JPH06119656A - 光ピックアップの調整方法 - Google Patents

光ピックアップの調整方法

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JPH06119656A
JPH06119656A JP4292047A JP29204792A JPH06119656A JP H06119656 A JPH06119656 A JP H06119656A JP 4292047 A JP4292047 A JP 4292047A JP 29204792 A JP29204792 A JP 29204792A JP H06119656 A JPH06119656 A JP H06119656A
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JP
Japan
Prior art keywords
optical pickup
collimator lens
light
optical
light beam
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Withdrawn
Application number
JP4292047A
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English (en)
Inventor
Masahiro Daimon
正博 大門
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Publication date
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Publication of JPH06119656A publication Critical patent/JPH06119656A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 顕微鏡の様な調整困難な拡大系を用いずに、
光源とコリメータレンズとの距離を簡易に調整可能な光
ピックアップの調整方法を提供する。 【構成】 コリメータレンズから出射する光ビームを対
物レンズを通過させずに光ピックアップ外に導出する大
きなスポットのまま光ビームを光ピックアップ外に取り
出すことにより、簡易な調整器具を使用して光源とコリ
メータレンズとの光学的位置関係を調整することができ
ることから、その作業時間が短縮され、即ち作業効率が
向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスクドライブ装置
などに用いられる光ピックアップに関し、特にこの光ピ
ックアップの組立を容易にするための光学系の調整方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の光ピックアップの構造について説
明する。図4(a)及び図4(b)は各々、従来の光デ
ィスク用の光ピックアップの平面図と側面図であり、図
5(a)及び図5(b)は各々、従来の光ディスク用の
光ピックアップ内部の平面図と側面図である。光ピック
アップは、光源としての半導体レーザ2と、その光路上
に設けられたコリメータレンズ3と、プリズム4と、偏
光ビームスプリッタ5と、ミラー6と、対物レンズ10
とを有している。対物レンズ10は、対物レンズアクチ
ュエータ9によりその位置を微調整可能なようにケーシ
ング1に取り付けられている。尚、偏光ビームスプリッ
タ5は必要に応じてハーフミラーであって良い。
【0003】半導体レーザ2から放射された光は、その
利用率を上げるためのコリメータレンズ3により平行ビ
ームにされ、次にプリズム4でビーム整形されて、偏光
ビームスプリッタ5を通ってミラー6で折曲げられ、対
物レンズ10で光ディスク15のディスク面に集光され
る。ここで、このような光ピックアップを用いる光ディ
スクユニットは、ディスク面に直交する方向の高さを抑
えて小型化することが望ましい。従って、図5(a)及
び図5(b)に示したように、通常、光ピックアップの
長手方向を光ディスク15のディスク面に平行に配置
し、ミラー6により光ビームの光路を偏向して光ディス
ク15に照射している。
【0004】上記したような光ピックアップにあっては
光スポットを回折限界まで小さく絞る必要があるが、半
導体レーザ2とコリメータレンズ3との距離が設定値
(コリメータレンズの焦点距離で通常5〜10mm程
度)に対してμmの単位で狂うと、コリメータレンズ3
を通過した光ビームは平行光とならずにわずかに発散光
または集束光となり、非点収差と呼ばれる収差が発生
し、対物レンズ10にて光スポットを回折限界まで小さ
く絞ることが出来なくなる。従って半導体レーザ2とコ
リメータレンズ3との距離を精密に調整する必要があ
る。
【0005】この調整は、通常図6に示したように、対
物レンズ10で絞られた光スポット(約1μmφ程度)
を顕微鏡11及び、TVカメラ12を通してモニタ13
で観測しながら、半導体レーザ2とコリメータレンズ3
との距離を調整し、光スポットがある設定値以下になる
ようにする。この作業は顕微鏡11の拡大率が1000
倍程度であるので少しの振動も許されず、また光スポッ
トをその焦点にあわせて顕微鏡の対物レンズの視野の中
にいれる作業が非常に困難であることから多大な調整時
間を必要としその費用がかかると云う問題があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】係る従来技術の問題点
に鑑み、本発明の主な目的は、顕微鏡の様な調整困難な
拡大系を用いずに、光源とコリメータレンズとの距離を
簡易に調整可能な光ピックアップの調整方法を提供する
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述した目的は本発明に
よれば、光源と、該光源からの放射光を平行光にするた
めのコリメータレンズと、該コリメータレンズを通った
光ビームを媒体に照射するための対物レンズとを備えた
光ピックアップに於いて、前記コリメータレンズから出
射する光ビームを前記対物レンズを通過させずに当該光
ピックアップ外に導出し、前記導出した光ビームをもっ
て前記光源と前記コリメータレンズとの間の光学的位置
を調整することを特徴とする光ピックアップの調整方法
を提供することにより達成される。
【0008】
【作用】このようにすれば、大きなスポットのまま光ビ
ームを光ピックアップ外に取り出し、簡易な調整器具を
使用して光源とコリメータレンズとの光学的位置を調整
することができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の好適実施例を添付の図面につ
いて詳しく説明する。図1(a)及び図1(b)は本発
明が適用された光ピックアップの構造であり、図2はそ
の調整方法を示すシステム図である。本実施例に於いて
は光ピックアップの全体構造は従来の光ピックアップと
同様であるが、ミラー6を取外した際に偏光ビームスプ
リッタ5から出射された光ビームが光ピックアップの外
に導出される孔7がケーシング1の壁部1aに穿設され
ている。
【0010】このような光ピックアップを組み立てるに
は、まず光源としての半導体レーザ2、コリメータレン
ズ3及びプリズム4のみをケーシング1に取り付ける。
そして、この段階で半導体レーザ2とコリメータレンズ
3の距離を調整する。つまり光ビーム8をケーシング1
に設けた孔7から導き出し、例えば図2に示す様にマッ
ハツェンダ干渉計等の干渉計14を用いて大きなスポッ
トのまま、光ビーム8の調整を行う。つまり、この干渉
計14に入射する光ビーム8が平行光であれば干渉縞が
生じないが、集束光若しくは拡散光である場合に干渉縞
が生じることから、この干渉縞を消すように半導体レー
ザ2とコリメータレンズ3との間の距離、光軸を調整す
れば良い。この場合、対物レンズ10によって絞られた
集光スポット(約1μmφ程度)と較べて面積の大きな
スポット(約数mmφ)を扱うので、対物レンズ10上
の光軸調整は省けないものの、微小光スポットの位置調
整が省略できるので調整が容易になり、調整全体の時間
は大幅に削減できる。
【0011】尚、本実施例ではマッハツェンダ干渉計を
用いたが、光源の評価が可能な形の干渉計であれば他の
形式の干渉計を用いてもよい。また、干渉計を用いる以
外の調整方法もある。例えば図3に示す様に光ビーム8
を、ケーシング1から1m以上離れた位置でTVカメラ
12に取り込み、モニタ13上で調整を行う。つまり、
非点収差があればモニタ13上の光ビーム8の像は楕円
状になるから、その像を決められた半径の円となるよう
に半導体レーザ2とコリメータレンズ3との間の距離、
光軸を調整すれば良い。しかし干渉計を用いれば、光の
波面評価が行え、非点収差などの光ビームの品質が定量
的に評価できるという利点がある。
【0012】次に、偏光ビームスプリッタ5及びミラー
6をケーシング1に取り付け、孔7を塞ぎ、図5(a)
及び図5(b)に示すような従来の光ピックアップの構
造に戻して、対物レンズ10を通過した後の集光スポッ
トの調整(光軸調整のみ)を行う。ここで、マッハツェ
ンダ干渉計等の干渉計は高価であるが、大量に光ピック
アップを生産すれば、特に問題とならない。
【0013】図1(a)及び図1(b)に示した光ピッ
クアップでは、光ディスクユニットへの搭載方向と同方
向のまま作業台に載せて光ビーム8を外に取り出し、調
整作業を行うことが可能である。ところで、図示してい
ないがミラー6を介して、対物レンズ10を通過させず
に大きなスポットのまま、光ビーム8を光ピックアップ
の外に取り出しマッハツェンダ干渉計14へ導光し調整
することも可能である。この場合、光ピックアップの姿
勢を変えるか、裏返したまま調整を行なうことになる。
光ピックアップを立てたり裏返した状態で調整するの
は、高い作業性を保ったまま光ピックアップの設計をす
るうえでの制約の一つになり、光ピックアップの設計へ
の大きな負担となる。例えば、コリメータレンズ3は光
路方向に移動可能でかつしっかりと固定される機構が必
要で、固定のためのネジ等を締めるレンチやドライバー
が他の部品と干渉しないように設計しなければならな
い。図1(a)及び図1(b)に示した光ピックアップ
では、このようなことが問題とならないような構成とな
っている。
【0014】
【発明の効果】以上の説明により明らかなように、本発
明による調整方法によれば、拡大系を用いず取扱いが容
易な干渉計などを用いて調整することができることか
ら、その作業時間が短縮され、即ち作業効率が向上す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)部は本発明が適用された光ピックアップ
の構造を示す平面図、(b)部は(a)部を側面から見
た図である。
【図2】本発明に基づく調整方法を示すシステム図であ
る。
【図3】本発明に基づく他の調整方法を示すシステム図
である。
【図4】(a)部は従来の光ピックアップの外観を示す
平面図、(b)部は(a)部を側面から見た図である。
【図5】(a)部は従来の光ピックアップの内部を示す
平面図、(b)部は(a)部を側面から見た図である。
【図6】従来の光ピックアップに於ける調整方法を示す
ブロック図である。
【符号の説明】
1 ケーシング 1a 壁部 2 半導体レーザ 3 コリメータレンズ 4 プリズム 5 偏光ビームスプリッタ 6 ミラー 7 孔 8 光ビーム 9 対物レンズアクチュエータ 10 対物レンズ 11 顕微鏡 12 TVカメラ 13 モニタ 14 マッハツェンダ干渉計 15 光ディスク

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と、該光源からの放射光を平行光
    にするためのコリメータレンズと、該コリメータレンズ
    を通った光ビームを媒体に照射するための対物レンズと
    を備えた光ピックアップに於いて、 前記コリメータレンズから出射する光ビームを前記対物
    レンズを通過させずに当該光ピックアップ外に導出し、
    前記導出した光ビームをもって前記光源と前記コリメー
    タレンズとの間の光学的位置関係を調整することを特徴
    とする光ピックアップの調整方法。
  2. 【請求項2】 前記コリメータレンズを通った光の光
    路を変えることを特徴とする請求項1に記載の光ピック
    アップの調整方法。
  3. 【請求項3】 前記調整に干渉計を用いることを特徴
    とする請求項1若しくは請求項2に記載の光ピックアッ
    プの調整方法。
JP4292047A 1992-10-06 1992-10-06 光ピックアップの調整方法 Withdrawn JPH06119656A (ja)

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JP4292047A JPH06119656A (ja) 1992-10-06 1992-10-06 光ピックアップの調整方法

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4902746A (en) * 1987-12-22 1990-02-20 Bayer Aktiengesellschaft Use of mixtures of polycarbonates and styrene polymers as substrates for optical storage media
EP0349857B1 (de) * 1988-07-08 1993-11-10 Bayer Ag Verwendung von Mischungen aus thermoplastischen Polycarbonaten und Copolymerisaten von Styrolen mit Methacrylnitril als Substrate für optische Datenspeicher
EP0355642B1 (de) * 1988-08-25 1993-11-10 Bayer Ag Verwendung von Mischungen aus thermoplastischen Polycarbonaten und Copolymerisaten von Styrolen mit (Meth)-Acrylsäureestern als Substrate für optische Datenspeicher

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4902746A (en) * 1987-12-22 1990-02-20 Bayer Aktiengesellschaft Use of mixtures of polycarbonates and styrene polymers as substrates for optical storage media
EP0349857B1 (de) * 1988-07-08 1993-11-10 Bayer Ag Verwendung von Mischungen aus thermoplastischen Polycarbonaten und Copolymerisaten von Styrolen mit Methacrylnitril als Substrate für optische Datenspeicher
EP0355642B1 (de) * 1988-08-25 1993-11-10 Bayer Ag Verwendung von Mischungen aus thermoplastischen Polycarbonaten und Copolymerisaten von Styrolen mit (Meth)-Acrylsäureestern als Substrate für optische Datenspeicher

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