JPH06118022A - 印刷物の低濃度欠陥検出方法 - Google Patents
印刷物の低濃度欠陥検出方法Info
- Publication number
- JPH06118022A JPH06118022A JP4290929A JP29092992A JPH06118022A JP H06118022 A JPH06118022 A JP H06118022A JP 4290929 A JP4290929 A JP 4290929A JP 29092992 A JP29092992 A JP 29092992A JP H06118022 A JPH06118022 A JP H06118022A
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- JP
- Japan
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- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Printing Methods (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】細い線や点によって用紙一面に複雑な模様が描
かれている印刷物に、ほぼ一様な濃度をもち、平面状に
広がる低濃度欠陥が存在する場合、この欠陥を検出する
ことである。 【構成】基準画像と検査画像をそれぞれ十分に平滑化し
た後に両者の対応する画素の濃度を比較し、各画素の濃
度差の絶対値を低濃度欠陥の許容レベルを判定する濃度
値で２値化することによって低濃度欠陥を検出する方法
である。
かれている印刷物に、ほぼ一様な濃度をもち、平面状に
広がる低濃度欠陥が存在する場合、この欠陥を検出する
ことである。 【構成】基準画像と検査画像をそれぞれ十分に平滑化し
た後に両者の対応する画素の濃度を比較し、各画素の濃
度差の絶対値を低濃度欠陥の許容レベルを判定する濃度
値で２値化することによって低濃度欠陥を検出する方法
である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、細い線や点によって用
紙一面に複雑な模様が描かれている印刷物に、ほぼ一様
な濃度をもち、２次元状（平面状）に広がる低濃度欠陥
（淡い汚れ）が存在する場合、この欠陥を検出する方法
に関するものである。
紙一面に複雑な模様が描かれている印刷物に、ほぼ一様
な濃度をもち、２次元状（平面状）に広がる低濃度欠陥
（淡い汚れ）が存在する場合、この欠陥を検出する方法
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、基準画像及び検査画像に対して
平滑化処理を行わず、対応する画素単位ごとに濃度を比
較することによって、低濃度欠陥（淡い汚れ）を検出す
る方法が用いられてきた。
平滑化処理を行わず、対応する画素単位ごとに濃度を比
較することによって、低濃度欠陥（淡い汚れ）を検出す
る方法が用いられてきた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】基準画像と検査画像を
比較するとき、対応する画素の位置合わせが全て正しく
行われるのが理想であるが、実際には僅かであるが位置
ずれを生じることがある。この場合、両者の対応する画
素の濃度を比較し、濃度差の絶対値を求めることによっ
て得られる画像を差分画像と定義すると、差分画像の各
画素の濃度値には位置ずれによるノイズが含まれる。細
い線や点によって用紙一面に複雑な模様が描かれている
印刷物から読み取った濃淡画像には、隣接する画素間の
空間的濃度勾配が大きい箇所が数多く存在する。したが
って、このような印刷物を検査する際、基準画像と検査
画像の対応する画素の位置がずれると、差分画像には位
置ずれノイズが高密度で分布するため、ノイズの濃度が
低濃度欠陥の濃度より大きい場合には、ノイズと欠陥の
識別が困難である。本発明の目的は、位置ずれノイズの
濃度レベルを小さくすることによって、ノイズと欠陥の
識別を可能にし、従来の方法に比べて低濃度欠陥の検出
感度を改善することである。
比較するとき、対応する画素の位置合わせが全て正しく
行われるのが理想であるが、実際には僅かであるが位置
ずれを生じることがある。この場合、両者の対応する画
素の濃度を比較し、濃度差の絶対値を求めることによっ
て得られる画像を差分画像と定義すると、差分画像の各
画素の濃度値には位置ずれによるノイズが含まれる。細
い線や点によって用紙一面に複雑な模様が描かれている
印刷物から読み取った濃淡画像には、隣接する画素間の
空間的濃度勾配が大きい箇所が数多く存在する。したが
って、このような印刷物を検査する際、基準画像と検査
画像の対応する画素の位置がずれると、差分画像には位
置ずれノイズが高密度で分布するため、ノイズの濃度が
低濃度欠陥の濃度より大きい場合には、ノイズと欠陥の
識別が困難である。本発明の目的は、位置ずれノイズの
濃度レベルを小さくすることによって、ノイズと欠陥の
識別を可能にし、従来の方法に比べて低濃度欠陥の検出
感度を改善することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、基準画像及び
検査画像をそれぞれ十分に平滑化した後に両者の対応す
る画素の濃度を比較すると、差分画像に現れる位置ずれ
ノイズの濃度が低濃度欠陥の濃度より小さくなるという
性質を利用して、ノイズと欠陥を識別する検査方法にあ
る。
検査画像をそれぞれ十分に平滑化した後に両者の対応す
る画素の濃度を比較すると、差分画像に現れる位置ずれ
ノイズの濃度が低濃度欠陥の濃度より小さくなるという
性質を利用して、ノイズと欠陥を識別する検査方法にあ
る。
【０００５】
【作用】一般に、平滑化処理には隣接する画素間の空間
的濃度勾配を小さくするというはたらきがあるため、基
準画像及び検査画像に対して平滑化処理を行うと、差分
画像の各画素に現れる位置ずれノイズのうち最も大きな
濃度値を示すノイズの濃度レベルを、平滑化処理を行わ
ない場合より小さくすることができる。本発明において
は、細い線や点によって用紙一面に複雑な模様が描かれ
ている印刷物から得た画像信号を基準画像とし、この印
刷物にほぼ一様な濃度をもち、２次元状（平面状）に広
がる低濃度欠陥が存在する場合の画像を検査画像とす
る。このとき、模様部分のように周囲との空間的濃度勾
配が大きい箇所では、画像平滑化処理の前後における各
画素の濃度変化は、平滑化の度合が大きいほど顕著であ
る。一方、欠陥部分については濃度がほぼ一様であるた
め、輪郭部を除けば、平滑化処理の前後における各画素
の濃度変化はほとんどない。つまり、模様部分は平滑化
処理によって各画素の濃度が変化しやすいのに対し、欠
陥部分は平滑化処理をほどこしても各画素の濃度値が保
存されやすい。したがって、基準画像及び検査画像をそ
れぞれ十分平滑化した後に両者を比較すれば、模様部分
の位置合わせにずれが生じても、差分画像に現れる位置
ずれノイズの濃度レベルを低濃度欠陥の濃度より小さく
することが可能である。その結果、ノイズと欠陥が識別
されるので、欠陥の許容レベルを判定する濃度値で差分
画像を２値化すれば、低濃度欠陥を感度よく検出するこ
とができる。
的濃度勾配を小さくするというはたらきがあるため、基
準画像及び検査画像に対して平滑化処理を行うと、差分
画像の各画素に現れる位置ずれノイズのうち最も大きな
濃度値を示すノイズの濃度レベルを、平滑化処理を行わ
ない場合より小さくすることができる。本発明において
は、細い線や点によって用紙一面に複雑な模様が描かれ
ている印刷物から得た画像信号を基準画像とし、この印
刷物にほぼ一様な濃度をもち、２次元状（平面状）に広
がる低濃度欠陥が存在する場合の画像を検査画像とす
る。このとき、模様部分のように周囲との空間的濃度勾
配が大きい箇所では、画像平滑化処理の前後における各
画素の濃度変化は、平滑化の度合が大きいほど顕著であ
る。一方、欠陥部分については濃度がほぼ一様であるた
め、輪郭部を除けば、平滑化処理の前後における各画素
の濃度変化はほとんどない。つまり、模様部分は平滑化
処理によって各画素の濃度が変化しやすいのに対し、欠
陥部分は平滑化処理をほどこしても各画素の濃度値が保
存されやすい。したがって、基準画像及び検査画像をそ
れぞれ十分平滑化した後に両者を比較すれば、模様部分
の位置合わせにずれが生じても、差分画像に現れる位置
ずれノイズの濃度レベルを低濃度欠陥の濃度より小さく
することが可能である。その結果、ノイズと欠陥が識別
されるので、欠陥の許容レベルを判定する濃度値で差分
画像を２値化すれば、低濃度欠陥を感度よく検出するこ
とができる。
【０００６】
【実施例】図１は、印刷物品質欠陥検査装置の構成を示
したものである。図中、１は試料台、２は高周波蛍光灯
照明装置、３はイメ−ジセンサカメラ、４は汎用画像処
理装置、５はＣＲＴディスプレイ、６は中央演算装置、
７は印刷物である。まず、印刷物７を試料台１の定めら
れた位置にセットし、高周波蛍光灯照明装置２を点灯し
て印刷物７の表面の被検査領域に一様に光を照射する。
次に、印刷物７の印刷パタ−ンをイメ−ジセンサカメラ
３の受光素子に光学的に結合させる。そして、各受光素
子に入射する光の強弱を電気信号に変換することにより
印刷物７の濃淡を検出し、この信号を汎用画像処理装置
４に送る。汎用画像処理装置４では、電気信号をアナロ
グデ−タからディジタルデ−タに変換し、各画素ごとの
濃度情報を画像デ−タとしてメモリに記憶する。次に、
中央演算装置６から汎用画像処理装置４に制御命令を送
って、画像を平滑化するためのディジタル画像処理演算
を行う。平滑化の方法としては、例えば空間フィルタリ
ング技法の１つであるスム−ジングフィルタを用いるこ
とにより実現できる。これは、画像の任意の画素に対し
て３×３近傍を取り出し、３×３近傍の各画素の濃度値
と、別に用意した３×３要素からなるスム−ジングフィ
ルタの配列の対応する要素の値との積を計算し、９個の
積の和を求めるというものである。ただし、スム−ジン
グフィルタの配列については、各要素の値を全て１／９
とする。そして、１回の平滑化処理によって位置ずれノ
イズの濃度を低濃度欠陥の濃度より小さくすることがで
きないときは、平滑化した画像に対してこの処理を複数
回繰り返す。
したものである。図中、１は試料台、２は高周波蛍光灯
照明装置、３はイメ−ジセンサカメラ、４は汎用画像処
理装置、５はＣＲＴディスプレイ、６は中央演算装置、
７は印刷物である。まず、印刷物７を試料台１の定めら
れた位置にセットし、高周波蛍光灯照明装置２を点灯し
て印刷物７の表面の被検査領域に一様に光を照射する。
次に、印刷物７の印刷パタ−ンをイメ−ジセンサカメラ
３の受光素子に光学的に結合させる。そして、各受光素
子に入射する光の強弱を電気信号に変換することにより
印刷物７の濃淡を検出し、この信号を汎用画像処理装置
４に送る。汎用画像処理装置４では、電気信号をアナロ
グデ−タからディジタルデ−タに変換し、各画素ごとの
濃度情報を画像デ−タとしてメモリに記憶する。次に、
中央演算装置６から汎用画像処理装置４に制御命令を送
って、画像を平滑化するためのディジタル画像処理演算
を行う。平滑化の方法としては、例えば空間フィルタリ
ング技法の１つであるスム−ジングフィルタを用いるこ
とにより実現できる。これは、画像の任意の画素に対し
て３×３近傍を取り出し、３×３近傍の各画素の濃度値
と、別に用意した３×３要素からなるスム−ジングフィ
ルタの配列の対応する要素の値との積を計算し、９個の
積の和を求めるというものである。ただし、スム−ジン
グフィルタの配列については、各要素の値を全て１／９
とする。そして、１回の平滑化処理によって位置ずれノ
イズの濃度を低濃度欠陥の濃度より小さくすることがで
きないときは、平滑化した画像に対してこの処理を複数
回繰り返す。
【０００７】図２は、図１の検査装置において実行され
る画像処理プログラムのフロ−を示す図である。まず、
ステップ１１で基準画像を入力したか否か判断する。基
準画像が入力されていない場合はステップ１２に進み、
ここで正常な仕上がりの印刷物７を試料台１の定められ
た位置にセットし、イメ−ジセンサカメラ３で読み取っ
た印刷パタ−ンを基準画像とする。次にステップ１３に
進み、基準画像をスム−ジングフィルタで平滑化する。
さらにステップ１４で、平滑化した基準画像を汎用画像
処理装置４のフレ−ムメモリに記憶する。ステップ１１
で基準画像が入力されている場合は、ステップ１５に進
み、ここで検査すべき印刷物７を試料台１の定められた
位置にセットし、イメ−ジセンサカメラ３で読み取った
印刷パタ−ンを検査画像とする。次にステップ１６に進
み、検査画像をスム−ジングフィルタで平滑化する。そ
の後ステップ１７で、平滑化処理をほどこした検査画像
及び基準画像を比較し、対応する画素ごとに濃度値の差
の絶対値を求める。そしてステップ１８において、低濃
度欠陥の許容レベルを判定する濃度値で画像を２値化す
る。最後にステップ１９で、その２値画像をＣＲＴディ
スプレイ５に表示して低濃度欠陥の有無を検査し、一連
の処理の実行を終了する。
る画像処理プログラムのフロ−を示す図である。まず、
ステップ１１で基準画像を入力したか否か判断する。基
準画像が入力されていない場合はステップ１２に進み、
ここで正常な仕上がりの印刷物７を試料台１の定められ
た位置にセットし、イメ−ジセンサカメラ３で読み取っ
た印刷パタ−ンを基準画像とする。次にステップ１３に
進み、基準画像をスム−ジングフィルタで平滑化する。
さらにステップ１４で、平滑化した基準画像を汎用画像
処理装置４のフレ−ムメモリに記憶する。ステップ１１
で基準画像が入力されている場合は、ステップ１５に進
み、ここで検査すべき印刷物７を試料台１の定められた
位置にセットし、イメ−ジセンサカメラ３で読み取った
印刷パタ−ンを検査画像とする。次にステップ１６に進
み、検査画像をスム−ジングフィルタで平滑化する。そ
の後ステップ１７で、平滑化処理をほどこした検査画像
及び基準画像を比較し、対応する画素ごとに濃度値の差
の絶対値を求める。そしてステップ１８において、低濃
度欠陥の許容レベルを判定する濃度値で画像を２値化す
る。最後にステップ１９で、その２値画像をＣＲＴディ
スプレイ５に表示して低濃度欠陥の有無を検査し、一連
の処理の実行を終了する。
【０００８】
【発明の効果】本発明によれば、平滑化処理後の検査画
像及び基準画像を比較するので、平滑化しないで両者を
比較する従来の方法に比べて、位置ずれノイズの濃度を
小さくすることができ、その結果として低濃度欠陥の検
出感度を向上させることができる。
像及び基準画像を比較するので、平滑化しないで両者を
比較する従来の方法に比べて、位置ずれノイズの濃度を
小さくすることができ、その結果として低濃度欠陥の検
出感度を向上させることができる。
【図１】本発明に係る印刷物品質欠陥検査装置の構成を
示す図。
示す図。
【図２】図１の検査装置において実行される画像処理プ
ログラムのフロ−を示す図。
ログラムのフロ−を示す図。
１ 試料台 ２ 高周波蛍光灯照明装置 ３ イメ−ジセンサカメラ ４ 汎用画像処理装置 ５ ＣＲＴディスプレイ ６ 中央演算装置 ７ 印刷物
Claims (1)
- 【請求項１】 正常な仕上がりの印刷物から得た画像信
号を基準画像とし、検査すべき印刷物から読み取った画
像信号を検査画像とし、上記基準画像と検査画像をそれ
ぞれ平滑化した後に、対応する画素単位ごとに濃度を比
較することによって、２次元状に広がる低濃度欠陥を検
出することを特徴とする印刷物の低濃度欠陥検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4290929A JPH06118022A (ja) | 1992-10-06 | 1992-10-06 | 印刷物の低濃度欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4290929A JPH06118022A (ja) | 1992-10-06 | 1992-10-06 | 印刷物の低濃度欠陥検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06118022A true JPH06118022A (ja) | 1994-04-28 |
Family
ID=17762340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4290929A Pending JPH06118022A (ja) | 1992-10-06 | 1992-10-06 | 印刷物の低濃度欠陥検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06118022A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08313344A (ja) * | 1995-05-23 | 1996-11-29 | Shimadzu Corp | 分光測定装置 |
| US7611217B2 (en) | 2005-09-29 | 2009-11-03 | Applied Materials, Inc. | Methods and systems for inkjet drop positioning |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61225055A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-06 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 印刷物の品質検査装置 |
| JPS62231069A (ja) * | 1986-03-28 | 1987-10-09 | 株式会社日立製作所 | 検反機の欠点検出方法 |
-
1992
- 1992-10-06 JP JP4290929A patent/JPH06118022A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61225055A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-06 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 印刷物の品質検査装置 |
| JPS62231069A (ja) * | 1986-03-28 | 1987-10-09 | 株式会社日立製作所 | 検反機の欠点検出方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08313344A (ja) * | 1995-05-23 | 1996-11-29 | Shimadzu Corp | 分光測定装置 |
| US7611217B2 (en) | 2005-09-29 | 2009-11-03 | Applied Materials, Inc. | Methods and systems for inkjet drop positioning |
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