JPH06103295B2 - 分析装置の分析指示装置 - Google Patents
分析装置の分析指示装置Info
- Publication number
- JPH06103295B2 JPH06103295B2 JP19970789A JP19970789A JPH06103295B2 JP H06103295 B2 JPH06103295 B2 JP H06103295B2 JP 19970789 A JP19970789 A JP 19970789A JP 19970789 A JP19970789 A JP 19970789A JP H06103295 B2 JPH06103295 B2 JP H06103295B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- measurement
- analysis
- conditions
- samples
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- Expired - Lifetime
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はガスクロマトグラフや液体クロマトグラフなど
の分析装置であって、特に測定条件の異なる試料を連続
して自動的に分析することのできる分析装置において、
各試料の測定条件や試料の測定順序を自動的に設定する
ことのできる分析指示装置に関するものである。
の分析装置であって、特に測定条件の異なる試料を連続
して自動的に分析することのできる分析装置において、
各試料の測定条件や試料の測定順序を自動的に設定する
ことのできる分析指示装置に関するものである。
（従来の技術） ガスクロマトグラフを例にとると、従来のガスクロマト
グラフでは測定条件の異なる試料については連続して自
動的に分析することができないか、できるとしてもその
試料の種類は２〜３種類に限られている。
グラフでは測定条件の異なる試料については連続して自
動的に分析することができないか、できるとしてもその
試料の種類は２〜３種類に限られている。
ガスクロマトグラフの測定条件としてはキャリアガス流
量、カラムの種類、カラム温度などがあるが、試料によ
ってその測定条件を最適なものに設定するにはかなりの
経験を必要とする。
量、カラムの種類、カラム温度などがあるが、試料によ
ってその測定条件を最適なものに設定するにはかなりの
経験を必要とする。
また、複数の試料を測定する場合、その測定順序はすべ
て操作を行なう人が指定する必要がある。測定順序の指
定の仕方によっては全体の測定時間が長くなったり短か
くなったりする。
て操作を行なう人が指定する必要がある。測定順序の指
定の仕方によっては全体の測定時間が長くなったり短か
くなったりする。
このような事情はガスクロマトグラフに限らず、液体ク
ロマトグラフにおいても存在する。
ロマトグラフにおいても存在する。
（発明が解決しようとする課題） 本発明は複数種類の試料を連続して測定することのでき
る分析装置において、試料の情報を入力すればその試料
に最適な測定条件を自動的に決定し、かつ、測定順序も
全体の測定時間が最も短かくなるように自動的に決定す
るようにして、分析操作に熟練していない人でも容易に
最適な分析条件で、最短時間で測定を完了できるように
することを目的とするものである。
る分析装置において、試料の情報を入力すればその試料
に最適な測定条件を自動的に決定し、かつ、測定順序も
全体の測定時間が最も短かくなるように自動的に決定す
るようにして、分析操作に熟練していない人でも容易に
最適な分析条件で、最短時間で測定を完了できるように
することを目的とするものである。
（課題を解決するための手段） 本発明を第１図により説明する。
２はガスクロマトグラフなどの分析機器、６は試料瓶ラ
ック４などに並べられた複数の試料から選択された試料
を分析機器２に導入する試料導入装置、８は分析機器２
の分析条件や試料導入装置６の動作を制御する制御装
置、18は分析指示装置である。分析指示装置18は、試料
に対する最適測定条件を記憶している測定条件データベ
ース10と、試料情報が入力されると測定条件データベー
ス10からその試料に最適な測定条件を決定し、試料情報
テーブル12へ記憶させるとともに、測定開始時には現在
の測定条件から変更の少ない順に試料測定順序を決定す
る推論部14と、推論部14で決定された各試料の測定条件
を記憶する試料情報テーブル12とを備え、制御装置８へ
測定試料及び分析条件を指示する。
ック４などに並べられた複数の試料から選択された試料
を分析機器２に導入する試料導入装置、８は分析機器２
の分析条件や試料導入装置６の動作を制御する制御装
置、18は分析指示装置である。分析指示装置18は、試料
に対する最適測定条件を記憶している測定条件データベ
ース10と、試料情報が入力されると測定条件データベー
ス10からその試料に最適な測定条件を決定し、試料情報
テーブル12へ記憶させるとともに、測定開始時には現在
の測定条件から変更の少ない順に試料測定順序を決定す
る推論部14と、推論部14で決定された各試料の測定条件
を記憶する試料情報テーブル12とを備え、制御装置８へ
測定試料及び分析条件を指示する。
測定条件データベース10にはキーボードなどの入出力装
置16から試料に含まれる成分の組合せとそのときの分析
条件を熟練者の知識から抽出して知識データベースとし
て記憶させておく。測定条件データベース10の内容は追
加したり変更したりすることができる。
置16から試料に含まれる成分の組合せとそのときの分析
条件を熟練者の知識から抽出して知識データベースとし
て記憶させておく。測定条件データベース10の内容は追
加したり変更したりすることができる。
（作用） 第２図及び第３図により動作を説明する。
第２図は試料の情報が入力されたときに推論部14がその
試料の測定条件を決定する手順を示したものである。
試料の測定条件を決定する手順を示したものである。
測定者から測定したい試料の情報（その試料に含まれて
いる成分の種類など）が入力されると（ステップS1）、
推論部14は測定条件データベース10から最適な測定条件
を選ぶ（ステップS2）。その選んだ測定条件を試料情報
テーブル12に登録する（ステップS3）。次の試料に関す
る情報が入力されると（ステップS5）、同様にしてその
試料の測定条件を決定し、試料情報テーブル12に登録す
る（ステップS2,S3）。測定者から必要なだけの試料の
情報の入力が終了し、それらの測定条件がすべて試料情
報テーブル12に登録された後、測定者から測定開始の指
示が入力されると（ステップS4）、第３図に示される測
定フローに移行する。
いる成分の種類など）が入力されると（ステップS1）、
推論部14は測定条件データベース10から最適な測定条件
を選ぶ（ステップS2）。その選んだ測定条件を試料情報
テーブル12に登録する（ステップS3）。次の試料に関す
る情報が入力されると（ステップS5）、同様にしてその
試料の測定条件を決定し、試料情報テーブル12に登録す
る（ステップS2,S3）。測定者から必要なだけの試料の
情報の入力が終了し、それらの測定条件がすべて試料情
報テーブル12に登録された後、測定者から測定開始の指
示が入力されると（ステップS4）、第３図に示される測
定フローに移行する。
第３図は測定開始が指示された後の測定フローを表わし
たものである。
たものである。
測定しようとする試料の測定条件が決定された時点では
すでに測定者は試料を試料瓶ラックやターンテーブルそ
の他の所定の位置に設定している。
すでに測定者は試料を試料瓶ラックやターンテーブルそ
の他の所定の位置に設定している。
測定者から測定開始が指示されると、推論部14は未測定
試料のうち現在の測定条件から目的の条件に最も短時間
で移行できる試料を選ぶ（ステップS12）。そして制御
装置８にその試料の種類を表わす情報と測定条件を指示
し、制御装置８は試料導入装置６を制御し、指示された
試料を分析機器２に導入するとともに、分析機器２の測
定条件を変更する（ステップS13）。測定条件が目的の
条件になった時点で測定が開始される（ステップS14,S1
5）。
試料のうち現在の測定条件から目的の条件に最も短時間
で移行できる試料を選ぶ（ステップS12）。そして制御
装置８にその試料の種類を表わす情報と測定条件を指示
し、制御装置８は試料導入装置６を制御し、指示された
試料を分析機器２に導入するとともに、分析機器２の測
定条件を変更する（ステップS13）。測定条件が目的の
条件になった時点で測定が開始される（ステップS14,S1
5）。
測定が終了すると（ステップS16）、推論部14は終了し
た試料に関して試料情報テーブル12のその試料の状態を
測定済みにし、残りの試料から現在の測定条件から最も
短時間で移行できる試料を選ぶ（ステップS12）。以下
同様にして測定を行ない、試料情報テーブル12に登録さ
れている未測定試料がなくなるまで繰り返す（ステップ
S11）。
た試料に関して試料情報テーブル12のその試料の状態を
測定済みにし、残りの試料から現在の測定条件から最も
短時間で移行できる試料を選ぶ（ステップS12）。以下
同様にして測定を行ない、試料情報テーブル12に登録さ
れている未測定試料がなくなるまで繰り返す（ステップ
S11）。
（実施例） 第４図は本発明をガスクロマトグラフに適用した一実施
例を示す。
例を示す。
分析機器としてガスクロマトグラフが示され、キャリア
ガスが調圧弁20を経て液体試料導入口22を経てカラム26
a又は26bに導かれている。試料導入口22とカラム26a,26
bの間には、いずれかのカラム26a,26bをキャリアガス流
路に接続するために切換え弁24が設けられている。カラ
ム出口にも切換え弁28が設けられ、カラム出口が複数の
検出器30a,30bのいずれかに接続されるようになってい
る。検出器は、図のように複数の検出器が並列に接続さ
れている場合だけでなく、検出器30aと破線で示された
検出器30cのように検出器が直列に接続され、いずれか
の検出器の出力を選択して取り込むようにしてもよい。
ガスが調圧弁20を経て液体試料導入口22を経てカラム26
a又は26bに導かれている。試料導入口22とカラム26a,26
bの間には、いずれかのカラム26a,26bをキャリアガス流
路に接続するために切換え弁24が設けられている。カラ
ム出口にも切換え弁28が設けられ、カラム出口が複数の
検出器30a,30bのいずれかに接続されるようになってい
る。検出器は、図のように複数の検出器が並列に接続さ
れている場合だけでなく、検出器30aと破線で示された
検出器30cのように検出器が直列に接続され、いずれか
の検出器の出力を選択して取り込むようにしてもよい。
カラム26a,26bと検出器30a,30bはオーブン32によって温
度が制御される。オーブン32には温度制御装置34が設け
られている。
度が制御される。オーブン32には温度制御装置34が設け
られている。
複数の試料を試料導入口22に自動的に導入するために、
複数の試料瓶36が並べられる試料瓶ラック38と、試料瓶
ラック38の試料瓶36を選択してサンプリングニードル40
により試料導入口22に導入する試料導入装置42が設けら
れている。サンプリングニードル40はXYZアームによっ
て三次元方向の任意の方向に移動することができ、選択
された任意の試料瓶36から試料を吸入し、試料導入口22
に導入する。
複数の試料瓶36が並べられる試料瓶ラック38と、試料瓶
ラック38の試料瓶36を選択してサンプリングニードル40
により試料導入口22に導入する試料導入装置42が設けら
れている。サンプリングニードル40はXYZアームによっ
て三次元方向の任意の方向に移動することができ、選択
された任意の試料瓶36から試料を吸入し、試料導入口22
に導入する。
制御装置８は分析指示装置18の指示を受けていずれかの
試料を試料導入口22に導入し、調圧弁20を介してキャリ
アガス流量を調節し、切換え弁24,28の切換えを行な
い、温度制御装置34によりカラム温度を制御するという
ように、各部を制御する。
試料を試料導入口22に導入し、調圧弁20を介してキャリ
アガス流量を調節し、切換え弁24,28の切換えを行な
い、温度制御装置34によりカラム温度を制御するという
ように、各部を制御する。
分析指示装置18を実現するために、CPU44、RAM46、ROM4
8、フロッピディスク装置50、キーボード52、CRT54など
を備えている。第１図における推論部14はCPU44、RAM4
6、ROM48により実現され、試料情報テーブル12はRAM46
により実現され、測定条件データベース10はフロッピデ
ィスク装置50により実現される。入出力装置16はキーボ
ード52に対応している。
8、フロッピディスク装置50、キーボード52、CRT54など
を備えている。第１図における推論部14はCPU44、RAM4
6、ROM48により実現され、試料情報テーブル12はRAM46
により実現され、測定条件データベース10はフロッピデ
ィスク装置50により実現される。入出力装置16はキーボ
ード52に対応している。
指定された試料をガスクロマトグラフに導入するために
は第４図のように試料瓶ラック38を用いたものの他に、
試料瓶をターンテーブルの円周に沿って配列する形式の
ものなど、液体クロマトグラフの試料導入機構として用
いられているものを利用することもできる。
は第４図のように試料瓶ラック38を用いたものの他に、
試料瓶をターンテーブルの円周に沿って配列する形式の
ものなど、液体クロマトグラフの試料導入機構として用
いられているものを利用することもできる。
また、ガスクロマトグラフでガス試料を測定するとき
は、ガスクロマトグラフのガス試料導入口に複数個の電
磁弁を設け、制御装置８を介して電磁弁を選択すること
により任意のガス試料を切り換えてガスクロマトグラフ
に導入するようにすればよい。
は、ガスクロマトグラフのガス試料導入口に複数個の電
磁弁を設け、制御装置８を介して電磁弁を選択すること
により任意のガス試料を切り換えてガスクロマトグラフ
に導入するようにすればよい。
カラムの数や検出器の数などは任意に設定すればよい。
また本発明はガスクロマトグラフだけではなく、液体ク
ロマトグラフにも同様に適用することができる。
ロマトグラフにも同様に適用することができる。
（発明の効果） 本発明では複数の試料を試料導入機構に設定し、それら
の試料の情報を入力すれば各試料の最適測定条件を自動
的に決定し、全体の測定時間が最短になるように測定順
序も決定するようにしたので、分析機器の取扱いに不慣
れな人にも最適な分析条件で、かつ、最適な分析順序で
の測定を容易に行なうことができるようになる。
の試料の情報を入力すれば各試料の最適測定条件を自動
的に決定し、全体の測定時間が最短になるように測定順
序も決定するようにしたので、分析機器の取扱いに不慣
れな人にも最適な分析条件で、かつ、最適な分析順序で
の測定を容易に行なうことができるようになる。
第１図は本発明をガスクロマトグラフに適用する場合の
概要を示すブロック図、第２図は測定条件決定動作を示
すフローチャート図、第３図は測定動作を示すフローチ
ャート図、第４図は本発明をガスクロマトグラフに適用
した一実施例を示す構成図である。 ２……分析機器、６……試料導入装置、８……制御装
置、10……測定条件データベース、12……試料情報テー
ブル、14……推論部、16……入出力部、18……分析指示
装置。
概要を示すブロック図、第２図は測定条件決定動作を示
すフローチャート図、第３図は測定動作を示すフローチ
ャート図、第４図は本発明をガスクロマトグラフに適用
した一実施例を示す構成図である。 ２……分析機器、６……試料導入装置、８……制御装
置、10……測定条件データベース、12……試料情報テー
ブル、14……推論部、16……入出力部、18……分析指示
装置。
Claims (1)
- 【請求項１】分析機器、複数の試料から選択された試料
を分析機器に導入する試料導入装置、並びに分析機器の
分析条件や試料導入装置の動作を制御する制御装置を備
えた分析装置に設けられ、試料に対する最適測定条件を
記憶している測定条件データベースと、試料情報が入力
されると前記測定条件データベースからその試料に最適
な測定条件を決定し、後記試料情報テーブルへ記憶させ
るとともに、測定開始時には現在の測定条件から変更の
少ない順に試料測定順序を決定する推論部と、前記推論
部で決定された各試料の測定条件を記憶する試料情報テ
ーブルとを備え、前記分析装置の制御装置へ測定試料及
び分析条件を指示する分析指示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19970789A JPH06103295B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 分析装置の分析指示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19970789A JPH06103295B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 分析装置の分析指示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0363566A JPH0363566A (ja) | 1991-03-19 |
| JPH06103295B2 true JPH06103295B2 (ja) | 1994-12-14 |
Family
ID=16412273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19970789A Expired - Lifetime JPH06103295B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 分析装置の分析指示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06103295B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4154300B2 (ja) * | 2003-09-08 | 2008-09-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法 |
| KR100841792B1 (ko) | 2003-12-12 | 2008-06-27 | 우베 고산 가부시키가이샤 | 비닐·시스-폴리부타디엔 고무 및 이것을 이용한 부타디엔고무 조성물 |
| US7868103B2 (en) | 2006-05-22 | 2011-01-11 | Ube Industries, Ltd. | Method for producing polybutadiene |
| WO2014068786A1 (ja) * | 2012-11-05 | 2014-05-08 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ分析装置 |
| JP6054784B2 (ja) * | 2013-03-21 | 2016-12-27 | 日本電子株式会社 | 質量分析装置 |
| US10359405B2 (en) | 2014-06-12 | 2019-07-23 | Shimadzu Corporation | Analyzing-device controller |
| JP7138340B2 (ja) * | 2018-09-28 | 2022-09-16 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | クロマトグラフ、およびクロマトグラフの分析方法決定装置 |
-
1989
- 1989-07-31 JP JP19970789A patent/JPH06103295B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0363566A (ja) | 1991-03-19 |
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