JPH06123753A - コネクタの端子検査器 - Google Patents
コネクタの端子検査器Info
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- JPH06123753A JPH06123753A JP5101186A JP10118693A JPH06123753A JP H06123753 A JPH06123753 A JP H06123753A JP 5101186 A JP5101186 A JP 5101186A JP 10118693 A JP10118693 A JP 10118693A JP H06123753 A JPH06123753 A JP H06123753A
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- Japan
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- 239000000523 sample Substances 0.000 description 35
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 13
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- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
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- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 コネクタをコネクタ保持部に安定的かつ正確
に位置決めして、コネクタの端子検査を改良的に行い得
るコネクタの端子検査器を提供すること。 【構成】 検査部2と、前記検査部2の前方に対向して
設けられたコネクタ保持部3とを具備し、該検査部2及
びコネクタ保持部3の何れか一方が他方に対して前後方
向へ接離可能に相対的に移動可能であり、前記コネクタ
保持部3は、前方の保持板部8と、該保持板部8から後
方へ伸びかつ互に対向する位置決め枠22A、22Bと
を具備してなる。これにより、コネクタ5を安定的かつ
正確に保持する。
に位置決めして、コネクタの端子検査を改良的に行い得
るコネクタの端子検査器を提供すること。 【構成】 検査部2と、前記検査部2の前方に対向して
設けられたコネクタ保持部3とを具備し、該検査部2及
びコネクタ保持部3の何れか一方が他方に対して前後方
向へ接離可能に相対的に移動可能であり、前記コネクタ
保持部3は、前方の保持板部8と、該保持板部8から後
方へ伸びかつ互に対向する位置決め枠22A、22Bと
を具備してなる。これにより、コネクタ5を安定的かつ
正確に保持する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コネクタに収容した電
線端子の挿着姿勢や導通性の挿入状態検査に使用するコ
ネクタの端子検査器に関するものである。
線端子の挿着姿勢や導通性の挿入状態検査に使用するコ
ネクタの端子検査器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、前記のコネクタの端子検査器は、
実公昭53−18545号、実公昭55−8221号公
報等の公知例があり、それ等は共通して、正面にコネク
タ嵌合部を設けた検査器本体を有し、該本体に複数の検
査ピンを併並設してその先端をコネクタと対向させると
共に、該検査ピンはコネクタ方向に付勢され、かつ中間
間隔を介して2分されており、検査時に該検査ピンがコ
ネクタ内の端子と接触して後退すると、2分されている
該検査ピンが接触して回路を導通し、所要の検査を行う
構造になっている。
実公昭53−18545号、実公昭55−8221号公
報等の公知例があり、それ等は共通して、正面にコネク
タ嵌合部を設けた検査器本体を有し、該本体に複数の検
査ピンを併並設してその先端をコネクタと対向させると
共に、該検査ピンはコネクタ方向に付勢され、かつ中間
間隔を介して2分されており、検査時に該検査ピンがコ
ネクタ内の端子と接触して後退すると、2分されている
該検査ピンが接触して回路を導通し、所要の検査を行う
構造になっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、第1の従来
例の実公昭53−18545号では、検査すべきコネク
タCを本体1のピン3に嵌合した後に、該本体1を回動
させることにより、コネクタCを本体1及びガイド板2
3間に圧入固定して上記コネクタ及びピン3の完全接触
を行わせる構成であるが、コネクタを本体に嵌合させる
ときにコネクタはフリー状態でふらつき易くかつ本体も
回動自在の状態のため、ピンに対して斜めの力が加わっ
て装置が痛み易く、また上記圧入に要する力が大きく大
変であった。
例の実公昭53−18545号では、検査すべきコネク
タCを本体1のピン3に嵌合した後に、該本体1を回動
させることにより、コネクタCを本体1及びガイド板2
3間に圧入固定して上記コネクタ及びピン3の完全接触
を行わせる構成であるが、コネクタを本体に嵌合させる
ときにコネクタはフリー状態でふらつき易くかつ本体も
回動自在の状態のため、ピンに対して斜めの力が加わっ
て装置が痛み易く、また上記圧入に要する力が大きく大
変であった。
【0004】次に、第2の従来例の実公昭55−822
1号では、コネクタAを支持板2に予じめ取付けた後
に、レバー17を操作してそのカム9により検査器本体
1を前後方向へスライド移動させて該本体及び支持板間
にコネクタを挟持して、コネクタ及びピン11の接触を
行わせる構成としている。これにより、ピンに対して斜
めの力が加わらないようにし、かつレバー操作により操
作力を小さくして、上記第1の従来例の欠点を解消しよ
うとしている。
1号では、コネクタAを支持板2に予じめ取付けた後
に、レバー17を操作してそのカム9により検査器本体
1を前後方向へスライド移動させて該本体及び支持板間
にコネクタを挟持して、コネクタ及びピン11の接触を
行わせる構成としている。これにより、ピンに対して斜
めの力が加わらないようにし、かつレバー操作により操
作力を小さくして、上記第1の従来例の欠点を解消しよ
うとしている。
【0005】しかるに、上記第2の従来例においても、
コネクタAは単に一枚板形状の支持板2の孔部に嵌合さ
れて片持状に取付けらるのみゆえ、コネクタの取付け状
態はがたついてふらつくおそれがあり、この状態でピン
に嵌合されると、検査ピン又はコネクタの端子が傷つき
易いという欠点があった。
コネクタAは単に一枚板形状の支持板2の孔部に嵌合さ
れて片持状に取付けらるのみゆえ、コネクタの取付け状
態はがたついてふらつくおそれがあり、この状態でピン
に嵌合されると、検査ピン又はコネクタの端子が傷つき
易いという欠点があった。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明のコネクタの端子検査器は、検査部2と、前記
検査部2の前方に対向して設けられたコネクタ保持部3
とを具備し、該検査部2及びコネクタ保持部3の何れか
一方が他方に対して前後方向へ接離可能に相対的に移動
可能であるコネクタの端子検査器において、前記コネク
タ保持部3は、前方の保持板部8と、該保持板部8から
後方へ伸びかつ互に対向する位置決め枠22A、22B
とを具備することを特徴とする。
の本発明のコネクタの端子検査器は、検査部2と、前記
検査部2の前方に対向して設けられたコネクタ保持部3
とを具備し、該検査部2及びコネクタ保持部3の何れか
一方が他方に対して前後方向へ接離可能に相対的に移動
可能であるコネクタの端子検査器において、前記コネク
タ保持部3は、前方の保持板部8と、該保持板部8から
後方へ伸びかつ互に対向する位置決め枠22A、22B
とを具備することを特徴とする。
【0007】
【作用】上記構成により、コネクタはコネクタ保持部に
対して、保持板部8及び両側の位置決め枠22A、22
Bからなる略コ字形空間内に嵌合収納されて、3つの側
方から支持されるため、保持姿勢が安定して、位置決め
精度が向上し、コネクタががた付くことがないので、検
査プローブ又はコネクタの端子が傷つくおそれもない。
対して、保持板部8及び両側の位置決め枠22A、22
Bからなる略コ字形空間内に嵌合収納されて、3つの側
方から支持されるため、保持姿勢が安定して、位置決め
精度が向上し、コネクタががた付くことがないので、検
査プローブ又はコネクタの端子が傷つくおそれもない。
【0008】更に、コネクタ及びその保持部の互いの係
合部5a、22Cを係合させるようにすれば、一層がた
付きなく正確に位置決めされる。
合部5a、22Cを係合させるようにすれば、一層がた
付きなく正確に位置決めされる。
【0009】
【実施例】以下、実施例図面を参照して詳しく説明す
る。その一実施例を示す図1〜図3において、本発明の
端子検査器は、横断面U字状の溝形の台枠1の中間位置
に、検査プローブ9を挿着した検査部2が載設されてお
り、検査部2は台枠1の前後方向に移動自在である。そ
して、検査部2の前方には、検査部2に対向したコネク
タ保持部3が台枠1の前端部分に固設してある。
る。その一実施例を示す図1〜図3において、本発明の
端子検査器は、横断面U字状の溝形の台枠1の中間位置
に、検査プローブ9を挿着した検査部2が載設されてお
り、検査部2は台枠1の前後方向に移動自在である。そ
して、検査部2の前方には、検査部2に対向したコネク
タ保持部3が台枠1の前端部分に固設してある。
【0010】このコネクタ保持部3は、前方の保持板部
8と、一対の位置決め枠22A、22Bとからなる。位
置決め枠22A、22Bは実質的に、保持板部8の両側
部から後方へ伸びかつ互に対向しており、その上方及び
後方は夫々上方開口部32、後方開口部33を形成して
いる。従って、コネクタ5がコネクタ保持部3内に上方
から上方開口部32を介して装着収納されたとき、コネ
クタ5は位置決め枠22A、22B及び保持板部8から
なる略コ字形空間内にがた付き無く正確に位置決めされ
る。更にこのときコネクタ5はその突条5aが位置決め
枠22Aの凹条22Cにスライド係合して位置決め枠2
2A、22Bに対して一層がた付き無く正確に位置決め
される。
8と、一対の位置決め枠22A、22Bとからなる。位
置決め枠22A、22Bは実質的に、保持板部8の両側
部から後方へ伸びかつ互に対向しており、その上方及び
後方は夫々上方開口部32、後方開口部33を形成して
いる。従って、コネクタ5がコネクタ保持部3内に上方
から上方開口部32を介して装着収納されたとき、コネ
クタ5は位置決め枠22A、22B及び保持板部8から
なる略コ字形空間内にがた付き無く正確に位置決めされ
る。更にこのときコネクタ5はその突条5aが位置決め
枠22Aの凹条22Cにスライド係合して位置決め枠2
2A、22Bに対して一層がた付き無く正確に位置決め
される。
【0011】またこのとき、コネクタ5の電線14が保
持板部8の開口部7に遊挿され、また図2に示す如く、
コネクタ5の後端はコネクタ保持部3の後方開口部33
から後方へ、つまり検査部2の方へ突出する。
持板部8の開口部7に遊挿され、また図2に示す如く、
コネクタ5の後端はコネクタ保持部3の後方開口部33
から後方へ、つまり検査部2の方へ突出する。
【0012】一方、検査部2の後方には、台枠1の後端
に立設した槓杆状の操作レバー10があり、操作レバー
10はその作用点に取付けたリンク12を介して検査部
2後端の作動軸11と連結されており、操作レバー1
0、リンク12ならびに作動軸11によって操作部4を
構成し、操作レバー10の前倒、起立によって、検査部
2には増幅した押し力、引き力が与えられ、検査部2が
台枠1上を前後作動する。なお図中の20は作動軸11
の案内である。
に立設した槓杆状の操作レバー10があり、操作レバー
10はその作用点に取付けたリンク12を介して検査部
2後端の作動軸11と連結されており、操作レバー1
0、リンク12ならびに作動軸11によって操作部4を
構成し、操作レバー10の前倒、起立によって、検査部
2には増幅した押し力、引き力が与えられ、検査部2が
台枠1上を前後作動する。なお図中の20は作動軸11
の案内である。
【0013】詳しくは、検査部2には、図2に示す如
く、前方にコネクタ5の後部を僅かに嵌入する凹部16
があり、凹部16の底壁部に検査部2の前後方向に伸び
る貫通孔が穿設されて検査プローブ9が挿入さており、
凹部16内にその頭部を突出して挿着されている。な
お、検査プローブ9は検査すべきコネクタ5に収容した
端子13の位置に対応させて多数個配列してある。
く、前方にコネクタ5の後部を僅かに嵌入する凹部16
があり、凹部16の底壁部に検査部2の前後方向に伸び
る貫通孔が穿設されて検査プローブ9が挿入さており、
凹部16内にその頭部を突出して挿着されている。な
お、検査プローブ9は検査すべきコネクタ5に収容した
端子13の位置に対応させて多数個配列してある。
【0014】そして検査プローブ9は、図3の様に、金
属管体31に収容され、スライド自在の一対の前方プロ
ーブ17Aと後方プローブ17Bから成っており、前方
プローブ17Aと後方プローブ17Bは、個別に前方に
付勢されると共に、自由時には前方プローブ17Aの後
端と後方プローブ17Bの先端間には、僅かに間隙Gが
介在して両者が隔離している。
属管体31に収容され、スライド自在の一対の前方プロ
ーブ17Aと後方プローブ17Bから成っており、前方
プローブ17Aと後方プローブ17Bは、個別に前方に
付勢されると共に、自由時には前方プローブ17Aの後
端と後方プローブ17Bの先端間には、僅かに間隙Gが
介在して両者が隔離している。
【0015】即ち、前方プローブ17Aはその前半部分
が金属管体31から突出して収容され、後半部分は中間
の段差部17’と金属管体31の前端間にコイルばね1
8Aを装着して前方に付勢され、自由時には図示の位置
で停止している。また後方プローブ17Bは前半部分を
金属管体31の中空部に内在すると共に、後半部分はコ
イルばね18Bと直列して金属製外套管19に挿入さ
れ、外套管19の前端部分は絶縁材21を介して金属管
体31に固着されている。そして、後方プローブ17B
は外套管19内のコイルばね18Bによって前方に付勢
され、自由時には図示の位置で停止して、前方プローブ
17Aとの間に上記間隙Gが介在している。
が金属管体31から突出して収容され、後半部分は中間
の段差部17’と金属管体31の前端間にコイルばね1
8Aを装着して前方に付勢され、自由時には図示の位置
で停止している。また後方プローブ17Bは前半部分を
金属管体31の中空部に内在すると共に、後半部分はコ
イルばね18Bと直列して金属製外套管19に挿入さ
れ、外套管19の前端部分は絶縁材21を介して金属管
体31に固着されている。そして、後方プローブ17B
は外套管19内のコイルばね18Bによって前方に付勢
され、自由時には図示の位置で停止して、前方プローブ
17Aとの間に上記間隙Gが介在している。
【0016】即ち、検査プローブ9は共通の金属管体3
1に、後半部分を収容する前方プローブ17Aと前半部
分を収容する後方プローブ17Bが直列に配列されて個
別に前方付勢され、かつ、前方プローブ17Aは金属管
体31に金属間摺動の進退自在に収容されると共に、後
方プローブ17Bは、金属管体31に絶縁材21を介し
て取着した金属製外套管19に、金属間摺動の進退自在
に収容されて、全体がユニット化されている。
1に、後半部分を収容する前方プローブ17Aと前半部
分を収容する後方プローブ17Bが直列に配列されて個
別に前方付勢され、かつ、前方プローブ17Aは金属管
体31に金属間摺動の進退自在に収容されると共に、後
方プローブ17Bは、金属管体31に絶縁材21を介し
て取着した金属製外套管19に、金属間摺動の進退自在
に収容されて、全体がユニット化されている。
【0017】従って、自由時には、前方プローブ17A
と後方プローブ17Bが間隙Gを介して隔離し、検査時
には、前方プローブ17Aが後退して後方プローブ17
Bと接触導通する構造になっている。
と後方プローブ17Bが間隙Gを介して隔離し、検査時
には、前方プローブ17Aが後退して後方プローブ17
Bと接触導通する構造になっている。
【0018】以上の構成からなる本発明の端子検査器
は、図2の様にコネクタ保持部3の上方から検査すべき
コネクタ5が装着され、しかる後、操作レバー10を前
倒すると、検査部2に増幅した押し力が付与されて前進
作動し、その前方の凹部16にコネクタ5の後端部分が
嵌入する。そして、コネクタ5に正常な挿着姿勢の端子
13があると、前記プローブ17Aは、端子13と干渉
するため、コイルばね18Aの付勢に抗して金属管体3
1内に後退し、後方プローブ17Bと接触する。
は、図2の様にコネクタ保持部3の上方から検査すべき
コネクタ5が装着され、しかる後、操作レバー10を前
倒すると、検査部2に増幅した押し力が付与されて前進
作動し、その前方の凹部16にコネクタ5の後端部分が
嵌入する。そして、コネクタ5に正常な挿着姿勢の端子
13があると、前記プローブ17Aは、端子13と干渉
するため、コイルばね18Aの付勢に抗して金属管体3
1内に後退し、後方プローブ17Bと接触する。
【0019】かくして、端子13の電線14と後方プロ
ーブ17Bの外套管19に接続した電線15を接続する
と、端子13を経由する回路が導通し、電気的導通性能
の良いことが確認できる。また、端子13の欠品または
姿勢不良があると、前記の導通が不能となって不良品が
確認される。
ーブ17Bの外套管19に接続した電線15を接続する
と、端子13を経由する回路が導通し、電気的導通性能
の良いことが確認できる。また、端子13の欠品または
姿勢不良があると、前記の導通が不能となって不良品が
確認される。
【0020】特に多極高密度端子のコネクタ検査におい
て、前方プローブ17Aがコネクタ5の狭い端子キャビ
ティーに挿入されても、そのキャビティーに干渉して姿
勢崩れや端子との接触不能等のトラブルが発生せず、良
好なコネクタの端子検査が能率的に行える。
て、前方プローブ17Aがコネクタ5の狭い端子キャビ
ティーに挿入されても、そのキャビティーに干渉して姿
勢崩れや端子との接触不能等のトラブルが発生せず、良
好なコネクタの端子検査が能率的に行える。
【0021】
【発明の効果】 コネクタ5は、コネクタ保持部3の保持板部8と1
対の対向する位置決め枠22A、22Bとにより形成さ
れた略コ字形空間内に嵌合装着され、3つの側方から支
持されるため、従来単に1枚板形状のコネクタ保持部に
片持状に保持される場合に比して、保持姿勢が安定して
がた付かずに正確に位置決めされるので、コネクタの位
置確認や位置矯正が不要となり作業工数を低減し得ると
共に、作業精度を向上し得る。
対の対向する位置決め枠22A、22Bとにより形成さ
れた略コ字形空間内に嵌合装着され、3つの側方から支
持されるため、従来単に1枚板形状のコネクタ保持部に
片持状に保持される場合に比して、保持姿勢が安定して
がた付かずに正確に位置決めされるので、コネクタの位
置確認や位置矯正が不要となり作業工数を低減し得ると
共に、作業精度を向上し得る。
【0022】 従って、検査部2及びコネクタ保持部
3の何れかを相対移動させて、該検査部2をコネクタに
押付けて上記保持板部8に押圧させたときに、コネクタ
ががた付いて検査プローブ又はコネクタの端子が損傷し
たり、検査不良を生じたりするおそれがない。
3の何れかを相対移動させて、該検査部2をコネクタに
押付けて上記保持板部8に押圧させたときに、コネクタ
ががた付いて検査プローブ又はコネクタの端子が損傷し
たり、検査不良を生じたりするおそれがない。
【0023】 コネクタ5及びコネクタ保持部3に夫
々係合部5a、22Cを設けて互に係合させるようにす
れば、コネクタが該保持部3に対して極めて正確にかつ
一層がた付きなく位置決めされるので、作業工数の一層
の低減及びコネクタの一層の位置決め精度の向上を図り
得る。
々係合部5a、22Cを設けて互に係合させるようにす
れば、コネクタが該保持部3に対して極めて正確にかつ
一層がた付きなく位置決めされるので、作業工数の一層
の低減及びコネクタの一層の位置決め精度の向上を図り
得る。
【図1】本発明の一実施例を示す斜視図である。
【図2】第1図の実施例の正面図である。
【図3】上記第1実施例の検査部に用いる検査プローブ
の正面図である。
の正面図である。
1 台枠 2 検査部 3 コネクタ保持部 4 操作部 5 コネクタ 5a 突条 9 検査プローブ 10 操作レバー 11 作動軸 12 リンク 13 端子 14、15 電線 16 金属管体 17A 前方プローブ 17B 後方プローブ 18A、18B コイルばね 19 外套管 21 絶縁材 22A、22B 位置決め枠 22C 凹条
Claims (3)
- 【請求項1】 検査部2と、前記検査部2の前方に対向
して設けられたコネクタ保持部3とを具備し、該検査部
2及びコネクタ保持部3の何れか一方が他方に対して前
後方向へ接離可能に相対的に移動可能であるコネクタの
端子検査器において、 前記コネクタ保持部3は、前方の保持板部8と、該保持
板部8から後方へ伸びかつ互に対向する位置決め枠22
A、22Bとを具備することを特徴とするコネクタの端
子検査器。 - 【請求項2】 請求項1記載のコネクタの端子検査器に
おいて、 前記保持板部8及び位置決め枠22A、22Bのうち少
なくとも一つは、コネクタ5の本体が前記コネクタ保持
部3内に収納されるとき、コネクタ5の係合部5aと係
合する係合部22Cを設けられていることを特徴とする
前記コネクタの端子検査器。 - 【請求項3】 請求項1又は2に記載のコネクタの端子
検査器において、 前記検査部2は前後方向へ移動可能であり、かつ前記コ
ネクタ保持部3が固定配置されており、 該検査部2の後方に、連動機構12を介して、操作レバ
ー10を有する操作部4が更に設けられ、 該操作レバー10を操作することにより、該連動機構1
2を介して前記検査部2を前記コネクタ5に対して前後
方向に移動させることを特徴とする前記コネクタの端子
検査器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5101186A JPH0727000B2 (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | コネクタの端子検査器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5101186A JPH0727000B2 (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | コネクタの端子検査器 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58250329A Division JPS60140160A (ja) | 1983-12-27 | 1983-12-27 | コネクタの端子検査器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06123753A true JPH06123753A (ja) | 1994-05-06 |
| JPH0727000B2 JPH0727000B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=14293952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5101186A Expired - Lifetime JPH0727000B2 (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | コネクタの端子検査器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0727000B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200448553Y1 (ko) * | 2009-07-29 | 2010-04-22 | 신성전자기업주식회사 | 커넥터용 클러스터 검사 장치 |
| CN102645592A (zh) * | 2011-02-21 | 2012-08-22 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 连接器寿命测试机 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS558221U (ja) * | 1978-07-03 | 1980-01-19 |
-
1993
- 1993-04-27 JP JP5101186A patent/JPH0727000B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0727000B2 (ja) | 1995-03-29 |
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