JPH06129909A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH06129909A JPH06129909A JP27832992A JP27832992A JPH06129909A JP H06129909 A JPH06129909 A JP H06129909A JP 27832992 A JP27832992 A JP 27832992A JP 27832992 A JP27832992 A JP 27832992A JP H06129909 A JPH06129909 A JP H06129909A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light
- side light
- light beam
- spectrophotometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】迅速かつ正確な測定が可能な分光光度計を構成
すること。 【構成】光源１からの白色光を、反射鏡２，３を用いて
反射複光束を構成し、試料４，参照５を透過した光束を
収差補正形回折格子１１の溝方向に沿って２つの開口部
が設けられた入口スリット１０に入射し、分光された光
束を試料側光束用，参照側光束用のそれぞれのアレイ形
検知器１２，１３で検知する。反射鏡８，９以降の光束
は、紙面に垂直向上下に通っている。 【効果】ポリクロメータとアレイ形検知器を用いた、複
光束分光光度計を構成することにより迅速、かつ正確な
測定が可能になる。
すること。 【構成】光源１からの白色光を、反射鏡２，３を用いて
反射複光束を構成し、試料４，参照５を透過した光束を
収差補正形回折格子１１の溝方向に沿って２つの開口部
が設けられた入口スリット１０に入射し、分光された光
束を試料側光束用，参照側光束用のそれぞれのアレイ形
検知器１２，１３で検知する。反射鏡８，９以降の光束
は、紙面に垂直向上下に通っている。 【効果】ポリクロメータとアレイ形検知器を用いた、複
光束分光光度計を構成することにより迅速、かつ正確な
測定が可能になる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は分光光度計に係り、特に
Ｓ／Ｎ比の良い高速波長走査を可能とする分光光度計に
関するものである。
Ｓ／Ｎ比の良い高速波長走査を可能とする分光光度計に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の装置は、分光器からでた単色光を
チョッパーミラー等を用いて、時系列的に複光束を得た
り、半透過鏡を用いて、空間的に複光束を得たりしてい
た。
チョッパーミラー等を用いて、時系列的に複光束を得た
り、半透過鏡を用いて、空間的に複光束を得たりしてい
た。
【０００３】従来の他の装置は、光源からの白色光を試
料に照射し、試料を透過した白色光をポリクロメータで
分光し、アレイ形検知器で検知していた。
料に照射し、試料を透過した白色光をポリクロメータで
分光し、アレイ形検知器で検知していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記従来技術の最初の
ものは、単色光を時系列的に分割することにより、複光
束を得るために、光エネルギーの利用効率について配慮
がなされておらず、Ｓ／Ｎ比が悪いという問題点があっ
た。また、時系列的に複光束を構成するために、波長走
査測定において、試料と参照に照射される単色光の波長
について配慮がなされておらず、試料と参照に全く同一
の波長の単色光が照射されている訳ではないという問題
点があった。半透過鏡を用いて空間的に複光束を得る場
合は、半透過鏡の反射率がそれぞれ最大４０数％である
こと、即ち、光エネルギーの利用効率について配慮がな
されておらず、Ｓ／Ｎ比が悪いという問題点があった。
ものは、単色光を時系列的に分割することにより、複光
束を得るために、光エネルギーの利用効率について配慮
がなされておらず、Ｓ／Ｎ比が悪いという問題点があっ
た。また、時系列的に複光束を構成するために、波長走
査測定において、試料と参照に照射される単色光の波長
について配慮がなされておらず、試料と参照に全く同一
の波長の単色光が照射されている訳ではないという問題
点があった。半透過鏡を用いて空間的に複光束を得る場
合は、半透過鏡の反射率がそれぞれ最大４０数％である
こと、即ち、光エネルギーの利用効率について配慮がな
されておらず、Ｓ／Ｎ比が悪いという問題点があった。
【０００５】本発明の目的は、試料と参照に同一波長の
単色光を照射しつつ、Ｓ／Ｎ比の良い測定を行なうこと
であり、さらにそのための複光束分光光度計を提供する
ことにある。
単色光を照射しつつ、Ｓ／Ｎ比の良い測定を行なうこと
であり、さらにそのための複光束分光光度計を提供する
ことにある。
【０００６】前記従来技術２番目のものは、光源の変
動，試料及び参照の変動について配慮がなされておら
ず、測定精度が劣るという問題点があった。
動，試料及び参照の変動について配慮がなされておら
ず、測定精度が劣るという問題点があった。
【０００７】本発明の他の目的は、測定精度の高い迅速
な波長走査測定を行なうことにあり、さらにそのための
複光束分光光度計を提供することにある。
な波長走査測定を行なうことにあり、さらにそのための
複光束分光光度計を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、光源からの白色光を試料に照射する反射鏡を試料側
光束用，参照側光束用にそれぞれ設け、ポリクロメータ
の回折格子の溝方向に沿って、試料側光束用，参照側光
束用の入口スリットをもち、収差補正形回折格子を用い
た複光束分光光度計が提供される。
に、光源からの白色光を試料に照射する反射鏡を試料側
光束用，参照側光束用にそれぞれ設け、ポリクロメータ
の回折格子の溝方向に沿って、試料側光束用，参照側光
束用の入口スリットをもち、収差補正形回折格子を用い
た複光束分光光度計が提供される。
【０００９】また、上記他の目的を達成するために、光
源からの白色光を分光器に導入する反射鏡を、試料側光
束用，参照側光束用にそれぞれ設け、分光器の回折格子
の溝方向に沿って、試料側光束用，参照側光束用の入口
スリットをもち、収差補正形回折格子を用いた複光束分
光光度計が提供される。
源からの白色光を分光器に導入する反射鏡を、試料側光
束用，参照側光束用にそれぞれ設け、分光器の回折格子
の溝方向に沿って、試料側光束用，参照側光束用の入口
スリットをもち、収差補正形回折格子を用いた複光束分
光光度計が提供される。
【００１０】
【作用】本発明によれば、収差補正形回折格子は、回折
格子の溝方向に沿って設けられた２つの入口スリット像
をそのままの形状，大きさで結像面に結像するので、試
料側光束用，参照側光束用にそれぞれ設けられた、反射
鏡，入口スリット，アレイ形検知器によって、迅速か
つ、Ｓ／Ｎ比の良い測定が可能なポリクロメータを利用
した複光束分光光度計が構成できる。また、収差補正形
回折格子の効果により、波長走査時に試料，参照に同一
波長の単色光を照射し、かつ、試料側光束用，参照側光
束用にそれぞれ設けられた反射鏡検知器によって、光エ
ネルギーの利用効率を高めたＳ／Ｎ比の良い測定が可能
になる。
格子の溝方向に沿って設けられた２つの入口スリット像
をそのままの形状，大きさで結像面に結像するので、試
料側光束用，参照側光束用にそれぞれ設けられた、反射
鏡，入口スリット，アレイ形検知器によって、迅速か
つ、Ｓ／Ｎ比の良い測定が可能なポリクロメータを利用
した複光束分光光度計が構成できる。また、収差補正形
回折格子の効果により、波長走査時に試料，参照に同一
波長の単色光を照射し、かつ、試料側光束用，参照側光
束用にそれぞれ設けられた反射鏡検知器によって、光エ
ネルギーの利用効率を高めたＳ／Ｎ比の良い測定が可能
になる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を「図１」により説
明する。光源１から出た白色光は、試料側光束用反射鏡
２と参照側光束用反射鏡３によって、２光束に分けら
れ、それぞれ試料４及び参照５を透過する。試料４及び
参照５を透過した光は、反射鏡６，７，８，９で反射さ
れ入口スリットを通過する。入口スリットには紙面に垂
直方向即ち、収差補正形回折格子１１の溝方向に沿っ
て、試料側光束用，参照側光束用の入口スリットが設け
られている。本実施例では、紙面に垂直方向上方に試料
側光束用入口スリット，垂直方向下方に参照側光束用入
口スリットが設けられているものとする。この位置関係
は逆でも本発明を実施できる。入口スリット１０を透過
した試料側光束，参照側光束はそれぞれ収差補正形回折
格子１１に入射し、分光され、試料側光束用アレイ形検
知器１２，参照側光束用アレイ形検知器１３にそれぞれ
検知される。試料側光束用アレイ形検知器１２は、参照
側光束用アレイ検知器１３に対して、紙面に垂直方向下
方に位置している。収差補正形回折格子１１により、試
料側光束，参照側光束の入口スリット像は収差補正形回
折格子１１の溝方向に、ボケルことなくアレイ形検知器
１２，１３上に結像するので、同一の回折格子を用いて
も試料側光束，参照側光束はお互いに干渉することな
く、検知される。従って、従来構成することが不可能で
あった、ポリクロメータとアレイ形検知器を用いた、複
光束分光光度計を構成することが可能になり、迅速かつ
正確な測定が可能になった。
明する。光源１から出た白色光は、試料側光束用反射鏡
２と参照側光束用反射鏡３によって、２光束に分けら
れ、それぞれ試料４及び参照５を透過する。試料４及び
参照５を透過した光は、反射鏡６，７，８，９で反射さ
れ入口スリットを通過する。入口スリットには紙面に垂
直方向即ち、収差補正形回折格子１１の溝方向に沿っ
て、試料側光束用，参照側光束用の入口スリットが設け
られている。本実施例では、紙面に垂直方向上方に試料
側光束用入口スリット，垂直方向下方に参照側光束用入
口スリットが設けられているものとする。この位置関係
は逆でも本発明を実施できる。入口スリット１０を透過
した試料側光束，参照側光束はそれぞれ収差補正形回折
格子１１に入射し、分光され、試料側光束用アレイ形検
知器１２，参照側光束用アレイ形検知器１３にそれぞれ
検知される。試料側光束用アレイ形検知器１２は、参照
側光束用アレイ検知器１３に対して、紙面に垂直方向下
方に位置している。収差補正形回折格子１１により、試
料側光束，参照側光束の入口スリット像は収差補正形回
折格子１１の溝方向に、ボケルことなくアレイ形検知器
１２，１３上に結像するので、同一の回折格子を用いて
も試料側光束，参照側光束はお互いに干渉することな
く、検知される。従って、従来構成することが不可能で
あった、ポリクロメータとアレイ形検知器を用いた、複
光束分光光度計を構成することが可能になり、迅速かつ
正確な測定が可能になった。
【００１２】「図２」に本発明の他の実施例を示す。光
源１から出た白色光は、試料側光束用反射鏡２と、参照
側光束用反射鏡３によって２光束に分けられ、それぞ
れ、反射鏡１４，１６及び１５，１７で反射され入口ス
リット１８を通過する。入口スリット１８には、紙面に
垂直方向、即ち、収差補正形回折格子１１の溝方向に沿
って、試料側光束用，照側光束用の入口スリットがそれ
ぞれ設けられている。本実施例では、紙面に垂直方向上
方に試料側光束用入口スリット，垂直方向下方に参照側
光束用入口スリットが設けられている。この位置関係は
逆でも本発明を実施できる。入口スリット１８を透過し
た試料側光束，参照側光束はそれぞれ収差補正形回折格
子１１に入射し、分光され出口スリット１９を通過す
る。出口スリット１９には紙面に垂直方向上方に試料側
光束用，参照側光束用の出口スリットがそれぞれ設けら
れている。本実施例では、紙面に垂直方向下方に試料側
光束用出口スリット，上方に参照側光束用出口スリット
が設けられている。出口スリット１９を通過した試料側
光束，参照側光束は反射鏡２０で反射され、さらにそれ
ぞれ反射鏡２１，２３及び２２，２４で反射され、試料
４及び参照５を透過し、試料側光束用検知器２５及び参
照側光束用検知器２６で検知される。収差補正形回折格
子１１により、試料側光束，参照側光束の入口スリット
像は収差補正形回折格子１１の溝方向上、ボケルことな
く、出口スリット２０に設けられた、試料側光束，参照
側光束用の出口スリットに結像するので、同一の回折格
子を用いても、試料側光束，参照側光束はお互いに干渉
することなく出口スリットを通過する。従って、チョッ
パーミラ、半透過鏡など光エネルギーの利用効率の低い
素子を使用せずに、複光束分光光度計を構成することに
より、Ｓ／Ｎ比の良い測定が可能になる。
源１から出た白色光は、試料側光束用反射鏡２と、参照
側光束用反射鏡３によって２光束に分けられ、それぞ
れ、反射鏡１４，１６及び１５，１７で反射され入口ス
リット１８を通過する。入口スリット１８には、紙面に
垂直方向、即ち、収差補正形回折格子１１の溝方向に沿
って、試料側光束用，照側光束用の入口スリットがそれ
ぞれ設けられている。本実施例では、紙面に垂直方向上
方に試料側光束用入口スリット，垂直方向下方に参照側
光束用入口スリットが設けられている。この位置関係は
逆でも本発明を実施できる。入口スリット１８を透過し
た試料側光束，参照側光束はそれぞれ収差補正形回折格
子１１に入射し、分光され出口スリット１９を通過す
る。出口スリット１９には紙面に垂直方向上方に試料側
光束用，参照側光束用の出口スリットがそれぞれ設けら
れている。本実施例では、紙面に垂直方向下方に試料側
光束用出口スリット，上方に参照側光束用出口スリット
が設けられている。出口スリット１９を通過した試料側
光束，参照側光束は反射鏡２０で反射され、さらにそれ
ぞれ反射鏡２１，２３及び２２，２４で反射され、試料
４及び参照５を透過し、試料側光束用検知器２５及び参
照側光束用検知器２６で検知される。収差補正形回折格
子１１により、試料側光束，参照側光束の入口スリット
像は収差補正形回折格子１１の溝方向上、ボケルことな
く、出口スリット２０に設けられた、試料側光束，参照
側光束用の出口スリットに結像するので、同一の回折格
子を用いても、試料側光束，参照側光束はお互いに干渉
することなく出口スリットを通過する。従って、チョッ
パーミラ、半透過鏡など光エネルギーの利用効率の低い
素子を使用せずに、複光束分光光度計を構成することに
より、Ｓ／Ｎ比の良い測定が可能になる。
【００１３】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので以下に記載されているような効果を奏する。
ているので以下に記載されているような効果を奏する。
【００１４】ポリクロメータとアレイ形検知器を用いた
複光束分光光度計を構成することにより、正確で迅速な
測定ができる。
複光束分光光度計を構成することにより、正確で迅速な
測定ができる。
【００１５】また、チョッパーミラー、半透過鏡を使用
せずに複光束分光光度計を構成することにより、光エネ
ルギーの利用効率を２倍以上改善し、Ｓ／Ｎ比の良い測
定を行なうことができる。
せずに複光束分光光度計を構成することにより、光エネ
ルギーの利用効率を２倍以上改善し、Ｓ／Ｎ比の良い測
定を行なうことができる。
【図１】本発明の一実施例の機能系統図である。
【図２】本発明の他の実施例の機能系統図である。
１…光源、２…試料側光束用反射鏡、３…参照側光束用
反射鏡、４…試料、５…参照、１０，１８…入口スリッ
ト、１１…収差補正形回折格子、１９…出口スリット、
１２…試料側光束用アレイ形検知器、１３…参照側光束
用アレイ形検知器、２５…試料側光束用検知器、２６…
参照側光束用検知器。
反射鏡、４…試料、５…参照、１０，１８…入口スリッ
ト、１１…収差補正形回折格子、１９…出口スリット、
１２…試料側光束用アレイ形検知器、１３…参照側光束
用アレイ形検知器、２５…試料側光束用検知器、２６…
参照側光束用検知器。
Claims (2)
- 【請求項１】光源と、光源からの白色光を試料に照射す
る試料室と、前記試料室を透過した光を分光するポリク
ロメータと、前記分光された光を検知するアレイ形検知
器を備えた分光光度計において、光源からの白色光を試
料に照射する反射鏡を、試料側光束用，参照側光束用そ
れぞれ設けることにより、複光束を構成し、前記ポリク
ロメータの回折格子の溝方向に沿って、試料側光束用，
参照側光束用の入口スリットを設け、試料側光束用，参
照側光束用のアレイ形検知器を設けたことを特徴とする
分光光度計。 - 【請求項２】光源と、光源からの白色光を単色化する分
光器と、前記分光器からの単色光を試料に照射する試料
室と、前記試料を透過した単色光を検知する検知器を備
えた複光束分光光度計において、前記光源からの白色光
を分光器に導入する反射鏡を、試料側光束用，参照側光
束用にそれぞれ設けることにより複光束を構成し、前記
分光器の回折格子の溝方向に沿って、試料側光束用，参
照側光束用の入口スリットを設け、試料側光束用，参照
側光束用の検知器を設けたことを特徴とする分光光度
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27832992A JPH06129909A (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27832992A JPH06129909A (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06129909A true JPH06129909A (ja) | 1994-05-13 |
Family
ID=17595816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27832992A Pending JPH06129909A (ja) | 1992-10-16 | 1992-10-16 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06129909A (ja) |
-
1992
- 1992-10-16 JP JP27832992A patent/JPH06129909A/ja active Pending
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