JPH06109773A - 光ｃｔ或いは光ｐｄの計測回路 - Google Patents
光ｃｔ或いは光ｐｄの計測回路Info
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- JPH06109773A JPH06109773A JP4280502A JP28050292A JPH06109773A JP H06109773 A JPH06109773 A JP H06109773A JP 4280502 A JP4280502 A JP 4280502A JP 28050292 A JP28050292 A JP 28050292A JP H06109773 A JPH06109773 A JP H06109773A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】センサ部及びセンサ部と計測部との間をリンク
する光ファイバに於ける光損失並びにその非周期的変動
による影響を除去し、高精度に電流或いは電圧を計測す
ること及びセンサ部の互換性の実現を可能とした光ＣＴ
或いは光ＰＤの計測回路を比較的安価に提供することを
目的とする。 【構成】測定する電流もしくは電圧の周波数ｆ0より充
分に高い周波数ｆ1の信号により発光部２を駆動し、偏
光子５、磁気光学素子６及び検光子７から成るセンサ部
４に前記発光部２より出力される光線を入射せしめ、該
センサ部４を透過した光線を受光部９にて電気信号に変
換し、利得可変増幅器２０によって前記電気信号を該電
気信号に含まれる周波数ｆ1の成分が所定のレベルを保
持するよう増幅するものである。
する光ファイバに於ける光損失並びにその非周期的変動
による影響を除去し、高精度に電流或いは電圧を計測す
ること及びセンサ部の互換性の実現を可能とした光ＣＴ
或いは光ＰＤの計測回路を比較的安価に提供することを
目的とする。 【構成】測定する電流もしくは電圧の周波数ｆ0より充
分に高い周波数ｆ1の信号により発光部２を駆動し、偏
光子５、磁気光学素子６及び検光子７から成るセンサ部
４に前記発光部２より出力される光線を入射せしめ、該
センサ部４を透過した光線を受光部９にて電気信号に変
換し、利得可変増幅器２０によって前記電気信号を該電
気信号に含まれる周波数ｆ1の成分が所定のレベルを保
持するよう増幅するものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁気光学素子を用いて電
流もしくは電圧を測定する光ＣＴ或いは光ＰＤの計測回
路に関する。
流もしくは電圧を測定する光ＣＴ或いは光ＰＤの計測回
路に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気光学素子のもつファラデー効果を用
いて電流測定を行う光ＣＴ（ｃｕｒｒｅｎｔ ｔｒａｎ
ｓ．）或いはポッケルス効果を用いて電圧測定を行う光
ＰＤ（ｐｏｔｅｎｔｉａｌ ｄｅｔｅｃｔｏｒ）が近年
電力の計測システム等の分野を初め広く利用されるよう
になった。これらは、電流もしくは電圧を検出するセン
サ部と計測部とを光ファイバにてリンクする構成をとる
ことにより、高い絶縁性と耐雑音性を確保し、電力設備
の電流或いは電圧の高品質な計測を可能とするものであ
る。
いて電流測定を行う光ＣＴ（ｃｕｒｒｅｎｔ ｔｒａｎ
ｓ．）或いはポッケルス効果を用いて電圧測定を行う光
ＰＤ（ｐｏｔｅｎｔｉａｌ ｄｅｔｅｃｔｏｒ）が近年
電力の計測システム等の分野を初め広く利用されるよう
になった。これらは、電流もしくは電圧を検出するセン
サ部と計測部とを光ファイバにてリンクする構成をとる
ことにより、高い絶縁性と耐雑音性を確保し、電力設備
の電流或いは電圧の高品質な計測を可能とするものであ
る。
【０００３】図３は磁気光学素子としてファラデー素子
を用いた従来の光ＣＴの構成例を示すブロック図であっ
て、計測部１に設けたＬＥＤ等を光源とする発光部２の
出力光線は、光ファイバ３を介してセンサ部４の偏光子
５に入射し、該偏光子５により直線偏光となりファラデ
ー素子６に入射される。入射光は該ファラデー素子６に
於いて該入射光と平行に印加された磁界Ｈの大きさに比
例した角度だけ偏光面が回転する。尚、ここで磁界Ｈは
計測せんとする電流が流れる配電線近傍に前記電流値に
比例した大きさで発生するものであって、センサ部４は
ファラデー素子６に磁界Ｈが光線と平行に印加されるよ
う配電線の近傍に配置するのが一般的である。
を用いた従来の光ＣＴの構成例を示すブロック図であっ
て、計測部１に設けたＬＥＤ等を光源とする発光部２の
出力光線は、光ファイバ３を介してセンサ部４の偏光子
５に入射し、該偏光子５により直線偏光となりファラデ
ー素子６に入射される。入射光は該ファラデー素子６に
於いて該入射光と平行に印加された磁界Ｈの大きさに比
例した角度だけ偏光面が回転する。尚、ここで磁界Ｈは
計測せんとする電流が流れる配電線近傍に前記電流値に
比例した大きさで発生するものであって、センサ部４は
ファラデー素子６に磁界Ｈが光線と平行に印加されるよ
う配電線の近傍に配置するのが一般的である。
【０００４】前記ファラデー素子６を出射した光線は偏
光面の回転角（偏光角）に比例して光量を変化させる検
光子７に入射され、該検光子７を通過した光線は光ファ
イバ８を介して計測部１に設けた受光部９にて電気信号
に変換される。而して、ローパスフィルタ１０は前記電
気信号の直流成分を抽出し自動光量コントローラ（ＡＰ
Ｃ）１１に送出する。該自動光量コントローラ１１は前
記直流成分が一定値となるように発光部２を制御し発光
部２及び受光部９の温度ドリフト等を補償して安定化を
図っている。又、前記電気信号は計測対象となる電流の
周波数を通過帯域とするバンドパスフィルタ１２を通し
て出力端子１３に出力される。
光面の回転角（偏光角）に比例して光量を変化させる検
光子７に入射され、該検光子７を通過した光線は光ファ
イバ８を介して計測部１に設けた受光部９にて電気信号
に変換される。而して、ローパスフィルタ１０は前記電
気信号の直流成分を抽出し自動光量コントローラ（ＡＰ
Ｃ）１１に送出する。該自動光量コントローラ１１は前
記直流成分が一定値となるように発光部２を制御し発光
部２及び受光部９の温度ドリフト等を補償して安定化を
図っている。又、前記電気信号は計測対象となる電流の
周波数を通過帯域とするバンドパスフィルタ１２を通し
て出力端子１３に出力される。
【０００５】上述の如く構成した場合、センサ部４の光
損失をＬ及びセンサ部４と計測部１との間をリンクする
光ファイバ３、８による伝送損失をＬ1及びＬ2とすると
受光部９の入力端の光レベルＰはＰ＝Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌ（１
＋ｓｉｎ２θ）となり、出力端子１３より得られる出力
は前記損失を包含したものとなると云う欠点があった。
ここでθはファラデー素子６の磁界による偏光角であ
る。
損失をＬ及びセンサ部４と計測部１との間をリンクする
光ファイバ３、８による伝送損失をＬ1及びＬ2とすると
受光部９の入力端の光レベルＰはＰ＝Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌ（１
＋ｓｉｎ２θ）となり、出力端子１３より得られる出力
は前記損失を包含したものとなると云う欠点があった。
ここでθはファラデー素子６の磁界による偏光角であ
る。
【０００６】図４は出力端子１３の出力より光損失
Ｌ1、Ｌ2及びＬの影響を除去すべく構成した従来の光Ｃ
Ｔの第２の例を示すブロック図である。ローパスフィル
タ１０を通過する電気信号はＰ0Ｌ1Ｌ2Ｌに相当し、こ
れを減算器１４の一方の入力端に加え、他端には前記受
光レベルＰに相当する受光部９から出力される電気信号
を印加するとＰ−Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌ＝Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌｓｉｎ２θ
に相当する信号が得られ、これを割算器１５にてローパ
スフィルタ１０の出力によって割算するとその出力は、
Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌｓｉｎ２θ／Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌ＝ｓｉｎ２θとな
り、出力端子１３より光損失Ｌ1、Ｌ2及びＬとは無関係
に、ファラデー素子６に於ける偏光角に比例した信号の
みが得られる。
Ｌ1、Ｌ2及びＬの影響を除去すべく構成した従来の光Ｃ
Ｔの第２の例を示すブロック図である。ローパスフィル
タ１０を通過する電気信号はＰ0Ｌ1Ｌ2Ｌに相当し、こ
れを減算器１４の一方の入力端に加え、他端には前記受
光レベルＰに相当する受光部９から出力される電気信号
を印加するとＰ−Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌ＝Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌｓｉｎ２θ
に相当する信号が得られ、これを割算器１５にてローパ
スフィルタ１０の出力によって割算するとその出力は、
Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌｓｉｎ２θ／Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌ＝ｓｉｎ２θとな
り、出力端子１３より光損失Ｌ1、Ｌ2及びＬとは無関係
に、ファラデー素子６に於ける偏光角に比例した信号の
みが得られる。
【０００７】図５は位相検出方式を用いた従来の光ＣＴ
の第３の例を示すブロック図であって、発光部２は基準
信号発生器１６からの基準信号ＢｓｉｎΔωｔによって
駆動され周波数Δω／２πの光線を発生する。一方受光
部９にて受光され出力される電気信号はハイパスフィル
タ（ＨＰＦ）１７を通過することによって直流分が除去
され、位相変調信号Ａｓｉｎ（Δωｔ＋２θ）となる。
該位相変調信号と前記基準信号との位相差２θを位相検
出器１８にて検出することによって電流を計測してい
る。
の第３の例を示すブロック図であって、発光部２は基準
信号発生器１６からの基準信号ＢｓｉｎΔωｔによって
駆動され周波数Δω／２πの光線を発生する。一方受光
部９にて受光され出力される電気信号はハイパスフィル
タ（ＨＰＦ）１７を通過することによって直流分が除去
され、位相変調信号Ａｓｉｎ（Δωｔ＋２θ）となる。
該位相変調信号と前記基準信号との位相差２θを位相検
出器１８にて検出することによって電流を計測してい
る。
【０００８】しかしながら、上述の如き従来の光ＣＴに
於いては、いずれもセンサ部４と計測部１との間をリン
クする光ファイバ３、８が、風等の影響による変形する
ことによって光の伝送損失Ｌ1及びＬ2が不規則な周期で
変動するという現象により計測部１の出力が変動すると
云う欠陥があった。例えば、図３の例に於いては発光部
２及び受光部９の温度ドリフト等を補償すべく受光部９
出力の直流成分のみが自動光量コントローラ１１に送出
するようローパスフィルタ１０のカットオフ周波数を充
分低く選択するため、前記伝送損失Ｌ1及びＬ2の変動に
よる影響を抑えることはできない。図４の場合もカット
オフ周波数が充分低いローパスフィルタ１０の出力を伝
送損失の影響を除去すべく減算器１４にも送出するが、
同様に直流成分にのみ効果を奏するものにすぎない。
又、図４の構成に於いては割算器の精度が出力値に直接
影響するため高精度な割算器を用いなければならず高価
になると云う欠点もあった。
於いては、いずれもセンサ部４と計測部１との間をリン
クする光ファイバ３、８が、風等の影響による変形する
ことによって光の伝送損失Ｌ1及びＬ2が不規則な周期で
変動するという現象により計測部１の出力が変動すると
云う欠陥があった。例えば、図３の例に於いては発光部
２及び受光部９の温度ドリフト等を補償すべく受光部９
出力の直流成分のみが自動光量コントローラ１１に送出
するようローパスフィルタ１０のカットオフ周波数を充
分低く選択するため、前記伝送損失Ｌ1及びＬ2の変動に
よる影響を抑えることはできない。図４の場合もカット
オフ周波数が充分低いローパスフィルタ１０の出力を伝
送損失の影響を除去すべく減算器１４にも送出するが、
同様に直流成分にのみ効果を奏するものにすぎない。
又、図４の構成に於いては割算器の精度が出力値に直接
影響するため高精度な割算器を用いなければならず高価
になると云う欠点もあった。
【０００９】又、図５に於いては前記ハイパスフィルタ
１７の位相変動が直接性能に影響を与えるという問題点
もあり、これをディジタルフィルタにて構成すれば高安
定なものが実現できるものの、高精度なＡ／Ｄ及びＤ／
Ａ変換器が必要となるため極めて高価なものとなり実用
に適さないと云う欠点もあった。
１７の位相変動が直接性能に影響を与えるという問題点
もあり、これをディジタルフィルタにて構成すれば高安
定なものが実現できるものの、高精度なＡ／Ｄ及びＤ／
Ａ変換器が必要となるため極めて高価なものとなり実用
に適さないと云う欠点もあった。
【００１０】更に、上記いずれの場合に於いてもセンサ
部４のばらつきを補正すべく、計測部１及び両者をリン
クする光ファイバ３、８から成る系を一組として計測部
１の調整を行う必要があることから、前記センサ部４及
び計測部１間の互換性が得られないという欠点を有す
る。即ち、実際には配電線の電流を計測する場合センサ
部４は開閉器もしくは配電線に直接設置し、計測部１は
制御ボックス内に設置するのが一般的であり、工事、保
守等に於いて必ず１対１に設置する、一方のみが故障し
た場合であっても両者を交換する或いは現場で調整する
等極めて作業が煩雑となると云う問題もあった。
部４のばらつきを補正すべく、計測部１及び両者をリン
クする光ファイバ３、８から成る系を一組として計測部
１の調整を行う必要があることから、前記センサ部４及
び計測部１間の互換性が得られないという欠点を有す
る。即ち、実際には配電線の電流を計測する場合センサ
部４は開閉器もしくは配電線に直接設置し、計測部１は
制御ボックス内に設置するのが一般的であり、工事、保
守等に於いて必ず１対１に設置する、一方のみが故障し
た場合であっても両者を交換する或いは現場で調整する
等極めて作業が煩雑となると云う問題もあった。
【００１１】
【発明の目的】本発明は上述した如き従来の光ＣＴ或い
は光ＰＤの欠陥を除去するためになされたものであっ
て、センサ部及びセンサ部と計測部との間をリンクする
光ファイバに於ける光損失並びにその非周期的変動によ
る影響を除去し、高精度に電流或いは電圧を計測するこ
と及びセンサ部の互換性の実現を可能とした光ＣＴ或い
は光ＰＤの計測回路を比較的安価に提供することを目的
とする。
は光ＰＤの欠陥を除去するためになされたものであっ
て、センサ部及びセンサ部と計測部との間をリンクする
光ファイバに於ける光損失並びにその非周期的変動によ
る影響を除去し、高精度に電流或いは電圧を計測するこ
と及びセンサ部の互換性の実現を可能とした光ＣＴ或い
は光ＰＤの計測回路を比較的安価に提供することを目的
とする。
【００１２】
【発明の概要】上述の目的を達成するため本発明に係る
光ＣＴ或いは光ＰＤの計測回路は、測定する電流もしく
は電圧の周波数ｆ0より充分に高い周波数ｆ1の信号によ
り発光部を駆動し、偏光子、磁気光学素子及び検光子か
ら成るセンサ部に前記発光部より出力される光線を入射
せしめ、該センサ部を透過した光線を受光部にて電気信
号に変換し、利得可変増幅器によって前記電気信号を該
電気信号に含まれる周波数ｆ1の成分が所定のレベルを
保持するよう増幅するものであって、更に、前記増幅器
の出力を直線検波すべく検波器を設けたものであっても
よい。
光ＣＴ或いは光ＰＤの計測回路は、測定する電流もしく
は電圧の周波数ｆ0より充分に高い周波数ｆ1の信号によ
り発光部を駆動し、偏光子、磁気光学素子及び検光子か
ら成るセンサ部に前記発光部より出力される光線を入射
せしめ、該センサ部を透過した光線を受光部にて電気信
号に変換し、利得可変増幅器によって前記電気信号を該
電気信号に含まれる周波数ｆ1の成分が所定のレベルを
保持するよう増幅するものであって、更に、前記増幅器
の出力を直線検波すべく検波器を設けたものであっても
よい。
【００１３】
【実施例】以下、本発明を実施例を示す図面に基づいて
詳細に説明する。図１は本発明の一実施例の構成を示す
ブロック図であって、測定する電流の周波数ｆ0（＝ω0
／２π）より充分に高い周波数ｆ1（＝ω1／２π）の基
準信号を発生する基準信号発生部１９は発光部２を前記
基準信号にて駆動して発光させる。該発光部２の出力光
線は光ファイバ３を介して偏光子５に入射する。該偏光
子５に於いて直線偏光となった光線はファラデー素子６
に加えられ、外部磁界Ｈに比例した偏光角にて偏光面が
回転し、これが検光子７に加えられると前記偏光角に比
例した強度の光線が出力される。これを光ファイバ８を
介して受光部９に伝送し、該受光部９にて電気信号に変
換する。該電気信号は自動利得可変増幅器２０に印加さ
れ、その出力をバンドパスフィルタ２１に入力せしめ周
波数ｆ1の成分を抽出し、前記増幅器２０の制御端子に
印加して前記フィルタ２１の出力が一定値となるよう前
記増幅器２０の利得を制御する。而して、前記自動利得
可変増幅器２０の出力を周波数ｆ1を中心周波数とする
バンドパスフィルタ２２を通過せしめ不要の成分を除去
し、検波器２３にて直線検波して出力を得る。
詳細に説明する。図１は本発明の一実施例の構成を示す
ブロック図であって、測定する電流の周波数ｆ0（＝ω0
／２π）より充分に高い周波数ｆ1（＝ω1／２π）の基
準信号を発生する基準信号発生部１９は発光部２を前記
基準信号にて駆動して発光させる。該発光部２の出力光
線は光ファイバ３を介して偏光子５に入射する。該偏光
子５に於いて直線偏光となった光線はファラデー素子６
に加えられ、外部磁界Ｈに比例した偏光角にて偏光面が
回転し、これが検光子７に加えられると前記偏光角に比
例した強度の光線が出力される。これを光ファイバ８を
介して受光部９に伝送し、該受光部９にて電気信号に変
換する。該電気信号は自動利得可変増幅器２０に印加さ
れ、その出力をバンドパスフィルタ２１に入力せしめ周
波数ｆ1の成分を抽出し、前記増幅器２０の制御端子に
印加して前記フィルタ２１の出力が一定値となるよう前
記増幅器２０の利得を制御する。而して、前記自動利得
可変増幅器２０の出力を周波数ｆ1を中心周波数とする
バンドパスフィルタ２２を通過せしめ不要の成分を除去
し、検波器２３にて直線検波して出力を得る。
【００１４】本回路の動作は以下のとおりである。発光
部２の出力光量をＰ0とすると、受光部９の受光する光
量Ｐは Ｐ＝Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌ（１＋ｓｉｎ２θ）・・・（１） と表すことができる。ここでθはファラデー素子６に於
ける光の偏光角であり、磁界Ｈに比例する。即ち、測定
対象電流をＩ0ｓｉｎω0ｔとしＰ0＝ｐｓｉｎω1ｔとす
ると（１）式は Ｐ＝Ｌ1Ｌ2Ｌｐｓｉｎω1ｔ（１＋ｋＩ0ｓｉｎω0ｔ）・・・（２） と表すことができる。即ち、
部２の出力光量をＰ0とすると、受光部９の受光する光
量Ｐは Ｐ＝Ｐ0Ｌ1Ｌ2Ｌ（１＋ｓｉｎ２θ）・・・（１） と表すことができる。ここでθはファラデー素子６に於
ける光の偏光角であり、磁界Ｈに比例する。即ち、測定
対象電流をＩ0ｓｉｎω0ｔとしＰ0＝ｐｓｉｎω1ｔとす
ると（１）式は Ｐ＝Ｌ1Ｌ2Ｌｐｓｉｎω1ｔ（１＋ｋＩ0ｓｉｎω0ｔ）・・・（２） と表すことができる。即ち、
【数１】 となる。
【００１５】従って、自動利得可変増幅器２０の出力に
設けた中心周波数ｆ1のバンドパスフィルタ２１の出力
は３式からＬ1Ｌ2Ｌｐｓｉｎω1ｔとなり、自動利得可
変増幅器２０はこれを一定値ａとなるように利得を自動
的に調整するから、自動利得可変増幅器２０の出力Ｐ′
は
設けた中心周波数ｆ1のバンドパスフィルタ２１の出力
は３式からＬ1Ｌ2Ｌｐｓｉｎω1ｔとなり、自動利得可
変増幅器２０はこれを一定値ａとなるように利得を自動
的に調整するから、自動利得可変増幅器２０の出力Ｐ′
は
【数２】 となる。ここでω1＜＜ω0であるから４式は搬送周波数
ｆ1の振幅変調となるから検波器２３にてＰ′を直線検
波することにより出力としてｋＩ0ｓｉｎω0ｔを得るこ
とができる。
ｆ1の振幅変調となるから検波器２３にてＰ′を直線検
波することにより出力としてｋＩ0ｓｉｎω0ｔを得るこ
とができる。
【００１６】上述の如く構成したことにより、センサ部
４の光損失Ｌ及びセンサ部４と計測部１との間をリンク
する光ファイバ３、８による伝送損失Ｌ1及びＬ2、更に
は光ファイバの変形による伝送損失Ｌ1及びＬ2の非周期
的な変動による出力への影響の除去は、自動利得可変増
幅器２０の制御能力によってのみ決定されるものの、当
業者に於いては高安定な自動利得可変増幅器を構成する
のに格別の困難はなく、しかも比較的経済的に実現する
ことが可能である。又、この自動利得可変増幅器２０に
よって受光部９の出力を所定のレベルに増幅しセンサ部
４のばらつきと無関係に所望の出力を得ることが可能で
あるから、センサ部４と計測部１との間の互換性を実現
できる。
４の光損失Ｌ及びセンサ部４と計測部１との間をリンク
する光ファイバ３、８による伝送損失Ｌ1及びＬ2、更に
は光ファイバの変形による伝送損失Ｌ1及びＬ2の非周期
的な変動による出力への影響の除去は、自動利得可変増
幅器２０の制御能力によってのみ決定されるものの、当
業者に於いては高安定な自動利得可変増幅器を構成する
のに格別の困難はなく、しかも比較的経済的に実現する
ことが可能である。又、この自動利得可変増幅器２０に
よって受光部９の出力を所定のレベルに増幅しセンサ部
４のばらつきと無関係に所望の出力を得ることが可能で
あるから、センサ部４と計測部１との間の互換性を実現
できる。
【００１７】又、上述の回路に於いては測定対象電流の
周波数ｆ0より高い周波数ｆ1にて発光部を駆動している
ため、伝送損失Ｌ1及びＬ2の非周期的な変動による影響
に対する高速な応答が可能となる。ここでバンドパスフ
ィルタ２１としてはｆ1を中心周波数としてｆ1±ｆ0を
越えない比較的広い帯域幅を有するものであって、減衰
特性が急峻なものが望ましい。これにより風に伴う光フ
ァイバの伝送損失の変動が比較的高い周波数成分（＞ｆ
0）についても除去可能となる。一方、バンドパスフィ
ルタ２２はｆ1を中心としてｆ1±ｆ0を越える帯域幅を
有するものであり、もし自動利得可変増幅器２０の歪率
が小さければ省略することも可能である。
周波数ｆ0より高い周波数ｆ1にて発光部を駆動している
ため、伝送損失Ｌ1及びＬ2の非周期的な変動による影響
に対する高速な応答が可能となる。ここでバンドパスフ
ィルタ２１としてはｆ1を中心周波数としてｆ1±ｆ0を
越えない比較的広い帯域幅を有するものであって、減衰
特性が急峻なものが望ましい。これにより風に伴う光フ
ァイバの伝送損失の変動が比較的高い周波数成分（＞ｆ
0）についても除去可能となる。一方、バンドパスフィ
ルタ２２はｆ1を中心としてｆ1±ｆ0を越える帯域幅を
有するものであり、もし自動利得可変増幅器２０の歪率
が小さければ省略することも可能である。
【００１８】以上本発明を電流検出するための光ＣＴを
例として説明してきたが、電圧を測定すべく図２に示す
如くセンサ部が、入射した光線を直線偏光とする偏光子
５と、印加された電圧に比例して透過する直線偏光を速
度の異なる２つの直交成分に分割して出力するポッケル
ス素子２４と前記２つの直交成分の位相差を抽出するた
めの１／４波長板２５と検光子７とから成り、これと計
測部と光ファイバとで構成した光ＰＤに上述の回路を適
用しても同等の効果を奏すること明白であろう。又、上
記実施例に於いては、測定する電流或いは電圧を正弦波
として扱ってきたが他の歪波であってもよいこと明らか
である。
例として説明してきたが、電圧を測定すべく図２に示す
如くセンサ部が、入射した光線を直線偏光とする偏光子
５と、印加された電圧に比例して透過する直線偏光を速
度の異なる２つの直交成分に分割して出力するポッケル
ス素子２４と前記２つの直交成分の位相差を抽出するた
めの１／４波長板２５と検光子７とから成り、これと計
測部と光ファイバとで構成した光ＰＤに上述の回路を適
用しても同等の効果を奏すること明白であろう。又、上
記実施例に於いては、測定する電流或いは電圧を正弦波
として扱ってきたが他の歪波であってもよいこと明らか
である。
【００１９】
【発明の効果】本発明は、以上説明した如く構成するも
のであるから、受光部の出力を自動利得可変増幅器にて
発光部の周波数成分が一定となるよう制御することのみ
で、センサ部及びセンサ部と計測部との間をリンクする
光ファイバに於ける光損失並びにその非周期的変動によ
る影響を除去し、高精度に電流或いは電圧を計測するこ
と及びセンサ部の互換性の実現を可能とする上で著しい
効果を奏する。
のであるから、受光部の出力を自動利得可変増幅器にて
発光部の周波数成分が一定となるよう制御することのみ
で、センサ部及びセンサ部と計測部との間をリンクする
光ファイバに於ける光損失並びにその非周期的変動によ
る影響を除去し、高精度に電流或いは電圧を計測するこ
と及びセンサ部の互換性の実現を可能とする上で著しい
効果を奏する。
【図１】本発明に係る光ＣＴの一実施例の構成を示すブ
ロック図。
ロック図。
【図２】本発明に係る光ＰＤの一実施例の構成を示すブ
ロック図。
ロック図。
【図３】従来の光ＣＴの構成を示すブロック図。
【図４】従来の光ＣＴの第２の例の構成を示すブロック
図。
図。
【図５】従来の光ＣＴの第３の例の構成を示すブロック
図。
図。
２・・・発光部 ３、８・・・光ファイバ ６・・・ファラデー素子 ９・・・受光部 １９・・・基準信号発生器 ２０・・・自動利得可変増幅器 ２１、２２・・・バンドパスフィルタ ２３・・・検波器
Claims (4)
- 【請求項１】磁気光学素子を備えた光ＣＴ或いは光ＰＤ
に於いて、測定する電流もしくは電圧の周波数ｆ0より
高い周波数ｆ1にて発光手段を駆動し、該発光手段より
発光する光線を偏光子を介して前記磁気光学素子に入射
せしめ、該磁気光学素子を透過した光線を検光子を介し
て受光手段にて受光し、利得可変増幅器にて前記受光手
段からの出力を該出力に含まれる周波数ｆ1の成分が所
定のレベルとなるよう増幅したことを特徴とする光ＣＴ
或いは光ＰＤの計測回路。 - 【請求項２】前記磁気光学素子のファラデー効果を利用
したことを特徴とする請求項１記載の光ＣＴの計測回
路。 - 【請求項３】前記磁気光学素子のポッケルス効果を利用
したことを特徴とする請求項１記載の光ＰＤの計測回
路。 - 【請求項４】前記増幅器の出力を直線検波すべく検波器
を備えたことを特徴とする請求項１乃至請求項３記載の
光ＣＴ或いは光ＰＤの計測回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4280502A JPH06109773A (ja) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | 光ｃｔ或いは光ｐｄの計測回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4280502A JPH06109773A (ja) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | 光ｃｔ或いは光ｐｄの計測回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06109773A true JPH06109773A (ja) | 1994-04-22 |
Family
ID=17625988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4280502A Pending JPH06109773A (ja) | 1992-09-25 | 1992-09-25 | 光ｃｔ或いは光ｐｄの計測回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06109773A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100662744B1 (ko) * | 2004-07-12 | 2007-01-02 | 엘에스산전 주식회사 | 광 대전류/고전압 센서 |
-
1992
- 1992-09-25 JP JP4280502A patent/JPH06109773A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100662744B1 (ko) * | 2004-07-12 | 2007-01-02 | 엘에스산전 주식회사 | 광 대전류/고전압 센서 |
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