JPH06100463B2 - カメラにおける測距装置 - Google Patents
カメラにおける測距装置Info
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- JPH06100463B2 JPH06100463B2 JP2306720A JP30672090A JPH06100463B2 JP H06100463 B2 JPH06100463 B2 JP H06100463B2 JP 2306720 A JP2306720 A JP 2306720A JP 30672090 A JP30672090 A JP 30672090A JP H06100463 B2 JPH06100463 B2 JP H06100463B2
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- Japan
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- light emitting
- distance
- light
- subject
- detecting element
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、複数地点の測距を可能とする自動焦点のカメ
ラにおける測距装置に関する。
ラにおける測距装置に関する。
(従来の技術) 従来、自動焦点カメラに用いられる測距装置として、被
写体に向けて赤外光を照射し、被写体からの反射光を光
電変換素子で受光し、三角測量方式によって被写体まで
の間を測距するものが用いられている。この方式では、
赤外光を集光させてなるべく遠方まで測距できるように
するのが一般的である。
写体に向けて赤外光を照射し、被写体からの反射光を光
電変換素子で受光し、三角測量方式によって被写体まで
の間を測距するものが用いられている。この方式では、
赤外光を集光させてなるべく遠方まで測距できるように
するのが一般的である。
しかしながら、赤外光を集光させると画面内での測距範
囲は狭くなり、たとえば人物2人が並んでいる場合に、
ファインダを中央部を2人の間に合わせると、赤外光は
2人の間を通過して照射され、人物の背景にピントが合
ってしまい、誤測距となる。このような問題を解決する
ため画面内での測距範囲を拡大する各種の手段が知られ
ている。
囲は狭くなり、たとえば人物2人が並んでいる場合に、
ファインダを中央部を2人の間に合わせると、赤外光は
2人の間を通過して照射され、人物の背景にピントが合
ってしまい、誤測距となる。このような問題を解決する
ため画面内での測距範囲を拡大する各種の手段が知られ
ている。
たとえば米国特許第4470681号明細書に記載されている
ように、赤外発光ダイオード用および受光素子用の各結
像レンズを互いに連結して水平移動可能に構成したもの
である。すなわち、投光および受光用の2つのレンズが
同一地点を結像している状態で、これらレンズを同時に
移動させるもので、赤外光によって被写体面上を走査す
る方式が知られている。また、この他に赤外発光ダイオ
ード用および受光素子用の各結像レンズを複眼であるレ
ンズアレイにし、このレンズアレイの数だけの地点を測
距する技術も記載されて知られている。
ように、赤外発光ダイオード用および受光素子用の各結
像レンズを互いに連結して水平移動可能に構成したもの
である。すなわち、投光および受光用の2つのレンズが
同一地点を結像している状態で、これらレンズを同時に
移動させるもので、赤外光によって被写体面上を走査す
る方式が知られている。また、この他に赤外発光ダイオ
ード用および受光素子用の各結像レンズを複眼であるレ
ンズアレイにし、このレンズアレイの数だけの地点を測
距する技術も記載されて知られている。
また、特開昭59−193406号公報に記載されているよう
に、発光源を回動させて走査を行なうものであるが、発
光源の前に回折格子を配置して0次の主ビームの両側に
一次回折ビームを発生させ、これら3ビームによって被
写体面上を走査するものも知られている。
に、発光源を回動させて走査を行なうものであるが、発
光源の前に回折格子を配置して0次の主ビームの両側に
一次回折ビームを発生させ、これら3ビームによって被
写体面上を走査するものも知られている。
このように、両結像レンズを水平移動するものや発光源
を回動させるものは、いずれも被写体面上を走査するこ
とにより多点測距を可能としている。
を回動させるものは、いずれも被写体面上を走査するこ
とにより多点測距を可能としている。
ところが、このように両結像レンズを水平移動したり、
発光源を回動させる可動部を設けることは耐久性に問題
があり、精度が低下するおそれがある。
発光源を回動させる可動部を設けることは耐久性に問題
があり、精度が低下するおそれがある。
また、レンズアレイを用いる方式では、発光部および受
光部の各レンズアレイの光軸を一致させねばならず煩雑
であり、また、レンズアレイを用いると測距部が大きく
なり、カメラのデザイン上大きな制約を受けてしまう。
光部の各レンズアレイの光軸を一致させねばならず煩雑
であり、また、レンズアレイを用いると測距部が大きく
なり、カメラのデザイン上大きな制約を受けてしまう。
一方、特開昭60−60511号公報に記載のように、発光手
段および受光手段を撮像レンズを挟んで上下方向に位置
させる構成も記載されている。
段および受光手段を撮像レンズを挟んで上下方向に位置
させる構成も記載されている。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、この特開昭60−60511号公報に記載の構
成では、一般に照明光や太陽光などの外乱光は、上方か
ら下方に向けて照射されるため、受光手段に外乱光が照
射されて誤検知となる場合には、実際の被写体距離より
短い距離に焦点があってしまうので、ピンぼけが生ずる
おそれがある問題を有している。
成では、一般に照明光や太陽光などの外乱光は、上方か
ら下方に向けて照射されるため、受光手段に外乱光が照
射されて誤検知となる場合には、実際の被写体距離より
短い距離に焦点があってしまうので、ピンぼけが生ずる
おそれがある問題を有している。
本発明は、外乱光が侵入しても誤測距を生ずることを防
止できるカメラにおける測距装置を提供することを目的
とする。
止できるカメラにおける測距装置を提供することを目的
とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、被写体に赤外光を照射する発光源と、上記被
写体からの反射光をし光すべく上記発光源に対し基線長
を保って配置され、この基線長方向に沿う受光位置の変
化に応じて電気出力が変化する一次元半導体位置検出素
子とをカメラ本体に備え、上記一次元半導体位置検出素
子の出力を基に被写体との間を測距するカメラにおける
測距装置において、前記発光源および前記一次元半導体
位置検出素子は、前記カメラ本体の前面の上下方向に配
置され、前記一次元半導体位置検出素子は前記発光源よ
り上方に位置したものである。
写体からの反射光をし光すべく上記発光源に対し基線長
を保って配置され、この基線長方向に沿う受光位置の変
化に応じて電気出力が変化する一次元半導体位置検出素
子とをカメラ本体に備え、上記一次元半導体位置検出素
子の出力を基に被写体との間を測距するカメラにおける
測距装置において、前記発光源および前記一次元半導体
位置検出素子は、前記カメラ本体の前面の上下方向に配
置され、前記一次元半導体位置検出素子は前記発光源よ
り上方に位置したものである。
(作用) 本発明は、発光源の発光素子から赤外光を照射し、被写
体にて反射された赤外光の反射光を一次元半導体位置検
出素子で受光し、この一次元半導体位置検出素子からの
出力を基に被写体との間を測距する。また、発光源およ
び一次元半導体位置検出素子は上下方向に配置され、一
次元半導体位置検出素子は発光源より上方に設けている
ため、外乱光が一次元半導体位置検出素子に侵入して
も、遠距離方向に誤測距となり、近距離方向に誤測距し
た場合に比べて被写体深度が深くなるので、ピンぼけを
防止しやすい。
体にて反射された赤外光の反射光を一次元半導体位置検
出素子で受光し、この一次元半導体位置検出素子からの
出力を基に被写体との間を測距する。また、発光源およ
び一次元半導体位置検出素子は上下方向に配置され、一
次元半導体位置検出素子は発光源より上方に設けている
ため、外乱光が一次元半導体位置検出素子に侵入して
も、遠距離方向に誤測距となり、近距離方向に誤測距し
た場合に比べて被写体深度が深くなるので、ピンぼけを
防止しやすい。
(実施例) 以下、本発明のカメラにおける測距装置の一実施例を図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
第1図は三角測量手段の構成を示しており、11は投光レ
ンズ、12は受光レンズで、これら投光レンズ11および受
光レンズ12間は基線長lを保って配置される。また、投
光レンズ11に対して距離f1を保って対向して発光源13が
配置されており、基線長lの方向と直交するx軸方向に
沿って並置された複数個(n個)の発光素子、たとえば
赤外発光ダイオードIR1,IR2,…,IRnを有している。さら
に、受光レンズ12に対して距離f2を保って対向して一次
元半導体位置検出素子(一次元PSD)14が配置され、こ
の一次元半導体位置検出素子14は、その長さ方向は基線
長lに沿うy軸方向に沿って配置される。
ンズ、12は受光レンズで、これら投光レンズ11および受
光レンズ12間は基線長lを保って配置される。また、投
光レンズ11に対して距離f1を保って対向して発光源13が
配置されており、基線長lの方向と直交するx軸方向に
沿って並置された複数個(n個)の発光素子、たとえば
赤外発光ダイオードIR1,IR2,…,IRnを有している。さら
に、受光レンズ12に対して距離f2を保って対向して一次
元半導体位置検出素子(一次元PSD)14が配置され、こ
の一次元半導体位置検出素子14は、その長さ方向は基線
長lに沿うy軸方向に沿って配置される。
また、15は被写体で、各光軸線は、各位置N,M,Fにおけ
る被写体15への照射光および被写体15からの反射光を表
わしており、各反射光は受光レンズ12を介して一次元半
導体位置検出素子14のy軸上の位置にそれぞれ受光され
る。この場合、複数の赤外発光ダイオードIR1,IR2,…
…,IRnから照射された光は、同一位置、たとえば位置M
の被写体15によって反射されると、一次元半導体位置検
出素子14上にはy軸上の同一位置で幅方向(x軸)に一
列となって結像する。
る被写体15への照射光および被写体15からの反射光を表
わしており、各反射光は受光レンズ12を介して一次元半
導体位置検出素子14のy軸上の位置にそれぞれ受光され
る。この場合、複数の赤外発光ダイオードIR1,IR2,…
…,IRnから照射された光は、同一位置、たとえば位置M
の被写体15によって反射されると、一次元半導体位置検
出素子14上にはy軸上の同一位置で幅方向(x軸)に一
列となって結像する。
そして、一次元半導体位置検出素子14は長さ方向(y
軸)に沿う受光点の変化に応じて電気出力(第3図およ
び第4図に示す電気出力ΔI1,ΔI2)が変化するもので
ある。なお、幅方向(x軸)の受光点変化に対しては電
気出力は変化しない。
軸)に沿う受光点の変化に応じて電気出力(第3図およ
び第4図に示す電気出力ΔI1,ΔI2)が変化するもので
ある。なお、幅方向(x軸)の受光点変化に対しては電
気出力は変化しない。
第2図は第1図で示した三角測量手段を上方から見た平
面図であり、第3図(a)は同じく三角測量手段を側方
から示し、第3図(b)は一次元半導体位置検出素子14
上に結像された各位置N,M,F毎の反射光を示す。
面図であり、第3図(a)は同じく三角測量手段を側方
から示し、第3図(b)は一次元半導体位置検出素子14
上に結像された各位置N,M,F毎の反射光を示す。
第4図は上述した三角測量手段の制御回路を示してお
り、20はマイクロコンピュータで、このマイクロコンピ
ュータ20は全体を統括制御し、このマイクロコンピュー
タ20に制御される点灯回路21が設けられ、この点灯回路
21はマイクロコンピュータ20からの指示により、複数の
赤外発光ダイオードIR1,IR2,……,IRnのうち該当するも
のを発光させる。
り、20はマイクロコンピュータで、このマイクロコンピ
ュータ20は全体を統括制御し、このマイクロコンピュー
タ20に制御される点灯回路21が設けられ、この点灯回路
21はマイクロコンピュータ20からの指示により、複数の
赤外発光ダイオードIR1,IR2,……,IRnのうち該当するも
のを発光させる。
また、23は距離演算回路で、この距離演算回路23は、一
次元半導体位置検出素子14からの電気出力ΔI1,ΔI2を
入力し、所定の演算手法により被写体との距離を演算す
る。そして、演算された結果をmビットのディジタル信
号としてマイクロコンピュータ20へ出力する。
次元半導体位置検出素子14からの電気出力ΔI1,ΔI2を
入力し、所定の演算手法により被写体との距離を演算す
る。そして、演算された結果をmビットのディジタル信
号としてマイクロコンピュータ20へ出力する。
さらに、24は発光選択手段で、この発光選択手段24は赤
外発光ダイオードIR1,IR2,……,IRnに対応して設けられ
たスイッチSW1,SW2,……,SWnを持っており、これらスイ
ッチSW1,SW2,……,SWnのオン操作により対応する赤外発
光ダイオードIR1,IR2,……,IRn(たとえばスイッチSW1
には赤外発光ダイオードIR1が対応する。)を発光させ
るべくマイクロコンピュータ20に選択信号を与える。マ
イクロコンピュータ20は、この選択信号に基づき該当す
る赤外発光ダイオードを1個ずつ発光させる。なお、全
てのスイッチSW1,SW2,……,SWnがオフの場合は、中心部
に位置する赤外発光ダイオードのみを発光させるように
マイクロコンピュータ20を設定する。
外発光ダイオードIR1,IR2,……,IRnに対応して設けられ
たスイッチSW1,SW2,……,SWnを持っており、これらスイ
ッチSW1,SW2,……,SWnのオン操作により対応する赤外発
光ダイオードIR1,IR2,……,IRn(たとえばスイッチSW1
には赤外発光ダイオードIR1が対応する。)を発光させ
るべくマイクロコンピュータ20に選択信号を与える。マ
イクロコンピュータ20は、この選択信号に基づき該当す
る赤外発光ダイオードを1個ずつ発光させる。なお、全
てのスイッチSW1,SW2,……,SWnがオフの場合は、中心部
に位置する赤外発光ダイオードのみを発光させるように
マイクロコンピュータ20を設定する。
また、25は距離演算指示スイッチで、この距離演算指示
スイッチ25は、マイクロコンピュータ20に対し、そのオ
ン状態で最短値選択指令を与え、オフ状態で平均値演算
指令を与える。すなわち距離演算回路23は、各赤外発光
ダイオードIR1,IR2,……,IRnのいずれかが発光する毎に
被写体との距離を演算し、mビットのディジタル信号と
して出力しているが、マイクロコンピュータ20はこれら
を記憶しており、距離演算指示スイッチ25のオン状態に
より最短値選択指令が与えられていれば、これらのうち
から最短値を選択する。これに対し、距離演算指示スイ
ッチ25のオフ状態により平均値演算指令が与えられてい
れば前述した各値の平均値を演算により求める。このよ
うにして求められた最短値または平均値はmビットのデ
ィジタル信号としてレンズ駆動回路26に出力される。レ
ンズ駆動回路26はこの入力データに基づき、撮影用のレ
ンズ27を合焦位置に駆動する。
スイッチ25は、マイクロコンピュータ20に対し、そのオ
ン状態で最短値選択指令を与え、オフ状態で平均値演算
指令を与える。すなわち距離演算回路23は、各赤外発光
ダイオードIR1,IR2,……,IRnのいずれかが発光する毎に
被写体との距離を演算し、mビットのディジタル信号と
して出力しているが、マイクロコンピュータ20はこれら
を記憶しており、距離演算指示スイッチ25のオン状態に
より最短値選択指令が与えられていれば、これらのうち
から最短値を選択する。これに対し、距離演算指示スイ
ッチ25のオフ状態により平均値演算指令が与えられてい
れば前述した各値の平均値を演算により求める。このよ
うにして求められた最短値または平均値はmビットのデ
ィジタル信号としてレンズ駆動回路26に出力される。レ
ンズ駆動回路26はこの入力データに基づき、撮影用のレ
ンズ27を合焦位置に駆動する。
さらに、28はスタート指示スイッチで、このスタート指
示スイッチ28は、オン操作により前述した各機能を実行
させるべくマイクロコンピュータ20に指示を与える。
示スイッチ28は、オン操作により前述した各機能を実行
させるべくマイクロコンピュータ20に指示を与える。
第5図は、上述した三角測量手段をカメラ本体30に組込
んだ自動焦点カメラを示す。投光レンズ11はカメラ本体
30の前面の下部に、また、受光レンズ12はカメラ本体30
の前面の上部に設けられている。すなわち、図示してい
ないが、これら投光レンズ11および受光レンズ12と対向
する発光源13および一次元半導体位置検出素子14からな
る三角測量手段をカメラ本体30の前面の上下に配置す
る。このため発光源13を構成する複数の赤外発光ダイオ
ードIR1,IR2,……,IRnは、三角測量手段の基線長lと直
交する水平方向に並置される。
んだ自動焦点カメラを示す。投光レンズ11はカメラ本体
30の前面の下部に、また、受光レンズ12はカメラ本体30
の前面の上部に設けられている。すなわち、図示してい
ないが、これら投光レンズ11および受光レンズ12と対向
する発光源13および一次元半導体位置検出素子14からな
る三角測量手段をカメラ本体30の前面の上下に配置す
る。このため発光源13を構成する複数の赤外発光ダイオ
ードIR1,IR2,……,IRnは、三角測量手段の基線長lと直
交する水平方向に並置される。
次に、上記実施例の動作について説明する。
たとえば第6図に示すように、比較的近距離に位置する
2人の人物と遠方の背景とが組合わされた被写体を撮影
する場合の動作を説明する。
2人の人物と遠方の背景とが組合わされた被写体を撮影
する場合の動作を説明する。
この場合、まず、発光選択手段24のスイッチSW1,SW2,…
…,SWnを全てオン状態にしておく。また、近距離に位置
する2人の人物に焦点を合わせる必要があるため、距離
演算指示スイッチ25をオン状態にし、最短値選択指令を
与えておく。この状態でスタート指示スイッチ28をオン
操作すると、マイクロコンピュータ20からの指令により
点灯回路21は複数の赤外発光ダイオードIR1,IR2,……,I
Rnを順次発光させる。
…,SWnを全てオン状態にしておく。また、近距離に位置
する2人の人物に焦点を合わせる必要があるため、距離
演算指示スイッチ25をオン状態にし、最短値選択指令を
与えておく。この状態でスタート指示スイッチ28をオン
操作すると、マイクロコンピュータ20からの指令により
点灯回路21は複数の赤外発光ダイオードIR1,IR2,……,I
Rnを順次発光させる。
ここで、まず、赤外発光ダイオードIR1が発光すると、
赤外光は第1図の投光レンズ11を通して被写体に照射さ
れる。この赤外光がたとえば第6図で示すように図示左
側の人物に照射されると、反射光は第1図の受光レンズ
12を通し、この人物までの距離に相当する一次元半導体
位置検出素子14上の所定位置に結像する。
赤外光は第1図の投光レンズ11を通して被写体に照射さ
れる。この赤外光がたとえば第6図で示すように図示左
側の人物に照射されると、反射光は第1図の受光レンズ
12を通し、この人物までの距離に相当する一次元半導体
位置検出素子14上の所定位置に結像する。
そして、結像位置に対応する電気出力ΔI1,ΔI2を生
じ、距離演算回路23はこの電気出力ΔI1,ΔI2を基に被
写体までの距離を算出し、mビットのデータとしてマイ
クロコンピュータ20に出力する。次に、2番目の赤外発
光ダイオードIR2が発光し、赤外光が第6図のように同
一人物に照射されると、一次元半導体位置検出素子14上
における反射光のy軸方向の結像位置は同じであり、距
離演算回路23からは前回と同じmビットデータが出力さ
れる。さらに、3番目の赤外発光ダイオードIR3が発光
し、赤外光が第6図のように人物間を通り抜けると、距
離演算回路23は無限大を表わすmビットのデータを出力
する。このように順次n番目の赤外発光ダイオードIRn
が発光し終るまで上記動作を繰り返す。
じ、距離演算回路23はこの電気出力ΔI1,ΔI2を基に被
写体までの距離を算出し、mビットのデータとしてマイ
クロコンピュータ20に出力する。次に、2番目の赤外発
光ダイオードIR2が発光し、赤外光が第6図のように同
一人物に照射されると、一次元半導体位置検出素子14上
における反射光のy軸方向の結像位置は同じであり、距
離演算回路23からは前回と同じmビットデータが出力さ
れる。さらに、3番目の赤外発光ダイオードIR3が発光
し、赤外光が第6図のように人物間を通り抜けると、距
離演算回路23は無限大を表わすmビットのデータを出力
する。このように順次n番目の赤外発光ダイオードIRn
が発光し終るまで上記動作を繰り返す。
また、mビットのデータはマイクロコンピュータ20に記
憶されており、全ての赤外発光ダイオードIR1,IR2,…
…,IRnが発光し終ると、これらmビットのデータから最
短値すなわち第6図の人物までの距離に相当するデータ
を選択し、このデータをレンズ駆動回路26に出力する。
このため撮影用のレンズ27は、第6図の人物に対する合
焦位置に駆動される。もちろん被写体によっては最短値
でなく平均値の方が好ましい場合もあり、この場合は距
離演算指示スイッチ25をオフ状態にしておけばよい。
憶されており、全ての赤外発光ダイオードIR1,IR2,…
…,IRnが発光し終ると、これらmビットのデータから最
短値すなわち第6図の人物までの距離に相当するデータ
を選択し、このデータをレンズ駆動回路26に出力する。
このため撮影用のレンズ27は、第6図の人物に対する合
焦位置に駆動される。もちろん被写体によっては最短値
でなく平均値の方が好ましい場合もあり、この場合は距
離演算指示スイッチ25をオフ状態にしておけばよい。
そして、発光選択手段24のオン、オフを撮影用のレンズ
27の焦点距離に連動させ、焦点距離が長くなる程測距ゾ
ーンを狭くしてもよい。すなわち、このようにすれば遠
方まで確実に測距を行なうことができる。
27の焦点距離に連動させ、焦点距離が長くなる程測距ゾ
ーンを狭くしてもよい。すなわち、このようにすれば遠
方まで確実に測距を行なうことができる。
また、第4図における発光選択手段24を設けずに、複数
の赤外発光ダイオードIR1,IR2,……,IRnを予め定めた順
番に准って発光を自動制御し測距させるプログラムをマ
イクロコンピュータ20に設定してもよい。
の赤外発光ダイオードIR1,IR2,……,IRnを予め定めた順
番に准って発光を自動制御し測距させるプログラムをマ
イクロコンピュータ20に設定してもよい。
たとえば第7図で示すように、まず、測距ゾーンの中心
部に設けた赤外発光ダイオードを発光させて測距を行な
い(ステップ1)、測距値が無限大であれば徐々に測距
範囲を拡大して行く(ステップ2A〜6)。そして、最後
まで測距値が無限大であれば、撮影用のレンズ27を無限
大位置に駆動する。もちろん、途中で測距値が無限大で
なくなれば被写体との間を測距したものと判断し、その
測距値によりレンズを駆動する(ステップ6)。
部に設けた赤外発光ダイオードを発光させて測距を行な
い(ステップ1)、測距値が無限大であれば徐々に測距
範囲を拡大して行く(ステップ2A〜6)。そして、最後
まで測距値が無限大であれば、撮影用のレンズ27を無限
大位置に駆動する。もちろん、途中で測距値が無限大で
なくなれば被写体との間を測距したものと判断し、その
測距値によりレンズを駆動する(ステップ6)。
このように構成しても第6図の被写体の場合、人物にピ
ントを合わせることができ、背景にピントがあってしま
うようなことはない。
ントを合わせることができ、背景にピントがあってしま
うようなことはない。
次に、他の実施例を第8図に示すフローチャートを参照
して説明する。
して説明する。
第7図に示す実施例は無限大か否かの判別であるのに対
し、第8図に示す実施例では測距した値を記憶し、記憶
した値と隣の測距値とを判別するものである。すなわ
ち、まず中心部で測距を行ない(ステップ11)、この測
距値を記憶させ(ステップ12A)、次に、中心部の隣で
測距を行ない(ステップ13A)、測距側の方が大きい場
合、すなわち、遠い場合は、隣接する周囲の測距部の方
が近い被写体として判別し、さらに記憶値が小さくなる
まで測距を継続し(ステップ14A〜18)、記憶値が小さ
くなるまで測距を継続して、レンズを駆動する(ステッ
プ19)。そして、画面の中央部付近には少なくとも独立
して被写体が存在していることを判別する。
し、第8図に示す実施例では測距した値を記憶し、記憶
した値と隣の測距値とを判別するものである。すなわ
ち、まず中心部で測距を行ない(ステップ11)、この測
距値を記憶させ(ステップ12A)、次に、中心部の隣で
測距を行ない(ステップ13A)、測距側の方が大きい場
合、すなわち、遠い場合は、隣接する周囲の測距部の方
が近い被写体として判別し、さらに記憶値が小さくなる
まで測距を継続し(ステップ14A〜18)、記憶値が小さ
くなるまで測距を継続して、レンズを駆動する(ステッ
プ19)。そして、画面の中央部付近には少なくとも独立
して被写体が存在していることを判別する。
第8図では、中心から左右交互に発光ダイオードを点灯
しているが、他の方法として、たとえば最初に中心部か
ら一方の左方向に測距範囲を拡大してその方向の測距値
を一時記憶し、その後他方の右方向に測距範囲を拡大し
てその方向の測距値を一時記憶し、最後に、記憶してい
る左右の測距値を比較して最終的に値を確定するよにし
てもよい。
しているが、他の方法として、たとえば最初に中心部か
ら一方の左方向に測距範囲を拡大してその方向の測距値
を一時記憶し、その後他方の右方向に測距範囲を拡大し
てその方向の測距値を一時記憶し、最後に、記憶してい
る左右の測距値を比較して最終的に値を確定するよにし
てもよい。
本発明のカメラにおける測距装置によれば、発光源およ
び一次元半導体位置検出素子は上下方向に配置され、一
次元半導体位置検出素子は発光源より上方に設けている
ため、外乱光が一次元半導体位置検出素子に侵入して
も、遠距離方向に誤測距となり、近距離方向に誤測距し
た場合に比べて被写体深度が深くなるので、ピンぼけを
防止できる。
び一次元半導体位置検出素子は上下方向に配置され、一
次元半導体位置検出素子は発光源より上方に設けている
ため、外乱光が一次元半導体位置検出素子に侵入して
も、遠距離方向に誤測距となり、近距離方向に誤測距し
た場合に比べて被写体深度が深くなるので、ピンぼけを
防止できる。
第1図は本発明による測距装置の一実施例を示す斜視
図、第2図は同上平面図、第3図は同上側面図、第4図
は同上測距制御回路を示すブロック図、第5図は同上カ
メラの外観図、第6図は同上測距時のファインダ内を示
す図、第7図は同上他の実施例の動作を説明するフロー
チャート、第8図は同上また他の実施例の動作を示すフ
ローチャートである。 13……発光源、14……一次元半導体位置検出素子、15…
…被写体、30……カメラ本体、l……基線長。
図、第2図は同上平面図、第3図は同上側面図、第4図
は同上測距制御回路を示すブロック図、第5図は同上カ
メラの外観図、第6図は同上測距時のファインダ内を示
す図、第7図は同上他の実施例の動作を説明するフロー
チャート、第8図は同上また他の実施例の動作を示すフ
ローチャートである。 13……発光源、14……一次元半導体位置検出素子、15…
…被写体、30……カメラ本体、l……基線長。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G02B 7/32 G03B 13/36
Claims (1)
- 【請求項1】被写体に赤外光を照射する発光源と、上記
被写体から反射光を受光すべく上記発光源に対し基線長
を保って配置され、この基線長方向に沿う受光位置の変
化に応じて電気出力が変化する一次元半導体位置検出素
子とをカメラ本体に備え、上記一次元半導体位置検出素
子の出力を基に被写体との間を測距するカメラにおける
測距装置において、 前記発光源および前記一次元半導体位置検出素子は、前
記カメラ本体の前面の上下方向に配置され、前記一次元
半導体位置検出素子は前記発光源より上方に位置した ことを特徴とするカメラにおける測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2306720A JPH06100463B2 (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | カメラにおける測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2306720A JPH06100463B2 (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | カメラにおける測距装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61067459A Division JPH0616147B2 (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | カメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03188314A JPH03188314A (ja) | 1991-08-16 |
| JPH06100463B2 true JPH06100463B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=17960488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2306720A Expired - Lifetime JPH06100463B2 (ja) | 1990-11-13 | 1990-11-13 | カメラにおける測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06100463B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100350214C (zh) * | 2004-10-26 | 2007-11-21 | 夏普株式会社 | 光学式测距传感器、自行式吸尘器及空气调节器 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200481680Y1 (ko) * | 2016-06-13 | 2016-10-31 | 손홍희 | 회전식 손잡이를 갖는 우산 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6060511A (ja) * | 1983-09-14 | 1985-04-08 | Asahi Optical Co Ltd | 測距装置 |
-
1990
- 1990-11-13 JP JP2306720A patent/JPH06100463B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100350214C (zh) * | 2004-10-26 | 2007-11-21 | 夏普株式会社 | 光学式测距传感器、自行式吸尘器及空气调节器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03188314A (ja) | 1991-08-16 |
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