JPH06105296B2 - Ｅｃｔ装置の散乱線補正法 - Google Patents
Ｅｃｔ装置の散乱線補正法Info
- Publication number
- JPH06105296B2 JPH06105296B2 JP61232452A JP23245286A JPH06105296B2 JP H06105296 B2 JPH06105296 B2 JP H06105296B2 JP 61232452 A JP61232452 A JP 61232452A JP 23245286 A JP23245286 A JP 23245286A JP H06105296 B2 JPH06105296 B2 JP H06105296B2
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- JP
- Japan
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- data
- scattered
- radiation
- correction
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- Nuclear Medicine (AREA)
Description
この発明は、放射線同位体（RI）で標識された化合物を
患者に投与して、その２次元的な分布を断層像として得
るECT装置（エミッション型コンピュータ断層撮影装
置）に関し、とくにその散乱線によって誤差を生じたデ
ータを補正する方法に関する。
患者に投与して、その２次元的な分布を断層像として得
るECT装置（エミッション型コンピュータ断層撮影装
置）に関し、とくにその散乱線によって誤差を生じたデ
ータを補正する方法に関する。
患者に投与された標識化合物から放出される放射線は、
患者身体内を通過して外部に出るため、身体内で吸収さ
れて減衰したり、散乱されて誤った情報を提供したりす
ることにもなる。これらを補正するための方法が種々模
索されているが、なかでも散乱線の補正法は確立されて
いず、いろいろと試みられている。 たとえば、PET（ポジトロンECT）の場合、リング状検出
器配列の中に、RIを含む部分と含まない部分とを有する
ファントムを配置し、１つのプロファイルデータをとっ
てみると、本来RIが存在しない部分にも散乱線のために
誤って得られたデータが存在していることが分る。そこ
で、従来では、RI不存在部分のデータが散乱線による誤
ったデータのみであるとして、この部分のデータの平均
値を求め、この平均値をプロファイルデータの全体から
一律に差し引き演算して散乱線補正することなどが行な
われている。
患者身体内を通過して外部に出るため、身体内で吸収さ
れて減衰したり、散乱されて誤った情報を提供したりす
ることにもなる。これらを補正するための方法が種々模
索されているが、なかでも散乱線の補正法は確立されて
いず、いろいろと試みられている。 たとえば、PET（ポジトロンECT）の場合、リング状検出
器配列の中に、RIを含む部分と含まない部分とを有する
ファントムを配置し、１つのプロファイルデータをとっ
てみると、本来RIが存在しない部分にも散乱線のために
誤って得られたデータが存在していることが分る。そこ
で、従来では、RI不存在部分のデータが散乱線による誤
ったデータのみであるとして、この部分のデータの平均
値を求め、この平均値をプロファイルデータの全体から
一律に差し引き演算して散乱線補正することなどが行な
われている。
しかしながら、上記の従来の一例として示した補正法で
は、単に一定値を一律に差し引くというだけであるから
精度が悪いという問題がある。 また、スライス面（データ収集面）外にRIが分布する場
合、それに起因する散乱線成分によって誤差が生じ、こ
れが実際上大きな問題となっているが、この問題につい
ては全く無力である。 この発明は、スライス面内のRIによる散乱線成分だけで
なくスライス面外に分布するRIに起因する散乱線成分を
もあわせて見積もり、これらを補正することのできる、
ECT装置の散乱線補正法を提供することを目的とする。
は、単に一定値を一律に差し引くというだけであるから
精度が悪いという問題がある。 また、スライス面（データ収集面）外にRIが分布する場
合、それに起因する散乱線成分によって誤差が生じ、こ
れが実際上大きな問題となっているが、この問題につい
ては全く無力である。 この発明は、スライス面内のRIによる散乱線成分だけで
なくスライス面外に分布するRIに起因する散乱線成分を
もあわせて見積もり、これらを補正することのできる、
ECT装置の散乱線補正法を提供することを目的とする。
この発明によるECT装置の散乱線補正法では、断層像を
得ようとする面内で１点を占めるように線源を配置し、
この線源のデータを、周囲に散乱体がない状態と、周囲
に散乱体があり且つスライス面外にも線源が分布してい
る状態とについて収集し、これらのデータの間の関係か
ら散乱線補正用フィルタ関数を求め、実際の被写体につ
いて得られたデータに対してこのフィルタ関数を作用さ
せて散乱線の補正を行なうことを特徴とする。
得ようとする面内で１点を占めるように線源を配置し、
この線源のデータを、周囲に散乱体がない状態と、周囲
に散乱体があり且つスライス面外にも線源が分布してい
る状態とについて収集し、これらのデータの間の関係か
ら散乱線補正用フィルタ関数を求め、実際の被写体につ
いて得られたデータに対してこのフィルタ関数を作用さ
せて散乱線の補正を行なうことを特徴とする。
点線源のデータを、周囲に散乱体がない状態と、周囲に
散乱体があり且つスライス面外にも線源が分布している
状態とについて収集すると、後者の場合はスライス面の
内外の線源に起因する散乱線によってぼけた像が得られ
るため、プロファイルデータも散乱線がない場合に比べ
てなまったものとなる。これらの両データの比をとって
みると、それを散乱線によってぼけたデータを本来のデ
ータに戻すためのデータとして使えることが分る。 そこで、この両データの比に基づき散乱線補正用フィル
タ関数を作成して、このフィルタ関数を実際の被写体の
データに作用させれば、スライス面内外の線源に起因す
る散乱線の補正をすることができる。
散乱体があり且つスライス面外にも線源が分布している
状態とについて収集すると、後者の場合はスライス面の
内外の線源に起因する散乱線によってぼけた像が得られ
るため、プロファイルデータも散乱線がない場合に比べ
てなまったものとなる。これらの両データの比をとって
みると、それを散乱線によってぼけたデータを本来のデ
ータに戻すためのデータとして使えることが分る。 そこで、この両データの比に基づき散乱線補正用フィル
タ関数を作成して、このフィルタ関数を実際の被写体の
データに作用させれば、スライス面内外の線源に起因す
る散乱線の補正をすることができる。
PETに適用した一実施例について説明する。まず、第１
図のようにリング型のスライスシールド２の中に、この
スライスシールド２によって規定される断層面に垂直に
ライン状線源１を配置する。こうして断層面に点状線源
を置いたのと実質的に同じにする。リング型検出器配列
はスライスシールド２の外側に位置するがこの図では省
略している。ライン状線源１はGe-68により作製してあ
る。そしてこの状態で矢印で示した断層面につきデータ
収集を行ない、得られたサイノグラムをフーリエ変換し
て第２図に示すデータを得た。 つぎに、第３図に示すような、ライン状線源３の周囲に
散乱体４を有し、且つ背面側にRI部５を持つファントム
６を同様に配置する。このファントム６は全体の形状が
円柱状になるように形成されており、散乱体４は人体に
似た散乱特性を有する水やアルカリにより構成すればよ
いが、ここではアクリル製とした。また、ライン状線源
３とRI部５にはGe-68を用いた。RI部５のRI濃度はPET装
置で分解できる大きさに換算した場合のライン状線源３
と同程度の濃度としてある。このファントム６の矢印で
示す断層面に関するデータ収集を行なうと、線源３より
放出された放出線の一部が散乱体４で散乱するためデー
タにほけが加わり、さらに断層面外のRI部５からの放射
線もこの散乱体４で散乱してデータにぼけを生じさせる
ので、得られたサイノグラムのフーリエ変換後のデータ
は第５図のように低周波成分が増加したものとなる。 これら第２図および第５図に示したフーリエ変換後のデ
ータを、第５図のデータが散乱体４における吸収の影響
を受けていることを考慮して適当なスケーリングを行な
った後重ね合せれば第６図のようにほとんど重なり、低
周波部分で散乱線成分による差異が表われているに過ぎ
ない。そこで、これらフーリエ変化後のデータの比をと
ってみると、第７図のようなデータが得られる。 この第７図のデータは、散乱線によって誤差を含むよう
になったデータを元の誤差のない状態に戻すための補正
データとして考えることができる。そこで、第７図のデ
ータの近似曲線を求めて第８図のような散乱線補正用フ
ィルタ関数を作成する。 このようにして散乱線補正用フィルタ関数が得られた
ら、実際の被写体に関して収集されたプロファイルデー
タにこの関数を作用させてフィルタリングすれば、断層
面の内外に存在するRIに起因する散乱線の補正ができる
ことになる。この場合、画像再構成は、通常、プロファ
イルデータに対してフィルタリングした後このプロファ
イルデータを逆投影するというアルゴリズムで行なわれ
るので、そのフィルタリングに際して同時に上記の散乱
線補正用フィルタ関数を作用させればよく、こうするこ
とによって補正のために必要なデータ処理に要する時間
を短縮することができる。 なお、第３図、第４図に示したファントム６のRI部５の
形状やRI強度とオフエリア（実際にはRIの存在しない領
域）のカウント等を対応づけて、第８図の散乱線補正用
フィルタ関数を修正しておくことも望ましい。すなわ
ち、たとえばオフエリアのカウントが減算されるように
修正しておくことにより、より正確な補正が可能とな
る。
図のようにリング型のスライスシールド２の中に、この
スライスシールド２によって規定される断層面に垂直に
ライン状線源１を配置する。こうして断層面に点状線源
を置いたのと実質的に同じにする。リング型検出器配列
はスライスシールド２の外側に位置するがこの図では省
略している。ライン状線源１はGe-68により作製してあ
る。そしてこの状態で矢印で示した断層面につきデータ
収集を行ない、得られたサイノグラムをフーリエ変換し
て第２図に示すデータを得た。 つぎに、第３図に示すような、ライン状線源３の周囲に
散乱体４を有し、且つ背面側にRI部５を持つファントム
６を同様に配置する。このファントム６は全体の形状が
円柱状になるように形成されており、散乱体４は人体に
似た散乱特性を有する水やアルカリにより構成すればよ
いが、ここではアクリル製とした。また、ライン状線源
３とRI部５にはGe-68を用いた。RI部５のRI濃度はPET装
置で分解できる大きさに換算した場合のライン状線源３
と同程度の濃度としてある。このファントム６の矢印で
示す断層面に関するデータ収集を行なうと、線源３より
放出された放出線の一部が散乱体４で散乱するためデー
タにほけが加わり、さらに断層面外のRI部５からの放射
線もこの散乱体４で散乱してデータにぼけを生じさせる
ので、得られたサイノグラムのフーリエ変換後のデータ
は第５図のように低周波成分が増加したものとなる。 これら第２図および第５図に示したフーリエ変換後のデ
ータを、第５図のデータが散乱体４における吸収の影響
を受けていることを考慮して適当なスケーリングを行な
った後重ね合せれば第６図のようにほとんど重なり、低
周波部分で散乱線成分による差異が表われているに過ぎ
ない。そこで、これらフーリエ変化後のデータの比をと
ってみると、第７図のようなデータが得られる。 この第７図のデータは、散乱線によって誤差を含むよう
になったデータを元の誤差のない状態に戻すための補正
データとして考えることができる。そこで、第７図のデ
ータの近似曲線を求めて第８図のような散乱線補正用フ
ィルタ関数を作成する。 このようにして散乱線補正用フィルタ関数が得られた
ら、実際の被写体に関して収集されたプロファイルデー
タにこの関数を作用させてフィルタリングすれば、断層
面の内外に存在するRIに起因する散乱線の補正ができる
ことになる。この場合、画像再構成は、通常、プロファ
イルデータに対してフィルタリングした後このプロファ
イルデータを逆投影するというアルゴリズムで行なわれ
るので、そのフィルタリングに際して同時に上記の散乱
線補正用フィルタ関数を作用させればよく、こうするこ
とによって補正のために必要なデータ処理に要する時間
を短縮することができる。 なお、第３図、第４図に示したファントム６のRI部５の
形状やRI強度とオフエリア（実際にはRIの存在しない領
域）のカウント等を対応づけて、第８図の散乱線補正用
フィルタ関数を修正しておくことも望ましい。すなわ
ち、たとえばオフエリアのカウントが減算されるように
修正しておくことにより、より正確な補正が可能とな
る。
この発明にかかるECT装置の散乱線補正法によれば、ス
ライス面内だけでなくスライス面外に分布するRIから放
出される放射線の散乱による誤差を補正することができ
る。また、補正用データは１度だけ収集しておけばよ
く、各被写体毎に、その都度補正用データ収集するとい
う時間や手間がかかることがない。しかも、そのために
特別な装置を必要とすることもなく安価で、簡便に補正
用データを得ることができる。さらに、補正用データを
用いて実際の被写体のデータを補正するデータ処理を短
時間で行なうことができる。
ライス面内だけでなくスライス面外に分布するRIから放
出される放射線の散乱による誤差を補正することができ
る。また、補正用データは１度だけ収集しておけばよ
く、各被写体毎に、その都度補正用データ収集するとい
う時間や手間がかかることがない。しかも、そのために
特別な装置を必要とすることもなく安価で、簡便に補正
用データを得ることができる。さらに、補正用データを
用いて実際の被写体のデータを補正するデータ処理を短
時間で行なうことができる。
第１図乃至第８図はこの発明の一実施例を説明するため
のもので、第１図はライン状線源の散乱体のない状態で
のデータを収集することを示す模式図、第２図は第１図
で得られたサイノグラムのフーリエ変換後のデータを示
すグラフ、第３図はライン状線源の周囲に散乱体があり
且つスライス面外にRIが分布している状態でのデータを
収集することを示す模式図、第４図はファントムの正面
図、第５図は第３図で得られたサイノグラムのフーリエ
変換後のデータを示すグラフ、第６図は第２図と第５図
のデータを重ね合せたグラフ、第７図は第２図および第
５図のデータの比を示すグラフ、第８図は散乱線補正用
フィルタ関数を表わすグラフである。 １……リング型スライスシールド １、３……ライン状線源、４……散乱体 ５……RI部、６……ファントム
のもので、第１図はライン状線源の散乱体のない状態で
のデータを収集することを示す模式図、第２図は第１図
で得られたサイノグラムのフーリエ変換後のデータを示
すグラフ、第３図はライン状線源の周囲に散乱体があり
且つスライス面外にRIが分布している状態でのデータを
収集することを示す模式図、第４図はファントムの正面
図、第５図は第３図で得られたサイノグラムのフーリエ
変換後のデータを示すグラフ、第６図は第２図と第５図
のデータを重ね合せたグラフ、第７図は第２図および第
５図のデータの比を示すグラフ、第８図は散乱線補正用
フィルタ関数を表わすグラフである。 １……リング型スライスシールド １、３……ライン状線源、４……散乱体 ５……RI部、６……ファントム
Claims (1)
- 【請求項１】断層像を得ようとする面内で１点を占める
ように線源を配置し、この線源のデータを、周囲に散乱
体がない状態と、周囲に散乱体があり且つスライス面外
にも線源が分布している状態とについて収集し、これら
のデータの間の関係から散乱線補正用フィルタ関数を求
め、実際の被写体について得られたデータに対してこの
フィルタ関数を作用させて散乱線の補正を行なうことを
特徴とするECT装置の散乱線補正法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61232452A JPH06105296B2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | Ｅｃｔ装置の散乱線補正法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61232452A JPH06105296B2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | Ｅｃｔ装置の散乱線補正法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6385482A JPS6385482A (ja) | 1988-04-15 |
| JPH06105296B2 true JPH06105296B2 (ja) | 1994-12-21 |
Family
ID=16939504
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61232452A Expired - Lifetime JPH06105296B2 (ja) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | Ｅｃｔ装置の散乱線補正法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06105296B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8971405B2 (en) | 2001-09-18 | 2015-03-03 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Block transform and quantization for image and video coding |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5140810B2 (ja) * | 2005-09-28 | 2013-02-13 | 財団法人ヒューマンサイエンス振興財団 | 断層撮影画像の重ね合わせ表示方法及び断層撮影画像を重ね合わせて表示するためのコンピュータプログラム |
| JP2007218769A (ja) * | 2006-02-17 | 2007-08-30 | Shimadzu Corp | 核医学イメージング装置 |
| WO2016002034A1 (ja) * | 2014-07-03 | 2016-01-07 | 株式会社ニコン | Ｘ線装置、画像形成方法、構造物の製造方法、及び構造物製造システム |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP61232452A patent/JPH06105296B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8971405B2 (en) | 2001-09-18 | 2015-03-03 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Block transform and quantization for image and video coding |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6385482A (ja) | 1988-04-15 |
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