JPH06103376A - 電荷画像走査装置 - Google Patents
電荷画像走査装置Info
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- JPH06103376A JPH06103376A JP3030841A JP3084191A JPH06103376A JP H06103376 A JPH06103376 A JP H06103376A JP 3030841 A JP3030841 A JP 3030841A JP 3084191 A JP3084191 A JP 3084191A JP H06103376 A JPH06103376 A JP H06103376A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/40—Picture signal circuits
- H04N1/409—Edge or detail enhancement; Noise or error suppression
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 電荷画像走査装置は、直列に配置され、ライ
ン方向に垂直に延在する走査方向に順次変位される光伝
導体（１）の電荷像を線状に走査し、関連した画素で放
電に応答する画像値を各画素に対し供給する複数の電位
計プローブ（２）を用いてＸ線照射中に局部強度の関数
として前もって局部的に均一に充電された光伝導体
（１）上に、生成される電荷画像を走査する。条痕状人
為結果を除去するために、画像値がアナログ／ディジタ
ル変換器（５）に印加され、変換された値は画像メモリ
（６）に蓄積され、画像ラインの隣る画素の画素値を低
域フィルタ処理し、走査方向に互いに隣接する画素の画
像値を高域フィルタ処理する信号処理器（７）が設けら
れる。 【効果】 画像の条痕が適切に除去される。
ン方向に垂直に延在する走査方向に順次変位される光伝
導体（１）の電荷像を線状に走査し、関連した画素で放
電に応答する画像値を各画素に対し供給する複数の電位
計プローブ（２）を用いてＸ線照射中に局部強度の関数
として前もって局部的に均一に充電された光伝導体
（１）上に、生成される電荷画像を走査する。条痕状人
為結果を除去するために、画像値がアナログ／ディジタ
ル変換器（５）に印加され、変換された値は画像メモリ
（６）に蓄積され、画像ラインの隣る画素の画素値を低
域フィルタ処理し、走査方向に互いに隣接する画素の画
像値を高域フィルタ処理する信号処理器（７）が設けら
れる。 【効果】 画像の条痕が適切に除去される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一列に配置され、ライ
ン方向に垂直に延在する走査方向に順次変位される光伝
導体の電荷像を線状に走査し、関連した画素で放電に応
答する画像値を各画素に対し供給する複数の電位計プロ
ーブを用いて、Ｘ線照射中に局部強度の関数として前も
って局部的に均一に充電された光伝導体上に生成される
電荷画像を走査する装置に係る。
ン方向に垂直に延在する走査方向に順次変位される光伝
導体の電荷像を線状に走査し、関連した画素で放電に応
答する画像値を各画素に対し供給する複数の電位計プロ
ーブを用いて、Ｘ線照射中に局部強度の関数として前も
って局部的に均一に充電された光伝導体上に生成される
電荷画像を走査する装置に係る。
【０００２】
【従来の技術】この種の装置は、西独公開特許明細書第
３５２９１０８号及びそこで引用する文献から知られて
いる。光導電体の面上に生成され、Ｘ線強度の空間分布
に本質的に応答する二次元電荷像は電位計装置により走
査される。電位計装置は一列に配列される複数の電位計
プローブからなる。電荷像の走査中、電荷像の第１のラ
インが最初に走査される。次に、光伝導体は、列方向に
垂直の走査方向に１ラインの略幅に亘って電位計プロー
ブに関して変位される。次に第２のラインが走査され
る。この動作は、光導電体の全電荷像が走査されるまで
繰り返される。電位計プローブによる走査中に発生した
電気信号は、増幅され、更なる信号処理に用いられる。
３５２９１０８号及びそこで引用する文献から知られて
いる。光導電体の面上に生成され、Ｘ線強度の空間分布
に本質的に応答する二次元電荷像は電位計装置により走
査される。電位計装置は一列に配列される複数の電位計
プローブからなる。電荷像の走査中、電荷像の第１のラ
インが最初に走査される。次に、光伝導体は、列方向に
垂直の走査方向に１ラインの略幅に亘って電位計プロー
ブに関して変位される。次に第２のラインが走査され
る。この動作は、光導電体の全電荷像が走査されるまで
繰り返される。電位計プローブによる走査中に発生した
電気信号は、増幅され、更なる信号処理に用いられる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この種の装置におい
て、個々の電位計プローブは同じ感度を有するのはまれ
であり、これにより個々のプローブが異なる強度の信号
を供給するという問題がある。その結果、電荷像を完全
に走査した後に形成された画像に条痕が生じる。同様な
問題は、電位計プローブと、種々の走査ラインの領域の
光伝導体との間の距離の差により生じる。完全に同一な
距離が電位計にプローブと、全ての走査ライン用光伝導
体の面との間に生じるよう電位計プローブに関する光伝
導体の正確な変位は特にそのような光伝導体の寸法及び
重量を考慮すると、ほとんど現実には実行できない。こ
れらの問題も形成された画像に条痕を生ずる。プローブ
に続く増幅器の低周波数雑音によっても画像に条痕が生
ずる。
て、個々の電位計プローブは同じ感度を有するのはまれ
であり、これにより個々のプローブが異なる強度の信号
を供給するという問題がある。その結果、電荷像を完全
に走査した後に形成された画像に条痕が生じる。同様な
問題は、電位計プローブと、種々の走査ラインの領域の
光伝導体との間の距離の差により生じる。完全に同一な
距離が電位計にプローブと、全ての走査ライン用光伝導
体の面との間に生じるよう電位計プローブに関する光伝
導体の正確な変位は特にそのような光伝導体の寸法及び
重量を考慮すると、ほとんど現実には実行できない。こ
れらの問題も形成された画像に条痕を生ずる。プローブ
に続く増幅器の低周波数雑音によっても画像に条痕が生
ずる。
【０００４】本発明の目的は上記の問題が少なくとも緩
和される上記記載の種類の装置を構成することである。
和される上記記載の種類の装置を構成することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本目的は、画像値がアナ
ログ／ディジタル変換器に印加される、変換された値が
画像メモリに蓄積され、画像ラインの隣る画素の画像値
を低域フィルタ処理し、走査方向の互いに隣接する画素
の画像値を高域フィルタ処理する信号処理器を設ける本
発明により達成される。
ログ／ディジタル変換器に印加される、変換された値が
画像メモリに蓄積され、画像ラインの隣る画素の画像値
を低域フィルタ処理し、走査方向の互いに隣接する画素
の画像値を高域フィルタ処理する信号処理器を設ける本
発明により達成される。
【０００６】ディジタル化された画像値は画像メモリに
蓄積される。全ての画像値が蓄積された後、個々の画素
の画像値は信号処理器により処理される。
蓄積される。全ての画像値が蓄積された後、個々の画素
の画像値は信号処理器により処理される。
【０００７】上記条痕は常にライン方向即ち走査方向に
垂直な方向に生じる。信号処理器は、画像メモリに蓄積
された画素の画像値を処理し、これによりラインの隣る
画素が低域フィルタ処理され、走査方向に互いに隣接す
る画素の画像値が高域フィルタ処理され、走査方向のこ
の条痕が除去される。
垂直な方向に生じる。信号処理器は、画像メモリに蓄積
された画素の画像値を処理し、これによりラインの隣る
画素が低域フィルタ処理され、走査方向に互いに隣接す
る画素の画像値が高域フィルタ処理され、走査方向のこ
の条痕が除去される。
【０００８】この処理は適切に画像の条痕を除去する。
その理由は、走査方向の条痕は、プローブ感度又は同様
な現像を偏向することにより生じ、出来るだけ多く除去
されるべき低周波数成分のみを意味するからである。こ
れは局部に実行された上記フィルタ機能により達成され
うる。
その理由は、走査方向の条痕は、プローブ感度又は同様
な現像を偏向することにより生じ、出来るだけ多く除去
されるべき低周波数成分のみを意味するからである。こ
れは局部に実行された上記フィルタ機能により達成され
うる。
【０００９】原則的に、２つのフィルタ機能は又画像の
有効信号に本質的に影響する。しかし、医療適用Ｘ線画
像がライン又は 走査方向に正確にそして専ら延在する
かなり精密な構造を殆ど含まないので、関連した画像情
報の殆どは失われない。更に、フィルタの設計は、重要
な画像情報の影響を最小にするため関連した分野の適用
に適合されるべきである。
有効信号に本質的に影響する。しかし、医療適用Ｘ線画
像がライン又は 走査方向に正確にそして専ら延在する
かなり精密な構造を殆ど含まないので、関連した画像情
報の殆どは失われない。更に、フィルタの設計は、重要
な画像情報の影響を最小にするため関連した分野の適用
に適合されるべきである。
【００１０】本発明の一例において、フィルタ関数は、
信号処理器及び第１の画像メモリに蓄積された信号値が
信号処理器を用いてライン方向に高域フィルタ処理さ
れ、第２の画像メモリでバッファされる第２の画像メモ
リにより実行され、バッファされた値が信号処理器によ
り走査方向に低域フィルタ処理され、第２の画像メモリ
に再びバッファされ、全ての値の計算の後、第２の画像
メモリにバッファされた値は、第１の画像メモリに蓄積
された値から減算される。
信号処理器及び第１の画像メモリに蓄積された信号値が
信号処理器を用いてライン方向に高域フィルタ処理さ
れ、第２の画像メモリでバッファされる第２の画像メモ
リにより実行され、バッファされた値が信号処理器によ
り走査方向に低域フィルタ処理され、第２の画像メモリ
に再びバッファされ、全ての値の計算の後、第２の画像
メモリにバッファされた値は、第１の画像メモリに蓄積
された値から減算される。
【００１１】第１の画像メモリに初めに蓄積された元の
画像値は、画像ラインの隣る画素の画像値が高域フィル
タ処理されるように信号処理器により処理される。従っ
て、得られた画像値は第２の画像メモリでバッファされ
る。第２の画像メモリでバッファされた値を用いて、走
査方向に互いに隣接するが画素の画像値は低域フィルタ
処理される。従って、得られた値は第２の画像メモリで
再びバッファされ、以前にバッファされた値は消去され
る。最後に、低域濾波動作を実行した後、第２の画像メ
モリに蓄積された値は第１の画像メモリに蓄積された元
の値から減算される。
画像値は、画像ラインの隣る画素の画像値が高域フィル
タ処理されるように信号処理器により処理される。従っ
て、得られた画像値は第２の画像メモリでバッファされ
る。第２の画像メモリでバッファされた値を用いて、走
査方向に互いに隣接するが画素の画像値は低域フィルタ
処理される。従って、得られた値は第２の画像メモリで
再びバッファされ、以前にバッファされた値は消去され
る。最後に、低域濾波動作を実行した後、第２の画像メ
モリに蓄積された値は第１の画像メモリに蓄積された元
の値から減算される。
【００１２】従って、本方法により、高域フィルタ処理
が低域フィルタ処理により実現されるか、又はその逆で
ある。例えば高域フィルタ処理を実現するのに、初めに
低域フィルタ処理が実現されえ、その後、形成された値
が元の値から減算されるので、上記のことは可能であ
る。その結果、高域フィルタ処理が得られる。本発明に
よる装置では、２つの処理が順次実行され、従って計算
された新しい値がバッファされる。従って、計算された
値は、２つの処理を実行した後だけ元の値から減算され
る。濾波動作が実行される順番は実際に不適切であり、
従って１例によれば、初めに濾波動作が走査方向に実行
され、次にライン方向の濾波動作が続く。
が低域フィルタ処理により実現されるか、又はその逆で
ある。例えば高域フィルタ処理を実現するのに、初めに
低域フィルタ処理が実現されえ、その後、形成された値
が元の値から減算されるので、上記のことは可能であ
る。その結果、高域フィルタ処理が得られる。本発明に
よる装置では、２つの処理が順次実行され、従って計算
された新しい値がバッファされる。従って、計算された
値は、２つの処理を実行した後だけ元の値から減算され
る。濾波動作が実行される順番は実際に不適切であり、
従って１例によれば、初めに濾波動作が走査方向に実行
され、次にライン方向の濾波動作が続く。
【００１３】このアプローチの利点は、特に複雑な計算
なしで補正が実現されることからなる。
なしで補正が実現されることからなる。
【００１４】本発明の更なる例では、第２の画像メモリ
に蓄積された値は、第１の画像メモリに蓄積された画像
値から減算される以前に、信号処理器を用いて、濾波効
果を調整するのに役立つ換算係数により逓倍される。
に蓄積された値は、第１の画像メモリに蓄積された画像
値から減算される以前に、信号処理器を用いて、濾波効
果を調整するのに役立つ換算係数により逓倍される。
【００１５】上記のような濾波の度合は、画像の目的又
は条痕に基づく換算係数により調整されうる。第２の画
像メモリに蓄積された画像値が第１の画像メモリに蓄積
された値から減算される前に、該値をある所望の範囲ま
で減少でき、従って濾波効果を調整できる換算係数の処
理を受けることで、上記のことは望ましく実行される。
は条痕に基づく換算係数により調整されうる。第２の画
像メモリに蓄積された画像値が第１の画像メモリに蓄積
された値から減算される前に、該値をある所望の範囲ま
で減少でき、従って濾波効果を調整できる換算係数の処
理を受けることで、上記のことは望ましく実行される。
【００１６】本発明の更なる例では、換算係数の大きさ
は、大きく露出した画像領域で比較的小さくなるような
画像値で表わされる画像振幅の関数として選択される。
は、大きく露出した画像領域で比較的小さくなるような
画像値で表わされる画像振幅の関数として選択される。
【００１７】通常、比較的高い信号レベルを有する顕著
に関連した画像値を特に濾波する負の効果を最小化する
よう、換算係数は、望ましくは画像値、即ち画像振幅の
大きさに従って選択される。次に濾波は、画像振幅が増
すにつれ減少する。
に関連した画像値を特に濾波する負の効果を最小化する
よう、換算係数は、望ましくは画像値、即ち画像振幅の
大きさに従って選択される。次に濾波は、画像振幅が増
すにつれ減少する。
【００１８】本発明の更なる例では、換算係数の大きさ
は、換算係数が大きい信号勾配の領域で比較的小さいよ
うな画像値の近傍で信号変化に依存して選択される。
は、換算係数が大きい信号勾配の領域で比較的小さいよ
うな画像値の近傍で信号変化に依存して選択される。
【００１９】特に信号勾配が濾波動作により出来る限り
小さく影響されるべきなので、換算係数も信号変化に従
って選択されうる。このために、信号の変化は幾つかの
隣りに位置した画素に対して検討される。信号勾配が計
算さるべき画素領域で生じる場合は、換算係数は、信号
勾配の影響が最小になるようこの領域で小さく選択され
うる。
小さく影響されるべきなので、換算係数も信号変化に従
って選択されうる。このために、信号の変化は幾つかの
隣りに位置した画素に対して検討される。信号勾配が計
算さるべき画素領域で生じる場合は、換算係数は、信号
勾配の影響が最小になるようこの領域で小さく選択され
うる。
【００２０】本発明の更なる例では、フィルタ機能は２
つの一次元フィルタ機能を用いて実現される。局部的に
実行されたフィルタ処理自体は二次元濾波動作を表わ
す。しかし、技術的複雑性を最小化する為、濾波動作は
望ましくは、容易に実現されうる２つの一次元フィルタ
機能を用いて実行される。
つの一次元フィルタ機能を用いて実現される。局部的に
実行されたフィルタ処理自体は二次元濾波動作を表わ
す。しかし、技術的複雑性を最小化する為、濾波動作は
望ましくは、容易に実現されうる２つの一次元フィルタ
機能を用いて実行される。
【００２１】
【実施例】本発明による実施例を以下図面を参照して詳
細に説明する。
細に説明する。
【００２２】図１に概略的に示す装置は、Ｘ線照射前に
均一的に充電され（図示せず）、Ｘ線の強度に依存して
Ｘ線照射中に放電される光伝導体１からなる。この動作
に続いて、光伝導体の面は、電荷像を含むように局部的
に別々に放電される。
均一的に充電され（図示せず）、Ｘ線の強度に依存して
Ｘ線照射中に放電される光伝導体１からなる。この動作
に続いて、光伝導体の面は、電荷像を含むように局部的
に別々に放電される。
【００２３】この電荷像は複数の電位計プローブ２によ
り走査される。単に図示されている支持体３上に一列に
配列される多くの電位計プローブが設けられる。光伝導
体１が走査される際、初めに電荷像の１つのラインが走
査され、すなわち、プローブ２により供給された全ての
信号が読出される。続いて、光伝導体１は、制御ユニッ
ト４で制御される図示されてない装置を用いて、走査方
向の一つの走査ラインの略幅に亘ってプローブ２に対し
て変位される。従って、この変位はプローブ２用支持体
３に平行に延在するライン方向に垂直になされる。プロ
ーブに対して光伝導体を変位した後、光伝導体１に存在
する電荷像の他のラインが電位計プローブ２により走査
される。この処理は、全電荷像が走査されるまで繰り返
される。走査動作中に読出されたプローブ２の信号は、
或いは増幅され、アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ変換器）
５に印加される。かくデジタル化されたデータは画像メ
モリ６に書込まれる。光伝導体１の電荷像を完全に走査
した後、全ての画素の画像値は画像メモリ６に存在す
る。例えば、プローブ２の一つが、他のプローブと異な
る感度を有する場合、関連したプローブにより供給され
た信号は他のプローブで供給された信号より高いか又は
低くなる。結局、これは画像メモリ６に蓄積された信号
を読出すことにより形成された画像に、走査方向、即ち
ライン方向に横方向に条痕が生じることを意味する。
り走査される。単に図示されている支持体３上に一列に
配列される多くの電位計プローブが設けられる。光伝導
体１が走査される際、初めに電荷像の１つのラインが走
査され、すなわち、プローブ２により供給された全ての
信号が読出される。続いて、光伝導体１は、制御ユニッ
ト４で制御される図示されてない装置を用いて、走査方
向の一つの走査ラインの略幅に亘ってプローブ２に対し
て変位される。従って、この変位はプローブ２用支持体
３に平行に延在するライン方向に垂直になされる。プロ
ーブに対して光伝導体を変位した後、光伝導体１に存在
する電荷像の他のラインが電位計プローブ２により走査
される。この処理は、全電荷像が走査されるまで繰り返
される。走査動作中に読出されたプローブ２の信号は、
或いは増幅され、アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ変換器）
５に印加される。かくデジタル化されたデータは画像メ
モリ６に書込まれる。光伝導体１の電荷像を完全に走査
した後、全ての画素の画像値は画像メモリ６に存在す
る。例えば、プローブ２の一つが、他のプローブと異な
る感度を有する場合、関連したプローブにより供給され
た信号は他のプローブで供給された信号より高いか又は
低くなる。結局、これは画像メモリ６に蓄積された信号
を読出すことにより形成された画像に、走査方向、即ち
ライン方向に横方向に条痕が生じることを意味する。
【００２４】しかし、かかる条痕は又例えば種々のプロ
ーブと、光伝導体１との間の距離の差又はプローブ信号
の低周波数変動（雑音）により生じうる。
ーブと、光伝導体１との間の距離の差又はプローブ信号
の低周波数変動（雑音）により生じうる。
【００２５】この条痕は、画像ラインの毎回隣る画素の
画像値が低域フィルタ処理を受けることで少なくとも緩
和されうる。しかし、走査方向に互いに隣接する画素の
画像値は高域フィルタ処理を受ける。高域フィルタ処理
は低域フィルタ処理により実現される又その逆である。
走査方向に互いに隣接する画素の画像値間で実行さるべ
き高域フィルタ動作がなされ、これにより先ず低域フィ
ルタ動作が信号処理器７によりなされる。従って、得ら
れた画像値は先ず第２の画像メモリ８にバッファされ
る。続いて画像ラインで互いに隣接する画素の画像値
は、これらの画素の画像値が高域フィルタ処理を受ける
ことによって低域濾波される。このために、第２の画像
メモリ８に蓄積された画像値が使用されうる。計算され
た画像値は再び第２の画像メモリ８でバッファされる。
かく得られ第２の画像メモリ８に蓄積された新たに計算
された画像値は、信号処理器７を用いて、第１の画像メ
モリ６に蓄積された元の画像値から減算される。減算を
介して得られた新画像値は、濾波された画像値を表わ
し、第２の画像メモリ８に蓄積され、そこから更に処理
又は例えばモニタに表示するようフェッチされうる。
画像値が低域フィルタ処理を受けることで少なくとも緩
和されうる。しかし、走査方向に互いに隣接する画素の
画像値は高域フィルタ処理を受ける。高域フィルタ処理
は低域フィルタ処理により実現される又その逆である。
走査方向に互いに隣接する画素の画像値間で実行さるべ
き高域フィルタ動作がなされ、これにより先ず低域フィ
ルタ動作が信号処理器７によりなされる。従って、得ら
れた画像値は先ず第２の画像メモリ８にバッファされ
る。続いて画像ラインで互いに隣接する画素の画像値
は、これらの画素の画像値が高域フィルタ処理を受ける
ことによって低域濾波される。このために、第２の画像
メモリ８に蓄積された画像値が使用されうる。計算され
た画像値は再び第２の画像メモリ８でバッファされる。
かく得られ第２の画像メモリ８に蓄積された新たに計算
された画像値は、信号処理器７を用いて、第１の画像メ
モリ６に蓄積された元の画像値から減算される。減算を
介して得られた新画像値は、濾波された画像値を表わ
し、第２の画像メモリ８に蓄積され、そこから更に処理
又は例えばモニタに表示するようフェッチされうる。
【００２６】上記の局部的に実行された濾波動作は算術
的に下記の如く示されうる。濾波前にマトリックスに存
在する画像値がＳ（ｚ，ａ）で示される際、濾波された
画像値Ｓ’（ｚ，ａ）は下記の如く表わされうる。ここ
でＺはライン方向の位置周波数を示し、ａは走査方向の
位置周波数を示す。
的に下記の如く示されうる。濾波前にマトリックスに存
在する画像値がＳ（ｚ，ａ）で示される際、濾波された
画像値Ｓ’（ｚ，ａ）は下記の如く表わされうる。ここ
でＺはライン方向の位置周波数を示し、ａは走査方向の
位置周波数を示す。
【００２７】Ｓ’（ｚ，ａ）＝Ｓ（ｚ，ａ）−Ｇ（Ｋ）
* ＦS （ｚ，ａ）＊Ｓ（ｚ，ａ） この式で、ＦS （ｚ，ａ）はフィルタ関数であり、Ｇ
（Ｋ）は換算係数である。フィルタ関数ＦS （ｚ，ａ）
は下記の如く表わされうる： ＦS （ｚ，ａ）＝ＦH （Ｚ）＊ＦT （ａ） これは、ライン方向に互いに隣接する画像値が高域フィ
ルタ処理を受け、ライン方向に垂直に伸びる走査方向
に、それらは低域フィルタ処理を受けることを示す。か
かる２次元濾波は、２つの一次元濾波動作を用いて実行
されうる。
* ＦS （ｚ，ａ）＊Ｓ（ｚ，ａ） この式で、ＦS （ｚ，ａ）はフィルタ関数であり、Ｇ
（Ｋ）は換算係数である。フィルタ関数ＦS （ｚ，ａ）
は下記の如く表わされうる： ＦS （ｚ，ａ）＝ＦH （Ｚ）＊ＦT （ａ） これは、ライン方向に互いに隣接する画像値が高域フィ
ルタ処理を受け、ライン方向に垂直に伸びる走査方向
に、それらは低域フィルタ処理を受けることを示す。か
かる２次元濾波は、２つの一次元濾波動作を用いて実行
されうる。
【００２８】図２は例示としてかかる２つの一次元フィ
ルタ関数を示す。本実施例では、両フィルタ関数は、そ
れらが影響しないが、極端な場合に画像値Ｓを完全に抑
圧するよう選択される。これらのフィルタ関数の選択
は、例えば用いられる光伝導体、プローブの多くのパラ
メータ、プローブと光伝導体との間の距離、所望の回転
等に依存し、特に適用可能な選択は説明しない。しか
し、ライン方向に互いに隣接する画素を高域フィルタ処
理し、走査方向に互いに隣接する画素を低域フィルタ処
理することが図２から明らかである。これらのフィルタ
動作により発生した値は初めの値から減算され、これに
より結果的にまったく逆の濾波が生じる。即ち、低域濾
波動作はライン方向に生じ、高域濾波動作はライン方向
に垂直に延在する走査方向に生じる。
ルタ関数を示す。本実施例では、両フィルタ関数は、そ
れらが影響しないが、極端な場合に画像値Ｓを完全に抑
圧するよう選択される。これらのフィルタ関数の選択
は、例えば用いられる光伝導体、プローブの多くのパラ
メータ、プローブと光伝導体との間の距離、所望の回転
等に依存し、特に適用可能な選択は説明しない。しか
し、ライン方向に互いに隣接する画素を高域フィルタ処
理し、走査方向に互いに隣接する画素を低域フィルタ処
理することが図２から明らかである。これらのフィルタ
動作により発生した値は初めの値から減算され、これに
より結果的にまったく逆の濾波が生じる。即ち、低域濾
波動作はライン方向に生じ、高域濾波動作はライン方向
に垂直に延在する走査方向に生じる。
【００２９】更に、図１の第１の画像メモリ６に蓄積さ
れた初めに決められた画像値から減算されたフィルタ値
を換算係数Ｇ（Ｋ）処理し、それにより濾波の度合が影
響されうる。
れた初めに決められた画像値から減算されたフィルタ値
を換算係数Ｇ（Ｋ）処理し、それにより濾波の度合が影
響されうる。
【００３０】換算係数Ｇ（Ｋ）は種々の方法で選択され
うる。換算係数がＧ（Ｋ）＝１−Ｋと定義される場合、
Ｋは種々の方法で選択されうる。例えば、換算係数が画
像振幅に従い選択されるべき場合、
うる。換算係数がＧ（Ｋ）＝１−Ｋと定義される場合、
Ｋは種々の方法で選択されうる。例えば、換算係数が画
像振幅に従い選択されるべき場合、
【００３１】
【数１】
【００３２】ここで、Ｋmax は最大画像振幅である。こ
の場合に、係数Ｋは、画像振幅が大きくなるほど増し、
これにより元の画像値から減算されたフィルタ値が減少
する結果、換算係数Ｇ（Ｋ）は画像振幅が増すにつれ減
少し、これにより結局フィルタ効果は減少する。
の場合に、係数Ｋは、画像振幅が大きくなるほど増し、
これにより元の画像値から減算されたフィルタ値が減少
する結果、換算係数Ｇ（Ｋ）は画像振幅が増すにつれ減
少し、これにより結局フィルタ効果は減少する。
【００３３】しかし、換算係数を選択するのに画像輝度
だけを考慮するのみならず、画像値が計算される画素の
領域での信号の変化を考慮することも可能である。例え
ば、信号勾配が計算さるべき画素領域で生じる場合、こ
の勾配は出来るだけ小さく作用されるべきである。これ
は下式のようにＫを選択することにより考慮されうる： Ｋ1 ＝ａ＊（Ｓ（ｚ，ａ）−Ｓ（ｚ＋ｄ），ａ）） ここで、係数は、差により示される勾配振幅を評価する
のに役立ち、ｄは勾配振幅が考慮されうるライン方向に
画素距離を考慮する。
だけを考慮するのみならず、画像値が計算される画素の
領域での信号の変化を考慮することも可能である。例え
ば、信号勾配が計算さるべき画素領域で生じる場合、こ
の勾配は出来るだけ小さく作用されるべきである。これ
は下式のようにＫを選択することにより考慮されうる： Ｋ1 ＝ａ＊（Ｓ（ｚ，ａ）−Ｓ（ｚ＋ｄ），ａ）） ここで、係数は、差により示される勾配振幅を評価する
のに役立ち、ｄは勾配振幅が考慮されうるライン方向に
画素距離を考慮する。
【００３４】更に勾配幅を考慮するのに、一種の「記
憶」、即ち環境のコントラスト勾配の後効果を考慮しう
る。これは、Ｋ1 の前もって決められた値が次の値、こ
の繰り返しの重み付けを表わす係数ｂを考慮して実現さ
れうる。次に下式が得られる： Ｋ2 ＝ａ＊（Ｓ（ｚ，ａ）−Ｓ（ｚ＋ｄ，ａ））＋ｂ＊
Ｋ2 この方法で、Ｋが選択される場合、隣る領域ｄの前もっ
て決定された勾配振幅と同様の最近の勾配振幅が考慮さ
れる。従って、フィルタ効果は比較的に強い信号変化の
領域で減少され、ほんのわずかな信号変化の領域で、比
較的高いフィルタ効果が生じるようになる。従って、画
像人為結果は、ほとんど信号を発生しないような領域で
特に大きく抑圧される。
憶」、即ち環境のコントラスト勾配の後効果を考慮しう
る。これは、Ｋ1 の前もって決められた値が次の値、こ
の繰り返しの重み付けを表わす係数ｂを考慮して実現さ
れうる。次に下式が得られる： Ｋ2 ＝ａ＊（Ｓ（ｚ，ａ）−Ｓ（ｚ＋ｄ，ａ））＋ｂ＊
Ｋ2 この方法で、Ｋが選択される場合、隣る領域ｄの前もっ
て決定された勾配振幅と同様の最近の勾配振幅が考慮さ
れる。従って、フィルタ効果は比較的に強い信号変化の
領域で減少され、ほんのわずかな信号変化の領域で、比
較的高いフィルタ効果が生じるようになる。従って、画
像人為結果は、ほとんど信号を発生しないような領域で
特に大きく抑圧される。
【図１】本発明による装置のブロック系統図である。
【図２】２つの一次元フィルタ関数の図である。
【図３】画像振幅の関数として換算係数の選択を示す図
である。
である。
１ 光伝導体 ２ 電位計プローブ ３ 支持体 ４ 制御ユニット ５ アナログ／ディジタル変換器 ６，８ 画像メモリ ７ 信号処理器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｎ 5/32 (72)発明者 ステファン ルップ ドイツ連邦共和国 5190 シュトルベルク −ブライニッヒ ベルトホルトシュトラー セ 14番地 (72)発明者 ウルリッヒ シーベル ドイツ連邦共和国 5100 アーヘン ツェ ーントヴェーク 60番地
Claims (8)
- 【請求項１】 一列に配置され、ライン方向に垂直に延
在する走査方向に順次変位される光伝導体（１）の電荷
像を線状に走査し、関連した画素で放電に応答する画像
値を各画素に対し供給する複数の電位計プローブ（２）
を用いて、Ｘ線照射中に局部強度の関数として前もって
局部的に均一に充電された光伝導体（１）上に生成され
る電荷画像を走査する装置であって、画像値がアナログ
／ディジタル変換器に印加され、変換された値が画像メ
モリ（６）に蓄積され、画像ラインの隣る画素値を低域
フィルタ処理し、走査方向に互いに隣接する画素値を高
域フィルタ処理する信号処理器（７）を設けたことを特
徴とする装置。 - 【請求項２】 フィルタ関数は、信号処理器（７）及び
第１の画像メモリに蓄積された信号値が信号処理器
（７）によりライン方向に高域フィルタ処理され、第２
の画像メモリ（８）でバッファされる第２の画像メモリ
（８）により実行され、信号処理器（７）はバッファさ
れた値を走査方向に低域フィルタ処理し、これらの全て
再び第２のイメージメモリでバッファし、全ての値を計
算した後に、第２の画像メモリ（８）でバッファされた
値は第１の画像メモリ（６）に蓄積された値から減算さ
れることを特徴とする請求項１の装置。 - 【請求項３】 フィルタ関数は、信号処理器（７）及び
第１の画像メモリに蓄積された信号値が、信号処理器
（７）を用いて、走査方向に低域フィルタ処理され、第
２の画像メモリ（８）にバッファされる第２の画像メモ
リ（８）により実行され信号処理器（７）はライン方向
にこれらのバッファされた値を高域フィルタ処理し、値
を第２の画像メモリで再びバッファし、全ての値を計算
した後に、第２の画像メモリ（８）でバッファされた値
は第１の画像メモリ（６）に蓄積された値から減算され
ることを特徴とする請求項１の装置。 - 【請求項４】 第２の画像メモリ（８）に蓄積された値
は、第１の画像メモリに蓄積された画像値から減算され
る前に信号処理器でフィルタ効果を調整するのに役立つ
換算係数で、逓倍されることを特徴とする請求項２又は
３の装置。 - 【請求項５】 換算係数の値は、大きく露出された画像
領域で比較的小さくなるよう画像値で表わされる。画像
振幅に従がい選択されることを特徴とする請求項４の装
置。 - 【請求項６】 換算係数の値は、換算係数が大きく信号
勾配の領域で比較的小さく選択されるよう画像値の囲り
の領域の信号変化に従って選択されることを特徴とする
請求項４の装置。 - 【請求項７】 フィルタ関数は２つの一次元フィルタ関
数により実現されることを特徴とする請求項１乃至６の
うちいずれか一項記載の装置。 - 【請求項８】 光伝導体の照射用のＸ線源を有する請求
項１乃至７のうちいずれか一項記載のＸ線装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4006181A DE4006181A1 (de) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | Anordnung zum abtasten einer roentgenaufnahme |
| DE40061817 | 1990-02-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06103376A true JPH06103376A (ja) | 1994-04-15 |
| JP2962527B2 JP2962527B2 (ja) | 1999-10-12 |
Family
ID=6401074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3030841A Expired - Lifetime JP2962527B2 (ja) | 1990-02-28 | 1991-02-26 | 電荷画像走査装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6058220A (ja) |
| EP (1) | EP0444737B1 (ja) |
| JP (1) | JP2962527B2 (ja) |
| DE (2) | DE4006181A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008508800A (ja) * | 2004-07-30 | 2008-03-21 | ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル．ピー． | 所望のゲイン及び係数による画素調整方法 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4330366A1 (de) * | 1993-09-08 | 1995-03-09 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zum Erzeugen von Röntgenaufnahmen und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
| US8923956B2 (en) | 2001-12-07 | 2014-12-30 | The University Of Sussex | Electrodynamic sensors and applications thereof |
| GB0129390D0 (en) * | 2001-12-07 | 2002-01-30 | Clark Terrence D | Electrodynamic sensors and applications thereof |
| US7860334B2 (en) * | 2006-02-09 | 2010-12-28 | Qualcomm Incorporated | Adaptive image filter for filtering image information |
| JP5538684B2 (ja) * | 2008-03-13 | 2014-07-02 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、プログラム、及び記憶媒体 |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4328425A (en) * | 1980-08-04 | 1982-05-04 | Xerox Corporation | Filter for image pixels |
| DE3417386A1 (de) * | 1984-05-10 | 1985-11-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Fernseheinrichtung mit filtermitteln mit ortsfrequenter hochpasscharakteristik |
| US4677461A (en) * | 1984-07-26 | 1987-06-30 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Contour detecting filter |
| US4706113A (en) * | 1985-02-18 | 1987-11-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Contour detecting filter device using PAL samples of composite video signals without separation of luminance signals therefrom |
| DE3529108A1 (de) * | 1985-08-14 | 1987-02-26 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zur erzeugung einer roentgenaufnahme mittels eines fotoleiters und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
| US4821337A (en) * | 1985-10-30 | 1989-04-11 | Alm Ake W | Radiation scanner uniformity system |
| US4789890A (en) * | 1985-12-05 | 1988-12-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Judgement circuit and adaptive filter incorporating the same |
| DE3629409C2 (de) * | 1986-08-29 | 1994-02-17 | Agfa Gevaert Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Kontrastbewertung bei der elektronischen Bildverarbeitung |
| US4954885A (en) * | 1987-02-25 | 1990-09-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Filter for separating luminance and chrominance signals from composite color television signal |
| US4908697A (en) * | 1987-07-24 | 1990-03-13 | North American Philips Corporation | Two-line mac high definition television system |
| US4999701A (en) * | 1987-11-17 | 1991-03-12 | North American Philips Corporation | High definition NTSC compatible television system with increased horizontal bandwidth and reduced color artifacts |
| DE3817027A1 (de) * | 1988-05-19 | 1989-11-30 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur erzeugung einer roentgenaufnahme mittels eines photoleiters und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
| US4912569A (en) * | 1989-01-24 | 1990-03-27 | Eastman Kodak Company | Method for thresholding an image signal |
| US5003618A (en) * | 1989-07-14 | 1991-03-26 | University Of Pittsburgh Of The Commonwealth System Of Higher Education | Automatic adaptive anisotropic digital filtering and biasing of digitized images |
-
1990
- 1990-02-28 DE DE4006181A patent/DE4006181A1/de not_active Withdrawn
-
1991
- 1991-02-20 EP EP91200358A patent/EP0444737B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-02-20 DE DE59106237T patent/DE59106237D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-02-26 JP JP3030841A patent/JP2962527B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-11-24 US US08/157,842 patent/US6058220A/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008508800A (ja) * | 2004-07-30 | 2008-03-21 | ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル．ピー． | 所望のゲイン及び係数による画素調整方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2962527B2 (ja) | 1999-10-12 |
| DE59106237D1 (de) | 1995-09-21 |
| EP0444737A2 (de) | 1991-09-04 |
| US6058220A (en) | 2000-05-02 |
| DE4006181A1 (de) | 1991-08-29 |
| EP0444737A3 (en) | 1992-04-29 |
| EP0444737B1 (de) | 1995-08-16 |
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