JPH0589448U - スパッタリング装置 - Google Patents
スパッタリング装置Info
- Publication number
- JPH0589448U JPH0589448U JP2854092U JP2854092U JPH0589448U JP H0589448 U JPH0589448 U JP H0589448U JP 2854092 U JP2854092 U JP 2854092U JP 2854092 U JP2854092 U JP 2854092U JP H0589448 U JPH0589448 U JP H0589448U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- target
- film
- film thickness
- substrate holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 良好な膜厚分布のスパッタリング装置を提供
する。 【構成】 基板との相対位置が異なる複数のターゲット
による成膜を重ね合わせることで基板内膜厚分布を均一
化する。
する。 【構成】 基板との相対位置が異なる複数のターゲット
による成膜を重ね合わせることで基板内膜厚分布を均一
化する。
Description
【0001】
本考案は、グロ−放電を利用して、基板上に薄膜を形成するスパッタリング装 置に関する。
【0002】
図2は、従来の平行平板方式のスパッタリング装置の成膜室断面図の一例を示 す図である。このスパッタリング装置は、内部が真空に保持される成膜室1と、 基板2A、2Bを載置する基板ホルダ3と、この基板2Aと対向するように配置 するターゲット4と、ターゲット4に電力を印加するための電源5とから主に構 成される。
【0003】 基板ホルダ3は、回転可能な円板であり、歯車6、7を介してモータ8の動力 がその回転軸Rに伝達され回転されるとともに、電気的に接地されている。また 、成膜室1には図示しない真空排気系および成膜時にArガスを導入するための ガス導入系が設けられている。
【0004】 このような従来のスパッタリング装置において、成膜室1を真空状態にしてか らArガスを導入し、電源5によりターゲット4に電力を印加すると、ターゲッ ト4と基板2Aとの間にグロー放電が発生し、ターゲットがスパッタされること によって基板2A上に薄膜が形成される。このとき基板ホルダ3を回転しながら 成膜を実行すると、基板2Aだけでなく基板2Bにも同時に成膜できる。このよ うに基板ホルダ3を回転させることで、基板ホルダに取り付けられた複数の基板 に同時に成膜することが可能になる。
【0005】
前記従来のスパッタリング装置では、基板に対向するタ−ゲット表面の形状は 、入手しやすいことから円形のものが一般的に使用されており、各基板はタ−ゲ ットのほぼ真上を通過するときだけ成膜される。ところが、タ−ゲットが円形で あるため、基板上の各点がタ−ゲット上の成膜可能領域を回動して通過する時間 に差が発生する。すなわち、基板の中心部分と周辺部分とでは、中心部分はタ− ゲットの中央部上を通過するため通過時間は長く、周辺部分は、タ−ゲットの縁 部上を通過するため時間が短くなる。このため基板上の各点、例えば、中央部と 周辺部に形成される薄膜の厚さが不均一になってしまい、基板の中央部付近は厚 く、逆に周辺部は薄く成膜されていた。
【0006】 そこで従来より基板上の各点の膜厚を一定にし、つまり膜厚分布の均一化を図 るため、ターゲット4の表面のうちで、基板の膜厚が平均膜厚より厚く成膜され る部分に対応する箇所を補正板で覆うことで基板とタ−ゲットとが直接対向する 時間を短縮して膜厚が厚くなることを防止する方法がとられていた。この補正板 を配置することは均一化には有効であるが、ターゲット表面の一部を補正板で覆 うことにより成膜速度が低下すること、補正板に付着した膜が剥離して異常放電 を生じたりダストとなって基板に付着するなど、他に問題が生じた。
【0007】 本考案は前記従来例のような基板ホルダを回転しながら成膜する場合においても 良好な膜厚分布を維持し、しかも成膜速度の低下などの他の問題が全く発生しな い新しいタイプの装置を提供することを目的とする。
【0008】
上記問題を解決するためになされた本考案は、 回転可能な基板ホルダに載置された基板と、この基板に対し、対向配置される タ−ゲットとを有し、基板ホルダを回転させながらグロー放電を発生させて基板 上に薄膜を形成するスパッタリング装置において、 基板回転軌道に対向して複数個の同一材質のターゲットを配置するとともに、少 なくとも1個のタ−ゲットを他のタ−ゲットより基板回転軌道に対してその外周 側にずらして配置したことを特徴とするものである。
【0009】 以下、この構造のスパッタリング装置がどのように作用するかを説明する。
【0010】
本考案のスパッタリング装置の構成によれば、基板ホルダを回転しながら成膜 行程を実施すると基板ホルダ上に載置された基板は、同一材質の複数のターゲッ トの上を次々と通過する。このとき少なくとも1つのターゲットの配置が基板ホ ルダの周辺部、つまり従来にあっては基板上の成膜が薄くなる部分に対向した基 板回転軌道の外周側に少しずらされて配置されているので、基板とターゲットの 対向範囲が変わり、基板の各点のタ−ゲット上を通過する時間がその1回転にお いてほぼ等しくなってくるため、基板上の膜厚分布がより均一になる。つまり、 他のタ−ゲット上を通過して膜厚分布が不均一になった基板が、この外周側へ少 しずらされたターゲットによって、その不均一部分、つまり膜厚の薄い部分が補 正されるのである。すなわち、この考案はタ−ゲットによる成膜を他の補正用の ターゲットにより形成される成膜で補正するようにして膜厚の均一化を図るもの である。
【0011】
以下、本考案の実施例を図を用いて説明する。
【0012】 第1図は本考案による一実施例を示したスパッタリング装置の成膜室断面図で ある。このスパッタリング装置は内部が真空に保持される成膜室1と、基板2A 、2Bを載置する基板ホルダ3と、基板ホルダ3に対向するように配置されたタ ーゲット4A、4Bと、これらターゲットに電力を印加するための電源5A、5 Bとから主に構成される。基板ホルダ3は、回転可能な円板であり、歯車6、7 を介してモータ8の動力がその回転軸Rに伝達される。また、基板ホルダ3は、 電気的に接地されている。
【0013】 基板ホルダ3上に載置される基板2A、2Bは、基板ホルダ3の回転軸R(回 転中心)から等距離にあり、基板ホルダ3を180度回転すると、2Aの位置に あった基板は2Bの位置と入れ替わることになる。
【0014】 この実施例では、ターゲット4Aは第2図の従来例と同じく基板2A、2Bの 回転軌道と対向するように配置され、一方ターゲット4Bは、基板の回転軌道に 対向する位置から図でも明らかなように少し外側に設置する。
【0015】 このように構成したスパッタリング装置において、成膜室内を真空排気後、A rガスを導入して電源5A、5Bからターゲット4A、4Bへ電力を印加すると ともに、モータ8と歯車6、7により基板ホルダ3上に載置した基板2A、2B をターゲット4A、4B上で回転させると、基板2A、2Bの表面に薄膜が形成 される。このとき各基板に対してターゲット4Aが形成する薄膜の膜厚分布とタ ーゲット4Bが形成する薄膜の膜厚分布は基板とターゲットとの対向位置関係が 違うため異なっている。
【0016】 第3図におい具体的に説明すると、第1図においてターゲット4Aのみによる 成膜では、その膜厚分布は各基板の中心よりやや回転軸側が厚く分布し、ターゲ ット4Bのみによる成膜での膜厚分布は基板の中心よりやや外周側が厚く分布す る。したがってこれら2つのターゲットを交互に通過して成膜された基板はそれ ぞれの膜厚分布を重ね合わせた相補的な膜厚分布となりこれによって基板内の膜 厚分布はより均一になる。
【0017】 第3図は、第1図に示した実施例の装置においてなされた膜厚分布のデータで ある。以下に成膜を実施したときの各設定値を示す。
【0018】 基板ホルダの回転中心Cと基板中心CAまたはCBとの距離R0=115mm 基板ホルダの回転中心Cとターゲット4A中心TAとの距離R1=115mm 基板ホルダの回転中心Cとターゲット4B中心TBとの距離R2=140mm ターゲット4A、4Bの直径 T1=T2=4インチ ターゲット4Aと基板ホルダ3との間隔H1=70mm ターゲット4Bと基板ホルダ3との間隔H2=75mm 本条件の設定にて、 ターゲット4Aのみで成膜したときのデータを○印で示す。
【0019】 ターゲット4Bのみで成膜したときのデータを△印で示す。
【0020】 ターゲット4A、4Bの両方で成膜したときのデータを●印で示す。ただし成膜 時間はターゲット4A、または4Bのみで成膜したときの半分である。
【0021】 基板の中央より50mm以内での膜厚分布を比較すると、従来装置での成膜に 該当するターゲット4Aのみの成膜(○印)では膜厚分布が平均値±13.1% であるのに対し、本考案にかかるターゲット4A、4B両方による成膜(●印) では膜厚分布が平均値±5.1%となって膜厚分布が大幅に改善されている。
【0022】 本実施例では2つのターゲットで膜厚の均一化を図ったが基板とタ−ゲットと の対向位置関係が異なる3つ以上のターゲットを用いてもよい。またターゲット のうち少なくともひとつを基板ホルダの回転軸の半径方向に調節可能として膜厚 分布の最適化を図れるようにしてもよい。さらに各ターゲットと基板ホルダとの 間隔を変更しまたターゲットの直径を変更して膜厚分布の微調整ができるように してもよい。
【0023】
以上、詳細に説明したように本考案によれば、基板との対向位置関係が異なる 複数のターゲットによる成膜を重ね合わせることで基板内膜厚分布を良好にする ことができる。しかも本考案においては補正板を用いていないため補正板に付着 した膜の剥離によるダストの問題は生じない。さらに、従来は膜厚分布を向上す るときは成膜速度は減少せざるを得なかったが本考案により良好な膜厚分布を維 持したまま成膜速度を増加させることができる。
【図1】本考案の一実施例であるスパッタリング装置の
成膜室断面図。
成膜室断面図。
【図2】従来のスパッタリング装置の成膜室断面図。
【図3】本考案の一実施例であるスパッタリング装置に
より成膜された膜厚分布のデータ。
より成膜された膜厚分布のデータ。
1:成膜室 2A、2B:基板 3:基板ホルダ 4A、4B:ターゲット 5A、5B:電源 6、7:歯車 8:モータ
Claims (1)
- 【請求項1】 回転可能な基板ホルダに載置された基板
と、この基板に対し、対向配置されるタ−ゲットとを有
し、基板ホルダを回転させながらグロー放電を発生させ
て基板上に薄膜を形成するスパッタリング装置におい
て、 基板回転軌道に対向して複数個の同一材質のターゲット
を配置するとともに、少なくとも1個のタ−ゲットを他
のタ−ゲットより基板回転軌道に対してその外周側にず
らして配置したことを特徴とするスパッタリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2854092U JPH0589448U (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2854092U JPH0589448U (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | スパッタリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0589448U true JPH0589448U (ja) | 1993-12-07 |
Family
ID=12251503
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2854092U Pending JPH0589448U (ja) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | スパッタリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0589448U (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010248587A (ja) * | 2009-04-17 | 2010-11-04 | Panasonic Corp | スパッタリング装置およびスパッタリング方法 |
| JP2022541291A (ja) * | 2019-07-19 | 2022-09-22 | エヴァテック・アーゲー | 圧電コーティングおよび堆積プロセス |
| WO2024209900A1 (ja) * | 2023-04-04 | 2024-10-10 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 成膜装置および窒化ガリウム膜の成膜方法 |
-
1992
- 1992-04-28 JP JP2854092U patent/JPH0589448U/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010248587A (ja) * | 2009-04-17 | 2010-11-04 | Panasonic Corp | スパッタリング装置およびスパッタリング方法 |
| JP2022541291A (ja) * | 2019-07-19 | 2022-09-22 | エヴァテック・アーゲー | 圧電コーティングおよび堆積プロセス |
| WO2024209900A1 (ja) * | 2023-04-04 | 2024-10-10 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 成膜装置および窒化ガリウム膜の成膜方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101036426B1 (ko) | 바이어스 스퍼터장치 | |
| JP4516199B2 (ja) | スパッタ装置及び電子デバイス製造方法 | |
| JPH05209267A (ja) | 円環状被着膜面を成膜するためのマグネトロン原理に基づくスパッタリングカソードユニット | |
| JP3458450B2 (ja) | スパッタリング方法 | |
| JP4005172B2 (ja) | 両面同時成膜方法および装置 | |
| CA2096593A1 (en) | Plasma Vapor Deposition Apparatus | |
| US11286554B2 (en) | Sputtering apparatus | |
| JP2637171B2 (ja) | 多元スパッタリング装置 | |
| JPS6116346B2 (ja) | ||
| JP2011026652A (ja) | 両面成膜装置 | |
| JP3880249B2 (ja) | スパッタリング方法 | |
| JPH01268867A (ja) | マグネトロンスパッタリング装置 | |
| JP3038287B2 (ja) | 薄膜作成装置 | |
| JPS6360275A (ja) | スパツタリング装置 | |
| JPH01263266A (ja) | 真空蒸着装置 | |
| JPS6396268A (ja) | スパツタ装置 | |
| JPH06322538A (ja) | スパッタリング装置 | |
| JP2590367B2 (ja) | スパッタリング装置 | |
| JPH0226935Y2 (ja) | ||
| JPH08269710A (ja) | 反応性スパッタ装置および反応性スパッタ方法ならびに反応性蒸着装置および反応性蒸着方法 | |
| JPH0681146A (ja) | マグネトロン型スパッタ装置 | |
| JPH01309964A (ja) | スパッタリング法による機能性堆積膜形成装置 | |
| EP0495215A2 (en) | Vapor deposition device | |
| JPH08325720A (ja) | 複合酸化物薄膜の製造方法 | |
| JPH0285366A (ja) | 薄膜製造装置における薄膜形成方法 |