JPH0610162A - 銅表面からスズまたはスズ−鉛合金を剥離するための組成物と方法 - Google Patents
銅表面からスズまたはスズ−鉛合金を剥離するための組成物と方法Info
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- JPH0610162A JPH0610162A JP8102993A JP8102993A JPH0610162A JP H0610162 A JPH0610162 A JP H0610162A JP 8102993 A JP8102993 A JP 8102993A JP 8102993 A JP8102993 A JP 8102993A JP H0610162 A JPH0610162 A JP H0610162A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
- C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
- C23F1/44—Compositions for etching metallic material from a metallic material substrate of different composition
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
- H05K3/06—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
- H05K3/067—Etchants
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 スラッジまたは沈殿の目立った生成なしに単
一の適用で迅速な剥離効果をもつ、且つ比較的低コスト
で処分しうることを特徴とする銅表面からスズまたはス
ズ−鉛合金および下地の銅−スズ中間金属を剥離するた
めの組成物を提供する。 【構成】 本発明の組成物は、硝酸、硝酸第２鉄、およ
び溶液可溶性ハライド源から成る水溶液から構成され
る。それぞれの成分はスラッジまたは沈殿の目立った生
成をもたらすことなしに銅表面からスズまたはスズ−鉛
および下地の銅−スズ中間金属を剥離する量で存在す
る。この水溶液はまた銅表面の攻撃を最小にし然もスズ
またはスズ−鉛および下地の銅−スズ中間金属の剥離速
度を遅延させない有効な防止剤（第４級アンモニウム化
合物など）を含むこもとできる。
一の適用で迅速な剥離効果をもつ、且つ比較的低コスト
で処分しうることを特徴とする銅表面からスズまたはス
ズ−鉛合金および下地の銅−スズ中間金属を剥離するた
めの組成物を提供する。 【構成】 本発明の組成物は、硝酸、硝酸第２鉄、およ
び溶液可溶性ハライド源から成る水溶液から構成され
る。それぞれの成分はスラッジまたは沈殿の目立った生
成をもたらすことなしに銅表面からスズまたはスズ−鉛
および下地の銅−スズ中間金属を剥離する量で存在す
る。この水溶液はまた銅表面の攻撃を最小にし然もスズ
またはスズ−鉛および下地の銅−スズ中間金属の剥離速
度を遅延させない有効な防止剤（第４級アンモニウム化
合物など）を含むこもとできる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は銅表面からスズまたはス
ズ−鉛合金（すなわちハンダ）を剥離するための組成物
と方法に関し、更に詳しくはプリント回路基板の製造過
程のスズ被覆またはハンダ被覆の銅表面を処理してそこ
からスズまたはハンダを剥離して下地の銅金属を露出さ
せるための組成物と方法に関する。
ズ−鉛合金（すなわちハンダ）を剥離するための組成物
と方法に関し、更に詳しくはプリント回路基板の製造過
程のスズ被覆またはハンダ被覆の銅表面を処理してそこ
からスズまたはハンダを剥離して下地の銅金属を露出さ
せるための組成物と方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】プリント回路基板の製造過程において、
基板の図形、貫通孔、包囲パッド面などを形成する基板
のすべての又はえらばれた伝導性銅表面にスズまたはス
ズ−鉛合金（ハンダ）を堆積させて、たとえば基板の他
の表面から後にエッチング除去する際のエッチレジスト
として働かせることはふつうに行なわれていることであ
る。多くの場合、被覆したすべての又はえらばれた銅表
面からスズまたはスズ−鉛合金を剥離することがその後
に必要である。たとえば、えらばれた基板区域（たとえ
ば接触フィンガー）における銅表面からスズまたはスズ
−鉛を剥離して表面がニッケルおよび／または金でメッ
キしうるようにすることが多くの場合必要であり、銅表
面からスズまたはスズ−鉛を剥離してハンダマスクを裸
銅表面上に適用すること（いわゆるＳＭＯＢＣ法）がで
きるようにすることが必要であることもある。多くの場
合、この方法の一部として排除片からスズまたはスズ−
鉛を剥離して下地の銅材料を回収および再使用すること
のみが必要である。また、特にプリント回路基板の製造
に関してのことであるが、銅表面からスズまたはスズ−
鉛の層を剥離することの必要性はまた、装飾上の又は機
能上の目的のためにスズまたはスズ−鉛を銅表面上に適
用する他の分野においても生ずる。
基板の図形、貫通孔、包囲パッド面などを形成する基板
のすべての又はえらばれた伝導性銅表面にスズまたはス
ズ−鉛合金（ハンダ）を堆積させて、たとえば基板の他
の表面から後にエッチング除去する際のエッチレジスト
として働かせることはふつうに行なわれていることであ
る。多くの場合、被覆したすべての又はえらばれた銅表
面からスズまたはスズ−鉛合金を剥離することがその後
に必要である。たとえば、えらばれた基板区域（たとえ
ば接触フィンガー）における銅表面からスズまたはスズ
−鉛を剥離して表面がニッケルおよび／または金でメッ
キしうるようにすることが多くの場合必要であり、銅表
面からスズまたはスズ−鉛を剥離してハンダマスクを裸
銅表面上に適用すること（いわゆるＳＭＯＢＣ法）がで
きるようにすることが必要であることもある。多くの場
合、この方法の一部として排除片からスズまたはスズ−
鉛を剥離して下地の銅材料を回収および再使用すること
のみが必要である。また、特にプリント回路基板の製造
に関してのことであるが、銅表面からスズまたはスズ−
鉛の層を剥離することの必要性はまた、装飾上の又は機
能上の目的のためにスズまたはスズ−鉛を銅表面上に適
用する他の分野においても生ずる。
【０００３】また、銅金属表面にスズまたはスズ−鉛合
金を被覆する場合、銅−スズ合金（または中間金属）の
薄い層もしくはフィルムが層の界面において代表的に生
成し、このフィルムは時間と共に厚みを累進的に増大さ
せる。従って、スズまたはスズ−鉛の層を剥離して取り
去り銅金属を露出させようとする方法においては、この
銅−スズ中間金属も除去されることを保証することが必
要である。
金を被覆する場合、銅−スズ合金（または中間金属）の
薄い層もしくはフィルムが層の界面において代表的に生
成し、このフィルムは時間と共に厚みを累進的に増大さ
せる。従って、スズまたはスズ−鉛の層を剥離して取り
去り銅金属を露出させようとする方法においては、この
銅−スズ中間金属も除去されることを保証することが必
要である。
【０００４】銅表面からスズおよび／またはスズ−鉛被
覆を剥離するための組成物は当業技術において知られて
いる。このような組成物の１種として過酸化水素および
弗化水素酸または弗化物を基材とするものがあげられ
る。たとえば米国特許第３，９２６，６９９号、同第
３，９９０，９８２号、同第４，２９７，２５７号、同
４，３０６，９３３号、同第４，３７４，７４４号およ
び同第４，６７３，５２１号参照。別の種類としてニト
ロ置換芳香族化合物を主成分として、多くの場合無機酸
と組合せて（たとえば米国特許第３，６７７，９４９
号、同第４，００４，９５６号、同第４，３９７，７５
３号、および同第５，０３５，７４９号参照）または有
機酸（アルキルスルホン酸の使用を開示する米国特許第
４，４３９，３３８号参照）と組合せて使用するものが
あげられる。他の周知のストリッパー組成物と方法は米
国特許第４，４２４，０９７号および同第４，６８７，
５４５号に記載されている。硝酸基材のストリッパー
（剥離剤）は長い間当業技術によって使用されていた。
たとえば米国特許第４，７１３，１４４号の記載および
硝酸、スルファミン酸、および硝酸第２鉄の組成物の使
用；また硝酸基材ストリッパーに関する米国特許第４，
９１９，７５２号および同第４，９６４，９２０号も参
照。
覆を剥離するための組成物は当業技術において知られて
いる。このような組成物の１種として過酸化水素および
弗化水素酸または弗化物を基材とするものがあげられ
る。たとえば米国特許第３，９２６，６９９号、同第
３，９９０，９８２号、同第４，２９７，２５７号、同
４，３０６，９３３号、同第４，３７４，７４４号およ
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３号、および同第５，０３５，７４９号参照）または有
機酸（アルキルスルホン酸の使用を開示する米国特許第
４，４３９，３３８号参照）と組合せて使用するものが
あげられる。他の周知のストリッパー組成物と方法は米
国特許第４，４２４，０９７号および同第４，６８７，
５４５号に記載されている。硝酸基材のストリッパー
（剥離剤）は長い間当業技術によって使用されていた。
たとえば米国特許第４，７１３，１４４号の記載および
硝酸、スルファミン酸、および硝酸第２鉄の組成物の使
用；また硝酸基材ストリッパーに関する米国特許第４，
９１９，７５２号および同第４，９６４，９２０号も参
照。
【０００５】これらの周知のストリッパー組成物のすべ
てについて困難が生じる。パーオキサイド・弗化物系は
非常に発熱性であり、溶液を連続的に冷却しない限り温
度は過酸化物が分解する温度に迅速に上昇する。また、
この系は非撃的であり、銅に破滅的攻撃を及ぼし、そし
て弗化物の結果としてプリント回路の製造に使用するガ
ラス補強物質（たとえばエポキシ・ガラス）に代表的に
存在するガラスが攻撃される。スズ−鉛合金の剥離にお
ける過酸化物−弗化物の使用に伴う更に別の問題は、大
容量の弗化鉛スラッジが生成し、このものが究極的に剥
離を妨害し、槽および装置の煩ばんな洗浄を必要とし、
著しい廃水廃棄の問題をもつことである。
てについて困難が生じる。パーオキサイド・弗化物系は
非常に発熱性であり、溶液を連続的に冷却しない限り温
度は過酸化物が分解する温度に迅速に上昇する。また、
この系は非撃的であり、銅に破滅的攻撃を及ぼし、そし
て弗化物の結果としてプリント回路の製造に使用するガ
ラス補強物質（たとえばエポキシ・ガラス）に代表的に
存在するガラスが攻撃される。スズ−鉛合金の剥離にお
ける過酸化物−弗化物の使用に伴う更に別の問題は、大
容量の弗化鉛スラッジが生成し、このものが究極的に剥
離を妨害し、槽および装置の煩ばんな洗浄を必要とし、
著しい廃水廃棄の問題をもつことである。
【０００６】ニトロ置換芳香族化合物を基材とするスト
リッパー（剥離剤）はストリッピング浴から銅上へのス
ズの再堆積が起り易く、この再堆積は銅への過度の攻撃
なしには除去するのが困難なことがあり、そしてまたス
ラッジ生成によって閉塞を起す。硝酸基材のストリッパ
ーは一般に大容量のスラッジを形成し、このものは上記
の問題を離れて銅の表面に又はプリント回路基板に付着
するようになる。然も更に、このような系のほとんどは
スズまたはスズ−鉛の最初の除去の後に銅表面上に存在
する銅−スズ中間金属の除去を保証するために２工程の
処理を必要とする。
リッパー（剥離剤）はストリッピング浴から銅上へのス
ズの再堆積が起り易く、この再堆積は銅への過度の攻撃
なしには除去するのが困難なことがあり、そしてまたス
ラッジ生成によって閉塞を起す。硝酸基材のストリッパ
ーは一般に大容量のスラッジを形成し、このものは上記
の問題を離れて銅の表面に又はプリント回路基板に付着
するようになる。然も更に、このような系のほとんどは
スズまたはスズ−鉛の最初の除去の後に銅表面上に存在
する銅−スズ中間金属の除去を保証するために２工程の
処理を必要とする。
【０００７】これらのストリッパー溶液の多くのものの
スラッジ生成および高度の腐食性はまた処理すべき表面
を溶液中にディップ又は浸漬する方法にそれらの実際の
用途を一般に限定する。すなわちそれらは噴霧技術によ
って溶液を適用するために使用する装置に非相溶性であ
る。
スラッジ生成および高度の腐食性はまた処理すべき表面
を溶液中にディップ又は浸漬する方法にそれらの実際の
用途を一般に限定する。すなわちそれらは噴霧技術によ
って溶液を適用するために使用する装置に非相溶性であ
る。
【０００８】米国特許第４，９５７，６５３号にはスズ
またはスズ−鉛合金ならびに下地の銅−スズ合金を銅表
面から剥離するための改良された組成物が記載されてお
り、この組成物はアルカンスルホン酸と硝酸第２鉄との
水溶液から構成されている。上記米国特許の開示を引用
にここにくみ入れる。またこのようなアルカンスルホン
酸／硝酸第２鉄を再生するための電解装置、および下地
の銅表面への攻撃を最小にする防止剤をこのような組成
物中に含有させることにそれぞれ向けられた米国特許第
４，９４４，８５１号および同第４，９２１，５７１号
の開示も引用によってここにくみ入れる。これらのアル
カンスルホン酸／硝酸第２鉄組成物に伴う顕著な利点の
なかに、目だったスラッジまたは沈殿の形成なしに単一
の適用方法で（たとえば浸漬または噴霧のいづれかで）
銅表面からスズまたはスズ−鉛、および下地の銅−スズ
合金を迅速に除去しうる能力がある。
またはスズ−鉛合金ならびに下地の銅−スズ合金を銅表
面から剥離するための改良された組成物が記載されてお
り、この組成物はアルカンスルホン酸と硝酸第２鉄との
水溶液から構成されている。上記米国特許の開示を引用
にここにくみ入れる。またこのようなアルカンスルホン
酸／硝酸第２鉄を再生するための電解装置、および下地
の銅表面への攻撃を最小にする防止剤をこのような組成
物中に含有させることにそれぞれ向けられた米国特許第
４，９４４，８５１号および同第４，９２１，５７１号
の開示も引用によってここにくみ入れる。これらのアル
カンスルホン酸／硝酸第２鉄組成物に伴う顕著な利点の
なかに、目だったスラッジまたは沈殿の形成なしに単一
の適用方法で（たとえば浸漬または噴霧のいづれかで）
銅表面からスズまたはスズ−鉛、および下地の銅−スズ
合金を迅速に除去しうる能力がある。
【０００９】これらのアルカンスルホン酸基材のストリ
ッピング組成物の顕著な効果にもかかわらず、それらは
メタンスルホン酸（ＭＳＡ）のようなアルカンスルホン
酸の高いコストに大きく基因して比較的高価であるとい
う商業的問題を受ける。米国特許第５，０１７，２６７
号にはこの問題に関して、ふつうに必要とされるアルカ
ンスルホン酸の量を減少させるための手段としてクロラ
イドイオン源を利用することによってこれに少なくとも
部分的な解決を与えることが記載されている。該米国特
許の開示を引用によってここにくみ入れる。たとえば、
メタンスルホン酸／硝酸第２鉄／硝酸組成物は通常５４
０ｇ／ｌの７０％ＭＳＡを必要とするが、これは４０ｇ
／ｌの塩素酸ナトリウムを含有させることによってスト
リッピング効果の損失なしにＭＡＳを２７０ｇ／ｌに減
少させて再構成することができる。然しながら、コスト
の高いＭＳＡ、および他のアルカンスルホン酸を考慮す
れば、ＭＳＡ濃度を減少させたこれらの組成物は依然と
して比較的高価であり、これよりも低いコストの然もそ
れにもかかわらずこれらの高価な系の利点と寄与を依然
として与える組成物を提供することが非常に望ましい。
ッピング組成物の顕著な効果にもかかわらず、それらは
メタンスルホン酸（ＭＳＡ）のようなアルカンスルホン
酸の高いコストに大きく基因して比較的高価であるとい
う商業的問題を受ける。米国特許第５，０１７，２６７
号にはこの問題に関して、ふつうに必要とされるアルカ
ンスルホン酸の量を減少させるための手段としてクロラ
イドイオン源を利用することによってこれに少なくとも
部分的な解決を与えることが記載されている。該米国特
許の開示を引用によってここにくみ入れる。たとえば、
メタンスルホン酸／硝酸第２鉄／硝酸組成物は通常５４
０ｇ／ｌの７０％ＭＳＡを必要とするが、これは４０ｇ
／ｌの塩素酸ナトリウムを含有させることによってスト
リッピング効果の損失なしにＭＡＳを２７０ｇ／ｌに減
少させて再構成することができる。然しながら、コスト
の高いＭＳＡ、および他のアルカンスルホン酸を考慮す
れば、ＭＳＡ濃度を減少させたこれらの組成物は依然と
して比較的高価であり、これよりも低いコストの然もそ
れにもかかわらずこれらの高価な系の利点と寄与を依然
として与える組成物を提供することが非常に望ましい。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】本発明の主たる目的
は、スラッジまたは沈殿の目立った生成なしに単一の適
用で迅速な剥離効果をもつ、且つ比較的低コストで処理
しうることを特徴とする銅表面からスズまたはスズ−鉛
合金ならびに下地の銅−スズ中間金属を剥離するための
組成物を提供することにある。
は、スラッジまたは沈殿の目立った生成なしに単一の適
用で迅速な剥離効果をもつ、且つ比較的低コストで処理
しうることを特徴とする銅表面からスズまたはスズ−鉛
合金ならびに下地の銅−スズ中間金属を剥離するための
組成物を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、これら
の及びその他の目的は硝酸、硝酸第２鉄およびハライド
イオン源から実質的に成る水溶液を含み、好ましくは下
地の銅表面の攻撃を最小にするための防止剤をも更に含
む組成物から成ることを特徴とする銅表面からスズまた
はスズ−鉛および下地の銅−スズ中間金属を剥離するた
めの組成物を提供することによって達成される。
の及びその他の目的は硝酸、硝酸第２鉄およびハライド
イオン源から実質的に成る水溶液を含み、好ましくは下
地の銅表面の攻撃を最小にするための防止剤をも更に含
む組成物から成ることを特徴とする銅表面からスズまた
はスズ−鉛および下地の銅−スズ中間金属を剥離するた
めの組成物を提供することによって達成される。
【００１２】全く驚くべきことに、上記の組成物は目だ
ったスラッジまたは沈殿の生成なしに、そして容易な廃
棄物の処理を提供するように、然も比較的低コストの組
成物を使用して、そして最も特殊なことにはアルカンス
ルホン酸の必要なしに、銅表面からスズまたはスズ−鉛
および銅−スズ中間金属を迅速かつ有効に剥離するとい
うことが発見された。
ったスラッジまたは沈殿の生成なしに、そして容易な廃
棄物の処理を提供するように、然も比較的低コストの組
成物を使用して、そして最も特殊なことにはアルカンス
ルホン酸の必要なしに、銅表面からスズまたはスズ−鉛
および銅−スズ中間金属を迅速かつ有効に剥離するとい
うことが発見された。
【００１３】
【発明の詳細記述】本発明によれば、銅表面からスズま
たはスズ−鉛（ハンダ）および下地の銅−スズ中間金属
を剥離するための組成物と方法が提供される。前述のよ
うに、この種の組成物は、絶縁基材上の銅回路に製造法
に付随してスズまたはスズ−鉛の層が（たとえば浸漬メ
ッキ、電気メッキなどによって）付与されるが、その後
に製造の更なる工程として又は単に排除基板から銅を回
収する努力において、銅表面のすべて又は若干から除去
することが必要な場合のプリント回路基板製造の環境に
おいて特に有用である。一般に、銅の上にあるスズまた
はスズ−鉛の層は、代表的な回路基板製造法において
０．０００２〜０．０００４インチ（０．２〜０．４ミ
ル）の厚さの程度である。その上、銅−スズ中間金属の
薄層またはフィルムは銅層とスズまたはスズ−鉛層との
間に生成し、一般に約０．００２〜約０．００４ミルの
厚さをもち、この厚さは時間と共に増大する。然しなが
ら本発明はプリント回路基板の製造であると否とにかか
わらず、そして銅に下地の絶縁材料または伝導性材料が
付随していると否とにかかわらず、予めスズまたはスズ
−鉛を適用した銅表面からスズまたはスズ合金および下
地の銅−スズ中間金属の除去に一般に適用可能である。
たはスズ−鉛（ハンダ）および下地の銅−スズ中間金属
を剥離するための組成物と方法が提供される。前述のよ
うに、この種の組成物は、絶縁基材上の銅回路に製造法
に付随してスズまたはスズ−鉛の層が（たとえば浸漬メ
ッキ、電気メッキなどによって）付与されるが、その後
に製造の更なる工程として又は単に排除基板から銅を回
収する努力において、銅表面のすべて又は若干から除去
することが必要な場合のプリント回路基板製造の環境に
おいて特に有用である。一般に、銅の上にあるスズまた
はスズ−鉛の層は、代表的な回路基板製造法において
０．０００２〜０．０００４インチ（０．２〜０．４ミ
ル）の厚さの程度である。その上、銅−スズ中間金属の
薄層またはフィルムは銅層とスズまたはスズ−鉛層との
間に生成し、一般に約０．００２〜約０．００４ミルの
厚さをもち、この厚さは時間と共に増大する。然しなが
ら本発明はプリント回路基板の製造であると否とにかか
わらず、そして銅に下地の絶縁材料または伝導性材料が
付随していると否とにかかわらず、予めスズまたはスズ
−鉛を適用した銅表面からスズまたはスズ合金および下
地の銅−スズ中間金属の除去に一般に適用可能である。
【００１４】本発明は純粋なスズ金属を堆積させた銅表
面の処理に、あるいはより一般的にスズ−鉛合金を堆積
させた銅表面の処理に適用可能である。スズ−鉛合金は
ここでは互換的にハンダとも呼び、１〜９９重量％のス
ズと残余の鉛を含むことができるが、商業的に使用され
るほとんどのハンダは約６０：４０のスズ：鉛の重量比
をもつ。多くのこのような合金も本発明の剥離用組成物
の効力に悪影響を決して及ぼさない比較的少量の付加金
属を含む。
面の処理に、あるいはより一般的にスズ−鉛合金を堆積
させた銅表面の処理に適用可能である。スズ−鉛合金は
ここでは互換的にハンダとも呼び、１〜９９重量％のス
ズと残余の鉛を含むことができるが、商業的に使用され
るほとんどのハンダは約６０：４０のスズ：鉛の重量比
をもつ。多くのこのような合金も本発明の剥離用組成物
の効力に悪影響を決して及ぼさない比較的少量の付加金
属を含む。
【００１５】本発明によれば、剥離用組成物の実質的成
分は硝酸、硝酸第２鉄およびハライドイオン源であり、
すべて水溶液中に存在する。硝酸は代表的に約３０ｇ／
ｌ〜約６００ｇ／ｌの範囲の濃度、更に好ましくは約１
００ｇ／ｌ〜４００ｇ／ｌの範囲の濃度、最も好ましく
は約２００ｇ／ｌ〜約３００ｇ／ｌの範囲の濃度で水溶
液中に存在する。これらの濃度は硝酸それ自体の意味で
与えられるが、代表的に本発明の組成物は商業的に容易
に入手しうる６９〜７０重量％の硝酸溶液を使用して製
造することができる。
分は硝酸、硝酸第２鉄およびハライドイオン源であり、
すべて水溶液中に存在する。硝酸は代表的に約３０ｇ／
ｌ〜約６００ｇ／ｌの範囲の濃度、更に好ましくは約１
００ｇ／ｌ〜４００ｇ／ｌの範囲の濃度、最も好ましく
は約２００ｇ／ｌ〜約３００ｇ／ｌの範囲の濃度で水溶
液中に存在する。これらの濃度は硝酸それ自体の意味で
与えられるが、代表的に本発明の組成物は商業的に容易
に入手しうる６９〜７０重量％の硝酸溶液を使用して製
造することができる。
【００１６】硝酸第２鉄は代表的に約１ｇ／ｌ〜約２５
０ｇ／ｌの範囲の濃度、更に好ましくは５ｇ／ｌ〜約１
００ｇ／ｌの範囲の濃度、最も好ましくは約４０ｇ／ｌ
〜約６０ｇ／ｌの範囲の濃度で水溶液中に存在する。硝
酸の場合と同様に、これらの濃度は硝酸第２鉄それ自体
を基準にして与えられるが、商業的に容易に入手しうる
硝酸第２鉄の形体である４５重量％溶液の形体で硝酸第
２鉄を溶液の製造に使用する場合が代表的である。
０ｇ／ｌの範囲の濃度、更に好ましくは５ｇ／ｌ〜約１
００ｇ／ｌの範囲の濃度、最も好ましくは約４０ｇ／ｌ
〜約６０ｇ／ｌの範囲の濃度で水溶液中に存在する。硝
酸の場合と同様に、これらの濃度は硝酸第２鉄それ自体
を基準にして与えられるが、商業的に容易に入手しうる
硝酸第２鉄の形体である４５重量％溶液の形体で硝酸第
２鉄を溶液の製造に使用する場合が代表的である。
【００１７】ハライドイオン源は溶液に可溶性であるす
べてのハライドイオン源であることができ、好ましくは
溶液可溶性のクロライドイオン源たとえば塩酸、塩化ア
ンモニウム、塩化ナトリウムまたはカリウム、などであ
り、塩酸が好ましい。ハライドイオン源は水溶液中に約
０．１〜約１５０ｇ／ｌのハライドイオン、更に好まし
くは５ｇ／ｌ〜７５ｇ／ｌのハライドイオン、最も好ま
しくは８ｇ／ｌ〜２０ｇ／ｌのハライドイオンを与える
量で使用される。
べてのハライドイオン源であることができ、好ましくは
溶液可溶性のクロライドイオン源たとえば塩酸、塩化ア
ンモニウム、塩化ナトリウムまたはカリウム、などであ
り、塩酸が好ましい。ハライドイオン源は水溶液中に約
０．１〜約１５０ｇ／ｌのハライドイオン、更に好まし
くは５ｇ／ｌ〜７５ｇ／ｌのハライドイオン、最も好ま
しくは８ｇ／ｌ〜２０ｇ／ｌのハライドイオンを与える
量で使用される。
【００１８】本発明の最も好ましい態様において、水溶
液はまた防止剤を含む。この防止剤は剥離処理中に下地
の銅表面の攻撃の可能性を最小にするがストリッピング
溶液の本質的特徴および性質すなわち剥離速度、剥離効
力、スラッジまたは沈殿の目だった生成のないこと、廃
液処理の容易さなど、に実質的な悪影響を及ぼさない有
効な防止剤である。好適なこのような防止剤の例として
米国特許第４，９２１，５７１号に記載されているもの
があげられる。最も好ましい防止剤は第４級アンモニウ
ム化合物、エチレンとプロピレンオキサイドとのブロッ
クコポリマー、およびエトキシル化アルキルフェノール
（たとえばオクチルまたはノニルフェノール）、および
それらの混合物である。防止剤は代表的に比較的低濃度
すなわち０．０１ｇ／ｌ〜約５ｇ／ｌ程度の濃度で使用
されるが、いくつかの防止剤はより高濃度で、すなわち
約５０ｇ／ｌまでの濃度で剥離速度に悪影響を及ぼすこ
となしに使用されうる。
液はまた防止剤を含む。この防止剤は剥離処理中に下地
の銅表面の攻撃の可能性を最小にするがストリッピング
溶液の本質的特徴および性質すなわち剥離速度、剥離効
力、スラッジまたは沈殿の目だった生成のないこと、廃
液処理の容易さなど、に実質的な悪影響を及ぼさない有
効な防止剤である。好適なこのような防止剤の例として
米国特許第４，９２１，５７１号に記載されているもの
があげられる。最も好ましい防止剤は第４級アンモニウ
ム化合物、エチレンとプロピレンオキサイドとのブロッ
クコポリマー、およびエトキシル化アルキルフェノール
（たとえばオクチルまたはノニルフェノール）、および
それらの混合物である。防止剤は代表的に比較的低濃度
すなわち０．０１ｇ／ｌ〜約５ｇ／ｌ程度の濃度で使用
されるが、いくつかの防止剤はより高濃度で、すなわち
約５０ｇ／ｌまでの濃度で剥離速度に悪影響を及ぼすこ
となしに使用されうる。
【００１９】本発明の組成物を使用してスズまたはハン
ダ被覆の銅表面を処理し、そこからスズまたはハンダを
銅−スズ中間金属と共に除去して銅金属を露出させるた
めに、銅表面を水性組成物中に浸漬するか又は銅表面上
に組成物を噴霧する。前記の代表的なスズまたはスズ−
鉛および銅−スズの層の厚さについて、完全な除去は１
〜３回の浸漬の後に又は約１０〜３０秒の噴霧の際に一
般に行なわれる。噴霧の場合、水性組成物は代表的に連
続的に循環され、そしてもちろん噴霧または浸漬法のい
づれの場合にも、溶液の剥離効力が経済的でなくなると
きまで同時に又は順次にスズまたはスズ−鉛被覆の銅表
面を多数回処理するのにこの水溶液は使用することがで
きる。本発明の組成物は室温から約１５０°Ｆまでの温
度において使用することができる。
ダ被覆の銅表面を処理し、そこからスズまたはハンダを
銅−スズ中間金属と共に除去して銅金属を露出させるた
めに、銅表面を水性組成物中に浸漬するか又は銅表面上
に組成物を噴霧する。前記の代表的なスズまたはスズ−
鉛および銅−スズの層の厚さについて、完全な除去は１
〜３回の浸漬の後に又は約１０〜３０秒の噴霧の際に一
般に行なわれる。噴霧の場合、水性組成物は代表的に連
続的に循環され、そしてもちろん噴霧または浸漬法のい
づれの場合にも、溶液の剥離効力が経済的でなくなると
きまで同時に又は順次にスズまたはスズ−鉛被覆の銅表
面を多数回処理するのにこの水溶液は使用することがで
きる。本発明の組成物は室温から約１５０°Ｆまでの温
度において使用することができる。
【００２０】
実施例Ｉ ４００ｇ／ｌの硝酸（無水）、４０ｇ／ｌの硝酸第２鉄
（無水）、１０ｇ／ｌの塩酸（無水）および１ｇ／ｌの
界面活性剤混合物（防止剤として働く第４級アンモニウ
ム化合物含有）を含む水溶液を製造した。この溶液を室
温で、浸漬法においてスズ−鉛（０．３ミル）被覆の銅
パネルを剥離するのに使用した。スズ−鉛および銅−ス
ズ中間金属を含まないクリーンな銅表面を作るのに要し
た時間は約１〜３分程度であった。溶液が２０オンス／
ガロンの金属を含み、スラッジまたは沈殿物が溶液中に
ないことが明らかである点まで上記溶液を多数のパネル
を剥離するのに使用した。パネルの銅表面の攻撃は無視
しうる程度であった。
（無水）、１０ｇ／ｌの塩酸（無水）および１ｇ／ｌの
界面活性剤混合物（防止剤として働く第４級アンモニウ
ム化合物含有）を含む水溶液を製造した。この溶液を室
温で、浸漬法においてスズ−鉛（０．３ミル）被覆の銅
パネルを剥離するのに使用した。スズ−鉛および銅−ス
ズ中間金属を含まないクリーンな銅表面を作るのに要し
た時間は約１〜３分程度であった。溶液が２０オンス／
ガロンの金属を含み、スラッジまたは沈殿物が溶液中に
ないことが明らかである点まで上記溶液を多数のパネル
を剥離するのに使用した。パネルの銅表面の攻撃は無視
しうる程度であった。
【００２１】実施例ＩＩ ３００ｇ／ｌの硝酸（無水）、６０ｇ／ｌの硝酸第２鉄
（無水）、２０ｇ／ｌの塩化ナトリウム、および１ｇ／
ｌの実施例Ｉで使用したのと同じ界面活性剤混合物を含
む水溶液を製造した。この溶液を室温で使用して浸漬法
でスズ−鉛（０．３ミル）被覆銅パネルを剥離した。ス
ズ−鉛および銅−スズ中間金属のないクリーンな銅表面
を作るのに要した時間は約１〜３分程度であった。この
溶液を、溶液が約１７オンス／ガロンの金属を含み、溶
液中にスラッジまたは沈殿のないことが明らかである点
まで、多数のパネルを剥離するのに使用した。パネルの
銅表面の攻撃は無視しうる程度であった。
（無水）、２０ｇ／ｌの塩化ナトリウム、および１ｇ／
ｌの実施例Ｉで使用したのと同じ界面活性剤混合物を含
む水溶液を製造した。この溶液を室温で使用して浸漬法
でスズ−鉛（０．３ミル）被覆銅パネルを剥離した。ス
ズ−鉛および銅−スズ中間金属のないクリーンな銅表面
を作るのに要した時間は約１〜３分程度であった。この
溶液を、溶液が約１７オンス／ガロンの金属を含み、溶
液中にスラッジまたは沈殿のないことが明らかである点
まで、多数のパネルを剥離するのに使用した。パネルの
銅表面の攻撃は無視しうる程度であった。
【００２２】実施例ＩＩＩ ２５０ｇ／ｌの硝酸（無水）、４０ｇ／ｌの硝酸第２鉄
（無水）、１０ｇ／ｌの塩酸（無水）および１ｇ／ｌの
実施例Ｉで使用したのと同じ界面剤混合物を含む水溶液
を製造した。この溶液を室温で使用して噴霧法でスズ−
鉛（０．３ミル）被覆の銅を剥離した。スズ−鉛および
銅−スズ中間金属を含まないクリーンな銅表面を作るに
要した時間は約３０秒程度であった。この溶液を、溶液
が２１．５オンス／ガロンの金属を含み、溶液中にスラ
ッジまたは沈殿がないことが明らかな点まで、多数のパ
ネルを剥離するのに使用した。パネルの銅表面の攻撃は
無視しうる程度であった。
（無水）、１０ｇ／ｌの塩酸（無水）および１ｇ／ｌの
実施例Ｉで使用したのと同じ界面剤混合物を含む水溶液
を製造した。この溶液を室温で使用して噴霧法でスズ−
鉛（０．３ミル）被覆の銅を剥離した。スズ−鉛および
銅−スズ中間金属を含まないクリーンな銅表面を作るに
要した時間は約３０秒程度であった。この溶液を、溶液
が２１．５オンス／ガロンの金属を含み、溶液中にスラ
ッジまたは沈殿がないことが明らかな点まで、多数のパ
ネルを剥離するのに使用した。パネルの銅表面の攻撃は
無視しうる程度であった。
【００２３】本発明を特定の特徴および態様を参照して
具体的に説明したけれども、これらは特許請求の範囲に
記載のものを除いて本発明を限定するものと解釈される
べきではない。
具体的に説明したけれども、これらは特許請求の範囲に
記載のものを除いて本発明を限定するものと解釈される
べきではない。
Claims (12)
- 【請求項１】 スラッジまたは沈殿の目だった生成をも
たらすことなしに銅表面からスズまたはスズ−鉛、およ
び下地の銅−スズ中間金属を剥離するための組成物であ
って、該組成物が実質的に硝酸、硝酸第２鉄、および溶
液可溶性ハライドイオン源から成る水溶液を含み、それ
ぞれが該組成物がスラッジまたは沈殿の目立った生成を
もたらすことなしに銅表面からスズまたはスズ−鉛およ
び下地の銅−スズ中間金属を剥離するに有効であるよう
な量で存在することを特徴とする組成物。 - 【請求項２】 該水溶液が銅表面の攻撃を最小にし然も
防止剤なしにえられるものに比べてスズまたはスズ−
鉛、および下地の銅−スズ中間金属の剥離速度を実質的
に遅延させない有効な防止剤を実質的に更に含む請求項
１の組成物。 - 【請求項３】 該水溶液が約３０〜約６００ｇ／ｌの硝
酸、約１〜約２５０ｇ／ｌの硝酸第２鉄、および該溶液
に約０．１〜約１５０ｇ／ｌのハライドイオンを与える
に十分な量のハライドイオン源から実質的に成る請求項
２の組成物。 - 【請求項４】 溶液可溶性ハライドイオン源が溶液可溶
性クロライドイオン源である請求項３の組成物。 - 【請求項５】 溶液可溶性ハライドイオン源が塩酸であ
る請求項４の組成物。 - 【請求項６】 スラッジまたは沈殿の目だった生成をも
たらすことなしに銅表面からスズまたはスズ−鉛および
下地の銅−スズ中間金属を剥離するための組成物であっ
て、該組成物が実質的に３０〜約６００ｇ／ｌの硝酸、
１〜約２５０ｇ／ｌの硝酸第２鉄、０．１〜約１５０ｇ
／ｌの塩酸、および銅表面の攻撃を最小にし然も防止剤
なしにえられるものに比べてスズまたはスズ−鉛および
下地の銅−スズ中間金属の剥離速度を実質的に遅延させ
ない有効な防止剤の約０．０１〜約５０ｇ／ｌからなる
水溶液を含むことを特徴とする組成物。 - 【請求項７】 スラッジまたは沈殿の目だった生成をも
たらすことなしに銅表面からスズまたはスズ−鉛および
下地の銅−スズ中間金属を剥離する方法であって、硝
酸、硝酸第２鉄、および溶液可溶性ハライドイオン源か
ら成る水溶液を含み、それぞれがスラッジまたは沈殿の
目立った生成をもたらすことなしに銅表面からスズまた
はスズ−鉛および下地の銅−スズ中間金属を剥離するよ
うな量で組成物中に存在する組成物に銅表面を、スズま
たはスズ−鉛および下地の銅−スズ中間金属を銅表面か
ら剥離するのに有効な時間接触させることを特徴とする
方法。 - 【請求項８】 該水溶液が銅表面の攻撃を最小にし、然
も防止剤なしにえられるものに比べてスズまたはスズ−
鉛および下地の銅−スズ中間金属の剥離速度を実質的に
遅延させない有効な防止剤を実質的に更に含んで成る請
求項７の方法。 - 【請求項９】 該水溶液が約３０〜約６００ｇ／ｌの硝
酸、約１〜約２５０ｇ／ｌの硝酸第２鉄、および該溶液
に約０．１〜約１５０ｇ／ｌのハライドイオンを与える
に十分な量のハライドイオン源から実質的になる請求項
８の方法。 - 【請求項１０】 溶液可溶性ハライドイオン源が溶液可
溶性クロライドイオン源である請求項９の方法。 - 【請求項１１】 溶液可溶性ハライドイオン源が塩酸で
ある請求項１０の方法。 - 【請求項１２】 接触が銅表面を溶液に浸漬すること及
び銅表面に溶液を噴霧することから成る群からえらばれ
る請求項７の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US84651292A | 1992-03-04 | 1992-03-04 | |
| US846,512 | 1992-03-04 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0610162A true JPH0610162A (ja) | 1994-01-18 |
Family
ID=25298142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8102993A Pending JPH0610162A (ja) | 1992-03-04 | 1993-03-03 | 銅表面からスズまたはスズ−鉛合金を剥離するための組成物と方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0559379B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0610162A (ja) |
| CA (1) | CA2090349C (ja) |
| DE (1) | DE69314070T2 (ja) |
Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
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