JPH0594707U - 光パルス試験器と光ファイバによる位置検出器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 異常状態になると光反射器２Ａ〜２Ｃに接続
される光スイッチ３Ａ〜３Ｃにより、光反射器２Ａ〜２
Ｃからのフレネル反射光を光パスル試験器１で検出し、
異常状態の位置５Ａ〜５Ｃをリアルタイムに検出する。 【構成】 光パルス試験器１は光パルスを発生し、反射
パルスの位置を検出する。光スイッチ３Ａ〜３Ｃは位置
５Ａ〜５Ｃに１つずつ配置され、正常状態では接であ
り、異常状態では断になり、断になると光反射器２Ａ〜
２Ｃに接続される。光ファイバ４Ａ〜４Ｄは光パルス試
験器１の分解能以上の長さをもち、光パルス試験器１と
光スイッチ３Ａ〜３Ｃの間に接続される。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、例えば各種プラントのバルブの開閉をチェックしたり、どの電柱 に落雷したかを検出したりする場合などのように、外部刺激による異常状態の位 置を検出する光パルス試験器と光ファイバによる位置検出器についてのものであ る。

【０００２】

【従来の技術】

従来の光パルス試験器と光ファイバによる位置検出器では、光ファイバに曲げ を加えたり、光ファイバを特殊なものにしたりして、外部刺激により損失が変化 する状態を光パルス試験器で検出する。

【０００３】 次に、従来技術による位置検出器の構成を図５により説明する。図５の１は光 パルス試験器、９は光ファイバ、５Ａと５Ｂは検出される位置である。図５では 、位置５Ａ・５Ｂで光ファイバ９に曲げを加える。このとき、光パルス試験器１ には図６の波形が観測される。図６の曲線１３は後方散乱光による減衰特性であ り、曲線１３の屈折位置から位置５Ａ・５Ｂを検出する。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

光ファイバに曲げを加えると光ファイバの寿命が短くなり、光ファイバを特殊 なものにすると高価になる。図６のように、後方散乱光は信号レベルが低いので 、後方散乱光を積算してＳＮ比を改善する。このため、積算時間が必要となり、 位置検出までに時間がかかる。

【０００５】 この考案は、検出される位置に配置され、正常状態では接であり、異常状態で は断になり、断になると光反射器に接続される光スイッチと、光パルス試験器の 分解能以上の長さをもち、光パルス試験器と光スイッチの間に接続される光ファ イバとを備え、光スイッチが断のときの光反射器からのフレネル反射光を光パス ル試験器１で検出し、異常状態の位置をリアルタイムに検出する位置検出器の提 供を目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

この目的を達成するため、この考案では、光パルスを発生し、戻り光から反射 パルスの位置を検出する光パルス試験器と、検出位置に配置され、正常状態では 接であり、異常状態では断になり、断になると光反射器に接続される光スイッチ と、光パルス試験器の分解能以上の長さをもち、光パルス試験器と光スイッチの 間に接続される光ファイバとを備え、光スイッチが断のときの光反射器からのフ レーネル反射を光パスル試験器で検出し、異常状態の検出位置を検出する。

【０００７】 次に、この考案による位置検出器の構成を図１により説明する。図１の２Ａ〜 ２Ｄは光反射器、３Ａ〜３Ｃは光スイッチ、４Ａ〜４Ｄは光ファイバ、５Ａ〜５ Ｃは検出される位置である。図１は、３つの位置５Ａ〜５Ｃに３つの光スイッチ ３Ａ〜３Ｃを配置し、４つの光反射器２Ａ〜２Ｄと、４つの光ファイバ４Ａ〜４ Ｄを接続した場合を例示したものである。

【０００８】 光パルス試験器１は光パルスを発生し、反射パルスの位置を検出する。光スイ ッチ３Ａ〜３Ｃは位置５Ａ〜５Ｃに１つずつ配置され、正常状態では接であり、 異常状態では断になり、断になると光反射器２Ａ〜２Ｃに接続される。光ファイ バ４Ａ〜４Ｄは光パルス試験器１の分解能以上の長さをもち、光パルス試験器１ と光スイッチ３Ａ〜３Ｃの間に接続される。図１では、光ファイバ４Ａ〜４Ｄは 光スイッチ３Ａ〜３Ｃに直列に接続され、終端は光反射器２Ｄに接続される。

【０００９】 光スイッチ３Ａ〜３Ｃは、例えばリレーなどと連動させることにより、外部刺 激が加わると接から断に切り換わるように設定される。光スイッチ３Ａ〜３Ｃの どれかが断のときは断になった光スイッチ３Ａ〜３Ｃに接続される光反射器２Ａ 〜２Ｃからのフレネル反射光を光パスル試験器１で検出し、外部刺激が加わった 異常状態の位置５Ａ〜５Ｃを検出する。

【００１０】 次に、図１の光パルス試験器１による観測波形図を図２により説明する。図２ の曲線１１は後方散乱光による減衰特性であり、１２は外部刺激によりスパイク 状に発生したフレネル反射光の波形である。フレネル反射光１２は、反射レベル が高いので、後方散乱光のように積算時間が不要であり、光パルス試験器１でリ アルタイムに位置を検出することができる。

【００１１】

【実施例】

次に、図１の実施例の構成を図３により説明する。図３の７Ａと７Ａは分岐器 、８Ａと８Ｂは光・電気変換器である。図３は光パルス試験器１から２波長の光 パルスを出し、１つの光パルスを位置検出用に使用し、他の光パルスを光スイッ チ３Ａ・３Ｂのリセット用に使用したものである。図３によれば、光・電気変換 器８Ａ・８Ｂで変換された電気信号により、光スイッチ３Ａ・３Ｂをリセットす ることができる。

【００１２】 次に、図１の他の実施例の構成を図４により説明する。図４は光スイッチ３Ａ ・３Ｂと光分岐器７Ａ・７Ｂを組み合わせて同時に複数のアラームを検出できる ようにしたものであり、分岐器７Ａ・７Ｂの分岐出力を直列に接続し、分岐器７ Ａ・７Ｂに光スイッチ３Ａ・３Ｂをそれぞれ接続したものである。

【００１３】

【考案の効果】

この考案によれば、検出される位置に配置され、正常状態では接であり、異常 状態では断になり、断になると光反射器に接続される光スイッチと、光パルス試 験器の分解能以上の長さをもち、光パルス試験器と光スイッチの間に接続される 光ファイバとを備え、光スイッチが断のときの光反射器からのフレネル反射光を 光パスル試験器で検出するので、異常状態の位置をリアルタイムに検出すること ができる。光パスル試験器は後方散乱光を検出する必要がないので、安価で小型 なものを使用することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案による位置検出器の構成図である。

【図２】図１の光パルス試験器１による観測波形図であ
る。

【図３】図１の実施例の構成図である。

【図４】図１の他の実施例の構成図である。

【図５】従来技術による位置検出器の構成図である。

【図６】図５の光パルス試験器１による観測波形図であ
る。

【符号の説明】

１ 光パルス試験器 ２Ａ〜２Ｄ 光反射器 ３Ａ〜３Ｃ 光スイッチ ４Ａ〜４Ｄ 光ファイバ ５Ａ〜５Ｃ 検出される位置

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 光パルスを発生し、反射パルスの位置を
   検出する光パルス試験器と、 検出される位置に配置され、正常状態では接であり、異
   常状態では断になり、断になると光反射器に接続される
   光スイッチと、 前記光パルス試験器の分解能以上の長さをもち、前記光
   パルス試験器と前記光スイッチの間に接続される光ファ
   イバとを備え、 前記光スイッチが断のときの前記光反射器からのフレネ
   ル反射光を前記光パスル試験器で検出し、異常状態の前
   記位置を検出することを特徴とする光パルス試験器と光
   ファイバによる位置検出器。