JPH0593867A - Microscope - Google Patents

Microscope

Info

Publication number
JPH0593867A
JPH0593867A JP7870491A JP7870491A JPH0593867A JP H0593867 A JPH0593867 A JP H0593867A JP 7870491 A JP7870491 A JP 7870491A JP 7870491 A JP7870491 A JP 7870491A JP H0593867 A JPH0593867 A JP H0593867A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
optical path
observation optical
microscope
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7870491A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2989921B2 (en
Inventor
Sanenari Kojima
実成 小嶋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP3078704A priority Critical patent/JP2989921B2/en
Publication of JPH0593867A publication Critical patent/JPH0593867A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2989921B2 publication Critical patent/JP2989921B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

PURPOSE:To automatically manipulate an optional sample that an observer or inspector selects without being affected by the kind and size of the sample. CONSTITUTION:This microscope is equipped with a data input part 7 through which the best observation illuminance of an observation optical path is set by the magnifications of respective objectives, a photodetecting element 4 or AF sensor 24 which detects the optimum illuminance of the observation optical path when the magnification of the objective inserted into the observation optical path is set through the data input part 7, and a controller 8 which stores a storage circuit with the illuminance of the observation optical path in the absence of the sample on a sample movement stage 3 detected by the photodetecting element 4 or AF sensor 24, decides whether or not there is the sample on the observation optical path according to the stored data, and controls the movement of the sample movement stage 3 according to the decision result.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は微細な試料を拡大観察し
たり、その拡大像を写真やビデオに記録可能な顕微鏡に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microscope capable of magnifying and observing a fine sample and recording the magnified image in a photograph or a video.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近、この種の顕微鏡は工業分野を始め
生物分野における研究や検査等において広く利用されて
いる。
2. Description of the Related Art Recently, this type of microscope has been widely used in research and inspection in the biological field including the industrial field.

【0003】このような顕微鏡を使用して検査を行う場
合には、一般に拡大倍率の異なる複数の対物レンズを回
転式レボルバーに取付け、対物レンズからの観察光路と
直交する平面内で試料を移動できる試料移動ステージを
操作し、観察、検査を行っている。
When performing an inspection using such a microscope, generally, a plurality of objective lenses having different magnifying powers are attached to a rotary revolver, and a sample can be moved within a plane orthogonal to an observation optical path from the objective lenses. The sample moving stage is operated to perform observation and inspection.

【0004】この検査の方法としては、まず最初にスラ
イドガラス等の試料を目視にて確認し、次に対物レンズ
を低倍にセットして試料全体をスクリーニングし、その
試料に異常部位が発見された場合にはさらに対物レンズ
を高倍の対物レンズへと切換えて異常部位を詳細に検査
し、観察を行っている。このため、顕微鏡を操作する検
査者は試料毎にこのような作業を行なわなければなら
ず、本来の研究、検査よりも顕微鏡に費やす時間の方が
長くなってしまうことがあった。
As a method of this inspection, first, a sample such as a slide glass is visually confirmed, and then the objective lens is set at a low magnification to screen the entire sample, and an abnormal portion is found in the sample. In that case, the objective lens is switched to a high-magnification objective lens, and the abnormal portion is inspected in detail and observed. Therefore, the inspector who operates the microscope must perform such work for each sample, and the time spent on the microscope may be longer than the original research and inspection.

【0005】以上のような問題点を解決するため、特開
昭59−177507号公報や特開昭59−17750
8号公報には、対物レンズの切換えに応じて照明光学系
の状態が最良になるように自動的に切換えるようにした
顕微鏡が開示されている。また、特開昭60−1188
17号公報や特公昭62−32244公報には、回転式
レボルバーの電動化、あるいは特開昭64−53157
号公報には試料ステージの自動化を図り、顕微鏡操作の
省力化を行った顕微鏡が開示されている。さらに、特開
昭64−53157号には標本の検査そのものを自動化
し、操作性の向上を図った顕微鏡が開示されている。
In order to solve the above problems, JP-A-59-177507 and JP-A-59-17750.
Japanese Patent No. 8 discloses a microscope in which the illumination optical system is automatically switched so that the state of the illumination optical system is optimized in accordance with the switching of the objective lens. Also, JP-A-60-1188
No. 17 and Japanese Patent Publication No. 62-32244 disclose that a rotary revolver is electrified, or Japanese Patent Laid-Open No. 64-53157.
The publication discloses a microscope in which the sample stage is automated to save labor in operating the microscope. Further, Japanese Patent Laid-Open No. 64-53157 discloses a microscope in which the inspection itself of a specimen is automated to improve the operability.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
顕微鏡においては顕微鏡操作の電動化あるいは省力化は
行っているものの顕微鏡の一連操作のある一部分、例え
ば回転式レボルバーの電動化や試料移動ステージの電動
走査で操作性そのものは変わらず、特に目視で確認しな
ければならない部分等では試料移動ステージの電動化は
行われてはいるもののマニュアル的な操作が要求され、
従来の記述ではどうしても解消されない欠点があった。
また、このように観察しながら顕微鏡操作を行うと、も
ともと顕微鏡自体微細な標本を拡大(100 ×〜2000×程
度)で観察しているため、特にステージ操作に関しては
微小にステージを動かしても観察可能範囲(視野)から
範囲外へ移動してしまう可能性があり、顕微鏡の余分な
操作が増えてしまう恐れがある。そして、このような操
作はある程度の熟練を要する。
However, in the conventional microscope, although the operation of the microscope is made electrically or labor-saving, a part of the series of operations of the microscope, for example, the electrification of the rotary revolver or the electrification of the sample moving stage is performed. The operability itself does not change by scanning, and especially in the parts that must be visually confirmed, although the sample moving stage is electrified, manual operation is required,
The conventional description has a drawback that cannot be solved by any means.
In addition, when the microscope is operated while observing in this way, the microscope itself is originally observed at a magnified size (100 × to 2000 ×). There is a possibility of moving from the possible range (field of view) to the outside of the range, which may increase the number of extra operations of the microscope. And such an operation requires some skill.

【0007】さらに、前記特開昭64−53157号公
報では被観察物である細胞の測定を顕微鏡の自動化によ
り行い、操作性の向上を図ったものが提案されている
が、ある測定の一連動作を繰返し行っているだけであ
り、ステージの移動量、移動範囲も一定で観察、走査者
の任意の大きさ、形の試料を検査するには不適当であっ
た。つまり、試料が大きい場合にはすべての部分を走査
できず、また試料が小さい場合には無駄な部分を走査す
ることになる。
Further, in the above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 64-53157, there has been proposed one in which cells to be observed are measured by automating a microscope to improve operability. However, it was unsuitable for observing with a constant amount of movement and range of movement of the stage and inspecting a sample of any size and shape by the scanner. That is, if the sample is large, not all parts can be scanned, and if the sample is small, useless parts are scanned.

【0008】本発明は以上のような問題点に鑑み、標本
の種類、大きさに左右されることなく、観察、検査者の
選んだ任意の標本を自動的に操作することができる操作
性の高い顕微鏡を提供することを目的とする。
In view of the above-mentioned problems, the present invention has an operability that allows an operator to automatically operate an arbitrary sample selected by an observer or an observer without depending on the type and size of the sample. The purpose is to provide a high microscope.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、観察光路と直交する平面内で試料を移動さ
せる試料移動ステージと、この試料移動テーブル上の試
料を拡大する倍率の異なる複数の対物レンズを切換可能
に保持する保持手段とを備えた顕微鏡において、前記各
対物レンズの倍率毎に前記観察光路の最適観察照度を設
定する設定手段と、この設定手段により観察光路に挿入
される対物レンズの倍率が設定されるとそのときの観察
光路の最適照度をモニタする検出手段と、この検出手段
によりモニタされた前記試料移動ステージに試料がない
ときの観察光路の照度を記憶する記憶手段と、この記憶
手段で記憶されたデータに基づき観察光路上に試料があ
るか否かを判定する判定手段と、この判定手段により判
定された試料の有無に応じて前記試料移動ステージを移
動制御する移動制御手段とを具備したものである。
In order to achieve the above object, the present invention differs from a sample moving stage for moving the sample in a plane orthogonal to the observation optical path and a magnification for enlarging the sample on the sample moving table. In a microscope provided with a holding means for holding a plurality of objective lenses in a switchable manner, a setting means for setting an optimum observation illuminance of the observation optical path for each magnification of each of the objective lenses, and a setting means for inserting into the observation optical path by the setting means. When the magnification of the objective lens is set, detection means for monitoring the optimum illuminance of the observation optical path at that time, and storage for storing the illuminance of the observation optical path when there is no sample on the sample moving stage monitored by this detection means Means, a judging means for judging whether or not a sample is present on the observation optical path based on the data stored in the storing means, and the existence of the sample judged by the judging means. It is obtained; and a movement control means for moving controls the sample moving stage according to.

【0010】[0010]

【作用】このような構成の顕微鏡にあっては、まず設定
手段により対物レンズの倍率が設定されると、この対物
レンズに合った試料移動ステージに試料がないときの観
察光路の最適照度を記憶手段に記憶しておくことによ
り、試料の観察を行う場合には判定手段が記憶手段に記
憶されたデータに基づき観察光路上に試料があるかどう
かの判定により、試料の有無に応じて試料移動ステージ
が移動制御されるので、無駄な場所の走査を省略でき、
走査時間の高速化を図ることが可能となり、さらに標本
の種類、大きさに左右されることなく観察者の選んだ任
意の標本で自動走査の動作が可能となる。
In the microscope having such a structure, when the magnification of the objective lens is first set by the setting means, the optimum illuminance of the observation optical path when the sample is not on the sample moving stage suitable for this objective lens is stored. By memorizing in the means, when observing the sample, the judging means judges whether the sample is on the observation optical path based on the data stored in the storing means, and moves the sample depending on the presence or absence of the sample. The movement of the stage is controlled, so you can skip unnecessary scanning.
The scanning time can be shortened, and the automatic scanning operation can be performed on an arbitrary sample selected by the observer regardless of the type and size of the sample.

【0011】[0011]

【実施例】以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】図1は本発明による顕微鏡の第1の実施例
を示すブロック図である。図1において、1は顕微鏡本
体で、この顕微鏡本体1には対物レンズの変換を行う回
転式レボルバー2が取付けらると共に、その下方に観察
試料のビット合わせ及びX−Y方向へ移動可能な試料移
動ステージ3が取付けられている。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a microscope according to the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a microscope main body, and a rotary revolver 2 for converting an objective lens is attached to the microscope main body 1, and a bit alignment of an observation sample and a sample movable in the XY directions are provided thereunder. A moving stage 3 is attached.

【0013】一方、4は顕微鏡本体1からの照明光の明
るさを検出する受光素子、5は回転式レボルバー2のレ
ボ穴位置を検出するレボ穴検出器、6は試料移動ステー
ジ3の現在のステージ位置を検出するためのステージ位
置検出器、7はレボ位置に対する対物レンズの倍率や明
るさの設定データを入力するためのデータ入力部であ
る。
On the other hand, 4 is a light receiving element for detecting the brightness of the illumination light from the microscope main body 1, 5 is a REVO hole detector for detecting the REVO hole position of the rotary revolver 2, and 6 is the present of the sample moving stage 3. A stage position detector for detecting the stage position, and 7 is a data input unit for inputting setting data of the magnification and brightness of the objective lens with respect to the revolving position.

【0014】また、8はこれら受光素子4、レボ穴検出
器5、ステージ位置検出器6からの各検出信号およびデ
ータ入力部7からの対物レンズの倍率がそれぞれ入力さ
れる制御装置で、この制御装置8は回転式レボルバー2
を回転制御、試料移動ステージ3を移動制御、さらに顕
微鏡本体1に観察用の照明光を照射するランプハウス9
内部のランプの明るさを対物倍率毎に最適照度に設定す
る調光回路10を制御するものである。
Reference numeral 8 denotes a control device to which the detection signals from the light receiving element 4, the hollow hole detector 5, the stage position detector 6 and the magnification of the objective lens from the data input section 7 are respectively inputted. The device 8 is a rotary revolver 2.
Of the lamp house 9 for controlling the rotation of the microscope, controlling the movement of the sample moving stage 3, and irradiating the microscope body 1 with illumination light for observation.
The dimming circuit 10 that sets the brightness of the internal lamp to the optimum illuminance for each objective magnification is controlled.

【0015】ここで、上記制御装置8の内部構成例を図
2に示すブロック図により説明する。制御装置8は、図
1に示すレボ穴検出器5からの検出信号、ステージ位置
検出器6からの検出信号およびデータ入力部7からの信
号を受取るディジタル入力回路11と、受光素子4から
の検出信号を受取るアナログ入力回路12と、このアナ
ログ入力回路12からの信号をディジタルに変換するA
/Dコンバータ13と、このA/Dコンバータ13から
出力されるレボ穴位置に対応するデータを記憶する記憶
回路14と、ディジタル入力回路11とA/Dコンバー
タ13および記憶回路14からのデータ等を比較、演算
する比較演算回路15と、この比較演算回路15で求め
られた比較、演算結果に基いて移動ステージ3、回転式
レボルバー2を駆動する駆動回路16に制御信号を与え
ると共に、対物倍率に合った最適光量をセットする調光
回路10に制御信号を与える制御回路17とから構成さ
れている。
An example of the internal configuration of the control device 8 will be described with reference to the block diagram shown in FIG. The control device 8 receives the detection signal from the hollow hole detector 5 shown in FIG. 1, the detection signal from the stage position detector 6 and the signal from the data input section 7, and the detection from the light receiving element 4. An analog input circuit 12 for receiving a signal, and A for converting the signal from the analog input circuit 12 into a digital signal
A / D converter 13, a memory circuit 14 for storing data corresponding to the position of the revolute hole output from the A / D converter 13, a digital input circuit 11, data from the A / D converter 13 and the memory circuit 14, and the like. A control signal is supplied to the comparison calculation circuit 15 that performs comparison and calculation, and a drive circuit 16 that drives the moving stage 3 and the rotary revolver 2 based on the comparison and calculation results obtained by the comparison calculation circuit 15, and the objective magnification is changed. It comprises a control circuit 17 which gives a control signal to the dimming circuit 10 which sets the optimum light amount.

【0016】また、上記入力操作部7としては図3に示
すように対物ボタン18と、セットボタン19と、明る
さをセットするランプボタン20と、試料の走査を開始
するスタートボタン21とから構成されている。
As shown in FIG. 3, the input operation section 7 comprises an objective button 18, a set button 19, a lamp button 20 for setting the brightness, and a start button 21 for starting the scanning of the sample. Has been done.

【0017】次にこのように構成された顕微鏡の作用を
図4及び図5に示すフローチャートを参照しながら述べ
る。
Next, the operation of the microscope thus constructed will be described with reference to the flow charts shown in FIGS.

【0018】通常、顕微鏡本体1の回転式レボルバー2
にはそれぞれ倍率の異なった複数個の対物レンズが取付
けられている。この状態で図示しない装置の電源が投入
されると、最初に現在の観察光路上にこれら複数の対物
レンズのうち、どれが挿入されているかの確認を行う。
この場合、確認方法としてはレボ穴検出器5からの信号
により現在の回転式レボルバー2のレボ穴位置を検出
し、制御装置8の図2に示す制御回路17により記憶回
路14から前記レボ穴位置に対応するデータを読取る。
この場合、制御回路17の記憶回路14からのレボ穴位
置に対応するデータの読取りで記憶回路14にデータが
ない場合は、データ入力部7から対物データの入力を行
う。
Normally, the rotary revolver 2 of the microscope body 1 is used.
A plurality of objective lenses having different magnifications are attached to the. When the power of the device (not shown) is turned on in this state, first, it is confirmed which of the plurality of objective lenses is inserted in the current observation optical path.
In this case, as a confirmation method, the current position of the revolver hole of the rotary revolver 2 is detected by a signal from the revolver hole detector 5, and the control circuit 17 shown in FIG. Read the data corresponding to.
In this case, when there is no data in the memory circuit 14 by reading the data corresponding to the position of the hollow hole from the memory circuit 14 of the control circuit 17, the objective data is input from the data input unit 7.

【0019】入力操作としてはデータ入力を希望するレ
ボ穴に回転式レボルバー2を回転し、対物レンズを光路
上に挿入する。そして、そのときの対物倍率をデータ入
力部7の対物ボタン18により選択し、セットボタン1
9を押すことによりデータの記憶が行われる。ここで、
セットボタン19が押されると、制御回路17はレボ穴
検出器5からの信号をディジタル入力回路13を通して
取得する。記憶回路12には予め、図5に示すようなテ
ーブルが作成してあり、レボ穴に対応する倍率の値が格
納できるようになっており、この取得したレボ穴NOの
記憶場所に前記データ入力部9により設定された対物倍
率を記憶する。今、図6によれば、レボ穴NO2の記憶
場所に40×の対物レンズが設定されていることにな
る。したがって、前記操作を回転式レボルバー2に取付
けてある対物レンズの本数分行うことでデータ入力が完
了する。
As an input operation, the rotary revolver 2 is rotated into a revo hole desired to input data, and the objective lens is inserted in the optical path. Then, the objective magnification at that time is selected by the objective button 18 of the data input unit 7, and the set button 1
Data is stored by pressing 9. here,
When the set button 19 is pressed, the control circuit 17 acquires the signal from the REVO hole detector 5 through the digital input circuit 13. A table as shown in FIG. 5 is created in advance in the memory circuit 12 so that the value of the magnification corresponding to the revolute hole can be stored, and the data is input to the memory location of the acquired revolute hole NO. The objective magnification set by the unit 9 is stored. Now, according to FIG. 6, the 40 × objective lens is set in the memory location of the REVO hole NO2. Therefore, data input is completed by performing the above operation for the number of objective lenses attached to the rotary revolver 2.

【0020】なお、このデータ入力操作は1回設定すれ
ば良く、レボ穴に対する対物倍率が変わる等の変更がな
い限り、電源しゃ断後も記憶されている。
It should be noted that this data input operation may be set once, and is stored even after the power is cut off unless there is a change such as a change in the object magnification with respect to the revolute hole.

【0021】次に試料移動ステージ3を走査する際に必
要となる照明光の基準光量の設定を行う。基準光量の設
定は、まず試料移動ステージ3の上に標本が何もないス
ライドガラスを乗せ、観察光路へ挿入する。続いて、試
料移動ステージ3を垂直方向へ移動し、前記スライドガ
ラスにピントを合せる。最後にデータ入力部7のランプ
ボタン20を押すことにより行われる。データ入力部7
のランプボタン20が押されると、制御回路17は現在
観察光路に挿入されている対物レンズに合った照明光を
最適光量に設定するため、調光回路10を駆動する。し
たがって、調光回路10によりランプハウス9のランプ
電圧が可変されて最適照度に設定される。
Next, the reference light amount of the illumination light required for scanning the sample moving stage 3 is set. The reference light amount is set by first placing a slide glass having no sample on the sample moving stage 3 and inserting it into the observation optical path. Then, the sample moving stage 3 is moved in the vertical direction to bring the slide glass into focus. Finally, the lamp button 20 of the data input section 7 is pressed to perform the operation. Data input section 7
When the lamp button 20 is pressed, the control circuit 17 drives the dimming circuit 10 in order to set the optimum amount of illumination light that matches the objective lens currently inserted in the observation optical path. Therefore, the dimming circuit 10 changes the lamp voltage of the lamp house 9 to set the optimum illuminance.

【0022】このときの設定値は予め記憶回路14に記
憶されており、現在観察光路に挿入されている対物倍率
に合うレベルに調整される。例えば、図7に示すように
データテーブルが記憶回路12に記憶してあるとする
と、観察倍率が40×であるならば調光レベルは8とな
り、この値に合うように調光回路10を駆動し、明るさ
を調整する。
The set value at this time is stored in advance in the storage circuit 14, and is adjusted to a level suitable for the objective magnification currently inserted in the observation optical path. For example, if a data table is stored in the storage circuit 12 as shown in FIG. 7, the dimming level is 8 if the observation magnification is 40 ×, and the dimming circuit 10 is driven to match this value. And adjust the brightness.

【0023】このように対物倍率に最適な調光が終了す
ると、制御回路17は受光素子4に入射される実照度の
検出を行う。受光素子4に入射された光はアナログ入力
回路12で電気信号のアナログ量に変換され、制御回路
17で制御できるようにA/Dコンバータ13でディジ
タル量に変換される。このディジタル量に変換されたデ
ータは、記憶回路14に予め作成してある例えば図8に
示すようなデータテーブルに記憶されている例えば1×
の実照度は20という設定値になる。データの記憶が終
了すると制御回路17は続いて回転式レボルバー2の現
在観察している対物レンズの隣の対物レンズのデータを
収集すべく回転式レボルバー2を駆動回路16により1
クリック分移動し、そのデータを記憶する。この作業を
回転式レボルバー2の1回転分(図4のフローチャート
によれば6回)行うことで明るさデータの記憶は完了す
る。
When the light control suitable for the objective magnification is completed in this way, the control circuit 17 detects the actual illuminance incident on the light receiving element 4. The light incident on the light receiving element 4 is converted into an analog amount of an electric signal by the analog input circuit 12, and converted into a digital amount by the A / D converter 13 so that it can be controlled by the control circuit 17. The data converted into the digital amount is stored in a data table, for example, as shown in FIG.
The actual illuminance of is a set value of 20. When the storage of the data is completed, the control circuit 17 continues to drive the rotary revolver 2 by the drive circuit 16 to collect the data of the objective lens next to the objective lens of the rotary revolver 2 which is currently being observed.
Moves by the click amount and stores the data. By performing this work for one rotation of the rotary revolver 2 (six times according to the flowchart of FIG. 4), the storage of the brightness data is completed.

【0024】以上で試料を観察(走査)するために必要
なデータの記憶が終了する。
The storage of data necessary for observing (scanning) the sample is completed as described above.

【0025】次に実際の観察(走査)について説明す
る。
Next, actual observation (scanning) will be described.

【0026】試料移動ステージ3に走査試料を乗せ、デ
ータ入力部9のスタートボタン21を押すことでステー
ジ走査が開始される。スタートボタン21が押される
と、現在観察光路に挿入されている対物倍率に最適なス
テージ移動スピードを設定する。この設定は記憶回路1
4に予め記憶されているデータを利用して行われる。こ
の記憶回路14には図9に示すようなデータテーブルが
作成してあり、スピード1が一番速く、スピード150
が一番遅い速度である。
By placing a scanning sample on the sample moving stage 3 and pressing the start button 21 of the data input section 9, stage scanning is started. When the start button 21 is pressed, the optimum stage moving speed is set for the objective magnification currently inserted in the observation optical path. This setting is for memory circuit 1
4 is performed using the data stored in advance. A data table as shown in FIG. 9 is created in the storage circuit 14, speed 1 being the fastest and speed 150
Is the slowest speed.

【0027】今、観察光路に10×が挿入されていると
すると、スピード10に設定される。対物倍率に最適な
移動スピードとは、実際に顕微鏡を覗いて試料を観察で
き、且つ長時間観察を行っても目に負担のかからない速
度で、例えば図9に示す如くスピード値で2.0 mm/sec〜
6.0 mm/secを割った値であり、同じく図9の実測度の欄
に記載してある程度である。但し、図示しない顕微鏡接
眼レンズの10倍の時の値である。
If 10 × is inserted in the observation optical path, the speed is set to 10. The optimum moving speed for the objective magnification is the speed at which the sample can be actually observed through a microscope and does not burden the eyes even when observed for a long time. For example, a speed value of 2.0 mm / sec as shown in FIG. ~
It is a value obtained by dividing 6.0 mm / sec, which is the same as the value described in the column of actual measurement degree in FIG. However, it is a value when the magnification is 10 times that of a microscope eyepiece lens (not shown).

【0028】また、総合倍率として変化した場合、例え
ばTVモニタ等で観察する場合は、中間倍率レンズの倍
率分の補正を行うことにより容易に設定でき、仮に図9
の20倍の時にTV用あるいは写真用接眼レンズ5.0
×を使用したとすると、総合倍率は顕微鏡の接眼レンズ
の半分となるため、2倍(0.2 〜0.6 mm/sec) のステー
ジスピードで動かせば良いことになる。
Further, when the total magnification is changed, for example, when observing on a TV monitor or the like, it can be easily set by correcting the magnification of the intermediate magnification lens.
Eyepiece lens for TV or photo at 20 times of 5.0
If × is used, the total magnification is half that of the eyepiece of the microscope, so it is sufficient to move at a stage speed of 2 times (0.2 to 0.6 mm / sec).

【0029】スピードの設定が終了すると、現在の試料
移動ステージ3がどの位置にあるかをステージ位置検出
器6により確認し、ステージ走査開始点(以下原点と呼
ぶ)にない場合は、駆動回路16より試料移動ステージ
3を原点まで移動する。例えば、図10に示すようにス
ライドガラス22の矢印方向が走査方向であるならば、
A部分が原点となり、A部分が観察できる位置まで試料
移動ステージ3を移動する。この場合、その走査範囲と
してはこれも記憶回路14に記憶してあり、スライドガ
ラス1枚分の移動範囲となっている。
When the speed setting is completed, the position of the present sample moving stage 3 is confirmed by the stage position detector 6, and if it is not at the stage scanning start point (hereinafter referred to as the origin), the drive circuit 16 The sample moving stage 3 is moved to the origin. For example, as shown in FIG. 10, if the arrow direction of the slide glass 22 is the scanning direction,
The sample moving stage 3 is moved to a position where the part A becomes the origin and the part A can be observed. In this case, the scanning range is also stored in the storage circuit 14 and is the movement range for one slide glass.

【0030】原点の移動が終了すると、実際の走査開始
となる。今図11に示すように走査するものとして、図
10のような試料を走査するときの移動について説明す
る。図11において、Aが走査開始ポイントであり、今
Bのような標本が試料としてスライドガラス上に乗って
いる。
When the movement of the origin is completed, the actual scanning starts. Assuming that scanning is performed as shown in FIG. 11, a movement when scanning a sample as shown in FIG. 10 will be described. In FIG. 11, A is the scanning start point, and a sample such as B is now on the slide glass as a sample.

【0031】まず、試料移動ステージ3が走査開始され
ると、アナログ入力回路12に入力された受光素子4か
らの光量データがA/Dコンバータ13によりディジタ
ル変換されて制御回路17に取込まれる。この制御回路
17に取込まれたデータは直ちに記憶回路14に記憶し
てある基準光量データと比較演算回路15により比較さ
れる。記憶回路14から読み出されるデータは図8の実
照度データであり、現在観察光路に挿入されている対物
倍率に応じてテーブルの中からデータを選び呼出され
る。
First, when the sample moving stage 3 starts scanning, the light amount data from the light receiving element 4 input to the analog input circuit 12 is digitally converted by the A / D converter 13 and taken into the control circuit 17. The data taken into the control circuit 17 is immediately compared with the reference light amount data stored in the storage circuit 14 by the comparison operation circuit 15. The data read from the storage circuit 14 is the actual illuminance data shown in FIG. 8, which is selected from the table and called out according to the objective magnification currently inserted in the observation optical path.

【0032】今、比較されているデータが図11に示す
Aの部分でスライドガラス上に何も乗っていない状態な
ので、試料を観察する必要がない。この場合は、試料移
動ステージ3をそのステージの最高速度で移動させる。
この最高速度は試料移動ステージ3の構成要素にも左右
されるが、一般的には100 mm/sec 〜400 mm/sec が適
している。この光量データの取得、比較を行いながら図
11に示す矢印方向へステージを走査して行くとする
と、図11に示すCの部分の直前までは試料が何もない
ので、最高速度で移動することになる。
At this point, the data to be compared is in the state A shown in FIG. 11 in which nothing is placed on the slide glass, so there is no need to observe the sample. In this case, the sample moving stage 3 is moved at the maximum speed of the stage.
This maximum speed depends on the components of the sample moving stage 3, but generally 100 mm / sec to 400 mm / sec is suitable. If the stage is scanned in the direction of the arrow shown in FIG. 11 while acquiring and comparing the light amount data, there is no sample until just before the portion C shown in FIG. 11, so move at the maximum speed. become.

【0033】ステージをCの部分まで走査すると、Cの
部分の光量データが制御回路17に入力される。この場
合、試料が観察光路中に挿入され、ランプハウス9から
の照射光の透過率が当然悪くなり、受光素子4に入る光
量も弱まっているため、基準光量より小さくなってい
る。この光量データと記憶回路14から読み出された基
準光量を比較演算回路15で比較することで、観察光路
中に試料Bが挿入されたと判断し、ステージ移動スピー
ドを観察できる対物倍率に最適なスピードに設定する。
試料Bが観察光路中に挿入されている間(図11に点線
で示す間)は観察可能な移動スピードで走査し、再び観
察光路中から試料Bが無くなり、図11に示すDの光量
データが基準光量と同じになった場合には、ステージ移
動スピードを最高速にセットし、図11に示す実線部分
は高速に走査を行う。
When the stage is scanned up to the C portion, the light amount data of the C portion is input to the control circuit 17. In this case, the sample is inserted in the observation optical path, the transmittance of the irradiation light from the lamp house 9 naturally deteriorates, and the light amount entering the light receiving element 4 also weakens, so that it is smaller than the reference light amount. By comparing the light amount data with the reference light amount read from the storage circuit 14 by the comparison calculation circuit 15, it is determined that the sample B is inserted in the observation optical path, and the stage moving speed is the optimum speed for the objective magnification that allows observation. Set to.
While the sample B is being inserted into the observation optical path (shown by the dotted line in FIG. 11), scanning is performed at an observable moving speed, the sample B disappears from the observation optical path again, and the light amount data of D shown in FIG. When it becomes equal to the reference light amount, the stage moving speed is set to the highest speed, and the solid line portion shown in FIG. 11 performs high speed scanning.

【0034】以上の光量データの比較、判定、スピード
速度の可変を繰返し、図11に示すEの部分の予め記憶
回路14に記憶されている走査最終地点まで走査される
と試料移動ステージ3の走査は終了する。
The above comparison of light amount data, determination, and speed speed variation are repeated, and when the scanning is completed up to the scanning final point stored in advance in the memory circuit 14 at the portion E shown in FIG. 11, the sample moving stage 3 scans. Ends.

【0035】以上述べたように第1の実施例では、記憶
回路14に記憶されたデータを操作することにより、試
料の大きさに左右されることなく、試料移動ステージの
走査が可能となり、操作性の高い顕微鏡を得ることがで
きる。また、図12に示すような不規則なパターンの試
料を走査する場合にはさらに大きな効果(特にFの部
分)があり、走査精度の高速化を図ることができる。
As described above, in the first embodiment, by operating the data stored in the storage circuit 14, the sample moving stage can be scanned without being influenced by the size of the sample, and the operation can be performed. A highly efficient microscope can be obtained. Further, when a sample having an irregular pattern as shown in FIG. 12 is scanned, there is an even greater effect (particularly the F portion), and the scanning accuracy can be increased.

【0036】次に本発明の第2の実施例を図13及び図
14に示すフローチャートを参照しながら説明する。顕
微鏡の概略構成については図1に示す第1の実施例と同
じなので、ここではその説明を省略する。第2の実施例
において、データ入力部7として図15に示すように対
物ボタン18と、セットボタン19と、スタートボタン
21と、ランプボタン20に加えて試料移動ステージ3
の任意の位置を記憶させるためのメモリボタン23を付
加したものである。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the flow charts shown in FIGS. Since the schematic structure of the microscope is the same as that of the first embodiment shown in FIG. 1, its description is omitted here. In the second embodiment, as the data input unit 7, as shown in FIG. 15, in addition to the objective button 18, the set button 19, the start button 21, and the lamp button 20, the sample moving stage 3 is provided.
The memory button 23 for storing an arbitrary position of is added.

【0037】以下図13及び図14のフローチャートに
沿って作用を説明するに、対物データの入力、基準光量
の設定等は第1の実施例と同様なのでその説明を省略
し、ここでは異なる点についてのみ述べる。ステージ走
査を行うためにスタートボタン21が押された状態から
説明する。今、スタートボタン21が押されると、受光
素子4からアナログ入力回路12、A/Dコンバータ1
3を通して光量データが制御回路17に入力されると、
この制御回路17は光量データと基準光量とを比較しな
がらステージ走査を行っている。
The operation will be described below with reference to the flow charts of FIGS. 13 and 14. Since the input of the objective data, the setting of the reference light amount, etc. are the same as those in the first embodiment, the description thereof will be omitted, and the different points will be described here. Only mention. The state in which the start button 21 is pressed to perform the stage scanning will be described. Now, when the start button 21 is pressed, the light receiving element 4 is switched to the analog input circuit 12, the A / D converter 1
When the light amount data is input to the control circuit 17 through 3,
The control circuit 17 performs stage scanning while comparing the light amount data and the reference light amount.

【0038】例えば図16に示す如く試料を走査してい
るものとし、観察像を走査中にGのポイントで異常部位
が発見され、この部位を後で再検査したい場合にはデー
タ入力部7のメモリボタン23を押すことにより、試料
移動ステージ3のG部分の位置が記憶できる。即ち、メ
モリボタン23が押されると、制御回路17はディジタ
ル入力回路11からステージ位置検出器6からのステー
ジ座標を取得する。この取得されたステージ座標は記憶
回路14に予め作成してある例えば図17のようなデー
タテーブルに記憶される。このデータテーブルには複数
のステージ座標データが記憶でき、メモリボタン23が
押された回数分記憶できる。
For example, assuming that the sample is being scanned as shown in FIG. 16, an abnormal site is found at point G during scanning of the observation image, and if this site is to be reexamined later, the data input section 7 By pressing the memory button 23, the position of the G portion of the sample moving stage 3 can be stored. That is, when the memory button 23 is pressed, the control circuit 17 acquires the stage coordinates from the stage position detector 6 from the digital input circuit 11. The acquired stage coordinates are stored in a data table created in advance in the storage circuit 14 as shown in FIG. A plurality of stage coordinate data can be stored in this data table, and the number of times the memory button 23 is pressed can be stored.

【0039】ステージ走査が終了して異常部位を再検査
する場合は、再びメモリボタン23を押す(ステージ走
査中を除く)と、記憶回路14に記憶された場所へダイ
レクトにクイック移動できる。ここで、記憶回路14に
複数箇所の記憶ポイント、例えば図18のように4ケ所
記憶してあるものとすれば、メモリボタン23が押され
る度に1ケ所ずつ移動し、再点検で細かく観察できる。
When the stage scan is completed and the abnormal portion is to be inspected again, when the memory button 23 is pressed again (except during the stage scan), quick movement can be performed directly to the location stored in the storage circuit 14. Here, assuming that the memory circuit 14 stores a plurality of memory points, for example, four memory points as shown in FIG. 18, each time the memory button 23 is pressed, the memory button 23 is moved one by one, and re-inspection allows detailed observation. ..

【0040】今、図18において試料移動ステージ3が
スタート位置Aに停止している状態で、メモリボタン2
3が押されるとH部分に移動し、次にメモリボタン23
が押されるとI部分に移動するという具合にメモリボタ
ン23が押される毎にI−J−Kと移動し、すべての記
憶位置への移動が終了すると再びスタート位置A(原
点)に戻る。
Now, in FIG. 18, with the sample moving stage 3 stopped at the start position A, the memory button 2
When 3 is pressed, it moves to the H part, then the memory button 23
Every time the memory button 23 is pressed, the cursor moves to I-JK, such as when the key is pressed, and when the memory button 23 is pressed, it returns to the start position A (origin) when the movement to all the memory positions is completed.

【0041】以上の操作により走査試料の異常部位の再
検査を行う場合のポイントを記憶できることで観察が容
易になり、検査を迅速に行うことができ、第1の実施例
よりもさらに操作性の高い顕微鏡が得られる。
By the above operation, the points for re-examination of the abnormal portion of the scanning sample can be stored, the observation is facilitated, the examination can be carried out quickly, and the operability is further improved as compared with the first embodiment. A high microscope is obtained.

【0042】図19は本発明の第3の実施例を示すブロ
ック図であり、図1と同一部分には同一記号を付してそ
の説明を省略し、ここでは異なる点についてのみ述べ
る。この第3の実施例では、図1の受光素子4の代りに
垂直方向の試料ピント合せを行うための観察像を入力す
るオートフォーカス(以下単にAFと略称する)用のA
Fセンサ24とAF制御回路25とAFを行うべく試料
移動ステージ3を垂直方向へ上下させるZ軸駆動モータ
27とこのZ軸駆動モータ27を駆動するAF用モータ
駆動回路26を付加したものである。
FIG. 19 is a block diagram showing a third embodiment of the present invention. The same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted. Only different points will be described here. In the third embodiment, an A for autofocus (hereinafter simply referred to as AF) for inputting an observation image for performing vertical sample focusing instead of the light receiving element 4 of FIG.
An F sensor 24, an AF control circuit 25, a Z-axis drive motor 27 for vertically moving the sample moving stage 3 to perform AF, and an AF motor drive circuit 26 for driving the Z-axis drive motor 27 are added. ..

【0043】この第3の実施例では、ランプハウス9か
らの照明光をモニタする手段としてAFセンサ24より
取出して制御を行うものである。AFセンサ24は周知
のCCD素子等の受光素子であり、これより明るい信号
を制御装置8に取込むことは極めて簡単である。AF制
御回路25も周知のオートフォーカス手段であるコント
ラスト法や瞳分括法であり、制御、演算された出力に基
いてAF用モータ駆動回路26に信号を送り、Z軸駆動
モータ27を回転してピント合せを行う。
In the third embodiment, as a means for monitoring the illumination light from the lamp house 9, it is taken out from the AF sensor 24 and controlled. The AF sensor 24 is a well-known light receiving element such as a CCD element, and it is extremely easy to take a brighter signal into the control device 8. The AF control circuit 25 is also a well-known autofocusing means such as a contrast method or a pupil division method, and sends a signal to the AF motor drive circuit 26 based on the output which is controlled and calculated to rotate the Z-axis drive motor 27. To focus.

【0044】以上のようなオートフォーカス回路を付加
し、AFセンサ24の出力を制御装置8に取込むことに
より、試料移動ステージ3の部位加工および組立精度に
よる平面度のバラツキと、試料の厚さ方向のバラツキ等
を補正しながら試料移動ステージ3の走査が可能とな
り、走査中は常に試料にピントが合った状態となり、第
1、第2の実施例よりもさらに走査性の良い顕微鏡が得
られる。
By adding the output of the AF sensor 24 to the control device 8 by adding the autofocus circuit as described above, the variation of the flatness due to the processing and assembling accuracy of the sample moving stage 3 and the thickness of the sample. The sample moving stage 3 can be scanned while correcting variations in directions, etc., and the sample is always in focus during scanning, and a microscope with better scanning characteristics than in the first and second embodiments can be obtained. ..

【0045】図20及び図21は本発明の第4の実施例
を説明するためのフローチャートである。なお、第4の
実施例における制御系のハード構成については図1また
は図19と同様なので、その説明を省略する。また、対
物データの入力、基準光量の設定等の作用は第1の実施
例と同様なのでその説明を省略し、ここでは異なる点に
ついてのみ述べる。
20 and 21 are flow charts for explaining the fourth embodiment of the present invention. The hardware configuration of the control system in the fourth embodiment is the same as that in FIG. 1 or FIG. 19, so description thereof will be omitted. The operations such as the input of the objective data and the setting of the reference light amount are the same as those in the first embodiment, so that the description thereof will be omitted and only different points will be described here.

【0046】本実施例では前述した第1〜第3の実施例
に示した観察光路上の試料の有無を判断する判断手段を
変えた所に特徴がある。第1乃至第3の実施例では基準
照度に対し、試料を通過して受光素子4あるいはAFセ
ンサ24に入射される明るさを比較し、基準照度と同等
レベルなら試料がないものと判断し、制御を行うように
していた。例えば図22(a)に示すように基準照度
(ア)に対し、試料通過して受光素子4あるいはAFセ
ンサ24に入射される光量(イ)を比較し、(ア)=
(イ)の部分(ウ)では試料が何もないとして試料移動
ステージ3を高速に走査していた。この入射される光量
(イ)はある時点での受光素子4あるいはAFセンサ2
4に入射される光量の平均値である。例えば図22
(a)の(エ)の部分の入射光量(Lx)が図22
(b)のような波形(オ)であり、実際に判断基準とし
て使用されるデータはこの波形(オ)の平均データ
(カ)の値(Lx)となり、いわゆる輝度レベルの大小
により判断していた。
The present embodiment is characterized in that the judging means for judging the presence / absence of the sample on the observation optical path shown in the above-mentioned first to third embodiments is changed. In the first to third embodiments, the brightness that passes through the sample and is incident on the light receiving element 4 or the AF sensor 24 is compared with the reference illuminance, and if the level is equal to the reference illuminance, it is determined that there is no sample. I was trying to control it. For example, as shown in FIG. 22A, the amount of light (a) that passes through the sample and is incident on the light receiving element 4 or the AF sensor 24 is compared with the reference illuminance (a), and (a) =
In the part (c) of (a), the sample moving stage 3 was scanned at high speed on the assumption that there was no sample. The amount of incident light (a) is the light receiving element 4 or the AF sensor 2 at a certain time.
4 is an average value of the amount of light incident on No. For example, in FIG.
The incident light quantity (Lx) in the portion (d) of (a) is shown in FIG.
The waveform (e) is as shown in (b), and the data actually used as the judgment reference is the value (Lx) of the average data (f) of this waveform (e), which is judged by the so-called brightness level. It was

【0047】第4の実施例では、この判断基準として1
回分の波形(オ)そのものを比較判定するものであり、
判断手段としてはオートフォーカス手段等に良く使用さ
れている周知のコントランス法でその方法を簡単に説明
する。例えば、図23の波形のT1 とT2 の時の入力レ
ベルの差ΔLA を求め、次にT2 とT3 のレベル差ΔL
B を求め、これらをTnまで求めてそのΔLの和を求
め、その大小により入射光量のコントラストを判断する
ものである。
In the fourth embodiment, 1 is used as this criterion.
It is a comparison and judgment of the waveform (e) itself,
As the determination means, the well-known Contrans method, which is often used for autofocus means, will be briefly described. For example, the difference .DELTA.LA between the input levels of T1 and T2 in the waveform of FIG. 23 is obtained, and then the level difference .DELTA.L between T2 and T3.
B is calculated, these are calculated up to Tn, the sum of ΔL is calculated, and the contrast of the amount of incident light is judged by the size.

【0048】この方式を利用すると前述した第1乃至第
3の実施例とは違った判断手段により試料の有無を判断
でき、同様な効果が得られる。
By using this method, the presence or absence of the sample can be determined by a determination means different from those of the first to third embodiments, and the same effect can be obtained.

【0049】図24及び図25は本発明の第5の実施例
を説明するためのフローチャートを示すものである。な
お、第5の実施例における制御系のハード構成について
は第4の実施例と同様であるが、試料の有無を判断する
手段として輝度レベルの大小とコントラストによる比較
を同時に行うようにしたものである。
24 and 25 show a flow chart for explaining the fifth embodiment of the present invention. The hardware configuration of the control system in the fifth embodiment is the same as that of the fourth embodiment, but as the means for determining the presence or absence of the sample, the comparison of the magnitude of the brightness level and the contrast is performed at the same time. is there.

【0050】図24及び図25に示すフローチャートに
おいても、データの記憶手段等の動作は第1乃至第4の
実施例と同じであるが、試料の有無を判断する動作が異
なるので、ここではその作用を述べる。
Also in the flowcharts shown in FIGS. 24 and 25, the operation of the data storage means and the like is the same as that of the first to fourth embodiments, but the operation for judging the presence or absence of the sample is different, so here it is. Describe the action.

【0051】まず、最初に第4の実施例に示す如くコン
トラスト法を用いて試料の有無を判定し、試料有りの判
定が出た場合は試料移動ステージ3の走査スピードを低
速にして移動する。この場合は第4の実施例と同じであ
る。次に試料なしの判定、いわゆるコントラストが全然
ない場合には試料無しと判定されるが、この時例えば図
26に示す如く試料を走査していたとすると、受光素子
43あるいはAFセンサ24に入る入射光量の波形は図
27に示すような波形となる。この波形を第4の実施例
に示すような差分コントラスト法を用いた場合には演算
結果が“0”となる可能性があり、試料無しと誤判定さ
れてしまう恐れがある。これを防止するために、更に第
1乃至第3の実施例に示すような輝度レベルを判定し、
基準光量より小さい場合、すなわち受光素子4あるいは
AFセンサ24に入る照明透過光量が減衰した時にはス
テージ移動量を低速にセットし走査を行う。
First, as shown in the fourth embodiment, the presence / absence of a sample is determined by using the contrast method, and when it is determined that the sample is present, the scanning speed of the sample moving stage 3 is lowered to move the sample. This case is the same as in the fourth embodiment. Next, it is judged that there is no sample, that is, if there is no so-called contrast, it is judged that there is no sample. At this time, for example, if the sample is scanned as shown in FIG. 26, the amount of incident light entering the light receiving element 43 or the AF sensor 24. Has a waveform as shown in FIG. When this waveform is subjected to the differential contrast method as shown in the fourth embodiment, the calculation result may be "0", and there is a possibility that it may be erroneously determined that there is no sample. To prevent this, the brightness level as shown in the first to third embodiments is further determined,
When the amount of light transmitted is smaller than the reference amount of light, that is, when the amount of illumination transmitted light entering the light receiving element 4 or the AF sensor 24 is attenuated, the stage movement amount is set to a low speed and scanning is performed.

【0052】また、判断手段を2つ設けることにより、
図28および図29に示すようなパターンの認識も処理
できる。例えば第1乃至第4の実施例では多少でもコン
トラストあるいは輝度レベルが変化すると、試料ありの
判定をし、図30に示すように(キ)に示す部分が受光
素子4あるいはAFセンサ24の受光範囲だとすると、
受光範囲にすべて無もなくなるまで、(ク)の部分から
(ケ)の部分までは低速で走査を行っているので、無駄
な動作があった。
By providing two judging means,
Pattern recognition as shown in FIGS. 28 and 29 can also be processed. For example, in the first to fourth embodiments, if the contrast or the brightness level changes to some extent, it is determined that the sample is present, and the portion indicated by (G) is the light receiving area of the light receiving element 4 or the AF sensor 24 as shown in FIG. If so,
Until the entire light receiving range is exhausted, the scanning is performed at a low speed from the portion (K) to the portion (K), which is a wasteful operation.

【0053】このような場合は図28および図29に示
す判断部位(コ)の長さを設定し、その部分を判定して
走査することにより、図31に示すような走査動作とな
る。この場合、試料のエッジが短くなるため、低速動作
範囲(ク)−(ケ)が短くなる。
In such a case, the scanning operation as shown in FIG. 31 is performed by setting the length of the judgment portion (U) shown in FIGS. 28 and 29, and judging and scanning that portion. In this case, since the edge of the sample becomes short, the low speed operation range (K)-(K) becomes short.

【0054】以上第5の実施例によれば、試料有無の判
定レベルの向上と、試料走査速度の向上が図られ、第1
乃至第4の実施例よりもさらに操作性の高いものとな
る。
As described above, according to the fifth embodiment, it is possible to improve the determination level of the presence or absence of the sample and the sample scanning speed.
Therefore, the operability is higher than that of the fourth embodiment.

【0055】また、前述した各実施例によれば、試料移
動ステージ3の走査方向として図10に示すような走査
を行う場合について述べたが、図32および図33に示
すような走査を行うようにしても前述同様な効果が得ら
れる。
Further, according to each of the embodiments described above, the case where the scanning as shown in FIG. 10 is performed as the scanning direction of the sample moving stage 3 has been described, but the scanning as shown in FIGS. 32 and 33 is performed. However, the same effect as described above can be obtained.

【0056】さらに、前述した各実施例ではピント合せ
を行う操作としても試料移動ステージ3を垂直方向へ移
動しているが、回転式レボルバー2等を動かしても同様
の効果を得ることができ、またランプハウス9内のラン
プの調光を行う方法としてランプの電圧を調整するよう
にしたが、これに限定されるものではなく、写真撮影等
の関係で色温度を一定とするために、ランプ電圧を一定
とし光学的なNDフィルター(減光フィルター)等を光
路中に挿入する機構を用いても同様の効果が得られるも
のである。
Further, in each of the above-described embodiments, the sample moving stage 3 is moved in the vertical direction also as the operation for focusing, but the same effect can be obtained by moving the rotary revolver 2 or the like. Further, the voltage of the lamp is adjusted as a method of adjusting the lamp in the lamp house 9, but the method is not limited to this. The same effect can be obtained by using a mechanism in which an optical ND filter (attenuating filter) or the like is inserted in the optical path while keeping the voltage constant.

【0057】またさらに、前述した各実施例では透過照
明系の顕微鏡を使用して説明したが、落射照度系の顕微
鏡を用い、試料移動ステージからの反射光を検出して自
動走査を行うようにしても良い。
Further, in each of the above-described embodiments, the transmission illumination type microscope is used for description, but the reflected light from the sample moving stage is detected and the automatic scanning is performed by using the epi-illumination type microscope. May be.

【0058】[0058]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、観察
試料を自動走査する際の無駄な場所の走査を省略するこ
とができるので、走査時間の高速化を図ることができ、
また標本の種類、大きさに左右されることなく、観察者
の選んだ任意の標本で自動走査の動作が可能となる操作
性の高い顕微鏡を提供することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to omit a scan of a useless place when the observation sample is automatically scanned, so that the scanning time can be shortened.
Further, it is possible to provide a microscope with high operability that enables automatic scanning operation on an arbitrary sample selected by an observer, regardless of the type and size of the sample.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による顕微鏡の一実施例を示すブロック
図。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a microscope according to the present invention.

【図2】同実施例における制御装置の内部構成を示すブ
ロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing an internal configuration of a control device in the embodiment.

【図3】同実施例におけるデータ入力部の正面図。FIG. 3 is a front view of a data input unit in the embodiment.

【図4】同実施例の作用を説明するためのフローチャー
ト。
FIG. 4 is a flowchart for explaining the operation of the embodiment.

【図5】同じく図4に続くフローチャート。FIG. 5 is a flowchart following FIG.

【図6】図2の記憶回路に格納されたレボ穴NOと倍率
との関係を示すデータテーブルを示す図。
FIG. 6 is a diagram showing a data table showing a relationship between a recess hole NO stored in a storage circuit of FIG. 2 and a magnification.

【図7】同じく対物倍率と調光レベルとの関係を示すデ
ータテーブルを示す図。
FIG. 7 is a diagram similarly showing a data table showing the relationship between the objective magnification and the dimming level.

【図8】同じく対物倍率と実照度との関係を示すデータ
テーブルを示す図。
FIG. 8 is a diagram similarly showing a data table showing the relationship between the objective magnification and the actual illuminance.

【図9】同じく対物倍率と最適なステージ移動スピード
および実速度の関係を示すデータテーブルを示す図。
FIG. 9 is a view showing a data table similarly showing the relationship between the objective magnification and the optimum stage moving speed and actual speed.

【図10】同実施例において、スライドガラスに対する
走査方向の説明図。
FIG. 10 is an explanatory diagram of a scanning direction with respect to the slide glass in the embodiment.

【図11】同じくスライドガラスに試料が乗せられた時
の走査速度の説明図。
FIG. 11 is an explanatory diagram of a scanning speed when the sample is placed on the slide glass.

【図12】同じくスライドガラスに図11と異なる試料
が乗せられた時の走査速度の説明図。
FIG. 12 is an explanatory diagram of a scanning speed when a sample different from that shown in FIG. 11 is placed on the slide glass.

【図13】本発明の第2の実施例の作用を説明するため
のフローチャート。
FIG. 13 is a flowchart for explaining the operation of the second embodiment of the present invention.

【図14】同じく図13に続くフローチャート。FIG. 14 is a flowchart similarly to FIG. 13.

【図15】同実施例に使用されるデータ入力部の正面
図。
FIG. 15 is a front view of a data input unit used in the embodiment.

【図16】同実施例において、スライドガラスに対する
走査過程で異常ポイントを発見した時の説明図。
FIG. 16 is an explanatory diagram when an abnormal point is found in the scanning process on the slide glass in the example.

【図17】同実施例において、異常ポイントとその座標
を記憶するためのデータテーブルを示す図。
FIG. 17 is a diagram showing a data table for storing an abnormal point and its coordinates in the embodiment.

【図18】同実施例において、複数の異常ポイントを観
察する場合の説明図。
FIG. 18 is an explanatory diagram for observing a plurality of abnormal points in the example.

【図19】本発明の第3の実施例を示すブロック図。FIG. 19 is a block diagram showing a third embodiment of the present invention.

【図20】本発明の第4の実施例の作用を説明するため
のフローチャート。
FIG. 20 is a flow chart for explaining the operation of the fourth embodiment of the present invention.

【図21】同じく図21に続くフローチャート。FIG. 21 is a flowchart similarly to FIG. 21.

【図22】(a),(b)は第1乃至第3の同実施例に
おいて、入射光量の輝度レベルを判断する場合の波形
図。
22 (a) and 22 (b) are waveform diagrams in the case of determining the brightness level of the incident light amount in the first to third embodiments.

【図23】第4の実施例において、入射光量のコントラ
ストを判断する場合の波形図。
FIG. 23 is a waveform diagram in the case of determining the contrast of the incident light amount in the fourth embodiment.

【図24】本発明の第5の実施例における作用を説明す
るためのフローチャート。
FIG. 24 is a flow chart for explaining the operation of the fifth embodiment of the present invention.

【図25】同じく図24に続くフローチャート。FIG. 25 is a flowchart similarly to FIG. 24.

【図26】同実施例にいて、スライドガラスに対する試
料の走査方向を示す図。
FIG. 26 is a view showing a scanning direction of a sample on a slide glass in the example.

【図27】同実施例にいて、受光素子あるいはAFセン
サに入る入射光量の波形図。
FIG. 27 is a waveform chart of the amount of incident light entering a light receiving element or an AF sensor in the example.

【図28】同実施例にいて、入射光量に対する判断手段
を説明するためのパターン図。
FIG. 28 is a pattern diagram for explaining determination means for the amount of incident light in the example.

【図29】入射光量に対して図28とは異なる判断手段
を説明するためのパターン図。
FIG. 29 is a pattern diagram for explaining a determination means different from that in FIG. 28 with respect to the amount of incident light.

【図30】第1乃至第4の実施例において、入射光量の
コントラストあるいは輝度レベルの変化に対する試料移
動ステージの走査速度を説明するための図。
FIG. 30 is a diagram for explaining the scanning speed of the sample moving stage with respect to changes in the contrast of the incident light amount or the brightness level in the first to fourth examples.

【図31】第5の実施例において、入射光量のコントラ
ストあるいは輝度レベルの変化に対する試料移動ステー
ジの走査速度を説明するための図。
FIG. 31 is a diagram for explaining the scanning speed of the sample moving stage with respect to changes in the contrast of the amount of incident light or the brightness level in the fifth embodiment.

【図32】図10とは異なるスライドガラスに対する走
査方向を示す図。
FIG. 32 is a diagram showing a scanning direction for a slide glass different from that in FIG.

【図33】図32とは異なるスライドガラスに対する走
査方向を示す図。
FIG. 33 is a diagram showing a scanning direction with respect to a slide glass different from FIG. 32.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1……顕微鏡本体、2……回転式レボルバー、3……試
料移動ステージ、4……受光素子、5……レボ穴検出
器、6……ステージ位置検出器、7……データ入力部、
8……制御装置、9……ランプハウス、10……調光回
路、11……ディジタル入力回路、12……アナログ入
力回路、13……A/Dコンバタータ、14……記憶回
路、15……比較演算回路、16……駆動回路。
1 ... Microscope main body, 2 ... Rotating revolver, 3 ... Sample moving stage, 4 ... Light receiving element, 5 ... Rebo hole detector, 6 ... Stage position detector, 7 ... Data input section,
8 ... Control device, 9 ... Lamp house, 10 ... Dimming circuit, 11 ... Digital input circuit, 12 ... Analog input circuit, 13 ... A / D converter, 14 ... Storage circuit, 15 ... Comparison arithmetic circuit, 16 ... Driving circuit.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 観察光路と直交する平面内で試料を移動
させる試料移動ステージと、この試料移動テーブル上の
試料を拡大する倍率の異なる複数の対物レンズを切換可
能に保持する保持手段とを備えた顕微鏡において、前記
各対物レンズの倍率毎に前記観察光路の最適観察照度を
設定する設定手段と、この設定手段により観察光路に挿
入される対物レンズの倍率が設定されるとそのときの観
察光路の最適照度をモニタする検出手段と、この検出手
段によりモニタされた前記試料移動ステージに試料がな
いときの観察光路の照度を記憶する記憶手段と、この記
憶手段で記憶されたデータに基づき観察光路上に試料が
あるか否かを判定する判定手段と、この判定手段により
判定された試料の有無に応じて前記試料移動ステージを
移動制御する移動制御手段とを具備したことを特徴とす
る顕微鏡。
1. A sample moving stage for moving a sample in a plane orthogonal to an observation optical path, and holding means for holding a plurality of objective lenses having different magnifications for enlarging the sample on the sample moving table in a switchable manner. In the microscope, the setting means for setting the optimum observation illuminance of the observation optical path for each magnification of each objective lens, and the observation optical path at that time when the magnification of the objective lens inserted in the observation optical path is set by the setting means Detecting means for monitoring the optimum illuminance, storage means for storing the illuminance of the observation optical path when there is no sample on the sample moving stage monitored by this detecting means, and observation light based on the data stored in this storage means. Judgment means for judging whether or not there is a sample on the road, and a movement control for controlling movement of the sample moving stage according to the presence or absence of the sample judged by this judgment means. A microscope comprising a control means.
【請求項2】 判定手段は観察光路上の試料の有無を輝
度レベルにより判定するようにした請求項1に記載の顕
微鏡。
2. The microscope according to claim 1, wherein the determining means determines the presence or absence of the sample on the observation optical path based on the brightness level.
【請求項3】 判定手段は観察光路上の試料の有無を試
料の観察像のコントラストにより判定するようにした請
求項1に記載の顕微鏡。
3. The microscope according to claim 1, wherein the determination means determines the presence or absence of the sample on the observation optical path based on the contrast of the observed image of the sample.
JP3078704A 1991-02-21 1991-02-21 microscope Expired - Fee Related JP2989921B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3078704A JP2989921B2 (en) 1991-02-21 1991-02-21 microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3078704A JP2989921B2 (en) 1991-02-21 1991-02-21 microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0593867A true JPH0593867A (en) 1993-04-16
JP2989921B2 JP2989921B2 (en) 1999-12-13

Family

ID=13669257

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3078704A Expired - Fee Related JP2989921B2 (en) 1991-02-21 1991-02-21 microscope

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2989921B2 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001022147A1 (en) * 1999-09-24 2001-03-29 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope image transfer system
JP2003043366A (en) * 2001-07-31 2003-02-13 Olympus Optical Co Ltd Microscope equipment
JP2007219406A (en) * 2006-02-20 2007-08-30 Nikon Corp Scanning microscope
JP2008170641A (en) * 2007-01-10 2008-07-24 Olympus Corp Microscope system and stage control method
CN111413322A (en) * 2020-05-09 2020-07-14 奥谱天成(厦门)光电有限公司 Raman Spectrometer for Automatically Identifying Samples and Method for Automatically Identifying Samples
CN111413323A (en) * 2020-05-12 2020-07-14 奥谱天成(厦门)光电有限公司 High-flux full-automatic Raman spectrum analyzer system and testing method

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001022147A1 (en) * 1999-09-24 2001-03-29 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope image transfer system
JP2003043366A (en) * 2001-07-31 2003-02-13 Olympus Optical Co Ltd Microscope equipment
JP2007219406A (en) * 2006-02-20 2007-08-30 Nikon Corp Scanning microscope
JP2008170641A (en) * 2007-01-10 2008-07-24 Olympus Corp Microscope system and stage control method
CN111413322A (en) * 2020-05-09 2020-07-14 奥谱天成(厦门)光电有限公司 Raman Spectrometer for Automatically Identifying Samples and Method for Automatically Identifying Samples
CN111413323A (en) * 2020-05-12 2020-07-14 奥谱天成(厦门)光电有限公司 High-flux full-automatic Raman spectrum analyzer system and testing method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2989921B2 (en) 1999-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5260825A (en) Microscope
JP2925647B2 (en) Microscope magnification changer
JP4970869B2 (en) Observation apparatus and observation method
US8264768B2 (en) Microscope system
US8106943B2 (en) Microscope image pickup system, microscope image pickup method and recording medium
JP7741689B2 (en) Control device for microscope
JPH11183806A (en) Confocal microscope
JP2989921B2 (en) microscope
JPH1096848A (en) Automatic focus detecting device
JP4878914B2 (en) Microscope system, microscope control method, and program
US8284246B2 (en) Microscope system, control method used for microscope system, and recording medium for reproducing a microscope state based on microscope operation history and a microscope operation item
JP2009162974A (en) Microscope system and its control method
JPH1195091A (en) Autofocusing microscope
JP3722535B2 (en) Scanning confocal microscope and measuring method using this microscope
JP2003029151A (en) Confocal laser scanning microscope and control program
JP4854873B2 (en) Microscope control apparatus, microscope control method, and microscope control program
US20090168156A1 (en) Microscope system, microscope system control program and microscope system control method
JP3745034B2 (en) Microscope system
JP4918405B2 (en) Optical microscope
US7283297B2 (en) Scanning microscope having a mirror for coupling-in a manipulating light beam
JP3439259B2 (en) Automatic focus detection device
JP3518925B2 (en) Automatic image forming equipment for scanning microscope
JP2001091845A (en) Scanning type microscope device
JP5155673B2 (en) Microscope system
JPH08190045A (en) Automatic focusing control method and observation device

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990907

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071008

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081008

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees