JPH06129979A - 放射エネルギー分光装置 - Google Patents

放射エネルギー分光装置

Info

Publication number
JPH06129979A
JPH06129979A JP4228589A JP22858992A JPH06129979A JP H06129979 A JPH06129979 A JP H06129979A JP 4228589 A JP4228589 A JP 4228589A JP 22858992 A JP22858992 A JP 22858992A JP H06129979 A JPH06129979 A JP H06129979A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiant energy
diamond
crown
angle
pavilion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4228589A
Other languages
English (en)
Inventor
Donald W Sting
ダブリュー スティング ドナルド
John A Reffner
エー レフナー ジョン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=25016929&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH06129979(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Individual filed Critical Individual
Publication of JPH06129979A publication Critical patent/JPH06129979A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G01N21/552—Attenuated total reflection

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Adornments (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 放射エネルギー分光装置の内面反射素子とし
て単一はね返りの特殊カットのダイヤモンドを使用して
分光分析精度の向上を図る。 【構成】 放射エネルギー源３と、内面反射素子として
のダイヤモンド９と、このダイヤモンドの１つの面と接
触する試料13と、放射エネルギーをダイヤモンドの方へ
と向け、前記ダイヤモンドの試料接触面から放射エネル
ギーを一度の内面反射で反射させる光学系６，７とを具
えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は単一はね返り（シングル
バウンズ）の内面反射素子(IRE) としてダイヤモンドを
利用する放射エネルギー分光装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】特殊な形状にカットしたダイヤモンドは
多数はね返り（マルチプルバウンス）の内面反射素子と
して用いられている。このマルチプルバウンスのダイヤ
モンドIRE は一般に台形状の側壁と、角度を付けた端壁
と、平坦な頂部及び底部壁とを有している。このような
マルチプルバウンスのダイヤモンドIRE は極めて高価で
ある。このために、本出願人の知る限りではこの特殊な
マルチプルバウンスのダイヤモンドIRE はコストの面か
らして、これまでは分光装置用としては市販されたこと
がないと思料する。又、いずれかのダイヤモンドをシン
グルバウンスのIRE として用いたり、或いはいずれかの
標準アンビルカットのダイヤモンドをシングルバウンス
のIRE として用いることも気付かれていなかった。
【０００３】大抵の標準カットの形状をしているダイヤ
モンドは複数のファセットを有している。そのために、
ダイヤモンドファセットの光学的結像特性は、エネルギ
ービームを或る個所から、その個所へと集束させる目的
には極めて劣るものであると予期されている。実際上、
ファセットは可視ビームを「ばらばら」にして、可視光
が「きらめき」を出すべくスクランブルさせるようにす
るために用いられる。これは単一の内面反射を望む分光
装置に使用する目的とは明らかに相反することである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は分光装
置におけるシングルバウンスの内面反射素子として標準
のアンビルカットのダイヤモンドを用いることにある。
シングルバウンスのIREとしてのダイヤモンドは硬く、
耐薬品性で、丈夫であり、試料への圧力を高くでき、し
かも光学的透明度も高いと言う利点がある。
【０００５】本発明の他の目的は放射エネルギー分光装
置のシングルバウンスIRE として特殊カットのダイヤモ
ンドを提供することにある。シングルバウンスのIRE と
してのダイヤモンドの各面の角度及び形状を所定なもの
とすることによって、そのダイヤモンドの光学的特性を
改善することができる。ファセットの数を増やし、これ
らファセットを小さくし、且つ(1990 年12月６日出願の
米国特許願第07/622,852号に記載されているような) 開
口数の高い光学系によって作られる多少球状をしている
波面にほぼ垂直となるようにすることによりダイヤモン
ドをシングルバウンスのATR 結晶として非常に有効なも
のとすることができる。
【０００６】本発明のさらに他の目的は、任意タイプの
光学系又は配向系にシングルバウンスのIRE として極め
て小さなダイヤモンドを利用することにある。シングル
バウンスのIRE としての極めて小さなダイヤモンドは光
学系のひずみを減らすことができる。
【０００７】放射エネルギーIRE 分光用のプローブとし
て直径が10ミクロン以下の極めて小さな試料接触面を有
するダイヤモンドを用い、その接触面が分析すべき試料
の個所を規定するようにすることができる。試料接触面
が10ミクロン以下のこのようなシングルバウンスのIRE
ダイヤモンドによって限外顕微鏡分析することができ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、放射エネルギ
ー源と；内面反射素子としてのダイヤモンドと；このダ
イヤモンドの１つの面と接触する試料と；放射エネルギ
ーをダイヤモンドの方へと向け、ダイヤモンドの前記試
料接触面から放射エネルギーを一度の内面反射で反射さ
せる光学系と；を具えている放射エネルギー分光装置に
ある。
【０００９】
【実施例】先ず図１を参照するに、ここには本発明によ
る放射エネルギー分光装置を１にて総称して示してあ
る。この装置は放射エネルギー源３と、可視光源４と、
マスク５と、二次ミラー６及び一次ミラー７を含む対物
レンズ系と、９にて総称する単一はね返り（シングルバ
ウンス）のダイヤモンドIRE と、放射エネルギー検出器
10とを含むことができる。
【００１０】放射エネルギー源３は非可視エネルギー、
好ましくは赤外エネルギーを分光装置の12にて総称する
光路に沿って放射する。この放射エネルギー源３によっ
て供給される放射エネルギーは試料を分析するのに用い
られ、この場合の試料は反応室内に入れてある流体13と
する。
【００１１】放射エネルギー源３は可視光源４と交互に
用いることができる。慣例の切換ミラー14を２つの位置
間にて枢動させて、放射エネルギーか、可視光のいずれ
かを光路12に沿う方向に向けることができる。図１に示
す実線位置ではミラー14が放射エネルギーを分光装置に
通す。切換ミラー14を図１に示す破線位置へ枢動させる
と、このミラーは可視光を分光装置の光路に沿う方向に
向ける。この可視光を慣例の接眼レンズに通して見て、
試料13の特定な分析試験のための光学系を設定するのに
役立てることができる。
【００１２】なお、分析試験は種々のマスク５又は他の
光学素子を用いて様々な試験をすることができる。図１
に示すように、入口開口15と出口開口16を有しているマ
スク５を光路12内に位置させる。図示のように、入口開
口15及び出口開口16はATR の研究をすることのできる光
学系を通る中心線から等距離の所に位置させる。マスク
５における開口の大きさを制限すれば、ほぼ半球状をし
た波面の選択された部分だけが分光装置の対物レンズ系
及びIRE 部分に入ったり、出たりする。
【００１３】他の研究をするためには別のマスクを用い
ることができる。例えば入口開口15A を有している入口
マスク5Aを光路の入射部分に沿って位置させて、放射エ
ネルギーを入口開口15A に通すことができる。出口開口
16B を有している出口マスク5Bを放射エネルギー通路の
反射部分に選択的に位置させることができる。入口開口
15A 及び出口開口16B は光学系の中心線から等間隔に離
間されていないから、試料13について散乱を調べること
ができる。幅、長さ、形状及び半径位置が様々な開口を
有しているマスクの多数の組み合わせを選択的にミック
スさせ、且つ、マッチさせて多数のATR 分光写真の研究
をすることができる。マスクの代わりにレンズの如き他
の光学素子を用いることができる。
【００１４】可視光を使用している時には、マスク５を
選択的に使用したり、それを全くなくしたり、又は別の
光学素子と置き換えることができる。例えばレンズ5Bを
分光装置の光路内に位置させて、解析試験又は設定した
処理手順を行うのに必要とされるような光を集束させる
ことができる。
【００１５】一次ミラー７はその中心線に沿う位置に開
口20を有しており、この開口を経て放射エネルギー及び
可視光をいずれの方向にも通すことができる。対物レン
ズ系の二次ミラー６はその本体を通る小孔21を有してい
る。この小孔21を二次ミラー６の中心線に沿って位置さ
せて、この小孔を経て可視孔をシングルバウンスのIRE
ダイヤモンド９に通すことができる。
【００１６】図１及び図２に明示するように、ダイヤモ
ンドIRE ９はテーブル23、クラウン部分24、ガードル2
5、パビリオン部分26及びキューレット27を具えてい
る。図２に示すダイヤモンド９は標準のブリリアンカッ
ト又は変更ブリリアンカットのダイヤモンドとする。テ
ーブル及びキューレットには多数の辺があり、これらの
形状はほぼ丸くなっていると見なすことができる。この
ダイヤモンド９はテーブルファセット29及びパビリオン
ファセット30を具えている。クラウン角度31は30°〜40
°の範囲内の角度、好ましくは34−1/2 °とし、パビリ
オン角度32は25°〜45°の範囲内の角度、好ましくは約
45°のパビリオン角度とする。
【００１７】図１に示すように、テーブル面23を二次ミ
ラー６用の本体の頂部表面に当接させて位置させ、パビ
リオン部分26を反応室の底壁における開口によって規定
される円錐面に対して封止させ、キューレット27を試料
13に接触させて位置させる。本例では放射エネルギーが
ダイヤモンド９のクラウン部分24から入って、クラウン
部分から出る。
【００１８】シングルバウンスIRE ダイヤモンド９は例
えば図７に示すように逆にして用いることもできる。図
１でダイヤモンドを反転させる場合には、キューレット
面27が二次ミラー６の本体に接触し、クラウン部分24が
反応室の底壁における入口開口によって規定されるほぼ
円錐面に対して封止され、テーブル面23が試料と接触す
るようにする。このようにすれば、放射エネルギーがダ
イヤモンド９のパビリオン部分26から入って、パビリオ
ン部分から出るようになる。いずれにしても、ダイヤモ
ンドIRE は硬くて、丈夫で、しかも試料に対して耐薬品
性であり、光学的に透明である。
【００１９】なお、シングルバウンスのダイヤモンドIR
E としては図３〜図６に示すような他の標準アンビル(a
nvil) カットのダイヤモンド又は特殊カットのダイヤモ
ンドを使用することができる。例えば図3A及び図3Bには
IRE 素子として使用できる慣例のアンビルカットのドラ
ッカー(Drukker) 標準ダイヤモンド9Aを示してある。テ
ーブル23A 及びキューレット27A は一般に８角形状をし
ている。クラウン部分24A は８個のテーブルファセット
29A と８個のパビリオンファセット30A を有している。
ガードル25A の高さはブリリアン又は変更ブリリアンカ
ットのダイヤモンドのガードル25よりも高くなってい
る。クラウン角度31A は35°〜55°の範囲内の角度、好
ましくは45°とし、パビリオン角度32A は30°〜40°、
好ましくは35°の角度とする。
【００２０】図4A及び図4Bに示すような特殊カットのダ
イヤモンド9Bでは、テーブル23B 及びキューレット27B
が６角形状をしている。クラウン部分24B は６個のテー
ブルファセット29B を有し、又パビリオン部分26B は６
個のパビリオンファセット30B を有している。クラウン
角度31B は35°〜55°の範囲内の角度、好ましくは45°
とし、パビリオン角度32B は30°〜40°、好ましくは35
°とする。
【００２１】図4Bに示すように、キューレット27B は極
めて小さい。試料接触面として直径が10ミクロン以下の
キューレットを用いることは、限外顕微鏡分析をするの
に好適である。ダイヤモンド全体の大きさはできるだけ
小さくし、図4Bのダイヤモンドの直径の如き最大寸法は
４ミリメートル以下とするのが好適である。シングバウ
ンスのダイヤモンドIRE ９の寸法は特殊な分析をするた
めにできるだけ小さくすべきである。シングルバウンス
のダイヤモンドIRE を小さくすれば、テーブルファセッ
トか、パビリオンファセットを通過する放射エネルギー
により光学系によって生ずる像のひずみが小さくなる。
【００２２】図５にはさらに別の特殊カットのシングル
バウンスダイヤモンドIRE 9Cを示してある。このような
ダイヤモンド9Cはテーブル23C 及びキューレット27C を
有している。テーブル及びキューレットは平坦とする
か、又は彎曲させることができる。例えば、テーブル23
C か、キューレット27C 又はこれら双方を形成するのに
球の截頭部分を用いることができる。
【００２３】図５のダイヤモンドはクラウン部分に３つ
の異なるテーブルファセット部分35, 36及び37も有して
いる。これらクラウン部分の各面35, 36及び37は複数の
面を含むか、円錐台の一部を含むか、又は截頭球の一部
を含むようにカットすることができる。実際上、このク
ラウン部分の角度及び面はほぼ球面となるように選択す
るのが好適である。ファセットをカットする場合、各区
分のファセット数を増やして、ファセットの大きさをそ
れ相当に小さくして、球面に近づけることができる。こ
のようにすれば、各ファセットは光学系によって作られ
る多少球状をしている波面に対してほぼ垂直となる。な
お、図５に示したダイヤモンドの例は、３つの異なるク
ラウン角度を有するものであるが、これらクラウン角度
部分は用途に応じて増減することができる。
【００２４】ダイヤモンドIRE 9Cはフルスト(frusto)円
錐部分、フルスト球状部分又はマルチファセット部分と
してのパビリオン部分カットを有している。ダイヤモン
ド9Cのパビリオン角度32C は30°〜40°の範囲内の角
度、好ましくは35°とする。
【００２５】さらに他の特殊カットの例として、図６の
ダイヤモンド9Dは概して平坦なテーブル23D と彎曲キュ
ーレット27D を有している。このダイヤモンド9Dのクラ
ウン24D は２部分39及び40を有し、これらは彎曲させる
（例えば、フルスト円錐又はフルスト球状とする）か、
又はマルチファセット部分とすることができる。クラウ
ン部分24D は第１クラウン角度31D ′と第２クラウン角
度31D ″とを有している。このクラウン部分も好適な角
度でカットして、ほぼ球面となるように多数のファセッ
トに刻むようにする。
【００２６】パビリオン部分26D は彎曲又はマルチファ
セットとなるようにカットすることができる。このパビ
リオン部分26D もパビリオン角度が異なる複数の区分を
有するようにカットすることもできる。
【００２７】本発明による分光装置にはシングルバウン
スのIRE として、例えば図２及び図３に示したような標
準アンビルカットのダイヤモンドを用いるのが好適であ
る。しかし、本発明では特殊な分光又は限外顕微鏡分析
用途に必要とされるようなシングルバウンスのIRE 素子
として特殊カットのダイヤモンドを使用することも考え
ている。
【００２８】例えば図２〜図６に示すダイヤモンドの１
つを利用する図１の分光装置を放射エネルギー分析モー
ドで作動させる場合、放射エネルギーはマスク５の入口
開口15を通過してから、二次ミラー６及び一次ミラー７
にて反射して、ダイヤモンド９のクラウン部分24の片側
を通過して、キューレット27にて１度だけ反射されて、
クラウン部分24に逆戻りしてから、一次ミラー７及び二
次ミラー６にて反射されてマスク５の出口開口16を通過
して検出器10へと至る。放射エネルギーは試料13（例え
ば、液相又は固相）により多少吸収される。検出器10は
反応室に入れた試料をその試料により吸収される放射エ
ネルギーに基づいて特徴づけることができる。
【００２９】視検モードでは、光源４からの入射可視光
がレンズ5Bを経て屈折され、二次ミラー６の本体にあけ
た小孔21を経てダイヤモンド９のテーブル23を通過して
からキューレット27にて反射され、テーブル23及び小孔
21を通過して、レンズ5Bを屈折して通過してからオペレ
ータの目視用の慣例の接眼レンズに至る。シングルバウ
ンスのダイヤモンドIRE に対する他の応用及びこのダイ
ヤモンドIRE の他の適応も予期されることである。
【００３０】例えば、図７の例のように分光装置の対物
レンズ系に屈折レンズ（１個又は複数）を含めることが
できる。図示のように、図７の装置は第１屈折レンズ43
及び第２屈折レンズ44を有している。第１屈折レンズ43
は第１の中心孔46を有し、第２屈折レンズ44は第２中心
孔47を有している。
【００３１】第１レンズ43を通過する入射放射エネルギ
ーは入射光路49A 及び49B により図示のように曲げら
れ、即ち屈折され、且つ入射放射エネルギー通路50A 及
び50Bにより図示のように第２屈折レンズ44により再び
曲げられ、即ち屈折される。これらの屈折レンズ43及び
44は入射放射エネルギーを試料面51に集束させるべく選
択する。
【００３２】図７に示す例では固体試料52の１つの表面
をダイヤモンド９のテーブル23に接触させる。ダイヤモ
ンドは硬く、キューレットの大きさを潜在的に小さくし
ても固体試料52にかなりの圧力をかけることができるた
め、分光分析を改善することができる。
【００３３】図７に示すように、入射放射エネルギーは
ダイヤモンドのパビリオン部分26を経てテーブル23に達
する。この放射エネルギーはテーブル23にて一度だけ反
射され（シングルバウンス）てから、ダイヤモンド９の
他の半部のパビリオン部分26を通過する。次いでこの反
射された放射エネルギーは第２屈折レンズ44及び第１屈
折レンズ43を通過してから検出器10（図１）へと至る。
【００３４】この場合、試料台53に載せてある固体試料
は、それにて吸収される放射エネルギーにより分析、即
ち特徴づけられる。図７のダイヤモンドは図１に示した
ダイヤモンドとは逆向にして示してある。
【００３５】視検動作モードでは、図７に示す分光装置
の対物レンズ系を成す屈折レンズ43及び44における孔46
及び47にオペレータによる観察用の可視孔を通過させ
る。図７に示す対物レンズ系をマスク又は他の光学素子
と一緒に用いて選択分析試験をすることができる。本発
明は上述した例のみに限定されるものでなく、幾多の変
更を加え得ること勿論である。
【図面の簡単な説明】
【図１】シングルバラウンスの反射素子としてダイヤモ
ンドを利用する本発明による放射エネルギー分光装置の
縦断面図である。
【図２】本発明による分光装置にIRE として用いるブリ
リアンカットのダイヤモンドを示す正面図である。
【図３】本発明による分光装置にシングルバウンスのIR
E として用いるドラッカー標準カットのダイヤモンドを
示す平面及び正面図である。
【図４】シングルバウンスのIRE として用いる特殊カッ
トのダイヤモンドを示す平面及び正面図である。
【図５】シングルバウンスのIRE として用いる他の特殊
カットのダイヤモンドを示す縦断面図である。
【図６】シングルバウンスのIRE として用いるさらに他
の特殊カットのダイヤモンドを示す縦断面図である。
【図７】屈折レンズ及びシングルバウンスのダイヤモン
ドIRE を用いる放射エネルギー分光装置の一部を示す線
図である。
【符号の説明】
１ 放射エネルギー分光装置 ３ 放射エネルギー源 ４ 可視光源 ５ マスク ６ 二次ミラー ７ 一次ミラー ９ シングルバウンスのダイヤモンドIRE 10 放射エネルギー検出器 12 光路 13 試料 14 切換ミラー 15, 16 開口
フロントページの続き (72)発明者 ドナルド ダブリュー スティング アメリカ合衆国 コネチカット州 06840 ニュー カナーン タートルバック ロ ード 358 (72)発明者 ジョン エー レフナー アメリカ合衆国 コネチカット州 06902 スタンフォード オーシャン ドライブ イースト 97

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 放射エネルギー源と；内面反射素子とし
    てのダイヤモンドと；このダイヤモンドの１つの面と接
    触する試料と；放射エネルギーをダイヤモンドの方へと
    向け、ダイヤモンドの前記試料接触面から放射エネルギ
    ーを一度の内面反射で反射させる光学系と；を具えてい
    る放射エネルギー分光装置。
  2. 【請求項２】 前記光学系を全反射のミラー装置とする
    ことを特徴とする請求項１に記載の放射エネルギー分光
    装置。
  3. 【請求項３】 前記光学系が少なくとも１つの屈折レン
    ズを含むことを特徴とする請求項１に記載の放射エネル
    ギー分光装置。
  4. 【請求項４】 前記ダイヤモンドがテーブル、クラウ
    ン、ガードル、パビリオン及びキューレットを有するこ
    とを特徴とする請求項１に記載の放射エネルギー分光装
    置。
  5. 【請求項５】 前記放射エネルギーがダイヤモンドのク
    ラウンから入って、クラウンから出、ダイヤモンドのキ
    ューレットを前記試料接触面とすることを特徴とする請
    求項４に記載の放射エネルギー分光装置。
  6. 【請求項６】 前記ダイヤモンドをクラウン角度が30°
    〜40°の範囲内の角度で、しかもパビリオン角度が25°
    〜45°の範囲内の角度を有する変更ブリリアントカット
    のダイヤモンドとすることを特徴とする放射エネルギー
    分光装置。
  7. 【請求項７】 クラウン角度を約35°とし、且つパビリ
    オン角度を約45°とすることを特徴とする請求項６に記
    載の放射エネルギー分光装置。
  8. 【請求項８】 光がダイヤモンドのテーブルに入って、
    そのテーブルから出るようにして、ダイヤモンドを通し
    て試料を目視検査できるようにしたことを特徴とする請
    求項５に記載の放射エネルギー分光装置。
  9. 【請求項９】 前記ダイヤモンドのクラウンが、少なく
    とも２つの異なるクラウン角度を有する少なくとも２つ
    の異なる部分を有して、ほぼ球面となるようにしたこと
    を特徴とする請求項４に記載の放射エネルギー分光装
    置。
  10. 【請求項１０】 ２つのクラウン角度を用い、各クラウ
    ン部分に比較的多数の小さなファセットを用いて、これ
    らの各ファセットが分光装置の光路に対してほぼ垂直と
    なるようにしたことを特徴とする請求項９に記載の放射
    エネルギー分光装置。
  11. 【請求項１１】 ３つのクラウン角度を用い、各クラウ
    ン部分に比較的多数の小さなファセットを用いて、これ
    らの各ファセットが分光装置の光路に対してほぼ垂直と
    なるようにしたことを特徴とする請求項９に記載の放射
    エネルギー分光装置。
  12. 【請求項１２】 前記試料接触面を彎曲させたことを特
    徴とする請求項１に記載の放射エネルギー分光装置。
  13. 【請求項１３】 前記ダイヤモンドを標準のアンビルデ
    ザインのものとし、クラウンが複数のテーブルファセッ
    トを有し、これらのテーブルファセットを経て放射エネ
    ルギーがダイヤモンドに入‐出するようにしたことを特
    徴とする請求項４に記載の放射エネルギー分光装置。
  14. 【請求項１４】 ダイヤモンドの最大寸法を４ミリメー
    トル以下とすることを特徴とする請求項13に記載の放射
    エネルギー分光装置。
  15. 【請求項１５】 ダイヤモンドがクラウン及びパビリオ
    ンを有し、前記クラウンの少なくとも一部を彎曲させ、
    且つ前記パビリオンの少なくとも一部を円錐状としたこ
    とを特徴とする請求項１に記載の放射エネルギー分光装
    置。
  16. 【請求項１６】 前記光学系が、ダイヤモンドに入る放
    射エネルギーに対する入射角又はダイヤモンドから検出
    器に達する放射エネルギーに対する反射角との双方を選
    択するためにマスクを具えていることを特徴とする請求
    項１に記載の放射エネルギー分光装置。
  17. 【請求項１７】 放射エネルギーがダイヤモンドのパビ
    リオンを入‐出し、ダイヤモンドのテーブルが試料接触
    面となるようにしたことを特徴とする請求項４に記載の
    放射エネルギー分光装置。
  18. 【請求項１８】 キューレットの最大寸法を限外顕微鏡
    分析用に10ミクロン以下とすることを特徴とする請求項
    １に記載の放射エネルギー分光装置。
  19. 【請求項１９】 試料接触面の最大寸法を10ミクロン以
    下とすることを特徴とする請求項15に記載の放射エネル
    ギー分光装置。
JP4228589A 1991-08-27 1992-08-27 放射エネルギー分光装置 Pending JPH06129979A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/750,201 US5200609A (en) 1991-08-27 1991-08-27 Radiant energy spectroscopy system with diamond internal reflection element
US07/750201 1991-08-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06129979A true JPH06129979A (ja) 1994-05-13

Family

ID=25016929

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4228589A Pending JPH06129979A (ja) 1991-08-27 1992-08-27 放射エネルギー分光装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5200609A (ja)
EP (1) EP0529999B2 (ja)
JP (1) JPH06129979A (ja)
DE (1) DE69218520T3 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001204519A (ja) * 2000-01-27 2001-07-31 Hohoemi Brains Inc ダイアモンドおよび装身具のカットデザイン及びカッティング角度を決める方法
JP2019520581A (ja) * 2016-07-04 2019-07-18 エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド ダイヤモンド材料から作製された減衰全反射結晶

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5172182A (en) * 1991-05-31 1992-12-15 Sting Donald W Internal reflectance element with very small sample contacting surface
JP3137404B2 (ja) * 1992-01-23 2001-02-19 日本分光株式会社 全反射測定装置
US5341694A (en) * 1992-03-12 1994-08-30 Lizare Kaplan International, Inc. Diamond anvil having diamonds with curved edges
WO1994008224A1 (fr) * 1992-10-07 1994-04-14 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Element optique a infrarouge et appareil de mesure
US5594546A (en) * 1995-03-28 1997-01-14 The Regents Of The University Of California Diamond anvil cell for spectroscopic investigation of materials at high temperature, high pressure and shear
US5552604A (en) * 1994-05-13 1996-09-03 Donald W. Sting Optical sensing with crystal assembly sensing tip
US5519220A (en) * 1994-06-28 1996-05-21 Janos Technology Inc. FTIR chemical reaction monitor
EP0730145B1 (en) * 1995-03-03 2003-04-23 Perkin-Elmer Limited ATR crystal mounting assembly for infrared microspectroscopy
US5581085A (en) * 1995-03-06 1996-12-03 Spectra-Tech, Inc. Infrared microspectrometer accessory
US6404491B1 (en) 1997-10-30 2002-06-11 International Business Machines Corporation Rolling multiple internal reflection spectroscopy
US6128075A (en) * 1997-11-05 2000-10-03 Pike Technologies Of Wisconsin, Inc. Diamond anvil spectroscope
US6974452B1 (en) 2000-01-12 2005-12-13 Clinicon Corporation Cutting and cauterizing surgical tools
CA2442445A1 (en) * 2001-03-27 2002-10-03 Euro-Celtique S.A. Atr crystal device
US6690452B2 (en) * 2001-04-18 2004-02-10 Paul A. Wilks, Jr. Monitor having a polymer internal reflective element
US6693280B2 (en) 2001-08-03 2004-02-17 Sensir Technologies, L.L.C. Mid-infrared spectrometer attachment to light microscopes
FR2864848B1 (fr) * 2004-01-07 2006-05-26 Patrick Prevost Dispositif perfectionne de spectroscopie d'energie de rayonnement infra-rouge
US20070170362A1 (en) * 2006-01-25 2007-07-26 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for internal reflection imaging
US8203700B2 (en) * 2007-05-21 2012-06-19 Ahura Scientific Inc. Supporting remote analysis
US7675611B2 (en) 2007-05-21 2010-03-09 Ahura Scientific Inc. Handheld infrared and Raman measurement devices and methods
WO2015009970A1 (en) * 2013-07-18 2015-01-22 Erythron Llc Spectroscopic measurements with parallel array detector
WO2015131151A2 (en) 2014-02-28 2015-09-03 Erythron, Llc Method and apparatus for determining markers of health by analysis of blood
WO2016168090A1 (en) 2015-04-14 2016-10-20 Nueon, Inc. Method and apparatus for determining markers of health by analysis of blood
US9863877B2 (en) * 2015-09-23 2018-01-09 Agilent Technologies, Inc. Infrared spectrometer and scanner utilizing attenuated total reflection
WO2017165403A1 (en) 2016-03-21 2017-09-28 Nueon Inc. Porous mesh spectrometry methods and apparatus
WO2018085699A1 (en) 2016-11-04 2018-05-11 Nueon Inc. Combination blood lancet and analyzer

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5235684A (en) * 1975-09-12 1977-03-18 Seiga Yamada Method and apparatus for total reflection absorption measurement at lo w temperatures
JPS62220834A (ja) * 1986-03-24 1987-09-29 Toshiba Corp 光分析装置
JPS62225904A (ja) * 1986-02-28 1987-10-03 ポラロイド　コ−ポレ−シヨン 透明物体表面と他表面との微小間隔の画像を形成する方法および装置
JPH0222583A (ja) * 1988-07-12 1990-01-25 Ngk Spark Plug Co Ltd 蓄電池の充電状態検出器

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3393603A (en) * 1965-04-01 1968-07-23 Philips Corp Vertical double-pass multiple reflection cell for internal reflection spectroscopy
US3528278A (en) * 1967-09-05 1970-09-15 Technology Inc Method and apparatus for determining the presence of vapor in a gas
GB1421897A (en) * 1973-05-24 1976-01-21 Bruker Physik Ag Spectrometers
US4040749A (en) * 1975-02-05 1977-08-09 Monsanto Research Corporation Organic vapor detection with liquid crystals
JPS593791B2 (ja) * 1975-04-07 1984-01-26 キヤノン株式会社 物体の像認識方法
US3963354A (en) * 1975-05-05 1976-06-15 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Inspection of masks and wafers by image dissection
DE2640442C3 (de) * 1976-09-08 1979-09-20 Agfa-Gevaert Ag, 5090 Leverkusen Vorrichtung zur Ermittlung von extremen Dichtewerten
US4602869A (en) * 1983-12-05 1986-07-29 Harrick Nicolas J Internal reflection prism liquid cell
US4878747A (en) * 1985-03-01 1989-11-07 Spectra-Tech, Inc. Aperture image beam splitter
DE3688380T2 (de) * 1985-06-25 1993-08-12 Dow Chemical Co Verfahren zur messung des lichtabsorptionsvermoegens eines fluessigkeitsmediums.
EP0221011A3 (de) * 1985-09-26 1989-11-02 Ciba-Geigy Ag Analysenverfahren, unter Verwendung der abgeschwächten Totalreflexion
DE68907519T2 (de) * 1988-05-10 1993-10-21 Amersham Int Plc Biosensoren.
CA2005622A1 (en) † 1989-12-15 1991-06-15 Patrick T.T. Wong Infrared absorption spectra recording, high pressure sample holder
US5046854A (en) * 1990-02-01 1991-09-10 The Dow Chemical Company Photometric cell and probe having windows fusion sealed to a metallic body
US5093580A (en) * 1990-03-02 1992-03-03 Spectra-Tech, Inc. ATR objective and method for sample analyzation using an ATR crystal
US6129900A (en) † 1991-02-15 2000-10-10 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Process for the synthesis of diamond

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5235684A (en) * 1975-09-12 1977-03-18 Seiga Yamada Method and apparatus for total reflection absorption measurement at lo w temperatures
JPS62225904A (ja) * 1986-02-28 1987-10-03 ポラロイド　コ−ポレ−シヨン 透明物体表面と他表面との微小間隔の画像を形成する方法および装置
JPS62220834A (ja) * 1986-03-24 1987-09-29 Toshiba Corp 光分析装置
JPH0222583A (ja) * 1988-07-12 1990-01-25 Ngk Spark Plug Co Ltd 蓄電池の充電状態検出器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001204519A (ja) * 2000-01-27 2001-07-31 Hohoemi Brains Inc ダイアモンドおよび装身具のカットデザイン及びカッティング角度を決める方法
JP2019520581A (ja) * 2016-07-04 2019-07-18 エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド ダイヤモンド材料から作製された減衰全反射結晶
JP2021113809A (ja) * 2016-07-04 2021-08-05 エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド ダイヤモンド材料から作製された減衰全反射結晶

Also Published As

Publication number Publication date
EP0529999B2 (en) 2000-08-02
DE69218520D1 (de) 1997-04-30
EP0529999A2 (en) 1993-03-03
EP0529999B1 (en) 1997-03-26
DE69218520T2 (de) 1997-07-03
DE69218520T3 (de) 2001-02-08
EP0529999A3 (en) 1993-05-26
US5200609A (en) 1993-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06129979A (ja) 放射エネルギー分光装置
US7869042B2 (en) Fluorometers
US3867032A (en) Arrangement for objectively evaluating characteristics of gems, particularly diamonds
JP3188295B2 (ja) 光学式分析装置及び光学式分析方法
CN103364348B (zh) 用于检测样本内的不均匀性的光学设备，特别是偏振计
US5241369A (en) Two-dimensional optical scatterometer apparatus and process
JP3450699B2 (ja) 改良型コンセントリックスペクトログラフ、光を分散する方法および２本の光ビームを回折する方法
US7595881B2 (en) Fluorescence measurement system with enhanced rejection of scattered light
JP3741465B2 (ja) デュアルビーム同調性分光計
CN101990633A (zh) 用于近临界反射光谱学的方法、装置和套件
GB2218535A (en) Diffuse reflectance spectroscopy
JP4744215B2 (ja) 暗視野検査照明装置
WO1997001061A1 (en) High efficiency compact illumination system
US5584557A (en) High efficiency compact illumination system
EP3438647B1 (en) Optical instrument for measurement of total reflection absorption spectrum and measurement device
KR101798078B1 (ko) 투과도를 이용한 다이아몬드 감별 장치 및 방법
JPH06505092A (ja) 分析試料組成の定性測定及び／又は定量測定装置
US6128075A (en) Diamond anvil spectroscope
JPH01291130A (ja) フォトグラフィックデータ測定装置用測定ヘッド
JP4294566B2 (ja) 全反射吸収測定用プリズムを用いた全反射吸収測定方法
WO2009133980A1 (en) Raman microscope
JPH04138340A (ja) 赤外スペクトル測定ヘッド及び測定装置
JP2007121322A (ja) 全反射吸収測定用プリズムおよびこれを用いた全反射吸収測定装置
JPH05340870A (ja) 全反射吸収スペクトル測定装置
KR20050070265A (ko) 결함 검사 방법 및 결함 검사 장치