JPH0592595A - サーマルヘツドの製造方法 - Google Patents
サーマルヘツドの製造方法Info
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- JPH0592595A JPH0592595A JP25253891A JP25253891A JPH0592595A JP H0592595 A JPH0592595 A JP H0592595A JP 25253891 A JP25253891 A JP 25253891A JP 25253891 A JP25253891 A JP 25253891A JP H0592595 A JPH0592595 A JP H0592595A
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Abstract
の寸法精度が格段に向上されるサーマルヘッドの製造方
法を提供することである。 【構成】 絶縁基板11上にグレーズ層12を形成した
後、発熱抵抗体層13と金属層22とを成膜する。この
後、切欠き26を構成し印画素子形成領域27と溝形成
領域29とにおいて、単一のフォトマスクで金属層22
のみをエッチングする。これにより、共通電極14bの
幅に関して、ほとんどばらつきのないサーマルヘッド1
7を製造することができる。
Description
ッサの印字出力装置などとして広く使用されているサー
マルプリンタに搭載されるサーマルヘッドの製造方法に
関する。
る。サーマルヘッド7において、セラミック製電気絶縁
性基板1上にグレーズ層2が形成され、基板1とグレー
ズ層2との上に発熱抵抗体層3が形成され、その上にフ
ォトエッチングの手法によって複数の個別電極4aと共
通電極4bとが間隔をあけて形成され、これらの電極4
a,4b間で発熱抵抗体層3が露出して印画素子6が形
成される。電極4a,4bと、発熱抵抗体層3の印画素
子6との印画時の摩耗を防ぐため、および印画素子6に
おける発熱抵抗体層3の発熱による酸化を防ぐために、
保護膜5が形成される。印画素子6における発熱抵抗体
層3の選択的な発熱によって、その熱が保護膜5を伝わ
り、インクリボンに熱を加え、あるいはまた感熱紙に熱
を伝え、これによって印画が行われる。
は、前記基板1上にグレーズ層2が形成され、さらに基
板1上に発熱抵抗体層3と電極4a,4bを形成する金
属層4とをスパッタリングなどにより成膜する。つぎに
図7に示すように、前記発熱抵抗体層3と金属層4との
2層に及び、相互に平行な複数の切欠き8をエッチング
などの手法で形成する。つぎにこの段階の発熱抵抗体層
3と金属層との積層体に対し、印画素子6の図7に破線
で示す形成領域9に対し、エッチングを施して金属層4
のみを除去する。これにより個別電極4aと共通電極4
bとが区分され、これらに挟まれて複数の印画素子6が
直線状に配列されて構成される。この後、印画素子6と
基板1の端部との距離L1をたとえば350μmの予め
定める寸法とするように、基板1の端部に対して図6に
示されるような研磨処理が行われ、除去部分10が研磨
されて除去される。
化、高速化などの要請のため、前記距離L1を可及的に
小さくするようにしている。これは、たとえばインクリ
ボンを用いて感熱転写を行う場合を想定すると、インク
リボンを保護膜5から剥離するまでの時間は、印画素子
6の中央の位置6aから基板1の端部1aまでの距離L
1に対応している。この距離L1が長すぎると、インク
リボンの、一旦溶融したインクが、再び凝固し始めるの
で、ボイドの多い、すなわちインクが記録紙に充分に付
着しない部分が多い印画が行われ、印画品位が低下して
しまう。したがってこの距離L1を可能な限り短くする
必要がある。
画に必要な電流密度を増大する必要があり、前記共通電
極4bの図7左右方向の幅を増大する必要がある。この
ため切欠き8の共通電極4b側の端部8aを図7左方に
ずらし、図7(2)で示されるように各印画素子6が切
欠き8で完全に区分された状態から、図7(1)に示さ
れるように印画素子6が共通電極4b側で連結した構成
とする技術が提案されている。このような従来例の例と
して特開平3−61551が挙げられる。この従来例
は、各印画素子6の図7上下方向の熱の分布を良好にし
て印画濃度を向上しようとするものである。
マルヘッド7において前述したように印画動作の高速化
を図ろうとすると、各印画素子6に供給される電流密度
が増大し、したがって共通電極4bの図7左右方向の幅
を可及的に広くする必要がある。前述したように切欠き
8が形成された段階の発熱抵抗体層3と金属層4との積
層体に対して、金属層4のみをエッチングして印画素子
6を形成しようとする場合、このようなエッチング処理
は絶縁基板1上に印画素子6を形成する領域を残し、残
余の領域を被覆する合成樹脂材料などからなるマスクを
形成して行われる。
形成する場合、形成領域9の位置を定める際の位置合わ
せの誤差により、本来印画素子6を形成すべき領域であ
る図7に破線で示す前記形成領域9に対し、実際の印画
素子6が図7(1)に示すように、共通電極4b側にず
れて形成されたり、あるいは図7(2)に示すように個
別電極4a側にずれて形成される場合がある。
(2)の個別電極4a側にずれても、切欠き8の端部8
aが位置合わせの目安となり、大幅な位置ずれは回避さ
れ、またこのようにずれた場合には、共通電極4bが幅
広となり、製品としてもサーマルヘッド7に比較的不具
合を生じないことが知られている。
ると、共通電極4bの図7左右方向の幅が小さくなり、
共通電極4bの配線抵抗が大きくなり、また電流密度が
過大となり、大幅な電圧降下および電力損失をもたら
す。その結果、同時に発熱される印画素子6の数が多く
なるほど、印画濃度が低下して、印画された文字などが
かすれるなど印画品質が大幅に低下するという不具合を
生じる。
し、印画品質を格段に向上できると共に、製造上の寸法
精度を向上することができるサーマルヘッドの製造方法
を提供することである。
グレーズ層、抵抗体層、切欠きを介在して相互に隔てら
れる複数の個別電極と共通電極とから成る電極層、およ
びこれらを被覆する保護層とを順次形成するサーマルヘ
ッドの製造方法において、主面上にグレーズ層と抵抗体
層とが形成された絶縁基板上に金属層を成膜し、しかる
後、前記金属層をエッチング加工して共通電極部材と相
互に平行な複数の個別電極部材とを形成する工程と、個
別電極部材と共通電極部材とをエッチング加工し、個別
電極部材の領域で抵抗体層を露出させて複数の発熱素子
を形成するとともに、共通電極部材に所定幅の共通電極
を形成する工程とを含むことを特徴とするサーマルヘッ
ドの製造方法である。
グレーズ層、抵抗体層、切欠きを介在して相互に隔てら
れる複数の個別電極と共通電極とから成る電極層、およ
びこれらを被覆する保護層とを順次形成して構成され
る。このとき、主面上にグレーズ層と抵抗体層とが形成
された絶縁基板上に金属層を成膜し、相互に平行な複数
の切欠きを形成して、複数の個別電極部材と共通電極部
材とを形成し、個別電極部材と共通電極部材に亘る領域
のうち、個別電極部材の領域を含む形成領域で、抵抗体
層を露出して複数の発熱素子を構成し、同時に共通電極
部材において、前記発熱素子の形成領域の共通電極側の
端部から予め定める距離を隔てて、発熱素子の配列方向
と平行な溝部を形成する。
向と垂直方向の幅は、前記複数の切欠きの共通電極側の
端部あるいは前記形成領域の共通電極側の端部と溝部と
の間隔で規定される。この間隔は、前記溝部などを形成
するに用いられるマスク上で固定されており、したがっ
て前記形成領域が発熱素子の配列方向と交差する双方向
のいずれにずれた場合でも、これに連動して溝部の形成
位置が移動することになり、一定幅の共通電極を得るこ
とができる。
ことにより共通電極を流れる電流に関して大幅な電圧降
下や電力損失が生じる事態が防止され、これに伴う印画
品質の低下を防止することができる。
磨加工などする際に、研磨の進行程度の判別は前記溝部
を目安とすることができる。これにより製造上の寸法精
度が格段に向上される。
2はその図1に示される実施例の平面図である。シリア
ルプリンタ用サーマルヘッド17において、アルミナ系
セラミックなどの電気絶縁性材料から成る基板11上に
は、グレーズ層12が形成される。このグレーズ層12
はたとえばSiO2 を主成分とするガラスから成る。グ
レーズ層12上および基板11上には発熱抵抗体層13
が形成される。さらにその上に全面にわたって金属、た
とえばアルミニウムまたは銅などの材料から成る金属層
14が形成され、フォトエッチングの手法を用いて個別
電極14a、共通電極14bが形成される。複数本の個
別電極14aと、それらに共通の共通電極14bとの間
では、発熱抵抗体層13が露出して印画素子16が形成
される。
子16およびその他の表面には、保護膜15が形成され
る。この保護膜15は、たとえばSi3N4またはTa2
O5などから成る。保護膜15は、個別電極14aおよ
び共通電極14bの印画時の摩耗を防ぐとともに、印画
素子16における発熱抵抗体層13の発熱による酸化を
防ぐ働きをする。
1(たとえば50μm)に形成され、この共通電極14
bと基板11の端部側に発熱抵抗体層13が露出する幅
W2(たとえば20μm)の溝20が形成され、共通電
極14bとこの溝20を隔てて、共通電極14bと同一
材料、同一製造工程で製造される幅W3(たとえば35
μm)のダミーライン21が形成される。
造工程を説明する工程図であり、図4および図5はこの
製造工程を説明する図である。工程a1では、図4
(1)に示されるように、基板11上にガラスなどから
成るグレーズ層12を形成する。工程a2では、この基
板11上に前記発熱抵抗体層13とたとえばアルミニウ
ムなどから成る金属層22とをそれぞれスパッタリング
などの技術で成膜する。
22とを共に同一工程でエッチングし、基板11の周縁
部23を形成して、後述するような当該金属層22から
形成されるダミーラインが形成されるダミーライン形成
領域24を含みうる幅で、共通電極部材25を形成す
る。また前記複数の個別電極14aを形成するために相
互に間隔W4をあけて、幅W5の複数の切欠き26を相
互に平行に形成する。この切欠き26の共通電極部材2
5側端部26aは、前記印画素子16が形成される印画
素子形成領域27内に位置するように形成される。これ
により、個別電極部材28が複数形成される。
の基板11に対して、図4(4)に2点鎖線で示す印画
素子形成領域27と、溝形成領域29の範囲内の金属層
22のみをエッチングする。これにより図5(1)およ
び図2に示されるように、個別電極28および共通電極
部材25に亘る範囲に各個別電極14a毎に発熱抵抗体
層23が露出して印画素子16が形成される。また印画
素子16から図2に示す距離W1を隔てて、幅W2の溝
20が形成され、溝20の共通電極14bと反対側には
金属層22が帯状に残在するダミーライン21が形成さ
れる。すなわち印画素子16と溝20とは、このような
エッチングを行う際に用いられるフォトレジストなどを
用いるフォトプロセスにおいて、フォトレジストを感光
させる同一のマスクで形成される。
11上に図5(2)で示すように、保護膜15を形成す
る。また工程a6では、サーマルヘッド17の印画品質
の向上および高速化を図る目的で、発熱素子16の中心
位置と絶縁基板11の端部との距離L2を可及的に小さ
な所望な値とするために、基板11の前記端部側を図5
(2)に示すように本来の基板11の端部11aから端
面30となるまで研磨加工を行う。
研磨位置が共通電極14bに掛かると、共通電極14b
が不所望に幅狭となり少面積化が発生し、従来技術の項
で述べたような不具合が発生する。したがって本実施例
では、前記研磨加工を行うに際して、ダミーライン21
を目安とする。すなわち共通電極14b、ダミーライン
21は共にたとえばアルミニウムなどの金属から成って
おり、白く光って目視される。一方、溝20では金属層
22が剥離されており、発熱抵抗体層13で黒く目視さ
れる。
の途中であるか、あるいは、溝20がダミーライン21
と共通電極14bとに挟まれて明瞭に目視できる程度で
終了させる。研磨が過剰になると、溝20が消滅し共通
電極14bに研磨部材が進入したことになり、共通電極
14bが狭隘化し従来技術の項で説明したような不具合
を生じるが、本実施例ではこのような不具合の発生を防
止する。
発熱抵抗体層13と金属層22とを成膜し、切欠き26
を形成した段階の構成体に対して、印画素子形成領域2
7および溝形成領域29を同一のフォトマスクを用いて
エッチングするようにした。これにより当該フォトマス
クの位置決めがずれ、印画素子形成領域27が図4
(4)の右方側へずれても、溝20は同様に図4右方側
へずれ、印画素子形成領域27と溝形成領域29とで挟
まれる共通電極14bの図2左右方向の幅W1は一定で
ある。これにより、従来技術の項で述べたように、共通
電極の幅が不所望に小さくなり、印画品質が低下する事
態を防止することができる。
磨工程において、ダミーライン21および溝20が研磨
の進行の程度の目安となり、研磨作業を高精度で行うこ
とができる。
ドは、絶縁基板上にグレーズ層、抵抗体層、切欠きを介
在して相互に隔てられる複数の個別電極と共通電極とか
ら成る電極層、およびこれらを被覆する保護層とを順次
形成して構成される。このとき、主面上にグレーズ層と
抵抗体層とが形成された絶縁基板上に金属層を成膜し、
相互に平行な複数の切欠きを形成して、複数の個別電極
部材と共通電極部材とを形成し、個別電極部材と共通電
極部材に亘る領域のうち個別電極部材の領域を含む形成
領域で、抵抗体層を露出して複数の発熱素子を構成し、
同時に共通電極部材において、前記発熱素子の形成領域
の共通電極側の端部から予め定める距離を隔てて、発熱
素子の配列方向と平行な溝部を形成する。
向と垂直方向の幅は、前記複数の切欠きの共通電極側の
端部あるいは前記形成領域の共通電極側の端部と溝部と
の間隔で決定される。この間隔は、前記溝部などを形成
するに用いられるマスク上で固定されており、したがっ
て前記形成領域が発熱素子の配列方向と交差する双方向
のいずれにずれた場合でも、これに連動して溝部の形成
位置が移動することになり、一定幅の共通電極を得るこ
とができる。これにより共通電極が不所望に幅狭となる
ことにより共通電極を流れる電流に関して大幅な電圧降
下や電力損失が生じる事態が防止され、これに伴う印画
品質の低下を防止することができる。
磨加工などする際に、研磨の進行程度の判別は前記溝部
を目安とすることができる。これにより製造上の寸法精
度が格段に向上される。
図である。
工程を示す工程図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 絶縁基板上にグレーズ層、抵抗体層、切
欠きを介在して相互に隔てられる複数の個別電極と共通
電極とから成る電極層、およびこれらを被覆する保護層
とを順次形成するサーマルヘッドの製造方法において、 主面上にグレーズ層と抵抗体層とが形成された絶縁基板
上に金属層を成膜し、しかる後、前記金属層をエッチン
グ加工して共通電極部材と相互に平行な複数の個別電極
部材とを形成する工程と、 個別電極部材と共通電極部材とをエッチング加工し、個
別電極部材の領域で抵抗体層を露出させて複数の発熱素
子を形成するとともに、共通電極部材に所定幅の共通電
極を形成する工程とを含むことを特徴とするサーマルヘ
ッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25253891A JP3261145B2 (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | サーマルヘッドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25253891A JP3261145B2 (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | サーマルヘッドの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0592595A true JPH0592595A (ja) | 1993-04-16 |
| JP3261145B2 JP3261145B2 (ja) | 2002-02-25 |
Family
ID=17238770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25253891A Expired - Lifetime JP3261145B2 (ja) | 1991-09-30 | 1991-09-30 | サーマルヘッドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3261145B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012153116A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-16 | Kyocera Corp | サーマルヘッド、およびサーマルヘッドの基板の縁の研磨方法 |
-
1991
- 1991-09-30 JP JP25253891A patent/JP3261145B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012153116A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-16 | Kyocera Corp | サーマルヘッド、およびサーマルヘッドの基板の縁の研磨方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3261145B2 (ja) | 2002-02-25 |
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