JPH06100394A - 単結晶製造用原料供給方法及び装置 - Google Patents
単結晶製造用原料供給方法及び装置Info
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- JPH06100394A JPH06100394A JP24814392A JP24814392A JPH06100394A JP H06100394 A JPH06100394 A JP H06100394A JP 24814392 A JP24814392 A JP 24814392A JP 24814392 A JP24814392 A JP 24814392A JP H06100394 A JPH06100394 A JP H06100394A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】シリコン単結晶育成炉内の原料溶解部へ十分加
熱された粒状シリコン原料を供給することができ、シリ
コン単結晶育成の安定化に寄与することができる単結晶
製造用原料供給方法及び装置を提供することを目的とす
る。 【構成】シリコン単結晶育成炉に粒状シリコン原料を連
続的に供給する単結晶製造用原料供給装置であって、粒
状シリコン原料16を貯蔵する貯蔵容器18と、貯蔵容
器18から排出された粒状シリコン原料をシリコン単結
晶育成炉に向けて供給するためのフィーダー21と、フ
ィーダー21からの粒状シリコン原料16をシリコン単
結晶育成炉に導く流路24と、貯蔵容器から排出された
粒状シリコン原料16に直接熱エネルギーを照射して加
熱する加熱機構23とを具備する。
熱された粒状シリコン原料を供給することができ、シリ
コン単結晶育成の安定化に寄与することができる単結晶
製造用原料供給方法及び装置を提供することを目的とす
る。 【構成】シリコン単結晶育成炉に粒状シリコン原料を連
続的に供給する単結晶製造用原料供給装置であって、粒
状シリコン原料16を貯蔵する貯蔵容器18と、貯蔵容
器18から排出された粒状シリコン原料をシリコン単結
晶育成炉に向けて供給するためのフィーダー21と、フ
ィーダー21からの粒状シリコン原料16をシリコン単
結晶育成炉に導く流路24と、貯蔵容器から排出された
粒状シリコン原料16に直接熱エネルギーを照射して加
熱する加熱機構23とを具備する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チョクラルスキー法に
よって単結晶を引き上げるシリコン単結晶育成炉に、連
続的に粒状シリコン原料を供給する単結晶製造用原料供
給方法及び装置に関する。
よって単結晶を引き上げるシリコン単結晶育成炉に、連
続的に粒状シリコン原料を供給する単結晶製造用原料供
給方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】原料を連続的に供給しながらチョクラル
スキー法によりシリコン単結晶を製造する方法(以下、
連続供給CZ法と言う)の考え方は、特公昭40−10
184号公報にみられるように、古くからよく知られて
いる。
スキー法によりシリコン単結晶を製造する方法(以下、
連続供給CZ法と言う)の考え方は、特公昭40−10
184号公報にみられるように、古くからよく知られて
いる。
【0003】従来のチョクラルスキー法(以下、CZ法
と言う)によるシリコン単結晶の製造法は、シリコン単
結晶の引き上げとともに、シリコン融液が減少する。こ
のため、結晶の長手方向でドーパント濃度及び酸素濃度
が変動する。厳しいスペックの場合には、使用可能なシ
リコンウェハの歩留まりは50%以下となることがあ
る。これに対し、上述の連続供給CZ法では、シリコン
融液量を一定に保つことが可能となるため、CZ法と比
較して、シリコン単結晶の製造歩留まりを高くすること
ができる。
と言う)によるシリコン単結晶の製造法は、シリコン単
結晶の引き上げとともに、シリコン融液が減少する。こ
のため、結晶の長手方向でドーパント濃度及び酸素濃度
が変動する。厳しいスペックの場合には、使用可能なシ
リコンウェハの歩留まりは50%以下となることがあ
る。これに対し、上述の連続供給CZ法では、シリコン
融液量を一定に保つことが可能となるため、CZ法と比
較して、シリコン単結晶の製造歩留まりを高くすること
ができる。
【0004】連続供給CZ法によるシリコン単結晶育成
炉は、前記特公昭40−10184号公報にも見られる
ように、図6に示す構成が一般的である。図6におい
て、参照符号3は石英ガラスるつぼであり、その中にシ
リコン融液2が貯留される。石英ガラスるつぼ3内に
は、その外壁と同心的に設けられた仕切り4を有してお
り、仕切り4の内側が単結晶育成部(内室)3a、その
外側が原料溶解部(外室)3bとなっている。外室3b
には原料供給管7が挿入されており、この供給管7を介
して粒状シリコン原料6が連続的に供給される。仕切り
4には小孔5が設けられており、これを介して原料溶解
部3bから単結晶育成部3aにシリコン融液2が供給さ
れる。そして単結晶育成部3aの上部から上方へシリコ
ン単結晶1を引き上げる。なお、参照符号8はるつぼ3
内に供給されるシリコン原料6を溶解するための抵抗加
熱ヒーターである。
炉は、前記特公昭40−10184号公報にも見られる
ように、図6に示す構成が一般的である。図6におい
て、参照符号3は石英ガラスるつぼであり、その中にシ
リコン融液2が貯留される。石英ガラスるつぼ3内に
は、その外壁と同心的に設けられた仕切り4を有してお
り、仕切り4の内側が単結晶育成部(内室)3a、その
外側が原料溶解部(外室)3bとなっている。外室3b
には原料供給管7が挿入されており、この供給管7を介
して粒状シリコン原料6が連続的に供給される。仕切り
4には小孔5が設けられており、これを介して原料溶解
部3bから単結晶育成部3aにシリコン融液2が供給さ
れる。そして単結晶育成部3aの上部から上方へシリコ
ン単結晶1を引き上げる。なお、参照符号8はるつぼ3
内に供給されるシリコン原料6を溶解するための抵抗加
熱ヒーターである。
【0005】このような単結晶育成炉では、単結晶育成
部3aで育成されるシリコン単結晶重量と等しい重量の
粒状シリコン原料を仕切り4の外側の原料溶解部3bに
供給することで、石英ガラスるつぼ3内のシリコン融液
量を一定に保つことができる。
部3aで育成されるシリコン単結晶重量と等しい重量の
粒状シリコン原料を仕切り4の外側の原料溶解部3bに
供給することで、石英ガラスるつぼ3内のシリコン融液
量を一定に保つことができる。
【0006】しかし、単結晶径が6インチ以上と大口径
である場合及び単結晶育成速度が大きな場合、粒状シリ
コン原料の供給量も多くなる。このため、(1)前記原
料溶解部に供給された粒状シリコン原料が未融解とな
り、原料溶解部のシリコン融液表面を覆ってしまうこと
がある、(2)供給する粒状シリコン原料は低温(室
温)であるため、シリコン融液温度の変動が大きくな
り、シリコン単結晶の有転位化、結晶品質の低下を促進
する、(3)原料供給時の粒状シリコン原料とシリコン
融液との温度差によって生じる熱応力によって、粒状シ
リコン原料が破砕、飛散する頻度が大きくなり、これが
育成中のシリコン単結晶に付着すれば、有転位化の原因
となる。また、破砕した粒状シリコン原料或いは未融解
の粒状シリコン原料が飛散したことによる炉内の汚染、
断熱材等炉内の部材に付着すれば劣化を早める、といっ
た問題が生じる。このような問題を防止するための技術
として、例えば以下のイ)〜ニ)に示すものが公知であ
る。
である場合及び単結晶育成速度が大きな場合、粒状シリ
コン原料の供給量も多くなる。このため、(1)前記原
料溶解部に供給された粒状シリコン原料が未融解とな
り、原料溶解部のシリコン融液表面を覆ってしまうこと
がある、(2)供給する粒状シリコン原料は低温(室
温)であるため、シリコン融液温度の変動が大きくな
り、シリコン単結晶の有転位化、結晶品質の低下を促進
する、(3)原料供給時の粒状シリコン原料とシリコン
融液との温度差によって生じる熱応力によって、粒状シ
リコン原料が破砕、飛散する頻度が大きくなり、これが
育成中のシリコン単結晶に付着すれば、有転位化の原因
となる。また、破砕した粒状シリコン原料或いは未融解
の粒状シリコン原料が飛散したことによる炉内の汚染、
断熱材等炉内の部材に付着すれば劣化を早める、といっ
た問題が生じる。このような問題を防止するための技術
として、例えば以下のイ)〜ニ)に示すものが公知であ
る。
【0007】イ)特開平1−119592号公報は、る
つぼ近傍の高温の雰囲気ガスを粒状シリコン原料を供給
する供給管から吸引することにより、粒状シリコン原料
を加熱するものである。また、ロ)特開平1−1195
94号公報及びハ)特開平3−8790号公報は、粒状
シリコン原料の供給管内での通過時間を長くすることに
より、シリコン融液全体を加熱している熱源からの輻射
熱によって、粒状シリコン原料を供給管内で加熱するも
のである。また、ニ)特開平2−243587号公報
は、新たな熱源を追加して、仕切り外側の融液上で粒状
シリコン原料を加熱するものである。
つぼ近傍の高温の雰囲気ガスを粒状シリコン原料を供給
する供給管から吸引することにより、粒状シリコン原料
を加熱するものである。また、ロ)特開平1−1195
94号公報及びハ)特開平3−8790号公報は、粒状
シリコン原料の供給管内での通過時間を長くすることに
より、シリコン融液全体を加熱している熱源からの輻射
熱によって、粒状シリコン原料を供給管内で加熱するも
のである。また、ニ)特開平2−243587号公報
は、新たな熱源を追加して、仕切り外側の融液上で粒状
シリコン原料を加熱するものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、イ)特
開平1−119592号公報に開示された発明では、高
温の雰囲気ガス中に含まれるシリコン酸化物、不純物を
高温の雰囲気ガスと同時に吸引するため、原料供給装置
全体が汚染されるという問題がある。また、ロ)特開平
1−119594号公報及びハ)特開平3−8790号
公報に開示された発明では、粒状シリコン原料を十分に
加熱するために供給管内での粒状シリコン原料の移動速
度を小さくする必要がある。しかし、粒状シリコン原料
を減速し過ぎると、粒状シリコン原料は供給管の内壁に
焼結し、最終的には供給管を閉塞する。このため粒状シ
リコン原料を安定に供給できなくなるという問題があ
る。さらに、ニ)特開平2−243587号公報に開示
された発明は、粒状シリコン原料を原料溶解部のシリコ
ン融液に供給した際に、粒状シリコン原料の破砕、シリ
コン融液の温度変動という問題が解決されていない。
開平1−119592号公報に開示された発明では、高
温の雰囲気ガス中に含まれるシリコン酸化物、不純物を
高温の雰囲気ガスと同時に吸引するため、原料供給装置
全体が汚染されるという問題がある。また、ロ)特開平
1−119594号公報及びハ)特開平3−8790号
公報に開示された発明では、粒状シリコン原料を十分に
加熱するために供給管内での粒状シリコン原料の移動速
度を小さくする必要がある。しかし、粒状シリコン原料
を減速し過ぎると、粒状シリコン原料は供給管の内壁に
焼結し、最終的には供給管を閉塞する。このため粒状シ
リコン原料を安定に供給できなくなるという問題があ
る。さらに、ニ)特開平2−243587号公報に開示
された発明は、粒状シリコン原料を原料溶解部のシリコ
ン融液に供給した際に、粒状シリコン原料の破砕、シリ
コン融液の温度変動という問題が解決されていない。
【0009】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであって、シリコン単結晶育成炉内の原料溶解部へ十
分加熱された粒状シリコン原料を供給することができ、
シリコン単結晶育成の安定化に寄与することができる単
結晶製造用原料供給方法及び装置を提供することを目的
とする。
のであって、シリコン単結晶育成炉内の原料溶解部へ十
分加熱された粒状シリコン原料を供給することができ、
シリコン単結晶育成の安定化に寄与することができる単
結晶製造用原料供給方法及び装置を提供することを目的
とする。
【0010】
【課題を解決しようとするための手段】本発明は、上記
課題を解決するために、第1に、シリコン単結晶育成炉
に粒状シリコン原料を連続的に供給する単結晶製造用原
料供給方法であって、貯蔵容器に貯蔵された粒状シリコ
ン原料を連続的に排出する工程と、排出された粒状シリ
コン原料に直接熱エネルギーを照射して粒状シリコンを
連続的に加熱する工程と、加熱された粒状シリコン原料
を連続的にシリコン単結晶育成炉に供給する工程とを有
することを特徴とする単結晶製造用原料供給方法を提供
する。
課題を解決するために、第1に、シリコン単結晶育成炉
に粒状シリコン原料を連続的に供給する単結晶製造用原
料供給方法であって、貯蔵容器に貯蔵された粒状シリコ
ン原料を連続的に排出する工程と、排出された粒状シリ
コン原料に直接熱エネルギーを照射して粒状シリコンを
連続的に加熱する工程と、加熱された粒状シリコン原料
を連続的にシリコン単結晶育成炉に供給する工程とを有
することを特徴とする単結晶製造用原料供給方法を提供
する。
【0011】また、第2に、シリコン単結晶育成炉に粒
状シリコン原料を連続的に供給する単結晶製造用原料供
給装置であって、粒状シリコン原料を貯蔵する貯蔵容器
と、この貯蔵容器から排出された粒状シリコン原料を前
記シリコン単結晶育成炉に向けて供給するためのフィー
ダーと、フィーダーからの粒状シリコン原料を前記シリ
コン単結晶育成炉に導く流路と、前記貯蔵容器から排出
された粒状シリコン原料に直接熱エネルギーを照射して
加熱する加熱手段とを具備することを特徴とする単結晶
製造用原料供給装置を提供する。
状シリコン原料を連続的に供給する単結晶製造用原料供
給装置であって、粒状シリコン原料を貯蔵する貯蔵容器
と、この貯蔵容器から排出された粒状シリコン原料を前
記シリコン単結晶育成炉に向けて供給するためのフィー
ダーと、フィーダーからの粒状シリコン原料を前記シリ
コン単結晶育成炉に導く流路と、前記貯蔵容器から排出
された粒状シリコン原料に直接熱エネルギーを照射して
加熱する加熱手段とを具備することを特徴とする単結晶
製造用原料供給装置を提供する。
【0012】この場合に、前記加熱手段は、レーザー又
は赤外線を射出する光源を有し、前記粒状シリコン原料
にレーザー又は赤外線を照射することが好ましい。ま
た、さらに、前記流路近傍に前記粒状シリコン原料を加
熱する第2の加熱手段を設けることが好ましい。
は赤外線を射出する光源を有し、前記粒状シリコン原料
にレーザー又は赤外線を照射することが好ましい。ま
た、さらに、前記流路近傍に前記粒状シリコン原料を加
熱する第2の加熱手段を設けることが好ましい。
【0013】
【作用】本発明においては、貯蔵容器から排出された粒
状シリコン原料に直接熱エネルギーを照射して粒状シリ
コンを連続的に加熱するので、粒状シリコン原料が有効
に加熱され、室温よりも十分高い温度でるつぼに供給さ
れる。従って、粒状シリコン原料供給時にシリコン融液
が凝固せず、また、シリコン融液の温度変動、粒状シリ
コン原料の破砕、飛散を低減でき、単結晶を無転位で引
き上げることができる。さらに、シリコン融液の温度変
動に起因する結晶欠陥の発生を抑制することができる。
加えて、加熱領域を極めて狭くすることができるので、
シリコン原料のみを効果的に加熱することができ、周辺
部材を不必要に加熱することがない。
状シリコン原料に直接熱エネルギーを照射して粒状シリ
コンを連続的に加熱するので、粒状シリコン原料が有効
に加熱され、室温よりも十分高い温度でるつぼに供給さ
れる。従って、粒状シリコン原料供給時にシリコン融液
が凝固せず、また、シリコン融液の温度変動、粒状シリ
コン原料の破砕、飛散を低減でき、単結晶を無転位で引
き上げることができる。さらに、シリコン融液の温度変
動に起因する結晶欠陥の発生を抑制することができる。
加えて、加熱領域を極めて狭くすることができるので、
シリコン原料のみを効果的に加熱することができ、周辺
部材を不必要に加熱することがない。
【0014】この場合に加熱手段の熱源としてレーザ又
は赤外線を用いれば、原料に十分な熱エネルギーを供給
することができるので加熱効率を高くすることができ
る。また、単結晶育成炉に至る原料の流路にも加熱手段
を設けることにより原料の温度低下を防止することがで
き、シリコン融液に対する悪影響を減少させることがで
きる。
は赤外線を用いれば、原料に十分な熱エネルギーを供給
することができるので加熱効率を高くすることができ
る。また、単結晶育成炉に至る原料の流路にも加熱手段
を設けることにより原料の温度低下を防止することがで
き、シリコン融液に対する悪影響を減少させることがで
きる。
【0015】単結晶育成炉に供給される前の粒状シリコ
ン原料をヒーターにより加熱する思想は、例えば特開平
3−83887号公報に開示されている。しかし、この
公報においては、原料貯蔵容器の外側から加熱している
ため、加熱効率が低くならざるを得ない。これに対し
て、本発明では上述したように、貯蔵容器から排出され
た原料に直接熱エネルギーを照射するので極めて高効率
で原料を加熱することができる。
ン原料をヒーターにより加熱する思想は、例えば特開平
3−83887号公報に開示されている。しかし、この
公報においては、原料貯蔵容器の外側から加熱している
ため、加熱効率が低くならざるを得ない。これに対し
て、本発明では上述したように、貯蔵容器から排出され
た原料に直接熱エネルギーを照射するので極めて高効率
で原料を加熱することができる。
【0016】
【実施例】以下、添付図面を参照してこの発明の実施例
について説明する。
について説明する。
【0017】図1は、この発明の一実施例に係る単結晶
製造用原料供給装置を示す断面図である。この供給装置
10は、後述するシリコン単結晶育成炉に接続された原
料供給チャンバ17と、このチャンバ17内の上部に配
設され、粒状シリコン原料16を貯蔵するホッパー18
と、ホッパー18の直下に配設され、ホッパー18底部
の排出口18aから排出された粒状シリコン原料を下流
側へ連続的に供給する回転式フィーダー21と、フィー
ダー21によりホッパー18から切り出された粒状シリ
コン原料をシリコン単結晶育成炉に導くための流路24
と、排出口18aから排出され回転式フィーダー21上
に一時的に滞留している粒状シリコン原料16に赤外線
を直接照射して加熱する赤外線照射加熱装置23とを備
えている。流路24の上部は、フィーダー21からの原
料を受けるロート状の受け部22が設けられている。
製造用原料供給装置を示す断面図である。この供給装置
10は、後述するシリコン単結晶育成炉に接続された原
料供給チャンバ17と、このチャンバ17内の上部に配
設され、粒状シリコン原料16を貯蔵するホッパー18
と、ホッパー18の直下に配設され、ホッパー18底部
の排出口18aから排出された粒状シリコン原料を下流
側へ連続的に供給する回転式フィーダー21と、フィー
ダー21によりホッパー18から切り出された粒状シリ
コン原料をシリコン単結晶育成炉に導くための流路24
と、排出口18aから排出され回転式フィーダー21上
に一時的に滞留している粒状シリコン原料16に赤外線
を直接照射して加熱する赤外線照射加熱装置23とを備
えている。流路24の上部は、フィーダー21からの原
料を受けるロート状の受け部22が設けられている。
【0018】このように構成される単結晶製造用原料供
給装置においては、回転式フィーダー21を軸20を中
心として所定の速度で回転させ、ホッパー18から排出
された粒状シリコン原料16を一定速度で連続的に単結
晶育成炉に向けて供給する。フィーダー21からの原料
は、流路24を通って単結晶育成炉に導かれる。
給装置においては、回転式フィーダー21を軸20を中
心として所定の速度で回転させ、ホッパー18から排出
された粒状シリコン原料16を一定速度で連続的に単結
晶育成炉に向けて供給する。フィーダー21からの原料
は、流路24を通って単結晶育成炉に導かれる。
【0019】この際に、排出口18aから排出され回転
式フィーダー21上に一時的に滞留している粒状シリコ
ン原料に赤外線照射加熱装置23から赤外線を照射す
る。この場合に、直接的に原料を加熱するので、加熱効
率を高くすることができる。また、その加熱領域が非常
に狭いため、粒状シリコン原料のみを効果的に加熱する
ことができる。さらに、周辺部材は不必要に加熱される
ことがないので、熱的な対策も取り易い。
式フィーダー21上に一時的に滞留している粒状シリコ
ン原料に赤外線照射加熱装置23から赤外線を照射す
る。この場合に、直接的に原料を加熱するので、加熱効
率を高くすることができる。また、その加熱領域が非常
に狭いため、粒状シリコン原料のみを効果的に加熱する
ことができる。さらに、周辺部材は不必要に加熱される
ことがないので、熱的な対策も取り易い。
【0020】なお、図2に示すように、流路24の周囲
にヒーター25を設け、流路24を通流する原料を加熱
することにより、原料の温度低下を防止することがで
き、単結晶育成炉内のシリコン融液に対する悪影響を一
層減少させることができる。
にヒーター25を設け、流路24を通流する原料を加熱
することにより、原料の温度低下を防止することがで
き、単結晶育成炉内のシリコン融液に対する悪影響を一
層減少させることができる。
【0021】次に、図3を参照して、上述のような原料
供給装置10を用いた連続供給CZ装置の単結晶引上装
置30について説明する。この単結晶引上装置30にお
いて、シリコン融液32が装入される石英ガラスるつぼ
33は、黒鉛るつぼ39の中にセットされており、その
外径は例えば20インチである。石英ガラスるつぼ33
内には、その外壁と同心的に設けられた仕切り部材34
を有しており、仕切り34の内側が単結晶育成部(内
室)33a、その外側が原料溶解部(外室)33bとな
っている。仕切り部材34は石英ガラス製であり、その
外径は16インチである。仕切り部材34には小孔35
が設けられており、これを介して原料溶解部33bから
単結晶育成部33aにシリコン融液32が供給される。
そして、単結晶育成部33aにおいてこの融液32から
円柱状に育成されたシリコン単結晶31が引き上げられ
る。なお、黒鉛るつぼ39はペディスタル40により支
持されており、上下動及び回転可能である。参照符号3
8は黒鉛るつぼを取り囲む抵抗加熱ヒーター、41はこ
の抵抗加熱ヒーター38を取り囲む保温部材であり、こ
れらは全て引上炉チャンバー44内に収容されている。
以上の構成は、CZ法によるシリコン単結晶の製造装置
と基本的には同じである。
供給装置10を用いた連続供給CZ装置の単結晶引上装
置30について説明する。この単結晶引上装置30にお
いて、シリコン融液32が装入される石英ガラスるつぼ
33は、黒鉛るつぼ39の中にセットされており、その
外径は例えば20インチである。石英ガラスるつぼ33
内には、その外壁と同心的に設けられた仕切り部材34
を有しており、仕切り34の内側が単結晶育成部(内
室)33a、その外側が原料溶解部(外室)33bとな
っている。仕切り部材34は石英ガラス製であり、その
外径は16インチである。仕切り部材34には小孔35
が設けられており、これを介して原料溶解部33bから
単結晶育成部33aにシリコン融液32が供給される。
そして、単結晶育成部33aにおいてこの融液32から
円柱状に育成されたシリコン単結晶31が引き上げられ
る。なお、黒鉛るつぼ39はペディスタル40により支
持されており、上下動及び回転可能である。参照符号3
8は黒鉛るつぼを取り囲む抵抗加熱ヒーター、41はこ
の抵抗加熱ヒーター38を取り囲む保温部材であり、こ
れらは全て引上炉チャンバー44内に収容されている。
以上の構成は、CZ法によるシリコン単結晶の製造装置
と基本的には同じである。
【0022】なお、前記原料供給装置10内及び単結晶
引上装置30内は同一雰囲気に保持され、図示しない真
空ポンプで排気して減圧下に保持されるか、あるいは図
示しない不活性ガス供給源から不活性ガスを導入して不
活性ガス雰囲気に保持される。
引上装置30内は同一雰囲気に保持され、図示しない真
空ポンプで排気して減圧下に保持されるか、あるいは図
示しない不活性ガス供給源から不活性ガスを導入して不
活性ガス雰囲気に保持される。
【0023】上述した原料供給装置10からの粒状シリ
コン原料16は、供給管37を通して石英ガラスるつぼ
33の原料溶解部33bへ連続的に供給され、そこで連
続的に溶解される。これにより、連続的な単結晶引上げ
が実現される。
コン原料16は、供給管37を通して石英ガラスるつぼ
33の原料溶解部33bへ連続的に供給され、そこで連
続的に溶解される。これにより、連続的な単結晶引上げ
が実現される。
【0024】この場合に、粒状シリコン原料が十分に加
熱されているので、粒状シリコン原料供給時にシリコン
融液が凝固せず、また、シリコン融液の温度変動、粒状
シリコン原料の破砕、飛散を低減でき、単結晶を無転位
で引き上げることができる。さらに、シリコン融液の温
度変動に起因する結晶欠陥の発生を抑制することができ
る。次に、この発明の具体的な実施例について説明す
る。
熱されているので、粒状シリコン原料供給時にシリコン
融液が凝固せず、また、シリコン融液の温度変動、粒状
シリコン原料の破砕、飛散を低減でき、単結晶を無転位
で引き上げることができる。さらに、シリコン融液の温
度変動に起因する結晶欠陥の発生を抑制することができ
る。次に、この発明の具体的な実施例について説明す
る。
【0025】前記図1のように構成された原料供給装置
及び図3のように構成された単結晶引上装置を備えた連
続供給CZ装置を用い、以下に示す条件で加熱処理を施
した粒状シリコン原料を使用し、シリコン単結晶引上試
験を実施した。図1の原料供給装置では、上述したよう
に、粒状シリコン原料貯蔵ホッパー18から降下してき
た粒状シリコン原料16は、それが定量切り出し部であ
る回転式フィーダー21上に一時的に滞留している際
に、赤外線照射装置23により局部的に加熱され昇温さ
れる。赤外線照射装置23の加熱面積はφ20mm、最
大出力は2kWであり、出力を調節することにより粒状
シリコン原料の加熱温度を適宜設定することができる。
例えば、粒状シリコン原料の供給速度を50g/min
に設定すると粒状シリコン原料は回転式フィーダー21
上に約15sec滞留し、その際に加熱される。なお、
この時原料供給装置10内及び単結晶引上装置30内は
アルゴン減圧雰囲気に保持され、その炉内圧は15〜3
0Torrであった。
及び図3のように構成された単結晶引上装置を備えた連
続供給CZ装置を用い、以下に示す条件で加熱処理を施
した粒状シリコン原料を使用し、シリコン単結晶引上試
験を実施した。図1の原料供給装置では、上述したよう
に、粒状シリコン原料貯蔵ホッパー18から降下してき
た粒状シリコン原料16は、それが定量切り出し部であ
る回転式フィーダー21上に一時的に滞留している際
に、赤外線照射装置23により局部的に加熱され昇温さ
れる。赤外線照射装置23の加熱面積はφ20mm、最
大出力は2kWであり、出力を調節することにより粒状
シリコン原料の加熱温度を適宜設定することができる。
例えば、粒状シリコン原料の供給速度を50g/min
に設定すると粒状シリコン原料は回転式フィーダー21
上に約15sec滞留し、その際に加熱される。なお、
この時原料供給装置10内及び単結晶引上装置30内は
アルゴン減圧雰囲気に保持され、その炉内圧は15〜3
0Torrであった。
【0026】この実施例では、赤外線照射装置の出力を
0.10kW(ケース2)、0.16kW(ケース
3)、0.24kW(ケース4)、0.33kW(ケー
ス5)、0.50kW(ケース6)、0.67kW(ケ
ース7)、0.85kW(ケース8)、0.95kW
(ケース9)と設定して加熱処理を施した場合、及び赤
外線照射装置を使用しない場合、すなわち0kW(粒状
シリコン原料温度は室温(25℃)、ケース1)とした
ときの、前記計9ケースの粒状シリコン原料を使用し
て、シリコン単結晶引上試験を各ケースにつき10回ず
つ実施した。なお、粒状シリコン原料としては、平均粒
径が1mmで、粒径範囲が0.1mm〜3mmのものを
使用し、原料の供給速度は50g/minであった。ま
た、加熱された粒状シリコン原料が回転式フィーダーか
ら落下して、るつぼ内の原料溶解部へ供給されるまでの
経過時間は約3secであった。
0.10kW(ケース2)、0.16kW(ケース
3)、0.24kW(ケース4)、0.33kW(ケー
ス5)、0.50kW(ケース6)、0.67kW(ケ
ース7)、0.85kW(ケース8)、0.95kW
(ケース9)と設定して加熱処理を施した場合、及び赤
外線照射装置を使用しない場合、すなわち0kW(粒状
シリコン原料温度は室温(25℃)、ケース1)とした
ときの、前記計9ケースの粒状シリコン原料を使用し
て、シリコン単結晶引上試験を各ケースにつき10回ず
つ実施した。なお、粒状シリコン原料としては、平均粒
径が1mmで、粒径範囲が0.1mm〜3mmのものを
使用し、原料の供給速度は50g/minであった。ま
た、加熱された粒状シリコン原料が回転式フィーダーか
ら落下して、るつぼ内の原料溶解部へ供給されるまでの
経過時間は約3secであった。
【0027】以上9ケースの条件の粒状シリコン原料を
用いて、直径6インチのシリコン単結晶を引上速度1.
1mm/minの条件で引き上げた。この際に、シリコ
ン単結晶の直胴部が無転位で1m以上引き上がったもの
を良とした。なお、加熱後原料溶解部に供給された時点
の粒状シリコン原料の温度は、予備試験を実施して熱電
対により測定した。前記9ケースにおけるシリコン単結
晶引上試験の結果及び無転位確率を表1、図4に示す。
用いて、直径6インチのシリコン単結晶を引上速度1.
1mm/minの条件で引き上げた。この際に、シリコ
ン単結晶の直胴部が無転位で1m以上引き上がったもの
を良とした。なお、加熱後原料溶解部に供給された時点
の粒状シリコン原料の温度は、予備試験を実施して熱電
対により測定した。前記9ケースにおけるシリコン単結
晶引上試験の結果及び無転位確率を表1、図4に示す。
【0028】
【表1】
【0029】ケース1の場合は、無転位単結晶が育成さ
れたのは10回の引上試験の内3本であった。これに対
して、原料を加熱したケース2〜8の場合は、ケース1
と比較して無転位単結晶の育成される確率が高まり、そ
の確率は供給時の粒状シリコン原料温度が高くなるにつ
れて高くなることが確認された。
れたのは10回の引上試験の内3本であった。これに対
して、原料を加熱したケース2〜8の場合は、ケース1
と比較して無転位単結晶の育成される確率が高まり、そ
の確率は供給時の粒状シリコン原料温度が高くなるにつ
れて高くなることが確認された。
【0030】これらケース2〜8では同時に、粒状シリ
コン原料の破砕、飛散が低減し、炉内の汚染、他の部材
への粒状シリコン原料の付着も減少した。前記ケース
1,3,5,7の試験終了後、シリコン単結晶引上装置
内から回収された粒状シリコン原料の破片個数と実験で
原料溶解部に供給した粒状シリコン原料の総重量より、
供給原料1kg当たりの粒状シリコン原料破片残留数を
算出した。その結果を表2に示す。
コン原料の破砕、飛散が低減し、炉内の汚染、他の部材
への粒状シリコン原料の付着も減少した。前記ケース
1,3,5,7の試験終了後、シリコン単結晶引上装置
内から回収された粒状シリコン原料の破片個数と実験で
原料溶解部に供給した粒状シリコン原料の総重量より、
供給原料1kg当たりの粒状シリコン原料破片残留数を
算出した。その結果を表2に示す。
【0031】
【表2】
【0032】表2より、原料溶解部供給時の粒状シリコ
ン原料温度が高くなるにつれて、供給原料1kg当たり
の粒状シリコン原料破片残留数は低減していることが確
認される。これは、粒状シリコン原料が加熱されたこと
で、原料の破砕、飛散が生じにくくなったことを示して
おり、その結果、単結晶の育成を阻害する頻度が大幅に
減少した。なお、炉内の部材への付着も減少し、これら
部材の寿命が延長されることが確認された。
ン原料温度が高くなるにつれて、供給原料1kg当たり
の粒状シリコン原料破片残留数は低減していることが確
認される。これは、粒状シリコン原料が加熱されたこと
で、原料の破砕、飛散が生じにくくなったことを示して
おり、その結果、単結晶の育成を阻害する頻度が大幅に
減少した。なお、炉内の部材への付着も減少し、これら
部材の寿命が延長されることが確認された。
【0033】また、粒状シリコン原料を加熱して昇温す
ることで、粒状シリコン原料をるつぼ内の原料溶解部へ
供給した際のシリコン融液の凝固する確率が低減するこ
とが確認された。
ることで、粒状シリコン原料をるつぼ内の原料溶解部へ
供給した際のシリコン融液の凝固する確率が低減するこ
とが確認された。
【0034】この際の実験について説明する。原料溶解
部へ供給される際の粒状シリコン原料の温度が、25℃
(ケース10)、180℃(ケース11)、350℃
(ケース12)、580℃(ケース13)、800℃
(ケース14)になるような加熱条件で、粒状シリコン
原料の供給速度を35,40,45,50,55,60
g/minに設定してシリコン単結晶の育成を行った。
なお、単結晶の引上速度は粒状シリコン原料の供給速度
に応じて変化させ、シリコン融液量は一定になるように
した。
部へ供給される際の粒状シリコン原料の温度が、25℃
(ケース10)、180℃(ケース11)、350℃
(ケース12)、580℃(ケース13)、800℃
(ケース14)になるような加熱条件で、粒状シリコン
原料の供給速度を35,40,45,50,55,60
g/minに設定してシリコン単結晶の育成を行った。
なお、単結晶の引上速度は粒状シリコン原料の供給速度
に応じて変化させ、シリコン融液量は一定になるように
した。
【0035】このときの原料溶解部におけるシリコン融
液の凝固状況を、直径6インチのシリコン単結晶引上試
験(全30ケース)を各ケースにつき10回実施するこ
とで観察した。前記の試験において、赤外線照射装置の
出力を変化させて所望の粒状シリコン原料温度を維持す
るようにした。また、前記の原料溶解部において、供給
された粒状シリコン原料が未融解状態になり、所定の粒
状シリコン原料供給速度を維持できなくなったとき、シ
リコン融液が凝固したと判断した。実験結果を表3、図
5に示す。
液の凝固状況を、直径6インチのシリコン単結晶引上試
験(全30ケース)を各ケースにつき10回実施するこ
とで観察した。前記の試験において、赤外線照射装置の
出力を変化させて所望の粒状シリコン原料温度を維持す
るようにした。また、前記の原料溶解部において、供給
された粒状シリコン原料が未融解状態になり、所定の粒
状シリコン原料供給速度を維持できなくなったとき、シ
リコン融液が凝固したと判断した。実験結果を表3、図
5に示す。
【0036】
【表3】
【0037】原料溶解部へ供給する時の粒状シリコン原
料温度が25℃(ケース10)の場合、粒状シリコン原
料の供給速度が50g/minを超えると、原料溶解部
のシリコン融液が凝固し、シリコン単結晶の育成を続け
ることができなくなった。これに対して、粒状シリコン
原料温度が高くなるにつれて、原料溶解部のシリコン融
液の凝固確率は大きく低減された。更に、粒状シリコン
原料供給によるシリコン融液の温度変動も小さくなり、
融液の温度変動に起因する結晶欠陥の発生が抑制される
ことが確認された。
料温度が25℃(ケース10)の場合、粒状シリコン原
料の供給速度が50g/minを超えると、原料溶解部
のシリコン融液が凝固し、シリコン単結晶の育成を続け
ることができなくなった。これに対して、粒状シリコン
原料温度が高くなるにつれて、原料溶解部のシリコン融
液の凝固確率は大きく低減された。更に、粒状シリコン
原料供給によるシリコン融液の温度変動も小さくなり、
融液の温度変動に起因する結晶欠陥の発生が抑制される
ことが確認された。
【0038】しかしながら表1のケース9に見られるよ
うに、粒状シリコン原料を加熱する場合であっても、そ
の温度が800℃と高すぎると、安定した原料供給が不
能となる場合があった。これは、シリコン融液の直上に
設置されている供給管37の下端部で小粒径或いは粉状
のシリコン原料が管壁に焼結し、最終的に詰まる現象が
起こるからである。また、このケース9の場合、回転式
フィーダー上においても、小粒径或いは粉状のシリコン
原料が加熱による焼結を生じ、安定した原料供給が不能
となる場合があった。このとき、回転式フィーダー上に
おける粒状シリコン原料の温度を熱電対によって測定し
た結果、1100℃であった。
うに、粒状シリコン原料を加熱する場合であっても、そ
の温度が800℃と高すぎると、安定した原料供給が不
能となる場合があった。これは、シリコン融液の直上に
設置されている供給管37の下端部で小粒径或いは粉状
のシリコン原料が管壁に焼結し、最終的に詰まる現象が
起こるからである。また、このケース9の場合、回転式
フィーダー上においても、小粒径或いは粉状のシリコン
原料が加熱による焼結を生じ、安定した原料供給が不能
となる場合があった。このとき、回転式フィーダー上に
おける粒状シリコン原料の温度を熱電対によって測定し
た結果、1100℃であった。
【0039】更にケース9の場合、原料溶解部のシリコ
ン融液及び石英ガラスるつぼ、石英ガラス製仕切り部材
の温度が、ケース1と比較して高温となり過ぎ、前記の
石英ガラス部材の劣化を促進させ、無転位焼結が育成さ
れる確率を更に悪くしていることが確認された。
ン融液及び石英ガラスるつぼ、石英ガラス製仕切り部材
の温度が、ケース1と比較して高温となり過ぎ、前記の
石英ガラス部材の劣化を促進させ、無転位焼結が育成さ
れる確率を更に悪くしていることが確認された。
【0040】このような結果から、原料溶解部供給時の
粒状シリコン原料温度は350℃から700℃の範囲が
良いことが確認された。また、回転式フィーダー上にお
いて粒状シリコン原料が焼結することなく安定して原料
供給を行うためには、回転式フィーダー上における粒状
シリコン原料の温度が1100℃未満であることが必要
であることが確認された。
粒状シリコン原料温度は350℃から700℃の範囲が
良いことが確認された。また、回転式フィーダー上にお
いて粒状シリコン原料が焼結することなく安定して原料
供給を行うためには、回転式フィーダー上における粒状
シリコン原料の温度が1100℃未満であることが必要
であることが確認された。
【0041】なお、回転式フィーダー上において110
0℃未満の温度である粒状シリコン原料が、原料溶解部
供給時に350℃から700℃の温度を保持するため
に、粒状シリコン原料は回転式フィーダーより3sec
以内に原料溶解部へ供給することが望ましい。さらに、
粒状シリコン原料が詰まらずに安定供給されるために、
流通経路は水平面より25度以上の角度をもつことが必
要である。従って、回転式フィーダーは、水平面より2
5度以上の角度をもつ流通経路を3sec以内で粒状シ
リコン原料が通過して原料溶解部に到達できる位置に設
置する必要がある。
0℃未満の温度である粒状シリコン原料が、原料溶解部
供給時に350℃から700℃の温度を保持するため
に、粒状シリコン原料は回転式フィーダーより3sec
以内に原料溶解部へ供給することが望ましい。さらに、
粒状シリコン原料が詰まらずに安定供給されるために、
流通経路は水平面より25度以上の角度をもつことが必
要である。従って、回転式フィーダーは、水平面より2
5度以上の角度をもつ流通経路を3sec以内で粒状シ
リコン原料が通過して原料溶解部に到達できる位置に設
置する必要がある。
【0042】なお、上記実施例では粒状シリコン原料を
赤外線照射加熱装置により加熱した場合について示した
が、これに限定されるものではなく、例えばビームを走
査させて加熱領域を選べるようにしたレーザー照射加熱
装置を用いることもできる。また、粒状シリコン原料を
回転式フィーダーで供給する例について示したが、回転
式フィーダーのみに限定されるものではなく、例えば振
動フィーダーを用いることもできる。
赤外線照射加熱装置により加熱した場合について示した
が、これに限定されるものではなく、例えばビームを走
査させて加熱領域を選べるようにしたレーザー照射加熱
装置を用いることもできる。また、粒状シリコン原料を
回転式フィーダーで供給する例について示したが、回転
式フィーダーのみに限定されるものではなく、例えば振
動フィーダーを用いることもできる。
【0043】
【発明の効果】この発明によれば、シリコン単結晶育成
炉内の原料溶解部へ十分加熱された粒状シリコン原料を
供給することができ、シリコン単結晶育成の安定化に寄
与することができる単結晶製造用原料供給方法及び装置
が提供される。
炉内の原料溶解部へ十分加熱された粒状シリコン原料を
供給することができ、シリコン単結晶育成の安定化に寄
与することができる単結晶製造用原料供給方法及び装置
が提供される。
【図1】この発明の一実施例に係る単結晶製造用原料供
給装置を示す断面図。
給装置を示す断面図。
【図2】この発明の他の実施例に係る単結晶製造用原料
供給装置を示す断面図。
供給装置を示す断面図。
【図3】図1の原料供給装置が適用される連続CZ装置
の引上装置を示す断面図。
の引上装置を示す断面図。
【図4】るつぼ供給時の粒状シリコン原料温度と引き上
げられた単結晶の無転位確率との関係を示す図。
げられた単結晶の無転位確率との関係を示す図。
【図5】原料供給速度とシリコン融液の凝固確率との関
係を示す図。
係を示す図。
【図6】従来の連続CZ装置を示す概念図。
10;原料供給装置、16;粒状シリコン原料、17;
原料供給チャンバー、18;ホッパー、20;回転軸、
21;回転式フィーダー、22;受け部、23;赤外線
照射加熱装置、24;流路、25;ヒーター。
原料供給チャンバー、18;ホッパー、20;回転軸、
21;回転式フィーダー、22;受け部、23;赤外線
照射加熱装置、24;流路、25;ヒーター。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 島 芳延 東京都千代田区丸の内一丁目1番2号 日 本鋼管株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】 シリコン単結晶育成炉に粒状シリコン原
料を連続的に供給する単結晶製造用原料供給方法であっ
て、貯蔵容器に貯蔵された粒状シリコン原料を連続的に
排出する工程と、排出された粒状シリコン原料に直接熱
エネルギーを照射して粒状シリコンを連続的に加熱する
工程と、加熱された粒状シリコン原料を連続的にシリコ
ン単結晶育成炉に供給する工程とを有することを特徴と
する単結晶製造用原料供給方法。 - 【請求項2】 シリコン単結晶育成炉に粒状シリコン原
料を連続的に供給する単結晶製造用原料供給装置であっ
て、粒状シリコン原料を貯蔵する貯蔵容器と、この貯蔵
容器から排出された粒状シリコン原料を前記シリコン単
結晶育成炉に向けて供給するためのフィーダーと、フィ
ーダーからの粒状シリコン原料を前記シリコン単結晶育
成炉に導く流路と、前記貯蔵容器から排出された粒状シ
リコン原料に直接熱エネルギーを照射して加熱する加熱
手段とを具備することを特徴とする単結晶製造用原料供
給装置。 - 【請求項3】 前記加熱手段は、レーザー又は赤外線を
射出する光源を有し、前記粒状シリコン原料にレーザー
又は赤外線を照射することを特徴とする請求項2に記載
の単結晶製造用原料供給装置。 - 【請求項4】 さらに、前記流路近傍に設けられ前記粒
状シリコン原料を加熱する第2の加熱手段を有すること
を特徴とする請求項2に記載の単結晶製造用原料供給装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24814392A JPH06100394A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 単結晶製造用原料供給方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24814392A JPH06100394A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 単結晶製造用原料供給方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06100394A true JPH06100394A (ja) | 1994-04-12 |
Family
ID=17173868
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24814392A Pending JPH06100394A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 単結晶製造用原料供給方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06100394A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009184922A (ja) * | 2002-11-14 | 2009-08-20 | Hemlock Semiconductor Corp | 流動性チップ及びそれを使用する方法 |
| JP2011162380A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Sumco Corp | シリコン原料の溶解方法および供給装置 |
| US8926749B2 (en) | 2002-02-20 | 2015-01-06 | Hemlock Semi Conductor | Flowable chips and methods for the preparation and use of same, and apparatus for use in the methods |
| CN104264229A (zh) * | 2014-10-09 | 2015-01-07 | 河北晶龙阳光设备有限公司 | 一种单晶炉在线掺杂装置 |
| CN107794564A (zh) * | 2017-11-06 | 2018-03-13 | 无锡乐东微电子有限公司 | 单晶硅上料装置及其操作方法 |
| JP2018523625A (ja) * | 2015-08-20 | 2018-08-23 | ジルトロニック アクチエンゲゼルシャフトSiltronic AG | 粒状シリコンの熱処理プロセス、粒状シリコン、およびシリコン単結晶の製造プロセス |
| CN109321974A (zh) * | 2018-10-16 | 2019-02-12 | 徐州华奥纺织有限公司 | 一种用于单晶炉的进料加热装置 |
| CN110546314A (zh) * | 2018-03-29 | 2019-12-06 | 株式会社水晶系统 | 单晶制造装置和单晶制造方法 |
| EP3572560A4 (en) * | 2018-03-29 | 2020-01-22 | Crystal Systems Corporation | SINGLE CRYSTAL MAKING DEVICE AND SINGLE CRYSTAL MAKING METHOD |
-
1992
- 1992-09-17 JP JP24814392A patent/JPH06100394A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8926749B2 (en) | 2002-02-20 | 2015-01-06 | Hemlock Semi Conductor | Flowable chips and methods for the preparation and use of same, and apparatus for use in the methods |
| US9909231B2 (en) | 2002-02-20 | 2018-03-06 | Hemlock Semiconductor Operations Llc | Flowable chips and methods for the preparation and use of same, and apparatus for use in the methods |
| JP2014058447A (ja) * | 2002-11-14 | 2014-04-03 | Hemlock Semiconductor Corp | 流動性チップ及びそれを使用する方法 |
| JP2009184922A (ja) * | 2002-11-14 | 2009-08-20 | Hemlock Semiconductor Corp | 流動性チップ及びそれを使用する方法 |
| JP2011162380A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Sumco Corp | シリコン原料の溶解方法および供給装置 |
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| JP2018523625A (ja) * | 2015-08-20 | 2018-08-23 | ジルトロニック アクチエンゲゼルシャフトSiltronic AG | 粒状シリコンの熱処理プロセス、粒状シリコン、およびシリコン単結晶の製造プロセス |
| CN107794564A (zh) * | 2017-11-06 | 2018-03-13 | 无锡乐东微电子有限公司 | 单晶硅上料装置及其操作方法 |
| CN110546314A (zh) * | 2018-03-29 | 2019-12-06 | 株式会社水晶系统 | 单晶制造装置和单晶制造方法 |
| EP3572559A4 (en) * | 2018-03-29 | 2020-01-22 | Crystal Systems Corporation | SINGLE CRYSTAL MAKING DEVICE AND SINGLE CRYSTAL MAKING METHOD |
| EP3572560A4 (en) * | 2018-03-29 | 2020-01-22 | Crystal Systems Corporation | SINGLE CRYSTAL MAKING DEVICE AND SINGLE CRYSTAL MAKING METHOD |
| US11326270B2 (en) | 2018-03-29 | 2022-05-10 | Crystal Systems Corporation | Single-crystal production equipment and single-crystal production method |
| CN109321974A (zh) * | 2018-10-16 | 2019-02-12 | 徐州华奥纺织有限公司 | 一种用于单晶炉的进料加热装置 |
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