JPH06129959A - 粉粒体のサンプリング装置及び粉粒体のサンプリング方法 - Google Patents
粉粒体のサンプリング装置及び粉粒体のサンプリング方法Info
- Publication number
- JPH06129959A JPH06129959A JP28306092A JP28306092A JPH06129959A JP H06129959 A JPH06129959 A JP H06129959A JP 28306092 A JP28306092 A JP 28306092A JP 28306092 A JP28306092 A JP 28306092A JP H06129959 A JPH06129959 A JP H06129959A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- powder
- granular material
- pipe
- sampling
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、帯電汚染の問題もなく、純度の高
い粉粒体のサンプリングを全自動で行うことが可能な粉
粒体のサンプリング装置及びサンプリング方法を提供す
る。 【構成】 本発明の自動サンプリング装置１は、粉粒体
が所定の圧力下で流通するプラント配管２に接続した切
替弁４、サンプリング弁５を有するサンプル抜き出し管
系３と、このサンプル抜き出し管系３に接続した粉粒体
に旋回運動による遠心力を作用させるサイクロン６と、
このサイクロン６に接続した空気の吸引を行う吸引手段
７と、前記サンプル抜き出し管系３に除電用の調湿気体
を送る除電用気体供給手段８と、サイクロン６の下部取
り出し口側に接続した粉粒体の収集又は廃棄を行う吐出
配管系９と、前記切替弁４を介してプラント配管２に洗
浄気体を送るとともに、サンプル抜き出し管系３、サイ
クロン６及び吐出配管系９に洗浄気体を送る洗浄気体供
給手段１０とを有する。
い粉粒体のサンプリングを全自動で行うことが可能な粉
粒体のサンプリング装置及びサンプリング方法を提供す
る。 【構成】 本発明の自動サンプリング装置１は、粉粒体
が所定の圧力下で流通するプラント配管２に接続した切
替弁４、サンプリング弁５を有するサンプル抜き出し管
系３と、このサンプル抜き出し管系３に接続した粉粒体
に旋回運動による遠心力を作用させるサイクロン６と、
このサイクロン６に接続した空気の吸引を行う吸引手段
７と、前記サンプル抜き出し管系３に除電用の調湿気体
を送る除電用気体供給手段８と、サイクロン６の下部取
り出し口側に接続した粉粒体の収集又は廃棄を行う吐出
配管系９と、前記切替弁４を介してプラント配管２に洗
浄気体を送るとともに、サンプル抜き出し管系３、サイ
クロン６及び吐出配管系９に洗浄気体を送る洗浄気体供
給手段１０とを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、粉粒体のサンプリング
装置及び粉粒体のサンプリング方法に関し、さらに詳述
すると、高分子化合物、小麦粉、セメント粉、石炭粉等
の各種粉粒体のサンプリングを、粉粒体の帯電を防止し
つつ、かつコンタミネーションなく行うことのできるサ
ンプリング装置及びサンプリング方法に関する。
装置及び粉粒体のサンプリング方法に関し、さらに詳述
すると、高分子化合物、小麦粉、セメント粉、石炭粉等
の各種粉粒体のサンプリングを、粉粒体の帯電を防止し
つつ、かつコンタミネーションなく行うことのできるサ
ンプリング装置及びサンプリング方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、上述したような各種粉粒体のサン
プリングを行う手段として、例えば、プラント配管中に
手動扉付きのサンプラーを配置し、品質検査員が必要に
応じて前記サンプラーの位置まで行って手動扉を開いて
必要量の粉粒体を採取していた。
プリングを行う手段として、例えば、プラント配管中に
手動扉付きのサンプラーを配置し、品質検査員が必要に
応じて前記サンプラーの位置まで行って手動扉を開いて
必要量の粉粒体を採取していた。
【０００３】さらに、粉粒体が帯電し易いものであれ
ば、検査室で自然放置による除電後、この粉粒体の粒度
分布測定、カサ比重測定等を行っていた。
ば、検査室で自然放置による除電後、この粉粒体の粒度
分布測定、カサ比重測定等を行っていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】粉粒体の製造プロセス
の自動化は非常に進んでいるが、粉粒体のサンプリング
は上述したように人手作業に依存しているのが実情であ
る。
の自動化は非常に進んでいるが、粉粒体のサンプリング
は上述したように人手作業に依存しているのが実情であ
る。
【０００５】そして、安価で簡易な構成のサンプリング
装置をプラント配管中に配置し、省力化、省人化を図り
たいという要請が強まっているが、他品種少量生産のプ
ラントの場合、サンプラー中での粉粒体が帯電してしま
って集合状態で粉粒体を採取することができないという
問題やサンプリングしようとしてもそれ以前の品種によ
ってサンプラー中が汚染されていて高い純度でサンプル
試料を採取することができないという問題があり、実用
化が遅れているのが現状である。
装置をプラント配管中に配置し、省力化、省人化を図り
たいという要請が強まっているが、他品種少量生産のプ
ラントの場合、サンプラー中での粉粒体が帯電してしま
って集合状態で粉粒体を採取することができないという
問題やサンプリングしようとしてもそれ以前の品種によ
ってサンプラー中が汚染されていて高い純度でサンプル
試料を採取することができないという問題があり、実用
化が遅れているのが現状である。
【０００６】そこで、本発明は、安価で簡易な構成であ
り、かつ、帯電による問題もなく、サンプリング以前の
品種による汚染の問題もなく、簡単な操作で粉粒体のサ
ンプリングを行うことが可能な粉粒体のサンプリング装
置及びサンプリング方法を提供することを目的とする。
り、かつ、帯電による問題もなく、サンプリング以前の
品種による汚染の問題もなく、簡単な操作で粉粒体のサ
ンプリングを行うことが可能な粉粒体のサンプリング装
置及びサンプリング方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
粉粒体が所定の圧力下で流通するプラント配管に、開閉
手段を介して接続されたサンプル抜き出し管と、サンプ
ル抜き出し管に接続された粉粒体分離槽と、前記サンプ
ル抜き出し管中に洗浄気体を供給する洗浄気体供給手段
と、前記粉粒体分離槽内に除電用気体を供給する除電用
気体供給手段とを有することを特徴とする粉粒体のサン
プリング装置であり、請求項２に記載の発明は、粉粒体
が所定の圧力下で流通するプラント配管に接続されたサ
ンプル抜き出し管に設けられた開閉手段を開状態にし、
洗浄気体供給手段によりサンプル抜き出し管からプラン
ト配管へと洗浄気体を流通させることによりサンプル抜
き出し管中を洗浄してから、洗浄気体供給手段による洗
浄気体の供給を停止すると共にプラント配管から粉粒体
分離槽内へと粉粒体を流通させてサンプル抜き出し管中
を共洗いし、前記開閉手段を閉鎖状態にして共洗いによ
り粉粒体分離槽内で集合した粉粒体を廃棄し、その後に
前記開閉手段を解放状態にして、プラント配管から粉粒
体分離槽内へと粉粒体を流通させると同時に粉粒体分離
槽内に除電用気体供給手段から除電用気体を供給して、
集合した粉粒体を分離することを特徴とする粉粒体のサ
ンプリング方法である。
粉粒体が所定の圧力下で流通するプラント配管に、開閉
手段を介して接続されたサンプル抜き出し管と、サンプ
ル抜き出し管に接続された粉粒体分離槽と、前記サンプ
ル抜き出し管中に洗浄気体を供給する洗浄気体供給手段
と、前記粉粒体分離槽内に除電用気体を供給する除電用
気体供給手段とを有することを特徴とする粉粒体のサン
プリング装置であり、請求項２に記載の発明は、粉粒体
が所定の圧力下で流通するプラント配管に接続されたサ
ンプル抜き出し管に設けられた開閉手段を開状態にし、
洗浄気体供給手段によりサンプル抜き出し管からプラン
ト配管へと洗浄気体を流通させることによりサンプル抜
き出し管中を洗浄してから、洗浄気体供給手段による洗
浄気体の供給を停止すると共にプラント配管から粉粒体
分離槽内へと粉粒体を流通させてサンプル抜き出し管中
を共洗いし、前記開閉手段を閉鎖状態にして共洗いによ
り粉粒体分離槽内で集合した粉粒体を廃棄し、その後に
前記開閉手段を解放状態にして、プラント配管から粉粒
体分離槽内へと粉粒体を流通させると同時に粉粒体分離
槽内に除電用気体供給手段から除電用気体を供給して、
集合した粉粒体を分離することを特徴とする粉粒体のサ
ンプリング方法である。
【０００８】
【作用】上述した構成の粉粒体のサンプリング装置によ
るサンプリング方法について以下に説明する。
るサンプリング方法について以下に説明する。
【０００９】開閉手段を解放状態にし、洗浄気体供給手
段から洗浄気体をサンプル抜き出し管を通じてプラント
配管内に供給する。これによってサンプル抜き出し管内
の洗浄が行われる。次いで、洗浄気体供給手段からの洗
浄気体の供給を停止する。その後、プラント配管内には
所定圧力で粉粒体が流通しているので、開閉手段を解放
状態にしたまま洗浄気体供給手段からの洗浄気体の流通
を停止することにより、プラント配管から粉粒体がサン
プル抜き出し管に流れ込み、粉粒体分離槽内に流れ込
む。プラント配管から粉粒体分離槽への粉粒体の流通を
一定時間継続することによりサンプル抜き出し管内を共
洗いする。この共洗いによって、サンプル抜き出し管内
に存在するであろうところの、以前の他の品種の、ある
いは同品種ではあるがロットの異なる粉粒体を除去す
る。一定時間かけて粉粒体を粉粒体分離槽内に供給する
と、この粉粒体分離槽で粉粒体が集合状態になって、貯
留する。その後、前記開閉手段を閉鎖状態にしてから、
粉粒体分離槽内で集合状態になっている粉粒体を粉粒体
分離槽内から除去する。そして、開閉手段を解放状態に
することにより、プラント配管から粉粒体を粉粒体分離
槽に流通させると共に除電用気体供給手段から粉粒体分
離槽内に除電用気体を供給する。これにより粉粒体分離
槽内では粉粒体が除電される。したがって、粉粒体分離
槽内で粉粒体が帯電することによる粉粒体の集合阻害が
防止され、粉粒体分離槽内で粉粒体が帯電することなく
集合する。集合した粉粒体を粉粒体分離槽内から分離す
る。
段から洗浄気体をサンプル抜き出し管を通じてプラント
配管内に供給する。これによってサンプル抜き出し管内
の洗浄が行われる。次いで、洗浄気体供給手段からの洗
浄気体の供給を停止する。その後、プラント配管内には
所定圧力で粉粒体が流通しているので、開閉手段を解放
状態にしたまま洗浄気体供給手段からの洗浄気体の流通
を停止することにより、プラント配管から粉粒体がサン
プル抜き出し管に流れ込み、粉粒体分離槽内に流れ込
む。プラント配管から粉粒体分離槽への粉粒体の流通を
一定時間継続することによりサンプル抜き出し管内を共
洗いする。この共洗いによって、サンプル抜き出し管内
に存在するであろうところの、以前の他の品種の、ある
いは同品種ではあるがロットの異なる粉粒体を除去す
る。一定時間かけて粉粒体を粉粒体分離槽内に供給する
と、この粉粒体分離槽で粉粒体が集合状態になって、貯
留する。その後、前記開閉手段を閉鎖状態にしてから、
粉粒体分離槽内で集合状態になっている粉粒体を粉粒体
分離槽内から除去する。そして、開閉手段を解放状態に
することにより、プラント配管から粉粒体を粉粒体分離
槽に流通させると共に除電用気体供給手段から粉粒体分
離槽内に除電用気体を供給する。これにより粉粒体分離
槽内では粉粒体が除電される。したがって、粉粒体分離
槽内で粉粒体が帯電することによる粉粒体の集合阻害が
防止され、粉粒体分離槽内で粉粒体が帯電することなく
集合する。集合した粉粒体を粉粒体分離槽内から分離す
る。
【００１０】以上により、簡易な操作の下に帯電のな
い、しかもそれ以前の粉粒体による汚染もない高純度の
粉粒体のサンプリングを行うことが可能となる。
い、しかもそれ以前の粉粒体による汚染もない高純度の
粉粒体のサンプリングを行うことが可能となる。
【００１１】
【実施例】以下に、本発明の実施例を詳細に説明する。
【００１２】図１に示す粉粒体のサンプリング装置１
は、高分子化合物、ポリ塩化ビニール、小麦粉、セメン
ト、石炭粉等の粉粒体が所定の圧力下で流通するプラン
ト配管２と、このプラント配管２に接続した切替弁４、
サンプリング弁５を有するサンプル抜き出し管系３と、
このサンプル抜き出し管系３に接続した粉粒体に旋回運
動による遠心力を作用させる粉粒体分離槽としてのサイ
クロン６と、このサイクロン６の上端部に接続した空気
の吸引を行うバキュームクリーナからなる吸引手段７
と、前記サンプル抜き出し管系３に除電用の調湿気体を
送る除電用気体供給手段８と、前記サイクロン６の下部
取り出し口側に接続した粉粒体の収集又は廃棄を行う吐
出配管系９と、前記切替弁４を介してプラント配管２に
洗浄気体を送るとともに、採取配管系４、サイクロン６
及び吐出配管系９に洗浄気体を送る洗浄気体供給手段１
０とを有している。
は、高分子化合物、ポリ塩化ビニール、小麦粉、セメン
ト、石炭粉等の粉粒体が所定の圧力下で流通するプラン
ト配管２と、このプラント配管２に接続した切替弁４、
サンプリング弁５を有するサンプル抜き出し管系３と、
このサンプル抜き出し管系３に接続した粉粒体に旋回運
動による遠心力を作用させる粉粒体分離槽としてのサイ
クロン６と、このサイクロン６の上端部に接続した空気
の吸引を行うバキュームクリーナからなる吸引手段７
と、前記サンプル抜き出し管系３に除電用の調湿気体を
送る除電用気体供給手段８と、前記サイクロン６の下部
取り出し口側に接続した粉粒体の収集又は廃棄を行う吐
出配管系９と、前記切替弁４を介してプラント配管２に
洗浄気体を送るとともに、採取配管系４、サイクロン６
及び吐出配管系９に洗浄気体を送る洗浄気体供給手段１
０とを有している。
【００１３】ここで、前記調湿気体としては、一定の湿
度たとえば飽和状態に調整された空気を挙げることがで
きる。また、洗浄気体としては乾燥し、かつフィルター
等により清浄にされた空気を挙げることができる。
度たとえば飽和状態に調整された空気を挙げることがで
きる。また、洗浄気体としては乾燥し、かつフィルター
等により清浄にされた空気を挙げることができる。
【００１４】前記サンプル抜き出し管系３の切替弁４
は、空気作動式ボール弁により構成され、洗浄気体供給
手段１０とプラント配管２とを連通する動作と、プラン
ト配管２とサンプリング弁５側とを連通する動作とに切
り替わるようになっている。
は、空気作動式ボール弁により構成され、洗浄気体供給
手段１０とプラント配管２とを連通する動作と、プラン
ト配管２とサンプリング弁５側とを連通する動作とに切
り替わるようになっている。
【００１５】前記サンプリング弁５は、空気作動式ボー
ル弁により構成され、かつ空気圧によりサンプル抜き出
し管系３の流路を開閉するようになっている。
ル弁により構成され、かつ空気圧によりサンプル抜き出
し管系３の流路を開閉するようになっている。
【００１６】前記除電用気体供給手段８は、サンプル抜
き出し管系３により採取される粉粒体に対し除電用の調
湿気体を送り、帯電した粉粒体の電荷を除去するもので
あり、除電気体供給源１１と、空気作動式ボール弁によ
り構成され、かつ空気圧により動作する調湿気体供給弁
１２とを具備している。
き出し管系３により採取される粉粒体に対し除電用の調
湿気体を送り、帯電した粉粒体の電荷を除去するもので
あり、除電気体供給源１１と、空気作動式ボール弁によ
り構成され、かつ空気圧により動作する調湿気体供給弁
１２とを具備している。
【００１７】前記吐出配管系９は、前記サイクロン６の
下部取り出し口側に接続した空気作動式ボール弁により
構成した第１の吐出弁１３と、この第１の吐出弁１３に
直列に接続した第２の吐出弁１４と、この第２の吐出弁
１４の下方に配置した廃棄受箱１５と、第１の吐出弁１
３と、第２の吐出弁１４との間に接続した粉粒体収集用
の電磁弁からなる、大気開放弁である開放弁１６とを具
備し、開放弁１６の出口側を図示しない粒度分析装置、
カサ比重測定装置等の分析装置に接続している。
下部取り出し口側に接続した空気作動式ボール弁により
構成した第１の吐出弁１３と、この第１の吐出弁１３に
直列に接続した第２の吐出弁１４と、この第２の吐出弁
１４の下方に配置した廃棄受箱１５と、第１の吐出弁１
３と、第２の吐出弁１４との間に接続した粉粒体収集用
の電磁弁からなる、大気開放弁である開放弁１６とを具
備し、開放弁１６の出口側を図示しない粒度分析装置、
カサ比重測定装置等の分析装置に接続している。
【００１８】前記洗浄気体供給手段１０は、洗浄気体を
送り出す洗浄気体供給手段１７と、この洗浄気体供給手
段１０に接続した気体レギュレータ１８と、この気体レ
ギュレータ１８と前記切替弁４との間に接続した電磁弁
からなる第１の気体弁１９と、気体レギュレータ１８と
前記サンプリング弁５との間に接続した電磁弁からなる
第２の気体弁２０とを具備している。
送り出す洗浄気体供給手段１７と、この洗浄気体供給手
段１０に接続した気体レギュレータ１８と、この気体レ
ギュレータ１８と前記切替弁４との間に接続した電磁弁
からなる第１の気体弁１９と、気体レギュレータ１８と
前記サンプリング弁５との間に接続した電磁弁からなる
第２の気体弁２０とを具備している。
【００１９】尚、図１中、２１、２２は、洗浄気体供給
手段１０の一部を構成する絞り弁である。
手段１０の一部を構成する絞り弁である。
【００２０】次に、上述した構成の粉粒体のサンプリン
グ装置１を用いた粉粒体の自動サンプリング方法につい
て説明する。
グ装置１を用いた粉粒体の自動サンプリング方法につい
て説明する。
【００２１】まず、前記切替弁４を、洗浄気体供給手段
１０と、プラント配管２とが連通する状態に切り替える
とともに、第１の気体弁１９を開き、第２の気体弁２２
は閉じる。この状態で、図１に点線で示すように、洗浄
気体供給源１７を始動することにより、レギュレータ１
８、第１の気体弁１９及び切替弁４を介してプラント配
管２に洗浄気体を送り、サンプル抜き出し管系３のプラ
ント配管２から切り替え弁４までの内部を洗浄する。
１０と、プラント配管２とが連通する状態に切り替える
とともに、第１の気体弁１９を開き、第２の気体弁２２
は閉じる。この状態で、図１に点線で示すように、洗浄
気体供給源１７を始動することにより、レギュレータ１
８、第１の気体弁１９及び切替弁４を介してプラント配
管２に洗浄気体を送り、サンプル抜き出し管系３のプラ
ント配管２から切り替え弁４までの内部を洗浄する。
【００２２】このようにサンプル抜き出し管系３を洗浄
するのは、このサンプル抜き出し管系３はプラント配管
２と直接に結合されているので、プラント配管２中を流
れる粉粒体が滞留し、しかもプラントにおける品種変え
が頻繁に行われると種々の粉粒体がサンプル抜き出し管
系３に混入しかつ滞留することがあるので、このような
種々の粉粒体による汚染を除去するために、先ずサンプ
ル配管２の内部を洗浄するのである。
するのは、このサンプル抜き出し管系３はプラント配管
２と直接に結合されているので、プラント配管２中を流
れる粉粒体が滞留し、しかもプラントにおける品種変え
が頻繁に行われると種々の粉粒体がサンプル抜き出し管
系３に混入しかつ滞留することがあるので、このような
種々の粉粒体による汚染を除去するために、先ずサンプ
ル配管２の内部を洗浄するのである。
【００２３】次に、切替弁４を、サンプル抜き出し管系
３と、プラント配管２とが連通する状態に切り替えると
ともに、サンプリング弁５を開、第１の吐出弁１３を
開、第２の吐出弁１４を閉、第１、第２の気体弁１９、
２０を閉、調湿気体供給弁１２を閉、サイクロン６を動
作状態、吸引手段７をオンにして、図２に示すように、
前記プラント配管２、サンプル抜き出し管系３、サイク
ロン６及び吐出配管系９の洗浄を行う共洗いブロー洗浄
を行う。この段階で、サンプル抜き出し管系３、サイク
ロン６及び吐出配管系９の流路中には粉粒体が残存す
る。
３と、プラント配管２とが連通する状態に切り替えると
ともに、サンプリング弁５を開、第１の吐出弁１３を
開、第２の吐出弁１４を閉、第１、第２の気体弁１９、
２０を閉、調湿気体供給弁１２を閉、サイクロン６を動
作状態、吸引手段７をオンにして、図２に示すように、
前記プラント配管２、サンプル抜き出し管系３、サイク
ロン６及び吐出配管系９の洗浄を行う共洗いブロー洗浄
を行う。この段階で、サンプル抜き出し管系３、サイク
ロン６及び吐出配管系９の流路中には粉粒体が残存す
る。
【００２４】さらに、図２に示す状態から、第１の吐出
弁１３を閉、第２の吐出弁１４を開、開放弁１６を開に
して、図３に点線で示すように、前記サンプル抜き出し
管系３のサンプリング弁５からサイクロン６に至る流
路、サイクロン６及び吐出配管系９の洗浄を行い、これ
らの流路中に残存する粉粒体を廃棄受箱１５に廃棄する
前処理を行う。
弁１３を閉、第２の吐出弁１４を開、開放弁１６を開に
して、図３に点線で示すように、前記サンプル抜き出し
管系３のサンプリング弁５からサイクロン６に至る流
路、サイクロン６及び吐出配管系９の洗浄を行い、これ
らの流路中に残存する粉粒体を廃棄受箱１５に廃棄する
前処理を行う。
【００２５】次に、前記サンプリング弁５を開、第１の
吐出弁１３を開、第２の吐出弁１４を閉、切替弁４をサ
ンプル抜き出し管系３とプラント配管２とが連通する状
態、第１、第２の気体弁１９、２０を閉、調湿気体供給
弁１２を開、開放弁１６を開閉動作の状態とし、図４に
示すように、前記プラント配管２、サンプル抜き出し管
系３、サイクロン６及び吐出配管系９に至る流路を形成
して、除電用気体供給手段８によりサンプル抜き出し管
系３に除電用の調湿気体を送りプラント配管２内の圧力
を利用して粉粒体を前記流路を通じて除電しつつ所定量
サンプリングする。サンプリングされた所定量の粉粒体
は、開放弁１６から図示しない粒度分析装置、カサ比重
測定装置等の分析装置に送られ、粒度分布の分析、カサ
比重の測定等が行われる。
吐出弁１３を開、第２の吐出弁１４を閉、切替弁４をサ
ンプル抜き出し管系３とプラント配管２とが連通する状
態、第１、第２の気体弁１９、２０を閉、調湿気体供給
弁１２を開、開放弁１６を開閉動作の状態とし、図４に
示すように、前記プラント配管２、サンプル抜き出し管
系３、サイクロン６及び吐出配管系９に至る流路を形成
して、除電用気体供給手段８によりサンプル抜き出し管
系３に除電用の調湿気体を送りプラント配管２内の圧力
を利用して粉粒体を前記流路を通じて除電しつつ所定量
サンプリングする。サンプリングされた所定量の粉粒体
は、開放弁１６から図示しない粒度分析装置、カサ比重
測定装置等の分析装置に送られ、粒度分布の分析、カサ
比重の測定等が行われる。
【００２６】最後に、前記サンプリング弁を閉、第１の
吐出弁１３を開、第２の吐出弁１４を開、切替弁４を洗
浄気体供給手段とプラント配管２とが連通する状態、第
１、第２の気体弁１９、２０を開、調湿気体供給弁１２
を閉、開放弁１６を開の状態とし、図５に示すように、
洗浄気体供給手段１０によりサンプル抜き出し管系３の
切替弁４を介して洗浄気体をプラント配管２に送るとと
もに、洗浄気体供給手段１０によりサンプル抜き出し管
系３、サイクロン６及び吐出配管系９に洗浄気体を送り
全体の洗浄を行う。
吐出弁１３を開、第２の吐出弁１４を開、切替弁４を洗
浄気体供給手段とプラント配管２とが連通する状態、第
１、第２の気体弁１９、２０を開、調湿気体供給弁１２
を閉、開放弁１６を開の状態とし、図５に示すように、
洗浄気体供給手段１０によりサンプル抜き出し管系３の
切替弁４を介して洗浄気体をプラント配管２に送るとと
もに、洗浄気体供給手段１０によりサンプル抜き出し管
系３、サイクロン６及び吐出配管系９に洗浄気体を送り
全体の洗浄を行う。
【００２７】以上の工程により、安価で簡易な構成と簡
略な動作のもとに帯電のない粉粒体のサンプリングを簡
単な弁操作によって全自動で行うことが可能となる。
略な動作のもとに帯電のない粉粒体のサンプリングを簡
単な弁操作によって全自動で行うことが可能となる。
【００２８】即ち、本実施例装置１によれば、プラント
配管２からの粉粒体のサンプリング中に、この粉粒体の
帯電を除去でき、プラント配管２に多品種少量の各種の
粉粒体を流通させる場合でも、プラント配管２の汚染を
完全に防止し、かつ、粉粒体の性状（粒径等）を変化さ
せることなく、高精度の分析に寄与し得る。
配管２からの粉粒体のサンプリング中に、この粉粒体の
帯電を除去でき、プラント配管２に多品種少量の各種の
粉粒体を流通させる場合でも、プラント配管２の汚染を
完全に防止し、かつ、粉粒体の性状（粒径等）を変化さ
せることなく、高精度の分析に寄与し得る。
【００２９】また、前記各弁の開閉時間の調整を適切に
行うことで、必要量の粉粒体を効率よく採取できる。ま
た、前記各弁の動作の組み合わせにより粉粒体の自動サ
ンプリングを行うことができるので、製造コスト、維持
コストの低減、保守の容易化を図ることができる。
行うことで、必要量の粉粒体を効率よく採取できる。ま
た、前記各弁の動作の組み合わせにより粉粒体の自動サ
ンプリングを行うことができるので、製造コスト、維持
コストの低減、保守の容易化を図ることができる。
【００３０】本発明は、上述した実施例に限定されるも
のではなく、その要旨の範囲内で種々の変形が可能であ
る。
のではなく、その要旨の範囲内で種々の変形が可能であ
る。
【００３１】
【発明の効果】以上詳述した本発明によれば、上述した
構成としたので、帯電汚染の問題もなく粉粒体のサンプ
リングを全自動で行うことが可能な粉粒体のサンプリン
グ装置を提供することができる。
構成としたので、帯電汚染の問題もなく粉粒体のサンプ
リングを全自動で行うことが可能な粉粒体のサンプリン
グ装置を提供することができる。
【図１】図１は本発明の実施例装置の配管構成図であ
る。
る。
【図２】図２は本発明の実施例装置の動作説明図であ
る。
る。
【図３】図３は本発明の実施例装置の動作説明図であ
る。
る。
【図４】図４は本発明の実施例装置の動作説明図であ
る。
る。
【図５】図５は本発明の実施例装置の動作説明図であ
る。
る。
１ 粉粒体のサンプリング装置 ２ プラント配管 ３ 採取配管系 ４ 切替弁 ５ サンプリング弁 ６ サイクロン ７ 吸引手段 ８ 調湿気体供給手段 ９ 吐出配管系 １０ 洗浄気体供給手段
Claims (2)
- 【請求項１】 粉粒体が所定の圧力下で流通するプラン
ト配管に、開閉手段を介して接続されたサンプル抜き出
し管と、サンプル抜き出し管に接続された粉粒体分離槽
と、前記サンプル抜き出し管中に洗浄気体を供給する洗
浄気体供給手段と、前記粉粒体分離槽内に除電用気体を
供給する除電用気体供給手段とを有することを特徴とす
る粉粒体のサンプリング装置。 - 【請求項２】 粉粒体が所定の圧力下で流通するプラン
ト配管に接続されたサンプル抜き出し管に設けられた開
閉手段を開状態にし、洗浄気体供給手段によりサンプル
抜き出し管からプラント配管へと洗浄気体を流通させる
ことによりサンプル抜き出し管中を洗浄してから、洗浄
気体供給手段による洗浄気体の供給を停止すると共にプ
ラント配管から粉粒体分離槽内へと粉粒体を流通させて
サンプル抜き出し管中を共洗いし、前記開閉手段を閉鎖
状態にして共洗いにより粉粒体分離槽内で集合した粉粒
体を廃棄し、その後に前記開閉手段を解放状態にして、
プラント配管から粉粒体分離槽内へと粉粒体を流通させ
ると同時に粉粒体分離槽内に除電用気体供給手段から除
電用気体を供給して、集合した粉粒体を分離することを
特徴とする粉粒体のサンプリング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4283060A JPH0776738B2 (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | 粉粒体のサンプリング装置及び粉粒体のサンプリング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4283060A JPH0776738B2 (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | 粉粒体のサンプリング装置及び粉粒体のサンプリング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06129959A true JPH06129959A (ja) | 1994-05-13 |
| JPH0776738B2 JPH0776738B2 (ja) | 1995-08-16 |
Family
ID=17660688
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4283060A Expired - Fee Related JPH0776738B2 (ja) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | 粉粒体のサンプリング装置及び粉粒体のサンプリング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0776738B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007532873A (ja) * | 2004-04-09 | 2007-11-15 | ブルージー，ドメニコ | 処理環境からガスを抽出するためのプローブとシステム |
| JP2008298657A (ja) * | 2007-06-01 | 2008-12-11 | Japan Agengy For Marine-Earth Science & Technology | 粉粒体回収装置 |
| KR100973492B1 (ko) * | 2009-10-05 | 2010-08-03 | 전제금 | 미분탄 시료 채취장치 |
| JP2014028656A (ja) * | 2012-07-04 | 2014-02-13 | Nishikawa Rubber Co Ltd | 粉粒体投入装置 |
| JP2014174074A (ja) * | 2013-03-12 | 2014-09-22 | Hitachi Ltd | 物質の分析装置及び分析方法 |
| JP2015175597A (ja) * | 2014-03-12 | 2015-10-05 | 中国電力株式会社 | 排ガス採取装置および採取管の清掃方法 |
| WO2019187976A1 (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-03 | 株式会社日立製作所 | 微粒子分析装置、微粒子分析システム及び洗浄方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58223737A (ja) * | 1982-06-23 | 1983-12-26 | Sankyo Dengiyou Kk | サンプリング管 |
| JPH0216047U (ja) * | 1988-07-19 | 1990-02-01 | ||
| JPH02127417U (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-19 | ||
| JPH0434649U (ja) * | 1990-07-18 | 1992-03-23 |
-
1992
- 1992-10-21 JP JP4283060A patent/JPH0776738B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58223737A (ja) * | 1982-06-23 | 1983-12-26 | Sankyo Dengiyou Kk | サンプリング管 |
| JPH0216047U (ja) * | 1988-07-19 | 1990-02-01 | ||
| JPH02127417U (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-19 | ||
| JPH0434649U (ja) * | 1990-07-18 | 1992-03-23 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007532873A (ja) * | 2004-04-09 | 2007-11-15 | ブルージー，ドメニコ | 処理環境からガスを抽出するためのプローブとシステム |
| JP2008298657A (ja) * | 2007-06-01 | 2008-12-11 | Japan Agengy For Marine-Earth Science & Technology | 粉粒体回収装置 |
| KR100973492B1 (ko) * | 2009-10-05 | 2010-08-03 | 전제금 | 미분탄 시료 채취장치 |
| JP2014028656A (ja) * | 2012-07-04 | 2014-02-13 | Nishikawa Rubber Co Ltd | 粉粒体投入装置 |
| JP2014174074A (ja) * | 2013-03-12 | 2014-09-22 | Hitachi Ltd | 物質の分析装置及び分析方法 |
| JP2015175597A (ja) * | 2014-03-12 | 2015-10-05 | 中国電力株式会社 | 排ガス採取装置および採取管の清掃方法 |
| WO2019187976A1 (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-03 | 株式会社日立製作所 | 微粒子分析装置、微粒子分析システム及び洗浄方法 |
| CN111902710A (zh) * | 2018-03-30 | 2020-11-06 | 株式会社日立制作所 | 微粒分析装置、微粒分析系统以及清洗方法 |
| CN111902710B (zh) * | 2018-03-30 | 2023-10-24 | 株式会社日立制作所 | 微粒分析装置、微粒分析系统以及清洗方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0776738B2 (ja) | 1995-08-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8882401B2 (en) | Discharge apparatus for powdered or granular material and transport system for the material provided with the discharge apparatus | |
| US6942717B2 (en) | Venturi effect material return system of a material collection system and appertaining method | |
| JPH0650761Y2 (ja) | 粉粒体検査装置 | |
| AU2004245728B2 (en) | Device for collecting and separating particles and microorganisms present in the ambient air | |
| CN115676063B (zh) | 一种用于粮食收购的质量检测系统 | |
| JPH06129959A (ja) | 粉粒体のサンプリング装置及び粉粒体のサンプリング方法 | |
| CN106391466B (zh) | 一种金属粉末的分级装置及使用方法 | |
| HU206544B (en) | Device for preparing tests from bulk material flow | |
| CN105259093B (zh) | 滤袋式除尘实验系统 | |
| CN211412759U (zh) | 一种气流分级装置 | |
| US4286466A (en) | Method and apparatus for pneumatically sampling powders | |
| JPH0563239B2 (ja) | ||
| CN106769236B (zh) | 车辆尾气取样机构、车辆尾气检测装置及方法 | |
| US6960324B1 (en) | Cap aspirating system | |
| US5063789A (en) | High velocity gas particulate sampling system | |
| KR101918714B1 (ko) | 대기 미세먼지 액상 시료 및 표준물질 자동 전달 시스템 | |
| CN223512966U (zh) | 一种气力取样器 | |
| Baker et al. | Preseparators and cyclones for the collection of stripper cotton trash | |
| CN118323861B (zh) | 一种粮食自动缩分及进出料装置 | |
| CN214667948U (zh) | 粉体取样设备 | |
| CN223102153U (zh) | 一种干燥剂分料设备 | |
| CN217410216U (zh) | 一种流化床排气除尘系统 | |
| CN221982662U (zh) | 一种负压风选机 | |
| JPH0714356U (ja) | サンプル採取機 | |
| CN116337521B (zh) | 一种肥料检测取样处理器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19960227 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100816 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120816 Year of fee payment: 17 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |