JPH0588429B2 - - Google Patents

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JPH0588429B2
JPH0588429B2 JP58097452A JP9745283A JPH0588429B2 JP H0588429 B2 JPH0588429 B2 JP H0588429B2 JP 58097452 A JP58097452 A JP 58097452A JP 9745283 A JP9745283 A JP 9745283A JP H0588429 B2 JPH0588429 B2 JP H0588429B2
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JP
Japan
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circuit
output
capacitor
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integrating
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JP58097452A
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English (en)
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JPS59221674A (ja
Inventor
Yoshihisa Ishigami
Yasumasa Hashimoto
Masaharu Kitado
Hiromi Nishimura
Tetsuo Mori
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、負荷や電力線などの漏電を検出する
漏電検出装置、特に高い周波数範囲では振幅が小
さく、低い周波数範囲では振幅が大きい発振回路
を含み、その発振出力の周波数を検出する周波数
検出回路を備える漏電検出装置に関する。
背景技術 このような周波数検出回路は、たとえば電流検
出のために、磁気マルチバイブレータ回路を用い
たときに必要となる。磁気マルチバイブレータ回
路では、それに含まれている可飽和リアクトルに
巻回されているコイルの被検出電流が変化するこ
とによつて出力周波数が変化し、これに応じて振
幅が高い周波数範囲では小さく、低い周波数範囲
では大きく変化する。このような磁気マルチバイ
ブレータ回路からの出力の周波数を検出すること
によつて、被検出電流の大きさを識別することが
できる。
このような周波数検出回路は、可及的に構成が
簡単であり、しかも確実に動作することが望まれ
る。
目 的 本発明の目的は、構成が簡単であり、かつ確実
に動作することができ、したがつて信頼性が向上
された周波数検出回路を備える漏電検出装置を提
供することである。
発明の構成 本発明は、負荷1に交流電源10から電力を供
給するためのライン2,3が挿通するコア43
に、一対の2次コイル44および3次コイル45
が巻回される可飽和リアクトル41を備え、各コ
イル44,45の一方端は共通接続され、各コイ
ル44,45の他方端には一対のスイツチング素
子46,47がそれぞれ接続されて構成される磁
気マルチバイブレータ回路4と、 抵抗16の一端およびコンデンサ18の一端が
接続点20で直列接続される第1積分回路であつ
て、抵抗16の他端は磁気マルチバイブレータ回
路4の一方のスイツチング素子46と2次コイル
44の他方端との接続点に接続される。そのよう
な第1積分回路と、 抵抗14の一端およびコンデンサ17の一端が
接続点19で直列接続される第2積分回路であつ
て、抵抗14の他端は磁気マルチバイブレータ回
路4の他方のスイツチング素子47と3次コイル
45の他方端との接続点に接続される。そのよう
な第2積分回路と、 第1および第2積分回路の接続点20,19間
の出力に含まれる交流成分を除去するローパスフ
イルタ25と、 ローパスフイルタ25への入力とローパスフイ
ルタ25からの出力との差を増幅する増幅回路2
8と、 増幅回路28からの出力を予め定める第1弁別
レベルl1でレベル弁別する第1レベル弁別回路2
9と、 第1レベル弁別回路29からの出力によつてス
イツチング動作されるスイツチング素子36と、 スイツチング素子36の出力側に並列に接続さ
れる積分コンデンサ37と、 積分コンデンサ37を予め定める電流値I2で充
電する定電流源38と、 積分コンデンサ37の出力を予め定める第2弁
別レベルl2でレベル弁別する第2レベル弁別回路
40とを含むことを特徴とする漏電検出装置であ
る。
実施例 第1図は、本発明の1実施例の電気回路図であ
る。負荷1には、ライン2,3を介して交流電源
10から電力が供給される。このライン2,3に
は、スイツチ11,12が介在されている。ライ
ン2,3は、磁気マルチバイブレータ回路4の可
飽和リアクトル41におけるコア43を挿通して
いる。このライン2,3に漏電が生じたとき、後
述のように磁気マルチバイブレータ回路4の周波
数が変化する。
磁気マルチバイブレータ回路4は、可飽和リア
クトル41と、マルチバイブレータ42とを含
む。可飽和リアクトル41のコア43には、同一
巻数を有する2次コイル44および3次コイル4
5が巻回されている。マルチバイブレータ42で
は、トランジスタ46,47は、交互に導通、遮
断動作を行なう。ライン2,3に流れる電流が等
しいとき、したがつて漏電が生じていないときに
は、コイル44,45に誘起される電圧は零であ
り、したがつてトランジスタ46,47のデユー
テイ比は50%である。トランジスタ46が導通
し、トランジスタ47が遮断した場合には、抵抗
40からの電流は、3次コイル45を介してトラ
ンジスタ47には流れずに、2次コイル44を介
してトランジスタ46に流れる。このとき、トラ
ンジスタ46のベース電圧が低いので、定電流源
50からの一定電流I1は、ダイオード56を介し
てトランジスタ46に流れるとともに、ダイオー
ド55を介してトランジスタ47には流れなくな
る。また定電流源49からの一定電流I1は、ダイ
オード54を介してトランジスタ47には流れず
にダイオード53を介してトランジスタ46に流
れる。トランジスタ46のベース電圧が高くな
り、トランジスタ46のベース電流を、ib、電流
増幅率をhfeとすると、コレクタ・エミツタ間電
流がib・hfeになると、トランジスタ46は能動
領域となる。
トランジスタ46のベース電圧が高くなると、
定電流源50からの一定電流I1は、ダイオード5
6を介してトランジスタ46には流れなくなり、
ダイオード55を介してトランジスタ47に流
れ、トランジスタ47が導通する。また定電流源
49からの一定電流I1は、ダイオード53を介し
てトランジスタ46には流れなくなつてトランジ
スタ46が遮断し、ダイオード54を介してトラ
ンジスタ47に流れる。したがつて抵抗40から
の電流は、2次コイル44を介してトランジスタ
46には流れずに、3次コイル45を介してトラ
ンジスタ47に流れる。
したがつて、トランジスタ46,47のコレク
タ・エミツタ間電圧のピーク値、および抵抗40
の電圧のピーク値が一定に定められて、磁気マル
チバイブレータ回路4からは、ピーク値の等しい
同一波形の出力が順次導出される。
定電流源49,50から前述の一定の電流I1よ
りも大なる充分な一定の電流I2を流した場合を想
定する。この場合には、抵抗40の抵抗値をR40
と、トランジスタ46,47のコレクタ・エミツ
タ間電流が2.Vcc/R40になると、すなわち能動
領域になると、トランジスタ46,47は異なる
デユーテイサイクルで急峻に遮断し、発振が継続
される。したがつてダイオード53,54,5
5,56の順方向電圧に誤差が生じても、トラン
ジスタ46,47のコレクタ・エミツタ間電圧お
よび抵抗40の電圧のピーク値が一定に定められ
て、磁気マルチバイブレータ回路4からはピーク
値の等しい同一波形の出力が順次導出される。
漏電が生じたときには、コイル44,45に流
れる電流が漏電が生じていないときよりも小さく
ても可飽和リアクトル41のコア43が飽和する
ようになる。したがつて、電流が増加して飽和に
達するまでに要する時間が短くなり、磁気マルチ
バイブレータ回路4の発振周期も短くなつて発振
周波数は高くなる。この出力は、抵抗14,1
5,16およびコンデンサ17,18から成る回
路に与えられる。この回路のうち、抵抗16およ
びコンデンサ18から成る直列回路は第1積分回
路を構成し、抵抗14およびコンデンサ17から
成る直列回路は第2積分回路を構成する。磁気マ
ルチバイブレータ回路4の出力は、正常時および
漏電電流が小さいときには、周波数が低くかつ交
流成分の振幅が大きい。これに対して漏電電流が
大きいときには、磁気マルチバイブレータ回路4
の周波数は高くかつ交流成分の振幅は小さい。磁
気マルチバイブレータ回路4の接続点19,20
における出力は、増幅回路21,22にそれぞれ
与えられ、抵抗23とコンデンサ24とから成る
ローパスフイルタ25に与えられる。
第2図は漏電電流が小さいときにおける動作波
形を示し、第3図は漏電電流が大きいときにおけ
る動作波形を示する。接続点19における波形
は、第2図1および第3図1における参照符P1,
P6でそれぞれ示されており、接続点20の波形
は参照符P2,P7でそれぞれ示されている。増幅
回路21から接続点26に導出される波形は、第
2図2および第3図2にそれぞれ示されている。
ローパスフイルタ25は、磁気マルチバイブレー
タ4回路からの出力の交流成分を除去し、この直
流成分とローパスフイルタ25を通す前の信号と
の差を求めることによつて、接続点27では、第
2図3および第3図3で示される交流成分のみが
導出される。この交流成分は、増幅回路28によ
つて増幅される。増幅回路28に関連して抵抗2
9,30,31が接続されている。第1レベル弁
別回路である比較回路29に関連して定電流回路
30およびダイオード31が接続される。接続点
27における交流成分は、前述のように、高い周
波数範囲でその振幅が小さく、低い周波数範囲で
その振幅が大きい。したがつて比較回路29で
は、基準電圧を変化させて検出したい周波数を選
定することができる。通常の発振時したがつて正
常時および漏電電流が小さいときには、交流成分
の振幅は小さく、したがつて比較回路29の第1
弁別レベルである基準レベルl1を超えている。そ
のため抵抗32,33によつて分圧された電圧が
与えられる接続点34では、第2図4に示される
パルスが得られる。磁気マルチバイブレータ4の
周波数が高くなつて交流成分の振幅が小さくなる
と、その振幅は比較回路29の基準レベルl1未満
となり、接続点34では第3図4でされるように
ローレベルのままとなる。
接続点34の電圧はスイツチング素子としての
トランジスタ36に与えられる。トランジスタ3
6は積分コンデンサ37に並列に接続されてい
る。このコンデンサ37には、定電流源38によ
つて一定の電流I2が流れ込んでいる。これによつ
てコンデンサ37の電圧は、時間の一次関数で上
昇する。したがつてトランジスタ36が導通して
いるとき、コンデンサ37は放電され、トランジ
スタ36が遮断したとき、コンデンサ37の電圧
は時間経過とともに一次関数で上昇する。トラン
ジスタ36のオン、オフ動作によつて、コンデン
サ37の電圧は接続点39において、第2図5お
よび第3図5の波形となる。接続点39の電圧は
第2レベル弁別回路である比較回路40に与えら
れる。この比較回路40には電源41によつて第
2弁別レベルである基準電圧l2が与えられる。
正常時および漏電電流が小さいときには、第2
図5で示されるようにコンデンサ37の電圧は基
準レベルl2未満であり、したがつて比較回路40
は抵抗42を介してトランジスタ43を遮断して
いる。漏電電流が大きいときには、第3図5で示
されるようにコンデンサ37の電圧は基準レベル
l2を超え、これによつて比較回路40はトランジ
スタ43を導通する。したがつてコンデンサ44
の電圧は上昇し、レベル弁別回路46によつて定
められた値を超えると、レベル弁別回路46は抵
抗48からトランジスタ49にハイレベルの信号
を与える。これによつてトランジスタ49が導通
する。そのためスイツチング手段50のトリツプ
コイル51が励磁される。トリツプコイル51の
励磁によつて、スイツチ11,12が遮断され
る。
本発明の他の実施例は、第4図に示されてい
る。磁気マルチバイブレータ回路4の接続点19
における出力は、電圧電流変換回路60によつ
て、接続点19の電圧に対応した電流値に変換さ
れる。この電圧電流変換回路60からの電流I3
は、積分コンデンサ61を充電する。コンデンサ
61には並列に放電のための定電流源62が接続
されており、この定電流源62の電流は参照符I4
で示されている。
第5図1は正常のおよび漏電電流が小さいとき
の接続点19における低周波出力波形を示し、第
6図1は漏電電流が大きいときに磁気マルチバイ
ブレータ回路4が高周波で発振している出力波形
を示す。コンデンサ61の接続点63における波
形は、第5図2および第6図2にそれぞれ示され
ている。このコンデンサ61の電圧は、比較回路
64に与えられる。比較回路64には、電源65
によつて基準レベルl3が設定される。コンデンサ
61は、接続点19の出力パルスがハイレベルで
あるとき、電流(I3−I4)で充電され、接続点1
9がローレベルであるとき、電流I4で放電され
る。したがつてコンデンサ61の充放電時におけ
る接続点63の電圧は時間と一次関数となつてい
る。接続点63におけるコンデンサ61の電圧
は、電流I3,I4が一定であるので、接続点19に
おける磁気マルチバイブレータ回路4の出力パル
スのパルス幅に依存する。漏電電流が大きいとき
には、磁気マルチバイブレータ4は高周波で発振
し、パルス幅は小さくなる。したがつて、コンデ
ンサ61の接続点63における電圧は低くなる。
したがつて正常時および漏電電流が小さいときに
おいては、比較回路64からトランジスタ66に
第5図3で示されるパルスが与えられる。大きな
漏電電流が生じたときには高周波発振が行なわ
れ、その比較回路64の出力は第6図3で示され
るようにローレベルのままとなる。
トランジスタ66以降の回路は前述のトランジ
スタ36以降の回路と同様であり、積分コンデン
サ67、定電流源68、比較回路69、基準レベ
ルを設定する電圧源70、抵抗71、トランジス
タ72、コンデンサ73およびレベル弁別回路7
4が接続される。レベル弁別回路74からの出力
は、磁気マルチバイブレータ回路4が高周波数で
振しているときにハイレベルとなり、これによつ
て前述のようにスイツチング手段50のスイツチ
11,12が遮断する。
効 果 以上のように本発明によれば、構成が簡単で動
作が確実な周波数検出回路を備え、したがつて信
頼性が向上された漏電検出装置を得ることができ
る。
すなわち、負荷に交流電源からの電力を供給す
るためのラインが磁気マルチバイブレータ回路を
構成するコアに挿通されているので、漏電電流が
流れれば、負荷電圧や負荷電流に比べて小さな値
であつても、確実に周波数の差として検出するこ
とができる。
磁気マルチバイブレータ回路の出力には第1お
よび第2積分回路が接続されている。これによつ
て、漏電電流が小さいときの低い周波数範囲で振
幅が大きい出力に対して、漏電電流が大きいとき
の高い周波数範囲で振幅が小さい出力をより一層
減衰させ、振幅の違いを大きくさせることができ
る。さらにローパスフイルタによつて交流成分を
除去した出力と、ローパスフイルタに入力する出
力との差を増幅して第1弁別レベルで第1レベル
弁別回路がレベル弁別し、その弁別出力によつて
スイツチング素子をスイツチング動作させる。ス
イツチング素子の出力には積分コンデンサが接続
され、スイツチング素子が遮断状態のとき、定電
流源からの予め定める電流値で充電され、その出
力が第2レベル弁別回路によつてて第2弁別レベ
ルでレベル弁別される。積分コンデンサの充電は
定電流源からの一定の出力電流によつて行うの
で、第2弁別レベルに達するまでの充電電圧の時
間変化率は一定となり、第2レベル弁別回路のレ
ベル弁別動作を確実に行うことができ、信頼性が
向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例の電気回路図、第2
図および第3図は周波数検出回路の動作を説明す
るための波形図、第4図は本発明の他の実施例の
電気回路図、第5図および第6図はパルス幅検出
回路の動作を説明するための波形図である。 1…負荷、10…交流電源、4…磁気マルチバ
イブレータ回路、25…ローパスフイルタ、29
…比較回路、36…トランジスタ、37…積分コ
ンデンサ、38…定電流源、40…比較回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 負荷1に交流電源10から電力を供給するた
    めのライン2,3が挿通するコア43に、一対の
    2次コイル44および3次コイル45が巻回され
    る可飽和リアクトル41を備え、各コイル44,
    45の一方端は共通接続され、各コイル44,4
    5の他方端には一対のスイツチング素子46,4
    7がそれぞれ接続されて構成される磁気マルチバ
    イブレータ回路4と、 抵抗16の一端およびコンデンサ18の一端が
    接続点20で直列接続される第1積分回路であつ
    て、抵抗16の他端は磁気マルチバイブレータ回
    路4の一方のスイツチング素子46と2次コイル
    44の他方端との接続点に接続される、そのよう
    な第1積分回路と、 抵抗14の一端およびコンデンサ17の一端が
    接続点19で直列接続される第2積分回路であつ
    て、抵抗14の他端は磁気マルチバイブレータ回
    路4の他方のスイツチング素子47と3次コイル
    45の他方端との接続点に接続される、そのよう
    な第2積分回路と、 第1および第2積分回路の接続点20,19間
    の出力に含まれる交流成分を除去するローパスフ
    イルタ25と、 ローパスフイルタ25への入力とローパスフイ
    ルタ25からの出力との差を増幅する増幅回路2
    8と、 増幅回路28からの出力を予め定める第1弁別
    レベルl1でレベル弁別する第1レベル弁別回路2
    9と、 第1レベル弁別回路29からの出力によつてス
    イツチング動作されるスイツチング素子36と、 スイツチング素子36の出力側に並列に接続さ
    れる積分コンデンサ37と、 積分コンデンサ37を予め定める電流値I2で充
    電する定電流源38と、 積分コンデンサ37の出力を予め定める第2弁
    別レベルl2でレベル弁別する第2レベル弁別回路
    40とを含むことを特徴とする漏電検出装置。
JP58097452A 1983-05-31 1983-05-31 漏電検出装置 Granted JPS59221674A (ja)

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JP58097452A JPS59221674A (ja) 1983-05-31 1983-05-31 漏電検出装置

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JP58097452A JPS59221674A (ja) 1983-05-31 1983-05-31 漏電検出装置

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JPS59221674A JPS59221674A (ja) 1984-12-13
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5478423A (en) * 1977-12-05 1979-06-22 Fuji Electric Co Ltd Voltage detection circuit

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JPS59221674A (ja) 1984-12-13

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