JPH0612722A

JPH0612722A - 光磁気記録装置

Info

Publication number: JPH0612722A
Application number: JP19030792A
Authority: JP
Inventors: Takaaki Ashinuma; 孝昭芦沼
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1992-06-25
Filing date: 1992-06-25
Publication date: 1994-01-21

Abstract

(57)【要約】【目的】高精度なセンサの位置調整を要することな
く、正確なベリファイ信号が得られるようにする。【構成】光磁気記録媒体から反射された光束をトラッ
ク方向を含む面内で２光束に分割し、この２つの光束を
それぞれ２分割受光素子で検出すると共に、各々の２分
割受光素子の素子間の信号差をとることにより、ベリフ
ァイ用の再生信号を生成する光磁気記録装置において、
前記各２分割受光素子の信号レベルをそれぞれ可変する
ための増幅手段と、この各増幅手段のゲインを調整して
前記２分割受光素子への旧信号成分の漏れ込みが最小と
なるゲインを決定するためのゲイン調整手段と、このゲ
イン調整手段で得られたゲインを記憶するための記憶手
段とを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光と磁気の相互作用に
よって情報を記録する光磁気記録装置、特に１つの光ビ
ームで記録とベリファイを同時に行える光磁気記録装置
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、コンピュータ技術の発展と相まっ
て大容量の外部メモリとしての光磁気記録装置の開発が
盛んである。こうした光磁気記録装置は、レーザ光のス
ポット照射による磁性薄膜の局所的温度上昇を利用して
磁気的に情報を記録し、磁気光学効果、特にカー効果を
利用して情報を再生するもので、情報の消去、書換えが
可能であるという特長を備えている。しかし、このよう
な優れた利点を有する反面、情報の記録過程において
は、すでに記録されている旧情報の消去、新情報の記
録、記録情報のベリファイというように３つのプロセス
が必要であるため、記録速度が遅いという課題があっ
た。

【０００３】そこで、こうした課題の解決策として、例
えば特開平３−７３４４８号公報に提案されているよう
に、記録と同時にベリファイを行うというダイレクトベ
リファイがある。以下、そのダイレクトベリファイにつ
いて、図７に基づいて説明する。図７において、１０１
は円盤状の光磁気記録媒体で、ターンテーブル１０２上
に保持されながら一定方向に回転駆動される。レーザー
光源１０３から出射されるレーザー光はコリメートレン
ズ１０４により平行光になされた後、ビームスプリッタ
１０５を透過して対物レンズ１０６により光磁気媒体１
０１上に集光される。光磁気記録媒体１０１に対する光
ビーム照射部の背面側には磁界発生手段１０７が配置さ
れ、この磁界発生手段１０７からは記録される情報に応
じて変化する磁界、即ち情報変調磁界が発生されてい
る。そして、この情報変調磁界が前記光磁気記録媒体１
０１の光ビーム照射部に印加されることによって光磁気
記録媒体１０１に情報の記録が行われる。このとき書き
込むべき記録領域の旧情報の消去動作は、上記記録動作
と同時に行われる。即ち、磁界変調型オーバーライト技
術によって記録と同時に旧情報が消去される。

【０００４】一方、上述したオーバーライト動作が行わ
れた際に、それと同時に光磁気記録媒体１０１からの反
射光は、再び対物レンズ１０６を通ってビームスプリッ
タ１０５に導かれる。そして、記録媒体１からの反射光
はビームスプリッタ１０５で反射され、１／２波長板１
０８を通った後に偏光ビームスプリッタ１０９で更に２
つの光束に分離される。一方の光束は凸レンズ１１１、
シリンドリカルレンズ１１２を透過後、４分割受光素子
１１３で受光される。４分割受光素子１１３の各検出信
号は図示しないオートフォーカス、オートトラッキング
制御回路に出力され、この検出信号を基にオートフォー
カス、オートトラッキング制御が行われる。また、他方
の光束は凸レンズ１１０を介して受光素子１１４で受光
され、前記４分割受光素子１１３の総出力と受光素子１
１４の出力とを差動検出することにより、記録情報が光
磁気信号として再生される。即ち、記録情報がリアルタ
イムで再生され、この再生信号を用いてベリファイが行
われる。従って、オーバーライト技術とあわせて、消
去、記録、ベリファイを１回で行うというワンパスライ
ト動作を行うことができる。

【０００５】図８に磁界変調方式により記録が行われて
いる光磁気記録媒体１０１上の光スポットの状態と、情
報記録時における光磁気記録媒体１０１の磁化状態を示
す。図中の矢印は、光磁気記録媒体１０１に対する光ス
ポットの相対的移動方向を示し、右端部における円は光
スポットを表す。この光スポットのうち斜線で示される
三日月状の領域は、いまだ十分に加熱されていない低温
領域であって、記録媒体によっては磁界の反転が不定な
状態にある領域である。このような媒体に対しては、前
述のダイレクトベリファイ動作が機能しない場合があ
り、これを解消するために図９に示される再生信号の検
出系が提案されている。同図に示されている従来例装置
においては、光磁気記録媒体からの反射光束を受けて光
磁気信号を検出する２つの２分割受光素子１３１，１３
２が設けられている。即ち、これらの各２分割受光素子
１３１，１３２は、光磁気記録媒体からの反射光束のう
ちの加熱が十分に行われていない斜線部低温領域（図８
参照）に対応する反射光束を受ける素子片３１ａ，３２
ａ、及び加熱が十分に行なわれている高温領域に対応す
る反射光束を受ける素子片３１ｂ，３２ｂに分けられて
いる。そして、上記素子片３１ａ，３２ａ，３１ｂ，３
２ｂからの各出力Ｓ₆ ，Ｓ₉ ，Ｓ₇ ，Ｓ₈ に基づいて再
生用光磁気信号（Ｓ₆ ＋Ｓ₇ ）−（Ｓ₈ ＋Ｓ₉ ）が得ら
れると共に、ベリファイ用光磁気信号（Ｓ₈ −Ｓ₇ ）が
得られる。

【０００６】

【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、以
上の従来装置にあっては、例え図９に示すような２分割
センサを用いた場合でも、受光素子片３１ｂ，３２ｂか
ら得られるベリファイ信号は斜線部で示した低温領域の
一部をどうしても含んでしまう。このため、上記低温領
域の信号成分はベリファイ信号に対して雑音要因とな
り、正確にベリファイ信号を検出することは困難であっ
た。また、ベリファイ信号への旧信号の漏れ込みは、２
分割受光素子の取付け精度等によっても左右されるため
に、ドライブ装置を製作した場合、個々のドライブ装置
の旧信号の漏れ込みの度合いは異なってしまい、ドライ
ブ装置ごとにベリファイ信号の品質がバラツキを生じる
という問題があった。

【０００７】本発明は、このような問題点を解消するた
めになされたもので、その目的は高精度なセンサの位置
調整を要することなく、正確なベリファイ信号が得られ
るようにした光磁気記録装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、光磁気
記録媒体から反射された光束をトラック方向を含む面内
で２光束に分割し、この２つの光束をそれぞれ２分割受
光素子で検出すると共に、各々の２分割受光素子の素子
間の信号差をとることにより、ベリファイ用の再生信号
を生成する光磁気記録装置において、前記各２分割受光
素子の信号レベルをそれぞれ可変するための増幅手段
と、この各増幅手段のゲインを調整して前記２分割受光
素子への旧信号成分の漏れ込みが最小となるゲインを決
定するためのゲイン調整手段と、このゲイン調整手段で
得られたゲインを記憶するための記憶手段とを設けたこ
とを特徴とする光磁気記録装置によって達成される。

【０００９】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細
に説明する。始めに、本発明の光磁気記録装置における
光学系の構成例を図２に基づいて説明する。図２におい
て１は記録用光源として設けられた半導体レーザで、こ
の半導体レーザ１から射出された発散レーザ光束はコリ
メータレンズ２で平行化された後、複合プリズム３を通
って対物レンズ４へ入射する。そして、レーザ光束は対
物レンズ４で絞られ光磁気記録媒体５上に微小光スポッ
トとして結像される。こうして照射された光ビームは光
磁気記録媒体５で反射され、再び対物レンズ４を通って
複合プリズム３へ入射される。この反射光束の一部は複
合プリズム３の接合面３ａから取り出され、凸レンズ
７、円筒レンズ８を透過してサーボセンサ９へ到達す
る。サーボセンサ９の検出信号は、オートフォーカス、
オートトラッキング制御回路へ出力され、この信号に基
づいてオートフォーカス、オートトラッキング制御が行
われる。また、複合プリズム３の接合面３ｂから取り出
された光束はウォオラストンプリズム１０を透過する際
に、互いに直交する直線偏光成分からなる２光束１３及
び１４に分離された後、凸レンズ１１によりＲＦセンサ
１２上へ集光される。ここで、半導体レーザ１の光束
は、紙面内で振動する偏光成分からなる直線偏光であ
る。

【００１０】一方、ウォオラストンプリズム１０は２つ
の水晶プリズムの接合から成り、それぞれの水晶プリズ
ムの光学軸は接合面３ｂから取り出された平行光束に直
交する参考平面内にあると共に、互いに直交し、いずれ
か一方は紙面に対して４５°の角度をなしている。従っ
て、光束１３が前記参考平面内にあり、かつ紙面と４５
°をなす方向に振動する直線偏光であれば、光束１４は
紙面と１３５°をなす方向に振動する直線偏光となる。
以上の光学素子を一体化して光学ヘッド３０が構成され
ている。なお、本実施例では光磁気記録媒体５は対物レ
ンズ４に対して紙面の矢印Ａ方向へ移動しているものと
し、従って２光束１３，１４はトラック方向（矢印Ａ）
を含む面内（紙面内）にある。また、以上の光学系の使
用に際して好適な光磁気記録媒体としては、例えば交換
合型二層膜構造のものが挙げられる。更に、図中６は記
録用磁界を発生するための磁気ヘッドである。

【００１１】図３は上記ＲＦセンサ１２の出力信号を基
に再生信号を検出するための信号検出回路を示した回路
図である。ＲＦセンサ１２は受光部１５ａ，１５ｂから
成る第１の２分割センサ１５及び受光部１６ａ，１６ｂ
から成る第２の２分割センサ１６から構成されている。
第１、第２の２組の２分割センサ１５，１６はそれぞれ
トラック方向に２分割され、光束１３は分割受光部１５
ａと１５ｂにまたがって入射し、同様に光束１４も分割
受光部１６ａと１６ｂにまたがって入射するように配置
されている。なお、光束の光量中心が分割センサの中心
に一致している必要はない。第１の２分割センサ１５の
各受光部１５ａと１５ｂの信号は加算器２４で加算され
た後、差動アンプ２８へ出力され、第２の２分割センサ
の受光部１６ａと１６ｂの信号も加算器２６で加算され
た後、差動アンプ２８へ出力される。差動アンプ２８で
は２つの加算信号を差動検出し、得られた信号が通常時
の再生信号１７として使用される。一方、第１の２分割
センサ１５の各受光部１５ａと１５ｂの信号はゲイン調
整機構１９，２０でそれぞれゲインが調整された後差動
アンプ２３で差動検出される。また、第２の２分割セン
サ１６の受光部１６ａと１６ｂの信号もゲイン調整機構
２１，２２でそれぞれゲインが調整された後差動アンプ
２５で差動検出される。差動アンプ２３と２５の信号は
差動アンプ２７で更に差動検出され、得られた信号が情
報記録時におけるベリファイ用再生信号１８となる。情
報記録時には、情報記録と同時にベリファイ用再生信号
１８が再生され、得られたベリファイ用再生信号１８は
図示しないベリファイ判定回路へ送られる。そして、こ
こで記録データと比較することにより、記録と同時のダ
イレクトベリファイが行われる。なお、ゲイン調整機構
１９，２０，２１，２２では、それぞれゲインがＧ１，
Ｇ２，Ｇ３，Ｇ４に調整されるが、この調整動作につい
ては詳しく後述する。

【００１２】次に、上記ベリファイ用再生信号１８を再
生する際のゲイン調整原理について説明する。まず、図
３に示す光スポット１３において受光部１５ａに漏れ込
むスポット低温領域の割合をＪ、受光部１５ｂに漏れ込
むスポット高温領域の割合をＫとし、同様にスポット１
４において受光部１６ａに漏れ込むスポット低温領域の
割合をＬ、受光部１６ｂに漏れ込むスポット高温領域の
割合をＭとする。今、簡単のために２分割センサの不感
帯によるロスを無視し、第１の２分割センサ１５におい
て光スポット１３中の高温領域から得られる全出力信号
をＶ１、低温領域から得られる全出力信号をＲ１、１５
ａの信号出力をｖ１、１５ｂの信号出力をｒ１とする。
また、同様に第２の２分割センサ１６において光スポッ
ト１４中の高温領域から得られる全出力信号をＶ２、低
温領域から得られる全出力信号をＲ２、１５ａの信号出
力をｖ２、１５ｂの信号出力をｒ２とすると、第１の２
分割センサ１５については、ｒ１＝（１−Ｊ）Ｒ１＋Ｋ・Ｖ１ …（１）ｖ１＝Ｊ・Ｒ１＋（１−Ｋ）Ｖ１ …（２）となる。また、第２の２分割センサ１６については、ｒ２＝（１−Ｌ）Ｒ２＋Ｍ・Ｖ２ …（３）ｖ１＝Ｌ・Ｒ２＋（１−Ｍ）Ｖ２ …（４）が成り立つ。（１），（２）式よりＲ１を消去すると、Ｖ１＝（（１−Ｊ）ｖ１−Ｊ・ｒ１）／（１−（Ｊ＋Ｋ）） …（５）となる。同様に（３），（４）式よりＲ２を消去する
と、Ｖ１＝（（１−Ｌ）ｖ１−Ｌ・ｒ１）／（１−（Ｌ＋Ｍ）） …（６）が得られる。従って、（５），（６）式より上記ゲイン
の設定を、Ｇ１＝１−Ｊ，Ｇ２＝Ｊ …（７）Ｇ３＝１−Ｌ，Ｇ４＝Ｌ …（８）とすれば、差動アンプ２３の差信号（１５ａ×Ｇ１−１
５ｂ×Ｇ２）と差動アンプ２５の差信号（１６ａ×Ｇ３
−１６ｂ×Ｇ４）からそれぞれ低温領域からの漏れ込み
信号を取り除くことができる。

【００１３】以上が原理的な説明であるが、前述のよう
に実際には漏れ込みの割合はセンサとセンサに入ってく
るビームの位置関係によって変化するため、センサとビ
ームの取付け精度の関係でドライブ（装置）ごとに漏れ
込みの割合は違ってくる。そのため、ドライブごとに漏
れ込みの度合いを測定し、その値に応じたゲインに上記
Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３，Ｇ４を設定する必要がある。

【００１４】図１は本発明の光磁気記録装置の要部構成
を示したブロック図である。即ち、上記ゲインをセンサ
とビームの取付位置精度に応じて自動調整するためのゲ
イン自動調整回路の一実施例を示したブロック図であ
る。図１において、３０１，３０２は光学ヘッド（図示
せず）に取付けられたＲＦ信号検出用２分割センサで、
図３に示した様な構成で配置されている。３０３〜３０
６はＲＦセンサ３０１，３０２によって検出された信号
電流を電圧に変換するための低雑音、変換利得固定の電
流電圧変換増幅器、３０７，３１０は電流電圧変換増幅
器３０３〜３０６にそれぞれ接続された電圧制御増幅
器、３１１はこの増幅器３０７に接続された信号レベル
検出器、３１２は増幅器３０７，３０８の出力の差をと
るための差動増幅器、３１３は差動増幅器３１２の出力
レベルを検出するための信号レベル検出器、３１４は増
幅器３０７，３０８の出力を加算するための加算増幅
器、３１５は増幅器３０９の出力の信号レベルを検出す
るための信号レベル検出器、３１６は増幅器３０９，３
１０の出力の差をとるための差動増幅器、３１７は差動
増幅器３１６の出力レベルを検出するための信号レベル
検出器、３１８は増幅器３０９，３１０の出力の和をと
るための加算増幅器、３１９は増幅器３０７，３１０の
利得制御入力に接続され、ドライブ全体を制御するド
ライブコントローラ３２４からの信号により、前記増幅
器への制御電圧を出力するための４チャンネルのＤ／Ａ
コンバータ、３２０は差動増幅器３１２，３１６の出力
の差をとるための差動増幅器、３２１は加算増幅器３１
４，３１８の出力の差をとるための差動増幅器、３２２
は加算増幅器３１４，３１８の出力を加算するための加
算増幅器、３２３は信号レベル検出器３１１，３１３，
３１５，３１７の出力に接続され、各々の信号レベルを
デジタル値に変換しドライブコントローラ３２４へ送る
ための４チャンネルのＡ／Ｄコンバータ、３２５はドラ
イブコントローラ３２４の中のＣＰＵ部に接続され、光
学ヘッドユニット上に配置された電気的に書き換え可能
なＥ² ＰＲＯＭ、３２６はそれをオンすることによりド
ライブコントローラ３２４をチェックモードにするため
のチェックモードスイッチである。

【００１５】ここで、動作について説明する。まず、図
１の電圧制御増幅器３０７〜３１０は図３に示したゲイ
ン調整機構１９〜２２にそれぞれ相当し、これらの電圧
制御増幅器３０７〜３１０でゲインＧ１〜Ｇ４の調整が
行われる。なお、加算の部分はゲイン調整を行なってか
ら加算することにより、プリフォーマット部の信号のレ
ベル調整も可能になる。また、図１中に示すＭＯ信号出
力は図３に示したベリファイ用再生信号１８に、ＲＦ信
号は図３の再生信号１７にそれぞれ対応する。本実施例
では、前述したように機械的な取付け精度に頼る調整で
は、ベリファイ動作に必要とされるレベルまで旧信号の
漏れ込みを下げることは困難であるために、電気的に漏
れ込み量を検出し、その量によって図３中のＧ１〜Ｇ４
のゲインを設定することにより、ほぼ完全に旧信号の漏
れ込みを除去するものである。なお、ドライブ装置の製
造の途中で、レーザー、ＲＦ信号用、サーボ信号用、レ
ーザーパワー検知用の各センサ類の機械的及び光学的な
位置調整、サーボ系のゲイン、オフセット等の調整が行
われるが、本実施例のゲイン調整はそれらの終了の後に
行うものとする。

【００１６】以上のゲイン調整を行う場合、まず最初に
チェックモードスイッチ３２６をオンし、ドライブ装置
をチェックモードにする。これにより、ドライブ装置は
一連のＲＦ系におけるバランス調整動作を開始する。こ
こで、ドライブコントローラ３２４に接続されたＥ² Ｐ
ＲＯＭ３２５は、このチェックモード時のみ記録可能な
ように構成されており、ゲイン設定に必要な各センサご
とのデータが記憶される。この調整に使用するディスク
は、予め反射率、記録感度、光学的な位相差等再生信号
振幅に関係のある特性に関しては、使用するディスクの
スペック範囲内でも標準的な値を持ち、素性の解かって
いるものであり、ドライブ装置を製作していく上で基準
となるディスクである。以下、このディスクを基準ディ
スクという。なお、この場合、ドライブ装置を立ち上げ
た状態（電源を投入し、この自動調整に入る前）では、
４チャンネルのＤ／Ａコンバータ３１９の各チャンネル
には、予め実験的に決められた平均的な値のデータがデ
フォルト値としてコントローラ３２４から設定されてお
り、記録動作を行うに必要なレベルにまで各電圧制御増
幅器３０７〜３１０のゲインは設定されている。

【００１７】次に、基準ディスクをドライブ装置に装着
してドライブ装置を立ち上げ、ある所定のトラックでウ
エイト状態（一つのトラックに留まっている状態）にす
る。この状態では、レーザーパワーは再生パワーに設定
されており、最初のステップとして絶対的な再生信号の
振幅の調整を行う。電圧制御増幅器３０７及び３０９の
出力波形を図４に示す。再生信号の振幅調整に際して
は、まず図中にＸで示すプリフォーマット部の振幅がレ
ベル検出器３１１および３１５によって検出される。そ
して、その振幅値はＡ／Ｄコンバータ３２３によりＡ／
Ｄ変換された後、ドライブコントローラ３２４へ取り込
まれる。ここで使用しているディスクは、素性のはっき
りしている基準ディスクであるため、このディスクの再
生信号の振幅がある決められた値になる様にゲインを調
整することにより、各ドライブ間の絶対的なゲインの差
をなくすことができる。

【００１８】そこで、ドライブコントローラ３２４では
デフォルト設定値で設定されたゲインによって再生され
たプリフォーマット部の再生信号振幅のデータと、予め
コントローラ３２４内に記憶された基準値とを比較し、
その差に応じて電圧制御増幅器３０７，３０９のゲイン
を設定し直す。また、コントローラ３２４では以上の再
生信号レベル検出器３１１，３１５の出力値が所定の基
準値に対して許容される範囲に収まるまで繰り返しゲイ
ンを調整する。ここで、この時の電圧制御増幅器３０
７，３０９への設定値のデータをＥ² ＰＲＯＭ３２５の
１番目と２番目のアドレスに格納する。以上で絶対的な
光量に対する調整は終了する。次のステップでは、旧信
号の漏れ込み量を検出するために、予め信号を記録して
おき、それを消去する時の旧信号の漏れ込み量を検知し
て、それが最小になるようにゲインを調整する。以下、
具体的に説明する。

【００１９】まず、ドライブコントローラ３２４からの
制御に従い、ディスク上のある決められた領域に数トラ
ックに渡って、通常ディスク上に記録される最小記録ピ
ットとなるピット長よりも大きいピットとなる繰り返し
信号を記録する。例えば、ピットエッジ記録、１−７変
調を用いる場合、３Ｔパターンの繰り返し信号等を記録
する。次に、ドライブコントローラ３２４はレーザーパ
ワーを記録パワーに設定した上で、磁気ヘッドに消去方
向（ピットを記録するのと反対方向）の一定磁界を発生
させるように電流を制御する。図５はこのときの２分割
センサ３０１，３０２の電流波形を示した図である。２
分割センサ３０１は図３に示した第１の２分割センサ１
５に、２分割センサ３０２は第２の２分割センサ１６に
それぞれ対応する。また、２分割センサ３０１のセンサ
３０１ａ，３０１ｂはセンサ１５ａ，１５ｂに対応し、
２分割センサ３０２のセンサ３０２ａ，３０２ｂはセン
サ１６ａ，１６ｂにそれぞれ対応する。

【００２０】図５（ａ）はこのセンサ３０１ａ、図５
（ｂ）はセンサ３０１ｂ、図５（ｃ）はセンサ３０２
ａ、図５（ｄ）はセンサ３０２ｂの電流をそれぞれ示し
た図である。ここで、センサ３０１ａ及び３０２ａの信
号は、光スポットにより十分加熱された領域から反射さ
れた光の受光信号、センサ３０１ｂ，３０２ｂの信号は
加熱の不十分な低温領域から反射された光の受光信号で
ある。また、センサ３０１ａと３０２ａ及びセンサ３０
１ｂと３０２ｂは、それぞれ位相が反転した信号であ
る。前述のように一定周波数で記録された信号を消去す
る場合、センサ３０１ａ，３０２ａでは高温領域、即ち
現在記録された信号（今回の場合、消去中なので直流の
一定レベル）＋旧信号の漏れ込み分が検出され、センサ
３０１ｂ，３０２ｂでは低温領域、即ち旧信号＋記録信
号（直流レベル）の漏れ込み分が検出されることにな
る。このように検出されたセンサ出力に基づいて、電圧
制御増幅器のゲイン調整を行う。なお、第１のステップ
で電圧制御増幅器３０７，３０９のゲインはすでに設定
されており、ここでは電圧制御増幅器３０８，３１０の
設定を行う。

【００２１】まず、予め電圧制御増幅器３０８，３１０
のゲインをメカ的調整によって、旧信号の漏れ込みが少
ない場合でも過補償状態、即ち漏れ込みを除去する信号
のほうが多くなり、旧信号の成分が増えてしまう状態に
なるまで、電圧制御増幅器３０８，３１０のゲインを大
きめに設定しておく。次いで、１セクタごとに電圧制御
増幅器３０８，３１０のゲインをＤ／Ａコンバータ３１
９へのデータを送ることにより下げていき、各セクタご
との差動増幅器３１２，３１６の出力振幅の旧信号成分
の振幅（交流成分）をレベル検出器３１３，３１７で検
出する。そしてその値をＡ／Ｄコンバータ３２３によっ
てＡ／Ｄ変換し、コントローラ３２４内へ取り込む。こ
こで得られた旧信号漏れ込み成分の振幅値とゲインの関
係は図６に示すとおりとなる。そこで、その振幅のデー
タを前後のセクタと比較し、最小と判断されたセクタの
Ｄ／Ａコンバータ３１９への設定値をＥ² ＰＲＯＭ３２
５の３番目と４番目のアドレスに格納する。

【００２２】以上でゲイン調整は完了し、チェックモー
ドスイッチ３２６をオフし、Ｅ² ＰＲＯＭ３２５へのデ
ータの書き込みを禁止する。以後、通常にドライブ装置
を使用する場合は、ドライブ装置の立ち上げ時にＥ² Ｐ
ＲＯＭ３２５の１〜４番のアドレスに格納されたデータ
をＤ／Ａコンバータ３１９へ送り、各電圧制御増幅器３
０７〜３１０のゲインをそれぞれ先に決定された最適な
ゲインに設定する。

【００２３】以上により、センサと光ビームの取付け精
度の関係で異なる漏れ込みの度合に応じて各２分割セン
サの受光部の信号のゲインを自動調整することができ
る。従って、ベリファイ用の再生信号から光スポット照
射部における低温側からの漏れ込み成分、即ち旧情報成
分を確実に取り除くことが可能となり、従来のダイレク
トベリファイの課題であったベリファイ用再生信号の品
質の低下を著しく改善することができる。

【００２４】なお、以上の説明では、ドライブ装置の製
作時に基準ディスクを用いて各センサ間のゲイン調整を
行ったが、ドライブ装置を組み立てた後、通常使用時に
ディスクをドライブに装着するごとに使用するディスク
を用いて前述と同様のゲイン調整を行ってもよい。な
お、この場合は光ヘッド上のＥ² ＰＲＯＭではなく、ド
ライブコントローラ内のＲＡＭに各データを記憶させる
ことになる。

【００２５】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、予め決め
られた領域に信号を記録すると共に、その場所を消去す
るときに各々の２分割センサの分割された素子間の信号
レベルの差が最小になるように各ゲイン調整手段のゲイ
ンを調整し、各分割センサごとにゲイン調整量を記憶手
段に記憶させることにより、高精度なセンサの位置調整
も必要なく、旧信号の漏れ込みによるベリファイ用再生
信号の信頼性の低下を防ぐことができる。また、記憶手
段をヘッドユニットに組み込むことにより、ヘッドユニ
ットを交換した場合でも再調整の必要はなくなるなどの
効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光磁気記録装置におけるゲイン自動調
整回路の一実施例を示した回路図である。

【図２】本発明の光磁気記録装置の光学系の構成例を示
した図である。

【図３】ＲＦセンサ上の光スポット及びそのセンサ出力
により信号を再生する信号検出回路を示した図である。

【図４】電圧制御増幅器３０７及び３０９の出力信号を
示した図である。

【図５】センサ３０１ａ，ｂ及び３０２ａ，ｂの電流を
示した図である。

【図６】旧信号漏れ込み振幅と電圧制御増幅器のゲイン
の関係を示した図である。

【図７】従来例のダイレクトベリファイを行う光磁気記
録装置の概略構成を示した図である。

【図８】光磁気記録媒体上の光スポットとその磁化状態
を示した図である。

【図９】従来例のダイレクトベリファイを良好に行うた
めに改良された再生光学系を示した図である。

【符号の説明】

１半導体レーザ５光磁気記録媒体９サーボセンサ１２ＲＦセンサ３０光学ヘッド１５第１の２分割センサ１６第２の２分割センサ１９〜２２ゲイン調整機構３０１，３０２２分割センサ３０７〜３１０電圧制御増幅器３１１，３１３，３１５，３１７レベル検出器３１９Ｄ／Ａコンバータ３２３Ａ／Ｄコンバータ３２４ドライブコントローラ３２５Ｅ² ＰＲＯＭ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光磁気記録媒体から反射された光束をト
ラック方向を含む面内で２光束に分割し、この２つの光
束をそれぞれ２分割受光素子で検出すると共に、各々の
２分割受光素子の素子間の信号差をとることにより、ベ
リファイ用の再生信号を生成する光磁気記録装置におい
て、前記各２分割受光素子の信号レベルをそれぞれ可変
するための増幅手段と、この各増幅手段のゲインを調整
して前記２分割受光素子への旧信号成分の漏れ込みが最
小となるゲインを決定するためのゲイン調整手段と、こ
のゲイン調整手段で得られたゲインを記憶するための記
憶手段とを設けたことを特徴とする光磁気記録装置。
【請求項２】前記ゲイン調整手段は、記録媒体の所定
領域に信号を記録すると共に、その信号を消去するとき
に前記２分割受光素子の素子間のレベル差が最小となる
ように前記増幅手段のゲインを調整することを特徴とす
る請求項１の光磁気記録装置。
【請求項３】装置の製作時に前記ゲイン調整手段によ
るゲインの決定を行うことを特徴とする請求項１の光磁
気記録装置。
【請求項４】記録媒体の装置への装着時に前記ゲイン
調整手段によるゲインの決定を行うことを特徴とする請
求項１の光磁気記録装置。
【請求項５】前記記憶手段を光学ヘッドを含むユニッ
ト上に設けたことを特徴とする請求項１の光磁気記録装
置。