JPH06123714A - Method for fluorescent x-ray spectroscopy - Google Patents
Method for fluorescent x-ray spectroscopyInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、試料に対して一次Ｘ線
を照射し、試料から放出される蛍光Ｘ線の強度に基づい
て試料中に含まれる成分の定量分析を行う蛍光Ｘ線分析
方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fluorescent X-ray analysis for irradiating a sample with primary X-rays and quantitatively analyzing the components contained in the sample based on the intensity of the fluorescent X-rays emitted from the sample. Regarding the method.
【０００２】[0002]
【従来の技術】蛍光Ｘ線分析方法は、例えばエネルギー
分散型の蛍光Ｘ線分析装置を用いて、試料に対して一次
Ｘ線を照射し、試料から放出されるＸ線のスペクトルを
求め、このスペクトルに基づいて試料に含まれている元
素を特定したり（定性分析）、その元素の含有量（濃
度）を求める（定量分析）ことができる。2. Description of the Related Art A fluorescent X-ray analysis method uses, for example, an energy dispersive X-ray fluorescence analyzer to irradiate a sample with primary X-rays and obtains a spectrum of X-rays emitted from the sample. The element contained in the sample can be specified based on the spectrum (qualitative analysis), and the content (concentration) of the element can be obtained (quantitative analysis).
【０００３】ところで、前記定量分析を行うには、試料
の性状、すなわち、試料が合金（固体）であるか、酸化
物（粒体）であるか、溶液（液体）のいずれであるかと
云う情報および前記一次Ｘ線を照射するときに、試料に
直接照射を行っていたのか、そして、マイラーフィルム
など薄膜を介して照射していたのか、また、大気中で照
射したのか真空中で照射したのかと云った測定状態をも
考慮する必要がある。By the way, in order to carry out the above-mentioned quantitative analysis, the property of the sample, that is, whether the sample is an alloy (solid), an oxide (granular body) or a solution (liquid). And, when irradiating the primary X-ray, whether the sample was directly irradiated, and whether it was irradiated through a thin film such as Mylar film, and whether it was irradiated in the atmosphere or in a vacuum. It is also necessary to consider the measurement state.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
蛍光Ｘ線分析方法においては、前記定量計算を行うの
に、図８に示すように、オペレータ（人間）が前記試料
に関する情報をマイクロコンピュータなど演算処理装置
に入力していた。このため、定性分析と定量分析とを自
動的かつ連続的に一貫して行うことができなかった。However, in the conventional fluorescent X-ray analysis method, in order to perform the quantitative calculation, as shown in FIG. 8, an operator (human) calculates information about the sample by a microcomputer or the like. I was inputting to the processor. Therefore, qualitative analysis and quantitative analysis could not be automatically and continuously performed.
【０００５】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的とするところは、試料の性状を測定時
に自動的に判別し、これに基づいて、定性分析に引き続
いて定量分析を自動的かつ連続的に行うことができる蛍
光Ｘ線分析方法を提供することにある。The present invention has been made in consideration of the above matters, and its purpose is to automatically determine the properties of a sample at the time of measurement, and based on this, perform a quantitative analysis subsequent to a qualitative analysis. It is an object of the present invention to provide a fluorescent X-ray analysis method capable of performing automatically and continuously.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る蛍光Ｘ線分析方法は、試料室内に配置
された試料台の状態を判別するための試料台センサの出
力と、試料室内が真空であるか否かを判別するための真
空センサの出力とに基づいて、前記試料の性状判別を行
い、この判別結果を定量計算の際に考慮することによ
り、試料中に含まれる元素の濃度を求めるようにしてい
る。In order to achieve the above object, the fluorescent X-ray analysis method according to the present invention provides an output of a sample stage sensor for determining the state of a sample stage placed in a sample chamber and a sample. Based on the output of the vacuum sensor for determining whether the chamber is in vacuum or not, the property of the sample is determined, and the determination result is taken into consideration in the quantitative calculation, so that the elements contained in the sample I try to find the concentration of.
【０００７】[0007]
【作用】上記構成によれば、例えば試料台センサの出力
の有無によって試料セルが存在しているか否か（薄膜の
有無）が判り、また、真空センサの出力によって測定が
真空状態で行われたのか否かが判る。そして、これら両
出力を組み合わせることにより、表１に示すように、試
料の性状（合金、粒体、溶液の区別）を特定することが
できる。従って、この性状判別を定量計算の際に考慮す
ることにより、試料中に含まれる元素の濃度を求めるこ
とができる。According to the above structure, whether or not the sample cell is present (whether or not there is a thin film) can be determined by the presence or absence of the output of the sample stage sensor, and the measurement can be performed in the vacuum state by the output of the vacuum sensor. You can tell whether or not. Then, by combining these two outputs, as shown in Table 1, the properties of the sample (discrimination between alloy, particles, and solution) can be specified. Therefore, the concentration of the element contained in the sample can be obtained by considering this property discrimination in the quantitative calculation.
【０００８】[0008]
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面に基づいて説
明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【０００９】先ず、図２は本発明に係る蛍光Ｘ線分析方
法において用いる装置の全体構成を示す図で、この図に
おいて、１は装置本体、２は装置本体に対してケーブル
３で接続された制御部である。First, FIG. 2 is a diagram showing the overall structure of an apparatus used in the fluorescent X-ray analysis method according to the present invention. In this figure, 1 is the apparatus body and 2 is connected to the apparatus body by a cable 3. It is a control unit.
【００１０】前記装置本体１のほぼ上面には開閉自在に
枢着されたシールドカバー４で覆われる試料室５が形成
され、この試料室５は、真空ポンプ６などよりなる排気
装置によって適宜真空引きできるように構成されてい
る。A sample chamber 5 which is covered with a shield cover 4 which is pivotally attached so as to be openable and closable is formed on substantially the upper surface of the apparatus main body 1. The sample chamber 5 is appropriately evacuated by an exhaust device such as a vacuum pump 6. It is configured to be able to.
【００１１】前記試料室５の内部のほぼ中央には、図３
に示すような試料テーブル７が形成されている。この試
料テーブル７は、図５〜図７に示すように、試料励起台
８の上部平面を利用して形成されている。そして、この
試料テーブル７のほぼ中央には、後述する試料台１６を
載置保持するための試料台載置部９が凹設され、さら
に、この試料台載置部９のほぼ中央には、試料台１６に
載置保持された試料（後述する）に向けて発せられる一
次Ｘ線１０およびこの照射によって試料において発生し
た蛍光Ｘ線１１を通過させる開口１２が開設されてい
る。In the center of the inside of the sample chamber 5, there is shown in FIG.
The sample table 7 as shown in FIG. As shown in FIGS. 5 to 7, the sample table 7 is formed by utilizing the upper plane of the sample excitation table 8. A sample table mounting portion 9 for mounting and holding a sample table 16 described later is provided in a substantially central portion of the sample table 7, and further, in a substantially central portion of the sample table mounting portion 9, a sample table mounting portion 9 is provided. An opening 12 is provided through which a primary X-ray 10 emitted toward a sample (described later) mounted and held on a sample table 16 and a fluorescent X-ray 11 generated in the sample by this irradiation are passed.
【００１２】そして、前記試料励起台８の下部には、図
５〜図７に示すように、一次Ｘ線１０を発するＸ線源１
３と蛍光Ｘ線１１を検出する半導体検出素子よりなるＸ
線検出器１４が所定の位置関係をもって設けられてい
る。また、試料台載置部９により近い下部には、例えば
フォトカプラよりなる試料台センサ１５が設けられてい
る。Below the sample excitation table 8, as shown in FIGS. 5 to 7, an X-ray source 1 for emitting a primary X-ray 10 is provided.
3 and a semiconductor detection element for detecting the fluorescent X-ray 11
The line detector 14 is provided with a predetermined positional relationship. In addition, a sample table sensor 15 made of, for example, a photocoupler is provided in a lower portion closer to the sample table mounting portion 9.
【００１３】１６は前記試料台載置部９に対して着脱自
在に載置されこれによって保持される試料台で、その上
下いずれの面にも試料または試料セル（いずれも後述す
る）を載置できるように構成されている。すなわち、こ
の試料台１６のほぼ中央には、試料台載置部９に載置し
た状態において、一次Ｘ線１０および蛍光Ｘ線１１を通
過させるのに十分な開口１７が開設されている。また、
この試料台１６の一方の面１８には、ピン１９が樹立さ
れている。Reference numeral 16 denotes a sample table which is detachably mounted on the sample table mounting portion 9 and is held thereby. A sample or a sample cell (both of which will be described later) is mounted on both upper and lower surfaces thereof. It is configured to be able to. That is, an opening 17 sufficient to allow the primary X-rays 10 and the fluorescent X-rays 11 to pass through in the state of being mounted on the sample table mounting portion 9 is formed at approximately the center of the sample table 16. Also,
A pin 19 is erected on one surface 18 of the sample table 16.
【００１４】そして、前記ピン１９が樹立された面１８
には、図３，６，７に示すように、試料セル２０を載置
できるように形成されると共に、試料セル２０を載置し
たときこの試料セル２０が移動しないように、その枠体
２１をガイドする溝２２が形成されている。さらに、試
料台１６の他方の面２３は、図３，５に示すように、固
体試料２４を載置保持できるようにフラットに形成され
ている。なお、前記試料セル２０として、例えば特公昭
５４−２０３６０号公報に示されるものを用いることが
でき、下面にマイラーフィルムのような薄膜が形成され
ている。The surface 18 on which the pin 19 is established
As shown in FIGS. 3, 6 and 7, the sample cell 20 is formed so that the sample cell 20 can be placed on the frame body 21 so that the sample cell 20 does not move when the sample cell 20 is placed. A groove 22 that guides is formed. Further, the other surface 23 of the sample table 16 is formed flat so that the solid sample 24 can be placed and held, as shown in FIGS. As the sample cell 20, for example, the one shown in Japanese Patent Publication No. 54-20360 can be used, and a thin film such as a Mylar film is formed on the lower surface.
【００１５】そして、前記図２において、２５は真空引
きをスタートさせるスイッチ、２６はＸ線を発生させる
スイッチ、２７はインタロック解除スイッチで、これら
のスイッチ２５〜２７は、点灯するように構成されてい
る。また、２８は前記Ｘ線検出器１４を冷却する液体窒
素の残量を表示するランプである。そして、これらのス
イッチ２５〜２７およびランプ２８は、本体装置１の前
面上部に配置されている。また、２９はシールドカバー
４を開閉させるためのスライドスイッチで、詳細な図示
は省略するが、このスライドスイッチ２９を左右方向に
スライドすることにより、試料室５内を密封するように
シールドカバー４をロックしたり、このロック状態を解
除するように構成されている。In FIG. 2, reference numeral 25 is a switch for starting vacuum evacuation, 26 is a switch for generating X-rays, 27 is an interlock release switch, and these switches 25 to 27 are lit up. ing. Reference numeral 28 is a lamp that displays the remaining amount of liquid nitrogen that cools the X-ray detector 14. The switches 25 to 27 and the lamp 28 are arranged on the upper front surface of the main body device 1. Reference numeral 29 is a slide switch for opening and closing the shield cover 4, and although detailed illustration is omitted, sliding the slide switch 29 in the left-right direction causes the shield cover 4 to be sealed so as to seal the inside of the sample chamber 5. It is configured to lock or unlock this locked state.
【００１６】図４は真空ポンプ６を制御するための構成
例を示し、この図において、３０は図１に示した制御部
２に設けられるＣＰＵ、３１は試料室５内の真空度を検
出する真空センサで、詳細には図示してないが、例えば
装置本体１内に設けられている。FIG. 4 shows an example of the structure for controlling the vacuum pump 6. In this figure, 30 is a CPU provided in the control unit 2 shown in FIG. 1, and 31 is the degree of vacuum in the sample chamber 5. Although not shown in detail, the vacuum sensor is provided in the apparatus main body 1, for example.
【００１７】次に、上記構成の蛍光Ｘ線分析装置を用い
て、試料の測定を行う手順について説明する。Next, a procedure for measuring a sample by using the X-ray fluorescence analyzer having the above structure will be described.
【００１８】例えば固体試料２４を測定する場合は、図
５に示すように、試料台１６を、ピン１９が下方に位置
するように（第１状態で）、試料テーブル７に形成され
た試料台載置部９に載置し、載置面２３上に固体試料２
４を載置した後、シールドカバー４を閉じ、試料室５を
密閉する。試料台１６が前記第１状態にあるので、ピン
１９が試料台センサ１５によって検知され、図４に示す
ように、試料台センサ１５からオン信号ａが出力され、
これがＣＰＵ３０に入力される。この場合、ここで、真
空引きスタートスイッチ２５をオンすると、このスター
ト信号ｂがＣＰＵ３０に入力される。従って、ＣＰＵ３
０から真空ポンプ６をオンさせる信号ｃが出力され、真
空ポンプ６が動作して試料室５内が真空引きされる。所
定の真空状態になると、真空引きスタートスイッチ２５
が点灯する。そして、所定の真空度に達すると真空セン
サ３１から検知信号ｄが出力され、ＣＰＵ３０に入力さ
れる。ここで、スイッチ２６をオンさせることによりＸ
線源１３が動作して、一次Ｘ線１０が発生し、測定が開
始される。For example, when measuring the solid sample 24, as shown in FIG. 5, the sample table 16 is formed on the sample table 7 so that the pin 19 is located below (in the first state). The solid sample 2 is placed on the placing part 9 and placed on the placing surface 23.
After placing 4, the shield cover 4 is closed and the sample chamber 5 is sealed. Since the sample table 16 is in the first state, the pin 19 is detected by the sample table sensor 15, and the ON signal a is output from the sample table sensor 15 as shown in FIG.
This is input to the CPU 30. In this case, when the vacuum evacuation start switch 25 is turned on, this start signal b is input to the CPU 30. Therefore, CPU3
A signal c for turning on the vacuum pump 6 is output from 0, the vacuum pump 6 operates, and the inside of the sample chamber 5 is evacuated. When a predetermined vacuum state is reached, the vacuum evacuation start switch 25
Lights up. When the degree of vacuum reaches a predetermined level, the vacuum sensor 31 outputs a detection signal d, which is input to the CPU 30. Here, by turning on the switch 26, X
The radiation source 13 operates, the primary X-ray 10 is generated, and the measurement is started.
【００１９】また、液体試料を測定する場合は、次のよ
うになる。すなわち、図６に示すように、試料台１６
を、ピン１９が上方に位置するように（第２状態で）、
試料台載置部９に載置し、載置面１８上に液体試料３２
を収容した試料セル２０を載置した後、シールドカバー
４を閉じ、試料室５を密閉する。試料台１６が前記第２
状態にあるので、試料台センサ１５からは出力がなく、
インタロックがかかる。ここで、真空引きスタートスイ
ッチ２５をオンするが、インタロックがかかっているの
で、ＣＰＵ３０から真空ポンプ６をオンさせる信号ｃは
出力されず、従って、試料室５内が真空引きされること
はなく、真空センサ３１から検知信号ｄが出力されるこ
とはない。ここで、スイッチ２６をオンさせることによ
りＸ線源１３が動作して、一次Ｘ線１０が発生し、測定
が開始される。When measuring a liquid sample, the method is as follows. That is, as shown in FIG.
So that the pin 19 is located above (in the second state),
The liquid sample 32 is placed on the sample table 9 and placed on the mounting surface 18.
After placing the sample cell 20 accommodating therein, the shield cover 4 is closed and the sample chamber 5 is sealed. The sample table 16 is the second
Since there is no output from the sample stage sensor 15,
Interlock is applied. Here, the evacuation start switch 25 is turned on, but since the interlock is applied, the signal c for turning on the vacuum pump 6 is not output from the CPU 30, so that the inside of the sample chamber 5 is not evacuated. The detection signal d is not output from the vacuum sensor 31. Here, by turning on the switch 26, the X-ray source 13 operates, the primary X-ray 10 is generated, and the measurement is started.
【００２０】そして、粒体試料を測定する場合は、次の
ようになる。すなわち、図７に示すように、試料台１６
を、前記第２状態で試料台載置部９に載置し、載置面１
８上に粒体試料３３を収容した試料セル２０を載置した
後、シールドカバー４を閉じ、試料室５を密閉する。試
料台１６が前記第２状態にあるので、試料台センサ１５
からは出力がなく、インタロックがかかる。ここで、真
空引きスタートスイッチ２５をオンすると共に、インタ
ロック解除スイッチ２７をオンすることにより、スター
ト信号ｂとインタロック解除信号ｅがＣＰＵ３０に入力
される。従って、ＣＰＵ３０から真空ポンプ６をオンさ
せる信号ｃが出力され、真空ポンプ６が動作して試料室
５内が真空引きされる。所定の真空度に達すると真空セ
ンサ３１から検知信号ｄが出力され、ＣＰＵ３０に入力
される。ここで、スイッチ２６をオンさせることにより
Ｘ線源１３が動作して、一次Ｘ線１０が発生し、測定が
開始される。Then, in the case of measuring a granular sample, it is as follows. That is, as shown in FIG.
Is placed on the sample stage placing section 9 in the second state, and the placing surface 1
After placing the sample cell 20 containing the granular sample 33 on the sample 8, the shield cover 4 is closed and the sample chamber 5 is sealed. Since the sample table 16 is in the second state, the sample table sensor 15
There is no output from and interlock is applied. When the vacuum evacuation start switch 25 and the interlock release switch 27 are turned on, the start signal b and the interlock release signal e are input to the CPU 30. Therefore, the signal c for turning on the vacuum pump 6 is output from the CPU 30, and the vacuum pump 6 operates to evacuate the inside of the sample chamber 5. When the predetermined vacuum degree is reached, a detection signal d is output from the vacuum sensor 31 and input to the CPU 30. Here, by turning on the switch 26, the X-ray source 13 operates, the primary X-ray 10 is generated, and the measurement is started.
【００２１】上記説明から理解されるように、固体試料
２４を測定する場合のように、試料台１６を試料台載置
部９に第１状態でセットしたときは、試料台センサ１５
から出力ａが得られる。一方、液体試料３２や粒体試料
３３を測定する場合のように、試料台１６を試料台載置
部９に第２状態でセットしたときは、試料台センサ１５
から出力ａは得られない。前記出力ａの有無は、マイラ
ーフィルムなどの薄膜の「有り」、「無し」と関係して
いる。つまり、「試料台センサ出力ａが有る」というこ
とは、「薄膜無し」で測定を行うことを意味し、「試料
台センサ出力ａが無い」ということは、「薄膜有り」で
測定を行うことを意味し、測定条件が自動的に設定され
る。As can be understood from the above description, when the sample table 16 is set in the sample table mounting portion 9 in the first state as in the case of measuring the solid sample 24, the sample table sensor 15 is used.
Gives the output a. On the other hand, when the sample table 16 is set in the sample table mounting portion 9 in the second state as in the case of measuring the liquid sample 32 or the granular sample 33, the sample table sensor 15
Output a cannot be obtained from The presence / absence of the output a is related to “existence” and “absence” of a thin film such as Mylar film. In other words, "there is sample stage sensor output a" means that measurement is performed "without thin film", and "there is no sample stage sensor output a" is that measurement is performed with "thin film". Means that the measurement conditions are set automatically.
【００２２】つまり、試料台センサ１５の出力ａの有無
によって、薄膜を用いた測定であるのか否かが判る。ま
た、真空センサ３１の出力ｄによって、試料室５内が真
空引きされているか否かが判る。That is, whether or not the measurement is performed using a thin film can be determined by the presence or absence of the output a of the sample stage sensor 15. Further, the output d of the vacuum sensor 31 makes it possible to know whether or not the inside of the sample chamber 5 is evacuated.
【００２３】一方、測定対象が溶液など液体であるとき
は試料室５内を真空引きすることができないが、酸化物
など粒体のときは真空引きが可能である。そして、合金
など固体のときは真空引きしてもよく、また、真空引き
しなくてもよい。On the other hand, when the object to be measured is a liquid such as a solution, the inside of the sample chamber 5 cannot be evacuated, but when it is a particle such as an oxide, it can be evacuated. Further, when it is a solid such as an alloy, it may be evacuated or may not be evacuated.
【００２４】従って、上記試料台センサ１５の出力ａと
真空センサ３１の出力ｄとに基づいて、試料の性状（固
体、粒体、液体の別）を得ることができ、その関係は、
表１のようになる。Therefore, based on the output a of the sample stage sensor 15 and the output d of the vacuum sensor 31, the properties of the sample (whether solid, granular or liquid) can be obtained.
It becomes like Table 1.
【００２５】[0025]
【表１】 [Table 1]
【００２６】なお、前記表１において、真空の欄におけ
る○は真空引きを、×は真空引きでないことを、それぞ
れ表している。In Table 1, ◯ in the vacuum column indicates vacuuming, and x indicates not vacuuming.
【００２７】従って、図１に示すように、制御部２にお
いて定量計算するに際し、試料の性状判別結果を加味す
ることにより、試料中に含まれる元素の濃度を精度よく
求めることができる。Therefore, as shown in FIG. 1, the concentration of the element contained in the sample can be accurately obtained by taking into consideration the property determination result of the sample when the control unit 2 quantitatively calculates.
【００２８】ここで、蛍光Ｘ線分析の定量計算の例を簡
単に示すと次のようになる。すなわち、試料中に含まれ
る元素濃度は、下記数１で示される連立方程式（１）を
解くことによって得られる。Here, an example of quantitative calculation of fluorescent X-ray analysis will be briefly described as follows. That is, the element concentration contained in the sample can be obtained by solving the simultaneous equations (1) shown in the following mathematical expression 1.
【００２９】[0029]
【数１】 [Equation 1]
【００３０】しかし、合金（固体）試料、水溶液（液
体）試料、酸化物（粒体）試料の場合においては、前記
連立方程式（１）のみでは解を求めることができないこ
とがあるので、これについて説明すると次のようにな
る。However, in the case of an alloy (solid) sample, an aqueous solution (liquid) sample, and an oxide (granular) sample, it may not be possible to obtain a solution only with the simultaneous equations (1), so regarding this The explanation is as follows.
【００３１】１．合金試料の場合 ｎ＝ｍ、すなわち、試料中に存在する元素の蛍光Ｘ線が
全て検出できる場合で、前記連立方程式（１）は、求め
るべき未知数である元素濃度の数と式の数が等しいた
め、解を求めることができる。1. In the case of alloy sample, n = m, that is, when all the fluorescent X-rays of the elements present in the sample can be detected, the simultaneous equation (1) has the same number of equations as the number of unknown element concentrations to be obtained. Therefore, the solution can be obtained.
【００３２】２．水溶液試料の場合 主成分である水の構成元素Ｈ（水素）、Ｏ（酸素）の蛍
光Ｘ線は検出できないため、ｎ＞ｍとなる。従って、前
記連立方程式（１）はそのままでは解けない。蛍光Ｘ線
が検出される元素以外はＨ2 Ｏ（水）であると云う試料
情報を入れてやると、下記数２で示される２つの式
（２），（３）が追加され、解を求めることができる。2. In the case of an aqueous solution sample Since fluorescent X-rays of the constituent elements H (hydrogen) and O (oxygen) of water, which are the main components, cannot be detected, n> m. Therefore, the simultaneous equations (1) cannot be solved as they are. If the sample information that H 2 O (water) is included other than the element for which the fluorescent X-ray is detected is added, the two equations (2) and (3) shown in the following equation 2 are added, and the solution is obtained. You can ask.
【００３３】[0033]
【数２】 [Equation 2]
【００３４】３．酸化物試料の場合 例えば試料中にＦｅ2 Ｏ3 とＣａＯのような酸化物が含
まれる場合、Ｆｅ（鉄）とＣａ（カルシウム）の蛍光Ｘ
線は検出できるが、Ｏの蛍光Ｘ線は検出できないため、
ｎ＞ｍとなる。従って、前記連立方程式（１）はそのま
までは解けない。そこで、Ｆｅ２原子に対しＯ３原子、
Ｃａ１原子に対しＯ１原子と云うように、試料の構成物
質の化学式を情報として入れてやると、下記数３で示さ
れる式（４）が追加され、解を求めることができる。3. In the case of oxide sample For example, when the sample contains oxides such as Fe 2 O 3 and CaO, fluorescence X of Fe (iron) and Ca (calcium)
Line can be detected, but fluorescent X-ray of O cannot be detected.
n> m. Therefore, the simultaneous equations (1) cannot be solved as they are. Therefore, for Fe2 atom, O3 atom,
If the chemical formulas of the constituent substances of the sample are entered as information such as O1 atom for Ca1 atom, the formula (4) shown in the following Expression 3 is added, and the solution can be obtained.
【００３５】[0035]
【数３】 [Equation 3]
【００３６】[0036]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
従来の蛍光Ｘ線分析方法のように、定量計算に際して、
試料に関する情報を人間がコンピュータなど処理装置に
入力する必要がなく、試料に一次Ｘ線を照射する段階
で、その試料がどういう性状のものであるかを自動的に
判別することができる。従って、本発明によれば、試料
の定性分析に引き続いて定量分析を自動的に行うことが
でき、試料中に含まれる元素の濃度を自動的にしかも精
度よく求めることができる。As described above, according to the present invention,
Like the conventional X-ray fluorescence analysis method, in quantitative calculation,
It is not necessary for a human to input information about the sample into a processing device such as a computer, and it is possible to automatically determine what the sample is like at the stage of irradiating the sample with primary X-rays. Therefore, according to the present invention, the quantitative analysis can be automatically performed subsequent to the qualitative analysis of the sample, and the concentration of the element contained in the sample can be automatically and accurately determined.
【図１】本発明に係る蛍光Ｘ線分析方法を説明するため
の図である。FIG. 1 is a diagram for explaining a fluorescent X-ray analysis method according to the present invention.
【図２】本発明に係る蛍光Ｘ線分析方法を実施するため
の蛍光Ｘ線分析装置の全体構成を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing the overall configuration of a fluorescent X-ray analysis apparatus for carrying out the fluorescent X-ray analysis method according to the present invention.
【図３】前記蛍光Ｘ線分析装置の要部の構成を示す分解
斜視図である。FIG. 3 is an exploded perspective view showing a configuration of a main part of the X-ray fluorescence analyzer.
【図４】制御系統の一例を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing an example of a control system.
【図５】固体試料の測定状態を示す部分断面図である。FIG. 5 is a partial cross-sectional view showing a measurement state of a solid sample.
【図６】液体試料の測定状態を示す部分断面図である。FIG. 6 is a partial cross-sectional view showing a measurement state of a liquid sample.
【図７】粒体試料の測定状態を示す部分断面図である。FIG. 7 is a partial cross-sectional view showing a measurement state of a granular sample.
【図８】従来の蛍光Ｘ線分析方法を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a conventional fluorescent X-ray analysis method.
５…試料室、１０…一次Ｘ線、１１…蛍光Ｘ線、１５…
試料台センサ、２４…固体試料、２５，２７…操作スイ
ッチ、３１…真空センサ、３２…液体試料、３３…粒体
試料、ａ…試料台センサの出力、ｄ…真空センサの出
力。5 ... Sample chamber, 10 ... Primary X-ray, 11 ... Fluorescent X-ray, 15 ...
Sample stage sensor, 24 ... Solid sample, 25, 27 ... Operation switch, 31 ... Vacuum sensor, 32 ... Liquid sample, 33 ... Granular sample, a ... Output of sample stage sensor, d ... Output of vacuum sensor.
Claims (1)
Ｘ線を照射し、試料から放出される蛍光Ｘ線に基づいて
試料の定量分析を行う蛍光Ｘ線分析方法において、前記
試料室内に配置された試料台の状態を判別するための試
料台センサの出力と、試料室内が真空であるか否かを判
別するための真空センサの出力とに基づいて、前記試料
の性状判別を行い、この判別結果を定量計算の際に考慮
することにより、試料中に含まれる元素の濃度を求める
ことを特徴とする蛍光Ｘ線分析方法。1. A fluorescent X-ray analysis method for irradiating a sample placed in a sample chamber with primary X-rays and quantitatively analyzing the sample based on the fluorescent X-rays emitted from the sample. Based on the output of the sample stage sensor for determining the state of the placed sample stage, and the output of the vacuum sensor for determining whether the sample chamber is vacuum, perform the property determination of the sample, A fluorescent X-ray analysis method, characterized in that the concentration of an element contained in a sample is obtained by considering this determination result in quantitative calculation.
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|---|---|---|---|
| JP4299286A JP2767582B2 (en) | 1992-10-11 | 1992-10-11 | X-ray fluorescence analysis method |
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| JPH06123714A true JPH06123714A (en) | 1994-05-06 |
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| JP (1) | JP2767582B2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0955539A3 (en) * | 1998-05-07 | 2002-07-31 | Bruker AXS GmbH | Compact X-ray spectrometer |
| JP2007225469A (en) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Sii Nanotechnology Inc | X-ray fluorescence analyzer |
| JP2021135160A (en) * | 2020-02-27 | 2021-09-13 | 株式会社島津製作所 | Fluorescent x-ray analyzer |
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| JP5524521B2 (en) * | 2009-06-30 | 2014-06-18 | 株式会社堀場製作所 | X-ray fluorescence analyzer |
| JP5523805B2 (en) * | 2009-12-03 | 2014-06-18 | 株式会社堀場製作所 | Sample cell assembly tool |
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1992
- 1992-10-11 JP JP4299286A patent/JP2767582B2/en not_active Expired - Fee Related
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| EP0955539A3 (en) * | 1998-05-07 | 2002-07-31 | Bruker AXS GmbH | Compact X-ray spectrometer |
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| JP2767582B2 (en) | 1998-06-18 |
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