JPH0587991A - Sor用ミラー - Google Patents

Sor用ミラー

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JPH0587991A
JPH0587991A JP3278330A JP27833091A JPH0587991A JP H0587991 A JPH0587991 A JP H0587991A JP 3278330 A JP3278330 A JP 3278330A JP 27833091 A JP27833091 A JP 27833091A JP H0587991 A JPH0587991 A JP H0587991A
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film
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四郎 保立
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拓 山崎
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照夫 菅井
Shigeo Kato
茂男 加藤
Haruo Tazoe
春夫 田添
Hiroaki Koike
弘明 小池
Takeshi Inaba
毅 稲葉
Eiichi Sotodani
栄一 外谷
Shinichi Inoue
新一 井上
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 反射率を向上させる。 【構成】 耐熱性セラミックス基材1の表面に、CVD
法によりコーティングされ、上面に研磨を施した所要厚
さのSiC膜3,4を、少なくとも2層積層することに
より、下層側のSiC膜上面の研磨によって、上層側の
SiC膜の結晶の成長や異方性を抑制し、SiC膜全体
の厚さが厚くなっても欠陥を少なくする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、SOR(シンクロトロ
ン放射光)用ミラーに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のSOR用ミラーとして
は、黒鉛、SiC(炭化けい素)等の耐熱性セラミック
ス基材の表面に、連続長時間のあるいは複数回のCVD
(化学蒸着)法によりSiC膜を所要厚さ(数百μm)
にコーティングし、SiC膜の上面に鏡面研磨を施した
ものが知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のSOR用ミラーにおいては、SiC膜の膜厚が増加
するに従って、粒子の吸蔵(occlusion)によ
る欠陥や結晶粒成長による結晶粒界の欠陥が生じ、反射
率が低下する問題がある。
【0004】そこで、本発明は、反射率を向上し得るS
OR用ミラーの提供を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明のSOR用ミラーは、耐熱性セラミックス基
材の表面に、CVD法によりコーティングされ、上面に
研磨を施した所要厚さのSiC膜を、少なくとも2層積
層したものである。
【0006】
【作用】上記手段においては、下層側のSiC膜上面の
研磨により、上層側のSiC膜の結晶の成長や異方性が
抑制され、SiC膜全体の厚さが厚くなっても欠陥が少
なくなる。
【0007】各層のSiC膜の厚さは、30〜300μ
mが好ましい。30μm未満であると、CVD膜が島状
構造となり膜をなさなかったり、研磨時に下層表面が露
出することとなり、300μmを超えると、結晶の成長
や異方性が抑制されず、研磨後に結晶粒界でチッピング
等の欠陥の発生率が高くなる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0009】図1,図2は本発明の一実施例のSOR用
ミラーの断面図、要部の拡大断面図である。
【0010】このSOR用ミラーは、矩形板状(100
mm×300mm×20mm)のSiC基材1の全表面に、C
VD法により厚さ30〜300μmのSiC膜2をコー
ティングし、かつ反射面となる一面(図1においては上
面)を表面粗さRmsが10〜5000オングストローム
以下となるように研磨を施して研磨SiC膜3とし、こ
の研磨SiC膜3の上面に、同様にCVD法により厚さ
30〜300μmのSiC膜をコーティングし、かつこ
のSiC膜の反射面となる上面を表面粗さRmsが3〜2
0オングストローム以下となるように鏡面研磨を施して
研磨SiC膜4とした、いわばSiC基材1の反射面に
研磨SiC膜3,4を2層積層した構造とされている。
【0011】この際、中間層となる研磨SiC膜3の表
面粗さRmsは、10〜5000オングストロームが好ま
しい。Rms10オングストローム未満であると加工費が
かかりコスト的に採算があわなくなる。一方、Rms50
00オングストロームを超えると表面の凹凸が上に積層
されるSiC膜4の結晶形態に影響を及ぼし、最終的に
反射面に欠陥が発生し易くなる。又、最終的な反射面と
なる最外側の研磨SiC膜4は、ミラーとしての作用を
なすものであるため、Rms3〜10オングストロームの
鏡面研磨を施すことが必要である。
【0012】上記構造のSOR用ミラーの製造に際して
は、先ず、SiC材を所要の寸法形状に加工して複数の
SiC基材1とし、これらを1250℃の温度下でHC
lガスを用いて洗浄処理した後、図3に示すように、C
VD法により処理時間を変えて種々の厚さのSiC膜2
を全面にコーティングした。
【0013】CVD条件は、次の通りである。
【0014】次いで、各SiC基材1における反射面と
なる一面のSiC膜2に、ラッピング、ポリッシング等
によりRms10オングストロームとなるような研磨を施
し、図4に示すように、研磨SiC膜3とした。表1に
この時のCVD膜厚と表面に観察された欠陥数との関係
を示した。
【0015】
【表1】 従って、試料No.2〜4の膜厚のものが、欠陥数の点で
優れていることがわかった。
【0016】次に、SiC基材1の全表面に100μm
のSiC膜2をコーティングし、フライス、ラッピン
グ、ポリッシング等により、種々の表面粗さを有する研
磨SiC膜3を形成した。その後、CVD法により研磨
SiC膜3の上に100μmのSiC膜5をコーティン
グした。
【0017】CVD条件は、次の通りである。 原料ガス:MTCS(トリメチルクロロシラン) 0.24l/min H2 0.70l/min 温 度:1300℃
【0018】次いで、各SiC基材1のSiC膜5にラ
ッピング、ポリッシング等により鏡面研磨を施し、図6
に示すように研磨SiC膜4とした後、1250℃の温
度下でHClガスを用いて洗浄処理し、SOR用ミラー
を得た。
【0019】研磨SiC膜4の表面の欠陥数を観察した
ところ、表2の結果を得た。
【0020】
【表2】 従って、中間層(境界層)となる研磨SiC膜3の表面
粗さRmsは、5000オングストローム以下が好ましい
ことがわかった。
【0021】又、各SOR用ミラーの表面の欠陥数と反
射率との関係を表3に示した。
【0022】
【表3】 従って、各層のSiC膜の膜厚を30〜300μmに設
定し、かつ境界層となる研磨SiC膜の表面粗さRms
10〜5000オングストロームに設定することによ
り、表面に観察される欠陥数を0.3個/cm2 以下に限
定することが可能となり、反射率93〜95%のSOR
用ミラーを得ることができ、従来のものの反射率(85
%)より大幅に向上できることがわかった。
【0023】なお、上述した実施例においては、1層目
と2層目のSiC膜2,5をCVDコーティングする際
の原料ガスを異ならせているが、いずれか一方の原料ガ
スのみを用いてCVDコーティングしてもよい。
【0024】又、基材は、SiCに限らず、黒鉛、Si
含浸SiC又はSi単結晶その他を用いてもよい。
【0025】更に、研磨SiC膜は、2層とする場合に
限らず、基材との熱膨張率による剥離を生じない範囲
で、3層以上積層してもよい。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のSOR用
ミラーによれば、下層側のSiC膜上面の研磨により、
上層側のSiC膜の結晶の成長や異方性が抑制され、S
iC膜全体の厚さが厚くなっても欠陥が少なくなるの
で、従来のものに比して反射率を大幅に向上することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のSOR用ミラーの断面図で
ある。
【図2】本発明の一実施例のSOR用ミラーの要部の断
面図である。
【図3】本発明の一実施例のSOR用ミラーの製造工程
1を示す要部の断面図である。
【図4】本発明の一実施例のSOR用ミラーの製造工程
2を示す要部の断面図である。
【図5】本発明の一実施例のSOR用ミラーの製造工程
3を示す要部の断面図である。
【図6】本発明の一実施例のSOR用ミラーの製造工程
4を示す要部の断面図である。
【符号の説明】
1 SiC基材 2 SiC膜 3 研磨SiC膜 4 研磨SiC膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加藤 茂男 山形県西置賜郡小国町大字小国町378番地 東芝セラミツクス株式会社小国製造所内 (72)発明者 田添 春夫 山形県西置賜郡小国町大字小国町378番地 東芝セラミツクス株式会社小国製造所内 (72)発明者 小池 弘明 山形県西置賜郡小国町大字小国町378番地 東芝セラミツクス株式会社小国製造所内 (72)発明者 稲葉 毅 山形県西置賜郡小国町大字小国町378番地 東芝セラミツクス株式会社小国製造所内 (72)発明者 外谷 栄一 山形県西置賜郡小国町大字小国町378番地 東芝セラミツクス株式会社小国製造所内 (72)発明者 井上 新一 山形県西置賜郡小国町大字小国町378番地 東芝セラミツクス株式会社小国製造所内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 耐熱性セラミックス基材の表面に、CV
    D法によりコーティングされ、上面に研磨を施した所要
    厚さのSiC膜を、少なくとも2層積層したことを特徴
    とするSOR用ミラー。
JP3278330A 1991-09-30 1991-09-30 Sor用ミラー Expired - Fee Related JPH0774839B2 (ja)

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US08/029,648 US5448418A (en) 1991-09-30 1993-03-10 Mirror for SOR
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JPH0774839B2 (ja) 1995-08-09
US5448418A (en) 1995-09-05
DE4307519A1 (de) 1994-09-15

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