JPH0611392A - 分光測光装置 - Google Patents
分光測光装置Info
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- JPH0611392A JPH0611392A JP16758792A JP16758792A JPH0611392A JP H0611392 A JPH0611392 A JP H0611392A JP 16758792 A JP16758792 A JP 16758792A JP 16758792 A JP16758792 A JP 16758792A JP H0611392 A JPH0611392 A JP H0611392A
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- Japan
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- signal
- light
- light source
- spectrophotometer
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料の透過光や反射光等を同時に多波長で、
分光特性を測定する分光測光装置に関し、測定時間の短
縮と、所要範囲で分光特性感度を一様にすると共に特性
補正の高速化とを実現し得る分光測光装置の提供。 【構成】 光束をパルス状に発するキセノンフラッシュ
ランプと、光学系と、回折格子と光検出器を含む分光器
と、コントローラ8と、CPU9と、表示系と、からな
る分光測光装置において、光検出器が信号電荷を任意に
読み出し可能な信号用アドレスデコーダ71と、電荷蓄
積部73と、信号の十分なチャンネルを一斉にリセッ
ト、または個別にリセットし得るリセット用アドレスラ
ッチ73と、を有する走査型フォトダイオードアレイ7
からなることを特徴とする。
分光特性を測定する分光測光装置に関し、測定時間の短
縮と、所要範囲で分光特性感度を一様にすると共に特性
補正の高速化とを実現し得る分光測光装置の提供。 【構成】 光束をパルス状に発するキセノンフラッシュ
ランプと、光学系と、回折格子と光検出器を含む分光器
と、コントローラ8と、CPU9と、表示系と、からな
る分光測光装置において、光検出器が信号電荷を任意に
読み出し可能な信号用アドレスデコーダ71と、電荷蓄
積部73と、信号の十分なチャンネルを一斉にリセッ
ト、または個別にリセットし得るリセット用アドレスラ
ッチ73と、を有する走査型フォトダイオードアレイ7
からなることを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液体、固体試料に放射
光束を照射し、試料の透過光や螢光、反射光などを同時
に多波長で分光特性を測定する分光測光装置に関する。
光束を照射し、試料の透過光や螢光、反射光などを同時
に多波長で分光特性を測定する分光測光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液体、固体試料に放射光束を照射し、試
料の透過光や螢光、反射光などを同時に多波長で分光特
性を測定する分光測光装置は、分散素子に回折格子を用
い、検出器に対して直線状に分散させ、機械的な分散機
構によらず同時に多波長の分光特性が得られる分光器と
分散光を検出するフォトダイオードアレイ51が基本構
成である。フォトダイードアレイの各々の検出素子に信
号処理回路52を必要数並列に用い、同時多波長測光を
行なってきた(図5)。この方式は、各検出素子(波
長)毎に信号処理の増幅率を決定することができる。こ
れは、光源の分光特性(図6)を一定のS/Nになるよ
うに補正するためである。従って、この方法だと詳細の
分光特性を測定するためには、処理回路52がその数だ
け必要となり、大形の信号処理回路が必要となるという
不都合があった(図5A)。また、従来のフォトダイオ
ードは、光検出素子をアレイ状の配置したのみであった
が半導体の集積技術の進歩により信号処理回路を同一チ
ップに構成することも可能になった。これらの光検出器
として走査型フォトダイオードアレイ56がある(図5
B)。この走査型フォトダイオードアレイ56は電荷蓄
積型検出素子を有し、検出部に蓄積した信号電荷を順次
読み出す方式で、一斉リセット機能も有する。この検出
器を用いると、信号処理回路が簡素化できるが、増幅率
が全てのチャネル(以下、CHと記す)で同一となり、
光源の分光特性が補正できず、すべてのCHで一定のS
/Nを得ることが出来ないという欠点があった。この欠
点を改善した方式として、順次読み出す方式の他に、任
意のCHが読み出せる方式があり、この方式は、光源特
性を補正する一つの機能を有する。つまり、光源の光信
号が少ないCHでは、蓄積時間を長くすることが可能で
ある。
料の透過光や螢光、反射光などを同時に多波長で分光特
性を測定する分光測光装置は、分散素子に回折格子を用
い、検出器に対して直線状に分散させ、機械的な分散機
構によらず同時に多波長の分光特性が得られる分光器と
分散光を検出するフォトダイオードアレイ51が基本構
成である。フォトダイードアレイの各々の検出素子に信
号処理回路52を必要数並列に用い、同時多波長測光を
行なってきた(図5)。この方式は、各検出素子(波
長)毎に信号処理の増幅率を決定することができる。こ
れは、光源の分光特性(図6)を一定のS/Nになるよ
うに補正するためである。従って、この方法だと詳細の
分光特性を測定するためには、処理回路52がその数だ
け必要となり、大形の信号処理回路が必要となるという
不都合があった(図5A)。また、従来のフォトダイオ
ードは、光検出素子をアレイ状の配置したのみであった
が半導体の集積技術の進歩により信号処理回路を同一チ
ップに構成することも可能になった。これらの光検出器
として走査型フォトダイオードアレイ56がある(図5
B)。この走査型フォトダイオードアレイ56は電荷蓄
積型検出素子を有し、検出部に蓄積した信号電荷を順次
読み出す方式で、一斉リセット機能も有する。この検出
器を用いると、信号処理回路が簡素化できるが、増幅率
が全てのチャネル(以下、CHと記す)で同一となり、
光源の分光特性が補正できず、すべてのCHで一定のS
/Nを得ることが出来ないという欠点があった。この欠
点を改善した方式として、順次読み出す方式の他に、任
意のCHが読み出せる方式があり、この方式は、光源特
性を補正する一つの機能を有する。つまり、光源の光信
号が少ないCHでは、蓄積時間を長くすることが可能で
ある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような任意のCHを読み出す方式によると光信号が十分
大きいCHでは信号の飽和により、共通の信号読み出し
ラインに信号があふれるのを防ぐために、毎回読出しを
行なわなければならないので計測に時間を費すという不
都合があり、また、上述の走査型フォトダイオードアレ
イは、電荷蓄積信号を逐次読み出す方式のため、同時性
が要求される分光測光には採用できないという不都合が
あった。
ような任意のCHを読み出す方式によると光信号が十分
大きいCHでは信号の飽和により、共通の信号読み出し
ラインに信号があふれるのを防ぐために、毎回読出しを
行なわなければならないので計測に時間を費すという不
都合があり、また、上述の走査型フォトダイオードアレ
イは、電荷蓄積信号を逐次読み出す方式のため、同時性
が要求される分光測光には採用できないという不都合が
あった。
【0004】本発明は上記不都合を解消した分光測光装
置の提供を目的とし、具体的には、試料の透過光や螢
光、反射光などの分光特性を同時に多波長で測定する分
光測光において、測定時間の短縮と、光源を含めた所要
の波長範囲で分光感度特性を一様にするとともに、特性
補正を高速化した分光測光装置の提供を目的とする。
置の提供を目的とし、具体的には、試料の透過光や螢
光、反射光などの分光特性を同時に多波長で測定する分
光測光において、測定時間の短縮と、光源を含めた所要
の波長範囲で分光感度特性を一様にするとともに、特性
補正を高速化した分光測光装置の提供を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、光束をパルス状に発する光源と、分散素子
と、光検出器と、を含み、同時に多波長の分光測光を行
なう分光測光器において、光検出器が、信号電荷の任意
な選択及び読み出しを行なうため信号アドレスデコーダ
と、信号の読み出しとは別に信号電荷を一斉にリセット
または個別にリセット可能なリセットアドレスデコーダ
と、を有する電荷蓄積型光検出器であることを特徴とす
る。また、本発明の実施例では、信号の読み出し及びリ
セットを所与のパターンによって行なうことが望まし
く、光源が高輝度の光束をパルス状に発する光源であ
り、光検出器が走査型フォトダイオードアレイであるこ
とが望ましい。
するため、光束をパルス状に発する光源と、分散素子
と、光検出器と、を含み、同時に多波長の分光測光を行
なう分光測光器において、光検出器が、信号電荷の任意
な選択及び読み出しを行なうため信号アドレスデコーダ
と、信号の読み出しとは別に信号電荷を一斉にリセット
または個別にリセット可能なリセットアドレスデコーダ
と、を有する電荷蓄積型光検出器であることを特徴とす
る。また、本発明の実施例では、信号の読み出し及びリ
セットを所与のパターンによって行なうことが望まし
く、光源が高輝度の光束をパルス状に発する光源であ
り、光検出器が走査型フォトダイオードアレイであるこ
とが望ましい。
【0006】上記構成に基づき実施例では、高輝度の光
束をパルス状に発するランプ(例えば、キセノンフラッ
シュランプ)を光源とし、信号電荷を任意に読み出し可
能な信号用アドレスデコーダと、信号の十分なチャンネ
ル(CH)を一斉にリセット、または個別にリセットし
得るリセット用アドレスデコーダを有する走査型フォト
ダイオードを用い、光源特性を補正し、一定のS/Nを
得るようにし、分光測光に必要なダイナミックレンジを
得ている。また、高輝度のパルス状光源を採用し、光源
点灯とフォトダイオードアレイの走査制御を行なうこと
により、同時性をもった多波長の分光測光データを得る
ことを可能としている。
束をパルス状に発するランプ(例えば、キセノンフラッ
シュランプ)を光源とし、信号電荷を任意に読み出し可
能な信号用アドレスデコーダと、信号の十分なチャンネ
ル(CH)を一斉にリセット、または個別にリセットし
得るリセット用アドレスデコーダを有する走査型フォト
ダイオードを用い、光源特性を補正し、一定のS/Nを
得るようにし、分光測光に必要なダイナミックレンジを
得ている。また、高輝度のパルス状光源を採用し、光源
点灯とフォトダイオードアレイの走査制御を行なうこと
により、同時性をもった多波長の分光測光データを得る
ことを可能としている。
【0007】
【作用】本発明は上記構成により、光検出器として本発
明に基づく電荷蓄積光検出器を用い、その電荷蓄積型光
検出器は、 信号電荷の任意な選択及び読み出しを行なうため信
号アドレスデコーダ、
明に基づく電荷蓄積光検出器を用い、その電荷蓄積型光
検出器は、 信号電荷の任意な選択及び読み出しを行なうため信
号アドレスデコーダ、
【0008】 信号の読み出しとは別に信号電荷を一
斉に、或いは個別にリセット可能なリセットアドレスデ
コーダ、を備えているので、分光特性の補正にあたり図
3に例示するように光量の大きさを段階的に区分した波
長の区間A,B,C,…を想定し、そのセル毎に光源の
フラッシュを行なうことができる。従って、その波長区
間で分光特性を一様になし得ると共に各波長毎にフラッ
シュ回数の補正を行ない分光特性の補正を高速に行なう
ことができる。
斉に、或いは個別にリセット可能なリセットアドレスデ
コーダ、を備えているので、分光特性の補正にあたり図
3に例示するように光量の大きさを段階的に区分した波
長の区間A,B,C,…を想定し、そのセル毎に光源の
フラッシュを行なうことができる。従って、その波長区
間で分光特性を一様になし得ると共に各波長毎にフラッ
シュ回数の補正を行ない分光特性の補正を高速に行なう
ことができる。
【0009】
【実施例】以下、図示の一実施例に基いて本発明を詳述
する。
する。
【0010】図1は、本発明の一実施例としての分光測
光装置のブロック図を示す。
光装置のブロック図を示す。
【0011】図1において、高輝度の高速のパルス状に
発する光源としてのキセノンフラッシュランプ1は、パ
ルス点灯方式によって、高輝度の光束を発する。キセノ
ンフラッシュランプ1からの放射光は、レンズ2aで、
試料3に入射し試料3中を透過する。試料3を透過した
光は、レンズ2bで分光器4のスリット5に集光され
る。分光器4に入射した光は、回折格子6により分光さ
れ、走査型フォトダイオードアレイ7で各波長ごとの測
光データを得る。走査型光検出器としての走査型フォト
ダイオードアレイ7の走査制御と検出信号の信号処理
は、コントローラ8で行う。コントローラ8は演算制御
装置(以下CPU)9の指令により、走査型フォトダイ
オードアレイ7の走査制御、リセット制御、信号の取り
込み、光源1の点灯指示を行う。走査制御、リセット制
御ならびに光源1の点灯制御は、予め光源特性としてC
PU9内に記憶している制御パターンにより行われる。
高圧電源10はCPU9の指令にもとづき、コントロー
ラ8からの走査信号に同期して前記キセノンフラッシュ
ランプ1をパルス点灯させるべく高電圧を供給する。C
PU9に得られた測光データは、所望の演算処理後、入
出力装置11へのデータ表示やプリンタ12に印字出力
される。
発する光源としてのキセノンフラッシュランプ1は、パ
ルス点灯方式によって、高輝度の光束を発する。キセノ
ンフラッシュランプ1からの放射光は、レンズ2aで、
試料3に入射し試料3中を透過する。試料3を透過した
光は、レンズ2bで分光器4のスリット5に集光され
る。分光器4に入射した光は、回折格子6により分光さ
れ、走査型フォトダイオードアレイ7で各波長ごとの測
光データを得る。走査型光検出器としての走査型フォト
ダイオードアレイ7の走査制御と検出信号の信号処理
は、コントローラ8で行う。コントローラ8は演算制御
装置(以下CPU)9の指令により、走査型フォトダイ
オードアレイ7の走査制御、リセット制御、信号の取り
込み、光源1の点灯指示を行う。走査制御、リセット制
御ならびに光源1の点灯制御は、予め光源特性としてC
PU9内に記憶している制御パターンにより行われる。
高圧電源10はCPU9の指令にもとづき、コントロー
ラ8からの走査信号に同期して前記キセノンフラッシュ
ランプ1をパルス点灯させるべく高電圧を供給する。C
PU9に得られた測光データは、所望の演算処理後、入
出力装置11へのデータ表示やプリンタ12に印字出力
される。
【0012】図2は信号電荷と一斉にリセット、または
個別にリセットできるリセット用アドレスデコーダを有
する走査型フォトダイオードアレイ7の機能説明図を示
す。
個別にリセットできるリセット用アドレスデコーダを有
する走査型フォトダイオードアレイ7の機能説明図を示
す。
【0013】図2に示す走査型フォトダイオードアレイ
7は、信号アドレスデコーダ71と、512(チャンネ
ル)のフォトダイオードアレイ75及びコンデンサ76
の組から構成される積分回路を有する電荷蓄積部72、
及びリセットアドレスデコーダとしてのリセットアドレ
スラッチ73から構成されている。そして、信号アドレ
スデコーダ71は、電荷蓄積部72の光信号の蓄積電荷
の読み出しをCPU9からの信号ADDRESS およびcLock
によってスイッチSW1〜SW512を共通のデータラ
イン(VIDEO信号)に任意に切換えながら、各素子
ごとの蓄積電荷を積分回路を経て電圧として読み出すよ
うに動作する。同様に、リセットアドレスラッチ73
は、電荷蓄積部72の各チャンネルを、コントローラ8
を介したCPU9の制御信号ADDRESS 及びSTROBEによっ
てスイッチRSW1〜RSW512を一斉に又は個別的
に切替えることにより、任意にリセット可能に動作す
る。
7は、信号アドレスデコーダ71と、512(チャンネ
ル)のフォトダイオードアレイ75及びコンデンサ76
の組から構成される積分回路を有する電荷蓄積部72、
及びリセットアドレスデコーダとしてのリセットアドレ
スラッチ73から構成されている。そして、信号アドレ
スデコーダ71は、電荷蓄積部72の光信号の蓄積電荷
の読み出しをCPU9からの信号ADDRESS およびcLock
によってスイッチSW1〜SW512を共通のデータラ
イン(VIDEO信号)に任意に切換えながら、各素子
ごとの蓄積電荷を積分回路を経て電圧として読み出すよ
うに動作する。同様に、リセットアドレスラッチ73
は、電荷蓄積部72の各チャンネルを、コントローラ8
を介したCPU9の制御信号ADDRESS 及びSTROBEによっ
てスイッチRSW1〜RSW512を一斉に又は個別的
に切替えることにより、任意にリセット可能に動作す
る。
【0014】以下に本測定装置を用いた一測定例が液体
試料の吸収スペクトルの測定動作について説明する。
試料の吸収スペクトルの測定動作について説明する。
【0015】図3は、セルに基準試料として純水を用い
た時の、1回のフラッシュにより得た分光特性の一例で
ある。この分光特性はさらに、フラッシュ回数とリセッ
トパターン、信号読み出しパターンに演算処理される。
A区間は1回フラッシュ、B区間は2回フラッシュ、C
区間は3回フラッシュ、D区間は4回フラッシュに分類
される。CPU9は図4に示すプロセスにより、未知試
料の測定値から試料に純水を用いた時の測定値を減算
し、各波長毎にフラッシュ回数の補正を行い測定値を求
める。
た時の、1回のフラッシュにより得た分光特性の一例で
ある。この分光特性はさらに、フラッシュ回数とリセッ
トパターン、信号読み出しパターンに演算処理される。
A区間は1回フラッシュ、B区間は2回フラッシュ、C
区間は3回フラッシュ、D区間は4回フラッシュに分類
される。CPU9は図4に示すプロセスにより、未知試
料の測定値から試料に純水を用いた時の測定値を減算
し、各波長毎にフラッシュ回数の補正を行い測定値を求
める。
【0016】図4はプロセスチャートを示し、図4Aは
パターン化プロセスの例である。
パターン化プロセスの例である。
【0017】本例によるパターン化プロセスは、図3の
例において、走査型フォトダイオードアレイ7の電荷蓄
積部72の全てのCH(512チャンネル)をリセット
アドレスレジスタ73によって一斉にリセットしてか
ら、リセットを解除し(ステップ41)、セルに純水を
入れて、先ず、光源を1回点灯させ各波長毎の分光特性
を測定し(ステップ42)、次に、収集した分光特性か
ら波長毎に、フラッシュ回数、リセット、信号読み出し
タイミングをパターン化(例えば、図3の波長区間Aの
フラッシュ回数を1、区間Bのフラッシュ回数を2、区
間Cのフラッシュ回数を3、区間Dのフラッシュ回数を
4といったようにパターン化)し、メモリ(図示せず)
に記憶する(ステップ43)段階からなる。
例において、走査型フォトダイオードアレイ7の電荷蓄
積部72の全てのCH(512チャンネル)をリセット
アドレスレジスタ73によって一斉にリセットしてか
ら、リセットを解除し(ステップ41)、セルに純水を
入れて、先ず、光源を1回点灯させ各波長毎の分光特性
を測定し(ステップ42)、次に、収集した分光特性か
ら波長毎に、フラッシュ回数、リセット、信号読み出し
タイミングをパターン化(例えば、図3の波長区間Aの
フラッシュ回数を1、区間Bのフラッシュ回数を2、区
間Cのフラッシュ回数を3、区間Dのフラッシュ回数を
4といったようにパターン化)し、メモリ(図示せず)
に記憶する(ステップ43)段階からなる。
【0018】図4Bは測定プロセスの例を示し、本例に
よる測定プロセスは、走査型フォトダイオードアレイ7
の電荷蓄積部72の全てのCHをリセットアドレスレジ
スタ73によって一斉にリセットしてから、リセットを
解除し、(ステップ51)、セルに試料を入れた状態
で、1回目のフラッシュで図3のA区間を読み出し、読
み出しが終了したら同区間をリセットし(ステップ5
2)、2回目のフラッシュB区間を読み出し、読み出し
が終了したら同区間をリセットし(ステップ53)、3
回目のフラッシュでC区間を読み出し、読み出しが終了
したら同区間をリセット(ステップ54)、4回目のフ
ラッシュでD区間を読み出し、読み出しが終了したな
ら、収集した各波長毎のデータを参照値として記憶する
(ステップ56)段階からなる。
よる測定プロセスは、走査型フォトダイオードアレイ7
の電荷蓄積部72の全てのCHをリセットアドレスレジ
スタ73によって一斉にリセットしてから、リセットを
解除し、(ステップ51)、セルに試料を入れた状態
で、1回目のフラッシュで図3のA区間を読み出し、読
み出しが終了したら同区間をリセットし(ステップ5
2)、2回目のフラッシュB区間を読み出し、読み出し
が終了したら同区間をリセットし(ステップ53)、3
回目のフラッシュでC区間を読み出し、読み出しが終了
したら同区間をリセット(ステップ54)、4回目のフ
ラッシュでD区間を読み出し、読み出しが終了したな
ら、収集した各波長毎のデータを参照値として記憶する
(ステップ56)段階からなる。
【0019】以上本発明の一実施例について説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形実施が可能であることはいうまでもない。
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形実施が可能であることはいうまでもない。
【0020】
【発明の効果】上記により本発明に基づく分光測光装置
は、任意のチャンネルでの信号の読み出しとリセットを
可能としたことで、高速で、しかも同時性を持った多波
長の分光測光データを得ることが可能となった。
は、任意のチャンネルでの信号の読み出しとリセットを
可能としたことで、高速で、しかも同時性を持った多波
長の分光測光データを得ることが可能となった。
【0021】光源に高輝度の光束をパルス状に発するラ
ンプを、光検出器に走査型フォトダイオードアレイを用
い、任意のチャンネルでの信号の読み出しとリセットを
可能としたことで、測定したい波長だけを測光すること
ができ、測定時間の大幅短縮(例えば、ある実施例で
は、従来16msecかかった測定時間が約0.1msecであ
った)が可能となる。また、電荷のリセットを一斉また
は個別に行なえるよう構成したので分光感度特性補正に
要する時間の短縮(例えば、同じ実施例で、従来64ms
ecかかった特性補正時間が約20msecであった)が可能
となる。
ンプを、光検出器に走査型フォトダイオードアレイを用
い、任意のチャンネルでの信号の読み出しとリセットを
可能としたことで、測定したい波長だけを測光すること
ができ、測定時間の大幅短縮(例えば、ある実施例で
は、従来16msecかかった測定時間が約0.1msecであ
った)が可能となる。また、電荷のリセットを一斉また
は個別に行なえるよう構成したので分光感度特性補正に
要する時間の短縮(例えば、同じ実施例で、従来64ms
ecかかった特性補正時間が約20msecであった)が可能
となる。
【図1】本発明に基づく分光測光装置の一実施例のブロ
ック図。
ック図。
【図2】本発明に基づく光検出器の一実施例としての走
査型フォトダイオードアレイの機能説明図。
査型フォトダイオードアレイの機能説明図。
【図3】分光特性のパターン分割の一例を示す図。
【図4】図4はプロセスチャートであり、図4Aはパタ
ーン化のプロセス例であり、図4Bは測定プロセスの例
を示す。
ーン化のプロセス例であり、図4Bは測定プロセスの例
を示す。
【図5】従来の同時多波長測光装置の信号処理回路を示
す。
す。
【図6】光源の分光特性を示す。
1 キセノンフラッシュランプ(光源) 7 走査型フォトダイオードアレイ(光検出器) 71 信号アドレスデコーダ 72 リセットアドレスラッチ(リセットアドレスデコ
ーダ)
ーダ)
Claims (3)
- 【請求項1】 光束をパルス状に発する光源と、分散素
子と、光検出器と、を含み、同時に多波長の分光測光を
行なう分光測光器において、前記光検出器が、任意に信
号電荷の選択及び読み出しを行なうための信号アドレス
デコーダと、信号の読み出しとは別に信号電荷を一斉に
リセットまたは個別にリセットできるリセットアドレス
デコーダと、を有する電荷蓄積型光検出器であることを
特徴とする分光測光装置。 - 【請求項2】 請求項1の分光測光装置において、光源
が高輝度の光束をパルス状に発する光源であり、光検出
器が走査型フォトダイオードアレイであることを特徴と
する分光測光装置。 - 【請求項3】 請求項1又は2記載の分光測光装置にお
いて、信号の読み出し及びリセットを所与のパターンに
よって行なうことを特徴とする分光測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16758792A JPH0611392A (ja) | 1992-06-25 | 1992-06-25 | 分光測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16758792A JPH0611392A (ja) | 1992-06-25 | 1992-06-25 | 分光測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0611392A true JPH0611392A (ja) | 1994-01-21 |
Family
ID=15852525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16758792A Pending JPH0611392A (ja) | 1992-06-25 | 1992-06-25 | 分光測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0611392A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008070274A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| US7800791B2 (en) | 2005-06-20 | 2010-09-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Image sensor |
| KR101039627B1 (ko) * | 2011-01-05 | 2011-06-08 | 한국표준과학연구원 | 회절격자 분광기 |
-
1992
- 1992-06-25 JP JP16758792A patent/JPH0611392A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7800791B2 (en) | 2005-06-20 | 2010-09-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Image sensor |
| JP2008070274A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| KR101039627B1 (ko) * | 2011-01-05 | 2011-06-08 | 한국표준과학연구원 | 회절격자 분광기 |
| WO2012093770A1 (en) * | 2011-01-05 | 2012-07-12 | Korea Research Institute Of Standards And Science | Diffraction grating spectrometer |
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