵抗体に発生する電圧Ｖ1Aを推定する
ことなく正確に測定することができる電圧非直線抵抗体
の電流電圧試験方法を提供することにある。
あるいは積層した状態でその電気的特性、特に１Ａの電
流を流した場合の抵抗体に発生する電圧Ｖ1Aを推定する
ことなく正確に測定することができる電圧非直線抵抗体
の電流電圧試験方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は上
記の目的を達成するため、電圧非直線抵抗体単品に対し
方形波インパルス電流発生装置から、５Ａ以下の電流を
ほぼ２．５ｍｓの短時間印加して、電圧非直線抵抗体の
両端に発生する電圧及び前記短時間電流を測定して記録
するという方法をとっている。
記の目的を達成するため、電圧非直線抵抗体単品に対し
方形波インパルス電流発生装置から、５Ａ以下の電流を
ほぼ２．５ｍｓの短時間印加して、電圧非直線抵抗体の
両端に発生する電圧及び前記短時間電流を測定して記録
するという方法をとっている。
【０００８】又、請求項２記載の発明は、雷インパルス
電圧発生装置に制動抵抗、放電抵抗及び波形調整用コン
デンサを組込み、電圧非直線抵抗体積層品に対し前記雷
インパルス電圧発生装置から５Ａ以下の電流を数百μｓ
の短時間印加して、該抵抗体の両端に発生する電圧及び
前記短時間電流を測定して記録するという方法をとって
いる。
電圧発生装置に制動抵抗、放電抵抗及び波形調整用コン
デンサを組込み、電圧非直線抵抗体積層品に対し前記雷
インパルス電圧発生装置から５Ａ以下の電流を数百μｓ
の短時間印加して、該抵抗体の両端に発生する電圧及び
前記短時間電流を測定して記録するという方法をとって
いる。
【０００９】
【作用】請求項１記載の発明は、方形波インパルス電流
発生装置により、電圧非直線抵抗体単品に対し５Ａの方
形波電流がほぼ２．５ｍｓの短時間のみ印加されるの
で、測定動作中に抵抗体単品の熱破壊を防止することが
できる。
発生装置により、電圧非直線抵抗体単品に対し５Ａの方
形波電流がほぼ２．５ｍｓの短時間のみ印加されるの
で、測定動作中に抵抗体単品の熱破壊を防止することが
できる。
【００１０】又、電圧非直線抵抗体に実際に印加した電
流が測定されるとともに、電圧非直線抵抗体単品の両端
に発生する電圧が実際に測定され、正確な抵抗体の電気
的特性を知ることができる。
流が測定されるとともに、電圧非直線抵抗体単品の両端
に発生する電圧が実際に測定され、正確な抵抗体の電気
的特性を知ることができる。
【００１１】請求項２記載の発明においては、雷インパ
ルス電圧発生装置により、電圧非直線抵抗体積層品に対
し５Ａ以下のインパルス電流が数百μｓの短時間のみ印
加されるので、測定動作中に抵抗体積層品の熱破壊を防
止することができる。
ルス電圧発生装置により、電圧非直線抵抗体積層品に対
し５Ａ以下のインパルス電流が数百μｓの短時間のみ印
加されるので、測定動作中に抵抗体積層品の熱破壊を防
止することができる。
【００１２】又、電圧非直線抵抗体積層品に実際に印加
した電流が測定されるとともに、電圧非直線抵抗体積層
品の両端に発生する電圧が実際に測定され、正確な抵抗
体積層品の電気的特性を知ることができる。
した電流が測定されるとともに、電圧非直線抵抗体積層
品の両端に発生する電圧が実際に測定され、正確な抵抗
体積層品の電気的特性を知ることができる。
【００１３】
【実施例】以下、この発明の単品の電圧非直線抵抗体の
電圧電流試験方法に使用される試験装置の一実施例を図
１〜図６に基づいて説明する。
電圧電流試験方法に使用される試験装置の一実施例を図
１〜図６に基づいて説明する。
【００１４】最初に、この電流電圧試験装置の概要を図
６により説明すると、直流電源回路１には短時間電流印
加回路２が接続され、該印加回路２には電圧非直線抵抗
体３に対し電流を印加するための印加用端子４，４が接
続されている。又、前記短時間電流印加回路２と前記一
方の端子４との間には印加された電流を測定するための
電流測定回路５が接続されている。さらに、前記両端子
４，４間に発生する電圧、つまり抵抗体３の電圧を測定
するための電圧測定回路６が接続されている。
６により説明すると、直流電源回路１には短時間電流印
加回路２が接続され、該印加回路２には電圧非直線抵抗
体３に対し電流を印加するための印加用端子４，４が接
続されている。又、前記短時間電流印加回路２と前記一
方の端子４との間には印加された電流を測定するための
電流測定回路５が接続されている。さらに、前記両端子
４，４間に発生する電圧、つまり抵抗体３の電圧を測定
するための電圧測定回路６が接続されている。
【００１５】なお、前記電圧非直線抵抗体３はターンテ
ーブル７に設けた抵抗体支持部８によって把持され、駆
動機構１４により回転されながらこの発明の電流電圧試
験とは別の試験を行う位置、抵抗体の包装あるいは取出
位置等の異なる位置に例えば１０秒毎に間欠的に送られ
るようになっている。前記直流電源回路１、短時間電流
印加回路２、電流測定回路５、電圧測定回路６及びター
ンテーブル７の駆動機構１４等は、マイクロコンピュー
タを具備する制御装置１５により制御され、この制御装
置１５は、試験装置の後述する動作プログラム等を記憶
するためのリード・オンリー・メモリ１６と、電圧、電
流等の測定データ等を記憶するためのランダム・アクセ
ス・メモリ１７とを有している。なお、この自動試験装
置については特開昭６３−７５６７１号公報に記載され
たものを使用することができる。
ーブル７に設けた抵抗体支持部８によって把持され、駆
動機構１４により回転されながらこの発明の電流電圧試
験とは別の試験を行う位置、抵抗体の包装あるいは取出
位置等の異なる位置に例えば１０秒毎に間欠的に送られ
るようになっている。前記直流電源回路１、短時間電流
印加回路２、電流測定回路５、電圧測定回路６及びター
ンテーブル７の駆動機構１４等は、マイクロコンピュー
タを具備する制御装置１５により制御され、この制御装
置１５は、試験装置の後述する動作プログラム等を記憶
するためのリード・オンリー・メモリ１６と、電圧、電
流等の測定データ等を記憶するためのランダム・アクセ
ス・メモリ１７とを有している。なお、この自動試験装
置については特開昭６３−７５６７１号公報に記載され
たものを使用することができる。
【００１６】次に、図１〜図３により、電流電圧試験装
置の詳細を説明する。前記短時間電流印加回路２を構成
する充電用コンデンサＣ1 〜Ｃnは図１に示すように前
記直流電源回路１に対し並列に接続されている。又、各
充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn 間にはインダクタンスＬ1
〜Ｌn が複数個直列に接続されている。さらに、前記イ
ンダクタンスＬn と端子４との間には所定の放電ギャッ
プＧを有する放電ギャップユニット１１が接続されてい
る。
置の詳細を説明する。前記短時間電流印加回路２を構成
する充電用コンデンサＣ1 〜Ｃnは図１に示すように前
記直流電源回路１に対し並列に接続されている。又、各
充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn 間にはインダクタンスＬ1
〜Ｌn が複数個直列に接続されている。さらに、前記イ
ンダクタンスＬn と端子４との間には所定の放電ギャッ
プＧを有する放電ギャップユニット１１が接続されてい
る。
【００１７】次に、電圧測定回路６について図２により
説明すると、前記短時間電流印加回路２の出力端子には
高電圧用抵抗分圧器を構成する抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 が直列に
接続され、さらに前記抵抗Ｒ2 にはトータル的に分圧す
るための抵抗Ｒ3 が接続され、又、この抵抗Ｒ3 には、
抵抗Ｒ4 ，Ｒ5 が互いに直列に、かつ前記抵抗Ｒ3 に対
し並列に接続されいる。さらに、前記抵抗Ｒ5 にはオシ
ロスコープ１２が接続され、これにより電圧非直線抵抗
体３に発生する電圧を測定して表示することができる。
この電圧測定回路６の各抵抗の分圧比ｎは、次の（１）
式で表される。
説明すると、前記短時間電流印加回路２の出力端子には
高電圧用抵抗分圧器を構成する抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 が直列に
接続され、さらに前記抵抗Ｒ2 にはトータル的に分圧す
るための抵抗Ｒ3 が接続され、又、この抵抗Ｒ3 には、
抵抗Ｒ4 ，Ｒ5 が互いに直列に、かつ前記抵抗Ｒ3 に対
し並列に接続されいる。さらに、前記抵抗Ｒ5 にはオシ
ロスコープ１２が接続され、これにより電圧非直線抵抗
体３に発生する電圧を測定して表示することができる。
この電圧測定回路６の各抵抗の分圧比ｎは、次の（１）
式で表される。
【００１８】
【数１】 ｎ＝〔（Ｒ1 ＋ｒ）／ｒ〕×〔（Ｒ4 ＋Ｒ5 ）／Ｒ5 〕 ・・・（１） 但し、前記ｒは次式（２）である。
【００１９】
【数２】
【００２０】次に、電流測定回路５について図３により
説明すると、前記抵抗体３と直列に接続されたシャント
抵抗ＲS に対し、オシロスコープ側抵抗分圧器を構成す
る抵抗Ｒ0 が並列に接続され、この抵抗Ｒ0 には、オシ
ロスコープ１３が接続されている。
説明すると、前記抵抗体３と直列に接続されたシャント
抵抗ＲS に対し、オシロスコープ側抵抗分圧器を構成す
る抵抗Ｒ0 が並列に接続され、この抵抗Ｒ0 には、オシ
ロスコープ１３が接続されている。
【００２１】前記電流測定回路５の各抵抗の分流比ｍ
は、次の（３）式で表される。
は、次の（３）式で表される。
【００２２】
【数３】 ｍ＝（ＲS −Ｒ0 ）／（ＲS ・Ｒ0 ） ・・・（３） 次に、前記のように構成した電流電圧試験装置につい
て、その作用を説明する。
て、その作用を説明する。
【００２３】今、直流電源回路１から並列に接続された
複数の充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn に直流電圧が蓄えら
れ、その電圧が所定値以上になるとインダクタンスＬ1
〜Ｌn を介して放電用ギャップユニット１１により２．
５ｍｓ以下の短時間に放電が行われ、この結果単品の電
圧非直線抵抗体３に短時間１Ａの電流が流れる。そし
て、電流測定回路５により実際に印加した電流Ｉを測定
するとともに電圧測定回路６により、電圧非直線抵抗体
３の両端に表れる電圧Ｖ1Aを実際に測定することがで
き、単品の電圧非直線抵抗体３の電気的特性を正確に知
ることができる。
複数の充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn に直流電圧が蓄えら
れ、その電圧が所定値以上になるとインダクタンスＬ1
〜Ｌn を介して放電用ギャップユニット１１により２．
５ｍｓ以下の短時間に放電が行われ、この結果単品の電
圧非直線抵抗体３に短時間１Ａの電流が流れる。そし
て、電流測定回路５により実際に印加した電流Ｉを測定
するとともに電圧測定回路６により、電圧非直線抵抗体
３の両端に表れる電圧Ｖ1Aを実際に測定することがで
き、単品の電圧非直線抵抗体３の電気的特性を正確に知
ることができる。
【００２４】ここで、実際に試験する場合の各回路構成
部品の規格数値を説明する。直流電源回路１の電圧＝１
０ＫＶ、放電用コンデンサＣ1 〜Ｃn の静電容量＝０．
１μＦ、コンデンサの個数ｎ＝１０個、インダクタンス
Ｌ＝１５０ｍＨとして実際に抵抗体３に流れる電流Ｉ及
び電圧Ｖ1Aを測定した結果、図４に示すようになった。
前記電圧測定回路６の分圧比ｎ，電流測定回路５の分流
比ｍは前述した（１）式及び（３）式により、ｎ＝９９
０．７、ｍ＝０．２となる。実際に印加された電流Ｉ＝
１．０１Ａ、測定電圧Ｖ1A＝６．７６ＫＶ、印加時間Ｔ
ｄ＝２．１３ｍｓであった。
部品の規格数値を説明する。直流電源回路１の電圧＝１
０ＫＶ、放電用コンデンサＣ1 〜Ｃn の静電容量＝０．
１μＦ、コンデンサの個数ｎ＝１０個、インダクタンス
Ｌ＝１５０ｍＨとして実際に抵抗体３に流れる電流Ｉ及
び電圧Ｖ1Aを測定した結果、図４に示すようになった。
前記電圧測定回路６の分圧比ｎ，電流測定回路５の分流
比ｍは前述した（１）式及び（３）式により、ｎ＝９９
０．７、ｍ＝０．２となる。実際に印加された電流Ｉ＝
１．０１Ａ、測定電圧Ｖ1A＝６．７６ＫＶ、印加時間Ｔ
ｄ＝２．１３ｍｓであった。
【００２５】次に、図５に基づいて、試験装置により抵
抗体３の電圧電流測定動作について説明する。最初にス
テップＳ１においてターンテーブル７が駆動機構１４に
より例えば１０秒毎に１ピッチずつ回転され、抵抗体支
持部８に支持された抵抗体３が両端子間４，４間に供給
されると、ステップＳ２において前回測定され、メモリ
１５に記憶された波形データがクリアされ、ステップＳ
３において短時間電流印加回路２により印加された方形
波電流が規定時間内に完了しているかどうかが判断され
る。そしてＹＥＳの場合にはステップＳ４において電圧
Ｖ1A及び電流Ｉが測定され、次に、ステップＳ５におい
て電流Ｉの上下限が所定範囲内にあるか否が判断され、
ＹＥＳの場合にはステップＳ６において電圧Ｖ1Aが所定
範囲内にあるか否かが判断される。その結果、ステップ
Ｓ６において合格と判断された場合にはステップＳ７に
おいて電圧Ｖ1Aがチェックされる。さらに、ステップＳ
８において前記電圧Ｖ1Aが所定値か否か判断され判断さ
れ、ＹＥＳの場合にはステップＳ９において製品は合格
品扱いとなり、次の試験工程に移行する。
抗体３の電圧電流測定動作について説明する。最初にス
テップＳ１においてターンテーブル７が駆動機構１４に
より例えば１０秒毎に１ピッチずつ回転され、抵抗体支
持部８に支持された抵抗体３が両端子間４，４間に供給
されると、ステップＳ２において前回測定され、メモリ
１５に記憶された波形データがクリアされ、ステップＳ
３において短時間電流印加回路２により印加された方形
波電流が規定時間内に完了しているかどうかが判断され
る。そしてＹＥＳの場合にはステップＳ４において電圧
Ｖ1A及び電流Ｉが測定され、次に、ステップＳ５におい
て電流Ｉの上下限が所定範囲内にあるか否が判断され、
ＹＥＳの場合にはステップＳ６において電圧Ｖ1Aが所定
範囲内にあるか否かが判断される。その結果、ステップ
Ｓ６において合格と判断された場合にはステップＳ７に
おいて電圧Ｖ1Aがチェックされる。さらに、ステップＳ
８において前記電圧Ｖ1Aが所定値か否か判断され判断さ
れ、ＹＥＳの場合にはステップＳ９において製品は合格
品扱いとなり、次の試験工程に移行する。
【００２６】又、前述したステップＳ３において電流の
印加が規定時間内に完了していない場合には試験装置自
体に欠陥があるとみなしてステップＳ１０において不良
表示して中断処理される。又、前記ステップＳ５，Ｓ６
においてそれぞれ不合格となった場合においては製品は
無効品扱いとなる。さらに、ステップＳ８において不合
格となった場合においては、ステップＳ１２で製品が不
合格品扱いとなり不良搬出される。
印加が規定時間内に完了していない場合には試験装置自
体に欠陥があるとみなしてステップＳ１０において不良
表示して中断処理される。又、前記ステップＳ５，Ｓ６
においてそれぞれ不合格となった場合においては製品は
無効品扱いとなる。さらに、ステップＳ８において不合
格となった場合においては、ステップＳ１２で製品が不
合格品扱いとなり不良搬出される。
【００２７】次に、この発明を抵抗体３を複数個直列に
積層した積層抵抗体３の電流電圧試験装置として具体化
した第２実施例を図７〜図１０に基づいて説明する。図
７に示すように直流電源回路１には短時間電流印加回路
２を構成する複数個の充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn が直
列に接続されている。又、前記充電用コンデンサＣ1 〜
Ｃn に対し直列に制動抵抗ＲS0及びＲS1が接続され、両
制動抵抗間には放電ギャップユニット１１が直列に接続
されている。さらに、前記放電ギャップユニット１１と
制動抵抗ＲS1の中間点と前記充電用コンデンサＣn との
間には放電抵抗Ｒ0 が接続されている。さらに、前記制
動抵抗ＲS1と前記充電用コンデンサＣn との間には波形
調整用コンデンサＣ0 が接続されている。
積層した積層抵抗体３の電流電圧試験装置として具体化
した第２実施例を図７〜図１０に基づいて説明する。図
７に示すように直流電源回路１には短時間電流印加回路
２を構成する複数個の充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn が直
列に接続されている。又、前記充電用コンデンサＣ1 〜
Ｃn に対し直列に制動抵抗ＲS0及びＲS1が接続され、両
制動抵抗間には放電ギャップユニット１１が直列に接続
されている。さらに、前記放電ギャップユニット１１と
制動抵抗ＲS1の中間点と前記充電用コンデンサＣn との
間には放電抵抗Ｒ0 が接続されている。さらに、前記制
動抵抗ＲS1と前記充電用コンデンサＣn との間には波形
調整用コンデンサＣ0 が接続されている。
【００２８】この第２実施例においては電圧測定回路６
は図８に示すように、波形観測用抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 が短時
間電流印加回路２の出力端子に接続され、抵抗Ｒ2 には
同じく波形観測用抵抗Ｒ3 ，Ｒ4 が接続されている。
又、抵抗Ｒ4 にはオシロスコープ１２が並列に接続され
ている。
は図８に示すように、波形観測用抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 が短時
間電流印加回路２の出力端子に接続され、抵抗Ｒ2 には
同じく波形観測用抵抗Ｒ3 ，Ｒ4 が接続されている。
又、抵抗Ｒ4 にはオシロスコープ１２が並列に接続され
ている。
【００２９】この実施例の電圧測定回路６の分圧比ｎ
は、次式（４）で表される。
は、次式（４）で表される。
【００３０】
【数４】
【００３１】次に、電流測定回路５を図９により説明す
ると、抵抗体３と直列に接続されたシャント抵抗ＲS に
対し、波形観測用抵抗Ｒ5 ，Ｒ6 が並列に接続され、抵
抗Ｒ6 にはオシロスコープ１３が並列に接続されてい
る。
ると、抵抗体３と直列に接続されたシャント抵抗ＲS に
対し、波形観測用抵抗Ｒ5 ，Ｒ6 が並列に接続され、抵
抗Ｒ6 にはオシロスコープ１３が並列に接続されてい
る。
【００３２】前記電流測定回路５の各抵抗の分流比ｍ
は、次の（５）式で表される。
は、次の（５）式で表される。
【００３３】
【数５】 ｍ＝（ＲS ＋Ｒ5 ＋Ｒ6 ）／（ＲS ・Ｒ6 ） ・・・（５） 次に、前記第２実施例の電流電圧試験装置の作用を説明
する。
する。
【００３４】今、図７において直流電源回路の電圧が複
数の充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn に充電され、所定電圧
以上になると、制動抵抗ＲS0を介して放電ギャップユニ
ット１１のギャップＧで短時間の放電が生じ、この結果
積層抵抗体３には、数百μｓ以下の短時間に１Ａの電流
が印加される。このときの電流Ｉ及び積層抵抗体３に発
生する電圧Ｖ1Aが電流測定回路５及び電圧測定回路６に
より測定され、積層品の電圧非直線抵抗体３の電気的特
性を正確に知ることができる。
数の充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn に充電され、所定電圧
以上になると、制動抵抗ＲS0を介して放電ギャップユニ
ット１１のギャップＧで短時間の放電が生じ、この結果
積層抵抗体３には、数百μｓ以下の短時間に１Ａの電流
が印加される。このときの電流Ｉ及び積層抵抗体３に発
生する電圧Ｖ1Aが電流測定回路５及び電圧測定回路６に
より測定され、積層品の電圧非直線抵抗体３の電気的特
性を正確に知ることができる。
【００３５】ここで、前記電流電圧試験装置の測定動作
の１例を説明する。充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn の静電
容量＝０．５μＦ、コンデンサ個数ｎ＝１２、制動抵抗
ＲS0＝１２０Ω、ＲS1＝２０ＫΩ、放電抵抗Ｒ0 ＝６７
ＫΩ、波形調整用コンデンサＣ0 ＝２０００ｐＦ、波形
観測用抵抗Ｒ1 ＝３６５ＫΩ、Ｒ2 ＝７２ＫΩ、Ｒ3 ＝
０Ω、Ｒ4 ＝７５Ω、電流測定回路の抵抗ＲS ＝１０．
７５Ω、Ｒ5 ＝７５Ω、Ｒ6 ＝７５Ωとした場合におい
て、実際に抵抗体３に流れる電流Ｉ及び電圧Ｖ1Aを測定
した結果、図１０に示すような波形を得ることができ
た。前記電圧測定回路６の分圧比ｎ，電流測定回路５の
分流比ｍは前述した（４）式及び（５）式により、ｎ＝
１００００、ｍ＝０．２となる。この１０図から印加さ
れた電流Ｉ＝１．００Ａで電圧Ｖ1Aは２３ＫＶあった。
の１例を説明する。充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn の静電
容量＝０．５μＦ、コンデンサ個数ｎ＝１２、制動抵抗
ＲS0＝１２０Ω、ＲS1＝２０ＫΩ、放電抵抗Ｒ0 ＝６７
ＫΩ、波形調整用コンデンサＣ0 ＝２０００ｐＦ、波形
観測用抵抗Ｒ1 ＝３６５ＫΩ、Ｒ2 ＝７２ＫΩ、Ｒ3 ＝
０Ω、Ｒ4 ＝７５Ω、電流測定回路の抵抗ＲS ＝１０．
７５Ω、Ｒ5 ＝７５Ω、Ｒ6 ＝７５Ωとした場合におい
て、実際に抵抗体３に流れる電流Ｉ及び電圧Ｖ1Aを測定
した結果、図１０に示すような波形を得ることができ
た。前記電圧測定回路６の分圧比ｎ，電流測定回路５の
分流比ｍは前述した（４）式及び（５）式により、ｎ＝
１００００、ｍ＝０．２となる。この１０図から印加さ
れた電流Ｉ＝１．００Ａで電圧Ｖ1Aは２３ＫＶあった。
【００３６】又、測定開始から電流Ｉが最大となるまで
の時間Ｔａは１００μｓ、電流Ｉが波頭値から５０％に
減少するまでの時間Ｔｂは３００μｓ、合計時間Ｔｄは
４００μｓであった。
の時間Ｔａは１００μｓ、電流Ｉが波頭値から５０％に
減少するまでの時間Ｔｂは３００μｓ、合計時間Ｔｄは
４００μｓであった。
【００３７】抵抗体３に印加するインパルス電流波形を
１００／３００μｓとすることで、抵抗体３の熱破壊を
防止するとともに、安定した電圧−電流波形を得ること
ができる。電流波形として第１実施例のように方形波イ
ンパルス電流も考えられるが高電圧が必要なこと、充電
用コンデンサＣ1 〜Ｃn を直並列に多数個接続すること
になるため、装置が大型化し、従って、図１０に示すよ
うにインパルス波形が得られるようにしたものである。
１００／３００μｓとすることで、抵抗体３の熱破壊を
防止するとともに、安定した電圧−電流波形を得ること
ができる。電流波形として第１実施例のように方形波イ
ンパルス電流も考えられるが高電圧が必要なこと、充電
用コンデンサＣ1 〜Ｃn を直並列に多数個接続すること
になるため、装置が大型化し、従って、図１０に示すよ
うにインパルス波形が得られるようにしたものである。
【００３８】なお、この発明は前記実施例に限定される
ものではなく、この発明の主旨を逸脱しない範囲で各部
の構成を任意に変更して具体化することも可能である。
ものではなく、この発明の主旨を逸脱しない範囲で各部
の構成を任意に変更して具体化することも可能である。
【００３９】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明は電圧非
直線抵抗体を熱破壊することなく、１Ａの電流を実際に
抵抗体に流した場合における抵抗体に発生する電圧Ｖ1A
を実測して正確な値を求めることができる効果がある。
直線抵抗体を熱破壊することなく、１Ａの電流を実際に
抵抗体に流した場合における抵抗体に発生する電圧Ｖ1A
を実測して正確な値を求めることができる効果がある。
【図１】この発明を具体化した第１実施例の電流電圧測
定装置の回路図である。
定装置の回路図である。
【図２】第１実施例の電圧測定回路図である。
【図３】第１実施例の電流測定回路図である。
【図４】第１実施例の電流、電圧の測定結果を示すグラ
フである。
フである。
【図５】第１実施例の電流電圧測定装置の測定動作を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図６】第１実施例の電流電圧測定装置のブロック回路
図である。
図である。
【図７】この発明の第２実施例を具体化した回路図であ
る。
る。
【図８】第２実施例における電圧測定回路図である。
【図９】第２実施例における電流測定回路図である。
【図１０】第２実施例による電流、電圧の測定結果を示
すグラフである。
すグラフである。
１ 直流電流回路、２ 短時間電流印加回路、３ 電圧
非直線抵抗体、４ 電流印加用端子、５ 電流測定回
路、６ 電圧測定回路、１１ 放電ギャップユニット、
１２，１３ オシロスコープ、Ｃ1 〜Ｃn 充電用コン
デンサ、Ｃ0 波形調整用コンデンサ、Ｌ1 〜Ｌn イ
ンダクタンス、Ｒ0 放電抵抗、ＲS0，ＲS1 制動抵
抗、Ｒ1 〜Ｒ6 波形観測用抵抗、Ｇ ギャップ。
非直線抵抗体、４ 電流印加用端子、５ 電流測定回
路、６ 電圧測定回路、１１ 放電ギャップユニット、
１２，１３ オシロスコープ、Ｃ1 〜Ｃn 充電用コン
デンサ、Ｃ0 波形調整用コンデンサ、Ｌ1 〜Ｌn イ
ンダクタンス、Ｒ0 放電抵抗、ＲS0，ＲS1 制動抵
抗、Ｒ1 〜Ｒ6 波形観測用抵抗、Ｇ ギャップ。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成３年１１月６日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３５】ここで、前記電流電圧試験装置の測定動作
の１例を説明する。充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn の静電
容量＝０．５μＦ、コンデンサ個数ｎ＝１２、制動抵抗
ＲS0＝１２０Ω、ＲS1＝２０ＫΩ、放電抵抗Ｒ0 ＝６７
ＫΩ、波形調整用コンデンサＣ0 ＝２０００ｐＦ、波形
観測用抵抗Ｒ1 ＝３６５ＫΩ、Ｒ2 ＝７２ＫΩ、Ｒ3 ＝
０Ω、Ｒ4 ＝７５Ω、電流測定回路の抵抗ＲS ＝１０．
７５Ω、Ｒ5 ＝７５Ω、Ｒ6 ＝７５Ωとした場合におい
て、実際に抵抗体３に流れる電流Ｉ及び電圧Ｖ1Aを測定
した結果、図１０に示すような波形を得ることができ
た。前記電圧測定回路６の分圧比ｎ，電流測定回路５の
分流比ｍは前述した（４）式及び（５）式により、ｎ＝
１００００、ｍ＝０．２となる。この１０図から印加さ
れた電流Ｉ＝１．００Ａで電圧Ｖ1Aは２３４ＫＶあっ
た。
の１例を説明する。充電用コンデンサＣ1 〜Ｃn の静電
容量＝０．５μＦ、コンデンサ個数ｎ＝１２、制動抵抗
ＲS0＝１２０Ω、ＲS1＝２０ＫΩ、放電抵抗Ｒ0 ＝６７
ＫΩ、波形調整用コンデンサＣ0 ＝２０００ｐＦ、波形
観測用抵抗Ｒ1 ＝３６５ＫΩ、Ｒ2 ＝７２ＫΩ、Ｒ3 ＝
０Ω、Ｒ4 ＝７５Ω、電流測定回路の抵抗ＲS ＝１０．
７５Ω、Ｒ5 ＝７５Ω、Ｒ6 ＝７５Ωとした場合におい
て、実際に抵抗体３に流れる電流Ｉ及び電圧Ｖ1Aを測定
した結果、図１０に示すような波形を得ることができ
た。前記電圧測定回路６の分圧比ｎ，電流測定回路５の
分流比ｍは前述した（４）式及び（５）式により、ｎ＝
１００００、ｍ＝０．２となる。この１０図から印加さ
れた電流Ｉ＝１．００Ａで電圧Ｖ1Aは２３４ＫＶあっ
た。
Claims (2)
- 【請求項１】 電圧非直線抵抗体単品に対し方形波イン
パルス電流発生装置から、５Ａ以下の電流をほぼ２．５
ｍｓの短時間印加して、電圧非直線抵抗体の両端に発生
する電圧及び前記短時間電流を測定して記録することを
特徴とした電圧非直線抵抗体の電流電圧試験方法。 - 【請求項２】 雷インパルス電圧発生装置に制動抵抗、
放電抵抗及び波形調整用コンデンサを組込み、電圧非直
線抵抗体積層品に対し前記雷インパルス電圧発生装置か
ら５Ａ以下の電流を数百μｓの短時間印加して、該抵抗
体積層品の両端に発生する電圧及び前記短時間電流を測
定して記録することを特徴とした電圧非直線抵抗体の電
流電圧試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3251331A JPH0587868A (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | 電圧非直線抵抗体の電流電圧試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3251331A JPH0587868A (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | 電圧非直線抵抗体の電流電圧試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0587868A true JPH0587868A (ja) | 1993-04-06 |
Family
ID=17221231
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3251331A Pending JPH0587868A (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | 電圧非直線抵抗体の電流電圧試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0587868A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5967799A (en) * | 1996-09-18 | 1999-10-19 | Nec Corporation | Structure of printed circuit boards coupled through stacking connectors |
| JP2009104872A (ja) * | 2007-10-23 | 2009-05-14 | Panasonic Corp | 過電圧保護素子の検査方法 |
| CN105891636A (zh) * | 2016-04-13 | 2016-08-24 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种模拟变压器遭受短路冲击的系统 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62267673A (ja) * | 1986-05-15 | 1987-11-20 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 雷電流波形の模擬装置 |
| JPH01195372A (ja) * | 1988-01-29 | 1989-08-07 | Chino Corp | 電流電圧測定装置 |
| JPH0251072A (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-21 | Ngk Insulators Ltd | 電圧非直線抵抗体の課電検査方法 |
-
1991
- 1991-09-30 JP JP3251331A patent/JPH0587868A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62267673A (ja) * | 1986-05-15 | 1987-11-20 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 雷電流波形の模擬装置 |
| JPH01195372A (ja) * | 1988-01-29 | 1989-08-07 | Chino Corp | 電流電圧測定装置 |
| JPH0251072A (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-21 | Ngk Insulators Ltd | 電圧非直線抵抗体の課電検査方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5967799A (en) * | 1996-09-18 | 1999-10-19 | Nec Corporation | Structure of printed circuit boards coupled through stacking connectors |
| JP2009104872A (ja) * | 2007-10-23 | 2009-05-14 | Panasonic Corp | 過電圧保護素子の検査方法 |
| CN105891636A (zh) * | 2016-04-13 | 2016-08-24 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种模拟变压器遭受短路冲击的系统 |
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