JPH06130194A - X線回折装置の微回転ゴニオメータ - Google Patents

X線回折装置の微回転ゴニオメータ

Info

Publication number
JPH06130194A
JPH06130194A JP4305851A JP30585192A JPH06130194A JP H06130194 A JPH06130194 A JP H06130194A JP 4305851 A JP4305851 A JP 4305851A JP 30585192 A JP30585192 A JP 30585192A JP H06130194 A JPH06130194 A JP H06130194A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
arm
goniometer
rotation
spindle
angle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4305851A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3221751B2 (ja
Inventor
Tetsuo Kikuchi
哲夫 菊池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
Original Assignee
Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rigaku Denki Co Ltd, Rigaku Corp filed Critical Rigaku Denki Co Ltd
Priority to JP30585192A priority Critical patent/JP3221751B2/ja
Publication of JPH06130194A publication Critical patent/JPH06130194A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3221751B2 publication Critical patent/JP3221751B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 比較的広い測角範囲にわたって精密な角度制
御を可能にする。 【構成】 ゴニオメータの回転軸24にアーム26が固
定され、アーム26の先端には、インボリュート曲線か
らなる平滑面28が形成される。マイクロメータ30の
スピンドル32の先端は針状に尖っていて、平滑面28
を押している。マイクロメータ30を回転させると、ス
ピンドル32が図面の上下方向に移動し、アーム26が
微小角度θだけ回転する。平滑面28がインボリュート
曲線で形成されているので、スピンドル32の移動距離
xは、アーム26の回転角度θに完全に比例する。した
がって、従来のタンジェントバー方式やサインバー方式
の微回転ゴニオメータと比較して、アームの回転に伴う
測角誤差が存在せず、比較的広い測角範囲で誤差のない
角度制御が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、X線回折装置のゴニ
オメータの試料台や検出器支持台を微小回転させるため
の微回転ゴニオメータに関する。
【0002】
【従来の技術】2結晶法を用いた精密X線回折装置で
は、試料台を微小回転させるための特別なゴニオメータ
が使用される。このような微小回転を可能にするゴニオ
メータを、以下、微回転ゴニオメータと呼ぶ。
【0003】従来の微回転ゴニオメータは、サインバー
方式あるいはタンジェントバー方式(タンジェンシャル
スクリュー方式)を採用している。図7の(A)はサイ
ンバー方式の微回転ゴニオメータの原理を示した平面図
である。試料台の回転軸10に直角にアーム12が固定
され、アーム12の先端付近がマイクロメータ14のス
ピンドル16に押されるようになっている。スピンドル
16とは反対の側には、押圧ばね17に支持された支持
棒18がある。アーム12の先端付近には鋼球20が埋
め込まれていて、スピンドル16の端面(平坦面)は鋼
球20に接触する。基台22に固定されたマイクロメー
タ14を回転させると、スピンドル16が直線運動し
て、アーム12が微小角度だけ回転する。回転軸10の
回転中心から鋼球20の中心までの距離をL、スピンド
ル16の移動距離(すなわち鋼球20の中心がスピンド
ル16の移動方向に動く距離)をx、アーム12の回転
角をθとすると、これらの間には次の関係がある。
【0004】
【数1】x=L・sinθ …(1) θ=sin-1(x/L)…(2)
【0005】したがって、図7の(A)に示す微回転ゴ
ニオメータはサインバー方式と呼ばれる。上記式(1)
において、θの単位をラジアンとし、θが十分小さいと
き(距離Lに対して移動距離xが十分短いとき)は、次
式のように近似できる。
【0006】
【数2】x=L・θ …(3) θ=x/L…(4)
【0007】すなわち、θが小さいときには、スピンド
ル16の変位xと、アーム12の角度θとは比例関係に
あり、ゴニオメータの回転軸10を微小角度だけ回転さ
せるには、その回転角度に比例した量だけスピンドル1
6を変位させている。例えば、L=206.3mmにす
ると、スピンドルの変位1μmが、アーム12(すなわ
ち回転軸10)の回転角度1秒に相当する。
【0008】図7の(B)はタンジェントバー方式の微
回転ゴニオメータの原理を示した平面図である。この方
式では、マイクロメータ14bのスピンドル16bの先
端が尖っており、これでアーム12bの平坦面13を押
している。回転軸10の回転中心からスピンドル16b
の先端までの距離をL、スピンドル16の移動距離を
x、アーム12bの回転角をθとすると、これらの間に
は次の関係がある。
【0009】
【数3】x=L・tanθ …(5) θ=tan-1(x/L)…(6)
【0010】したがって、図7の(B)に示す微回転ゴ
ニオメータはタンジェントバー方式と呼ばれる。上記式
(5)及び(6)においても、θの単位をラジアンと
し、θが十分小さいとき(距離Lに対して移動距離xが
十分短いとき)は、式(3)及び(4)と同様に近似で
きる。
【0011】図7の(C)はサインバー方式とタンジェ
ントバー方式の複合型の微回転ゴニオメータの原理を示
した平面図である。この方式では、マイクロメータ14
cのスピンドル16cの先端に鋼球20cを埋め込んで
あり、これでアーム12cの平坦面13cを押してい
る。
【0012】いずれの微回転ゴニオメータにおいても、
マイクロメータのスピンドルの変位を回転角度に変換す
ることによって、回転軸を微小角度だけ正確に回転させ
るようにしている。
【0013】一方で、広い角度範囲にわたる回転を実施
するためには、図8の(A)に示すように、モータ5に
よるウォーム2の回転をウォームホイール4に伝える形
式のゴニオメータが用いられている。この広角ゴニオメ
ータでは、通常、0.001度(3.6秒)のステップ
サイズで回転できるが、そのステップ精度は±1秒程度
である。また、ウォーム軸の1回転はゴニオメータの回
転角で1度に相当するが、ウォーム軸の1回転の間に数
秒の酔歩が存在する。さらに、ゴニオメータ回転軸6と
ウォームホイール4との間の偏心ずれやウォームホイー
ル4の真円からのずれによる累積誤差は全振幅で20秒
程度ある。図8の(B)に示すように、ウォーム軸に減
速機8をつけてステップサイズを小さくする処理をした
ゴニオメータもあるが、この場合は、減速機8による誤
差も伴う。したがって、通常の広角ゴニオメータは、測
定の目的によっては、必要な精度が得られない場合があ
る。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の微回転
ゴニオメータにおいては、回転角度θが小さい範囲では
精度の高い微小回転を実現できるが、θの角度が大きく
なるにしたがって、誤差が拡大する。すなわち、式
(4)の近似式と式(2)の理論式の間の誤差分だけ、
誤差が拡大する。したがって、回転角度θの広い範囲に
わたっての角度制御には従来の微回転ゴニオメータを用
いることができない。例えば、角度誤差をコンマ数秒以
内にしたいときには、θを±1度の範囲内で使用しなけ
ればならない。また、角度誤差を1秒以内とする場合
は、θを±2度の範囲内で使用しなければならない。
【0015】従来の微回転ゴニオメータは、2結晶法に
よる精密X線回折装置に用いられ、主としてロッキング
カーブの測定に用いられてきた。例えば、ロッキングカ
ーブの測定によって、基板結晶上にエピタキシャル成長
させた単結晶薄膜のミスマッチ量を求めることができ
る。このような場合の測角範囲は数百秒程度でよく、従
来の微回転ゴニオメータで何ら問題はなかった。しか
し、薄膜の構造も複雑になり、微回転ゴニオメータを超
格子の周期測定にも利用するようになってきた。超格子
の周期測定のためには、ブラッグ反射のまわりに出現す
るサテライト反射(衛星反射)の角度位置を測定する必
要があるが、この場合の測角範囲は5〜6度に及ぶこと
もある。また、小角領域にも超格子の周期に応じたピー
クが現れ、その角度位置により周期を決定することがで
きるが、この場合の測角範囲はやはり5〜8度程度にな
る。このような広い範囲の精密測定には、従来の微回転
ゴニオメータでは誤差が大きくて対応できなかった。
【0016】表1はサインバー方式の微回転ゴニオメー
タの誤差を示したものである。この誤差Δθは次の式
(7)で計算できる。
【0017】
【数4】 Δθ=(x/L)−sin-1(x/L)…(7)
【0018】表2はタンジェントバー方式の微回転ゴニ
オメータの誤差を示したものである。この誤差Δθは次
の式(8)で計算できる。
【0019】
【数5】 Δθ=(x/L)−tan-1(x/L)…(8)
【0020】
【表1】
【0021】
【表2】
【0022】この発明の目的は、比較的広い測角範囲に
わたって精密な角度制御が可能な微回転ゴニオメータを
提供することにある。
【0023】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、ゴニオメ
ータの回転軸にアームが固定され、このアームは前記回
転軸の回転中心から離れる方向に延び、前記アームの先
端付近は直線移動装置によって移動可能にされている、
X線回折装置の微回転ゴニオメータにおいて、前記アー
ム及び前記直線移動装置の一方に突起部が形成され、他
方にインボリュート曲線の形状をした平滑面が形成さ
れ、前記突起部と前記平滑面が互いにすべり接触しなが
ら、直線移動装置の移動によってアームが回転すること
を特徴としている。
【0024】サインバー方式の微回転ゴニオメータに本
発明を適用する場合には、アームの先端付近に突起部と
して鋼球を埋め込み、直線移動装置の先端にインボリュ
ート曲線の形状をした平滑面を形成する。タンジェント
バー方式及び複合型の微回転ゴニオメータに本発明を適
用する場合には、アームの先端付近にインボリュート曲
線の形状をした平滑面を形成し、直線移動装置の先端に
は、尖った突起部を形成するか、鋼球を埋め込む。
【0025】第2の発明は、ゴニオメータの回転軸にア
ームが固定され、このアームは前記回転軸の回転中心か
ら離れる方向に延び、前記アームの先端付近は直線移動
装置によって移動可能にされている、X線回折装置の微
回転ゴニオメータにおいて、前記アーム及び前記直線移
動装置の一方に突起部が形成され、他方に平面からなる
平滑面が形成され、前記突起部と前記平滑面が互いにす
べり接触しながら、直線移動装置の移動によってアーム
が回転し、前記直線移動装置の変位と前記アームの回転
角度との関係が三角関数を用いた関係式によって規定さ
れることを特徴としている。
【0026】サインバー方式の微回転ゴニオメータに本
発明を適用する場合には、上記関係式は、サイン関数に
よって規定される。タンジェントバー方式の微回転ゴニ
オメータに本発明を適用する場合には、上記関係式は、
タンジェント関数によって規定される。複合型方式の微
回転ゴニオメータに本発明を適用する場合には、上記関
係式は、サイン関数とタンジェント関数とによって規定
される。いずれの場合も、アームに所望の回転角度を与
えるには、上記関係式によって求められた変位だけ直線
移動装置を移動させることになる。回転角度から変位を
求めるには、コンピュータを使って上記関係式の演算を
してもよいし、あらかじめROMなどのメモリーに上記
関係式で求めた数値の対照表を格納しておいて、これを
読み出してもよい。
【0027】
【作用】第1の発明は、インボリュート曲線を用いて平
滑面を構成することにより、直線移動装置の変位とアー
ムの回転角度とを常に比例関係に保っている。これによ
り、直線移動装置の制御方法を従来の微回転ゴニオメー
タと全く同じにしたままで、従来の微回転ゴニオメータ
と比較して広い角度範囲で誤差を生じることなくゴニオ
メータの精密な角度制御が可能となる。
【0028】第2の発明は、直線移動装置の変位とアー
ムの回転角度との関係を、三角関数を用いて規定してい
る。すなわち、この発明では、直線移動装置の変位とア
ームの回転角度とは比例関係になく、アームの所望の回
転角度を得るために、幾何学的な数式関係を厳密に適用
して直線移動装置の変位を制御している。これにより、
従来の微回転ゴニオメータの機械的構造を全く同じにし
たままで、直線移動装置の変位の制御方法を変更するだ
けで、従来の微回転ゴニオメータと比較して広い角度範
囲で誤差を生じることなくゴニオメータの精密な角度制
御が可能となる。第1の発明及び第2の発明に係る微回
転ゴニオメータは、2結晶法を用いた精密X線回折装置
や、X線鏡面反射の反射率測定装置などに利用すると効
果的である。
【0029】
【実施例】図1は、第1の発明の一実施例を示す平面図
である。この実施例は、第1の発明をタンジェントバー
方式の微回転ゴニオメータに適用したものである。図1
の(A)において、ゴニオメータの回転軸24にはアー
ム26が固定され、このアーム26は回転軸24の中心
から離れる方向に回転軸24に対して垂直に延びてい
る。アーム26の先端には平滑面28が形成されてい
る。この平滑面28はマイクロメータ30のスピンドル
32に押されるようになっている。スピンドル32の先
端は針状に尖っている。スピンドル32とは反対の側に
は、押圧ばね34に支持された支持棒36がある。基台
38に固定されたマイクロメータ30を回転させると、
スピンドル32が直線運動して、スピンドル32の先端
とアーム26の平滑面28がすべり接触しながら、アー
ム26が微小角度だけ回転する。マイクロメータ30は
モータ駆動による差動マイクロメータであり、そのスピ
ンドル32は回転することなく図面の上下方向に移動で
きる。
【0030】図1の(B)はアーム26がθだけ反時計
方向に回転した状態を示す。ここで、回転軸24の回転
中心からスピンドル32の中心までの距離をL、スピン
ドル32の移動距離をx、アーム26の回転角をθとす
る。
【0031】図2はアーム26の先端部分の拡大平面図
である。アーム26の平滑面28は、ゴニオメータの回
転軸に垂直な平面で切断したときの形状が、インボリュ
ート曲線となっている。このインボリュート曲線の基礎
円40はその直径がLに等しい。アーム26が実線の位
置にあるときに、スピンドル32は点aにおいて平滑面
28に接触している。スピンドル32が距離xだけ図面
の上方に移動すると、アーム26はθだけ回転し、アー
ム26上の点aは点bに移動する。一方、スピンドル3
2の先端は、平滑面28上を滑って、点aから点cに移
動する。平滑面28はインボリュート曲線で形成されて
いるので、円弧abの長さは、直線acの長さに等し
い。また、円弧abの長さは角度θに比例し、L×θと
なる(ただし、θの単位はラジアン)。したがって、ス
ピンドル32の移動距離x(すなわち直線acの長さ)
も、L×θとなる。これにより、スピンドル32の変位
xとアーム26の回転角度θとは常に厳密に比例関係を
保つことになる。その結果、従来の微回転ゴニオメータ
の欠点、すなわち回転角度が増大するに連れて誤差が増
大すること、が解消された。
【0032】図1及び図2に示した微回転ゴニオメータ
は、アーム26が基準状態よりも反時計方向側にあると
きにのみ使用できる。したがって、この微回転ゴニオメ
ータを使用するときは、測定したい角度範囲のうちで最
も時計方向側の角度位置をアーム26の基準状態にもっ
てくる必要がある。このゴニオメータによれば、平滑面
28を構成するインボリュート曲線の長さに相当するす
べての角度範囲において精密な角度制御が可能となる。
この実施例では10°以上の角度範囲で精密な角度制御
が可能となった。その測角精度は、平滑面28のインボ
リュート曲線の加工精度にも依存するが、0.1〜0.
5秒程度である。平滑面28の加工は、数値制御の研磨
機により容易に実施できる。
【0033】図3は、アーム26aが基準状態よりも時
計方向側にあるときにのみ使用できるタンジェントバー
方式の微回転ゴニオメータの、アームの先端付近の拡大
図である。平滑面28aは、図2に示したのと逆方向に
カーブするようなインボリュート曲線からなる。この場
合も、厳密にx=L×θとなる。
【0034】図4は、複合型の微回転ゴニオメータに第
1の発明を適用した実施例の、図2と同様の拡大平面図
である。この場合、スピンドル32bの先端には鋼球4
2が埋め込まれている。平滑面28bは、図2と同じイ
ンボリュート曲線で形成されている。インボリュート曲
線の性質から、アーム26bの回転角度θが変化して
も、スピンドル32bの中心線44と、平滑面28bと
は、常に垂直に交わる。したがって、鋼球42は、常に
図面の最上点の位置において平滑面28bと接触する。
ゆえに、スピンドル32bの変位xは、x=[直線ac
の長さ]=[円弧abの長さ]=L×θとなる。この複
合型の実施例においても、図3と同様に、時計方向回転
に適用できるような変更例が可能である。
【0035】図5は、サインバー方式の微回転ゴニオメ
ータに第1の発明を適用した実施例の、図2と同様の拡
大平面図である。この場合、アーム26cの先端付近に
鋼球42cが埋め込まれている。一方、スピンドル32
cの先端には、インボリュート曲線からなる平滑面28
cが形成されている。回転軸の中心から鋼球42cの中
心までの距離(すなわち、回転軸の中心からスピンドル
32cの中心線44cまでの距離)をLとすると、イン
ボリュート曲線の基礎円40の直径はLに等しい。アー
ム26cが実線の位置にあるときに、スピンドル32c
の平滑面28cは、点aにおいて鋼球42cに接触して
いる。スピンドル32cが距離xだけ図面の上方に移動
すると、アーム26cはθだけ回転し、鋼球42c上の
点aは、平滑面28c上をすべって、点bに移動する。
一方、平滑面28c上の点aは、点cに移動する。イン
ボリュート曲線の性質から、円弧abは常に平滑面28
cと垂直に交わる。したがって、鋼球42cが平滑面2
8cに接触するときの鋼球42c上の接触点は常に一定
である。スピンドル32cの変位xは、x=[直線ac
の長さ]=[円弧abの長さ]=L×θとなる。このゴ
ニオメータは、アーム26cが基準状態よりも反時計方
向側にあるときにのみ使用できる。
【0036】図6は、アーム26dが基準状態よりも時
計方向側にあるときのみ使用できるサインバー方式の微
回転ゴニオメータの、アームの先端付近の拡大図であ
る。平滑面28dは、図5に示したのと逆方向にカーブ
するようなインボリュート曲線からなる。この場合も、
厳密にx=L×θとなる。
【0037】第2の発明は、上述の第1の発明とは異な
って、微回転ゴニオメータの機械的構造は図7に示す従
来のゴニオメータと同じである。ただし、マイクロメー
タのスピンドルの制御方法が従来とは異なる。従来の微
回転ゴニオメータでは、スピンドルの変位とアームの回
転角度とが比例するとして、スピンドルの変位を制御し
ていた。そのために、アームの回転角度が増加していく
と、誤差が増加していった。これに対して、第2の発明
では、スピンドルの変位とアームの回転角度との関係を
幾何学的に厳密に規定して、その数式通りにスピンドル
の変位を制御している。すなわち、図7の(A)に示す
サインバー方式の微回転ゴニオメータにあっては、スピ
ンドルの変位xとアームの回転角度θが次の式(1)を
満たすように、スピンドルを制御する。
【0038】
【数6】x=L・sinθ …(1)
【0039】また、図7の(B)に示すタンジェントバ
ー方式の微回転ゴニオメータにあっては、スピンドルの
変位xとアームの回転角度θが次の式(5)を満たすよ
うに、スピンドルを制御する。
【0040】
【数7】x=L・tanθ …(5)
【0041】さらに、図7の(C)に示す複合型の微回
転ゴニオメータにあっては、スピンドルの変位xとアー
ムの回転角度θが次の式(9)(10)を満たすよう
に、スピンドルを制御する。
【0042】
【数8】 θ=tan-1((x−r)/L)+sin-1(r/M) …(9) M=(L2+(x−r)21/2 …(10) ただし、rはスピンドルの先端の鋼球20cの半径であ
る。
【0043】これらの数式に従ってスピンドルの変位を
制御するには、コンピュータからの指令によってマイク
ロメータの駆動を制御すればよい。その際、アームの所
望の回転角度θをもとにして、上述の数式を演算するこ
とにより、スピンドルの変位xをその都度求めることが
できる。あるいは、上述の数式に基づいてアームの回転
角度θとスピンドルの変位xとの対照表をROMに格納
しておき、アームの所望の回転角度θに対応したスピン
ドルの変位xをROMから読み出してマイクロメータに
指令を出すようにしてもよい。
【0044】
【発明の効果】第1の発明の微回転ゴニオメータは、イ
ンボリュート曲線を用いて平滑面を構成することによ
り、直線移動装置の変位とアームの回転角度とを厳密に
比例関係に保つことができ、従来の微回転ゴニオメータ
と比較して広い角度範囲でゴニオメータの精密な角度制
御が可能となる。
【0045】第2の発明は、直線移動装置の変位とアー
ムの回転角度との関係を、三角関数を用いて規定してい
るので、アームの所望の回転角度を得るために、幾何学
的な数式関係を厳密に適用して直線移動装置の変位を制
御することができる。これにより、従来の微回転ゴニオ
メータの機械的構造を全く同じにしたままで、直線移動
装置の変位の制御方法を変更するだけで、従来の微回転
ゴニオメータと比較して広い角度範囲でゴニオメータの
精密な角度制御が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の発明の一実施例を示す平面図である。
【図2】図1のゴニオメータのアームの先端付近の拡大
平面図である。
【図3】図2のゴニオメータの変更例の拡大平面図であ
る。
【図4】第1の発明の別の実施例のアームの先端付近の
拡大平面図である。
【図5】第1の発明のさらに別の実施例のアームの先端
付近の拡大平面図である。
【図6】図5のゴニオメータの変更例の拡大平面図であ
る。
【図7】従来の微回転ゴニオメータの平面図である。
【図8】従来の広角ゴニオメータの斜視図である。
【符号の説明】
24…回転軸 26…アーム 28…平滑面 30…マイクロメータ 32…スピンドル

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ゴニオメータの回転軸にアームが固定さ
    れ、このアームは前記回転軸の回転中心から離れる方向
    に延び、前記アームの先端付近は直線移動装置によって
    移動可能にされている、X線回折装置の微回転ゴニオメ
    ータにおいて、 前記アーム及び前記直線移動装置の一方に突起部が形成
    され、他方にインボリュート曲線の形状をした平滑面が
    形成され、前記突起部と前記平滑面が互いにすべり接触
    しながら、直線移動装置の移動によってアームが回転す
    ることを特徴とする微回転ゴニオメータ。
  2. 【請求項2】 ゴニオメータの回転軸にアームが固定さ
    れ、このアームは前記回転軸の回転中心から離れる方向
    に延び、前記アームの先端付近は直線移動装置によって
    移動可能にされている、X線回折装置の微回転ゴニオメ
    ータにおいて、 前記アーム及び前記直線移動装置の一方に突起部が形成
    され、他方に平面からなる平滑面が形成され、前記突起
    部と前記平滑面が互いにすべり接触しながら、直線移動
    装置の移動によってアームが回転し、前記直線移動装置
    の変位と前記アームの回転角度との関係が三角関数を用
    いた関係式によって規定されることを特徴とする微回転
    ゴニオメータ。
JP30585192A 1992-10-21 1992-10-21 X線回折装置の微回転ゴニオメータ Expired - Fee Related JP3221751B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30585192A JP3221751B2 (ja) 1992-10-21 1992-10-21 X線回折装置の微回転ゴニオメータ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30585192A JP3221751B2 (ja) 1992-10-21 1992-10-21 X線回折装置の微回転ゴニオメータ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06130194A true JPH06130194A (ja) 1994-05-13
JP3221751B2 JP3221751B2 (ja) 2001-10-22

Family

ID=17950132

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30585192A Expired - Fee Related JP3221751B2 (ja) 1992-10-21 1992-10-21 X線回折装置の微回転ゴニオメータ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3221751B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017527794A (ja) * 2014-08-13 2017-09-21 ブルーカー ナノ ゲーエムベーハーBruker Nano Gmbh X線光学系による試料の走査方法及び試料走査用装置
CN116399282A (zh) * 2023-02-23 2023-07-07 中国人民解放军第五七二一工厂 一种小角度测量仪校准装置的角度精准控制方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4662370B2 (ja) * 2006-08-01 2011-03-30 株式会社リガク X線回折測定における角度補正方法及びx線回折装置
US11772320B2 (en) 2013-08-08 2023-10-03 Belkin International, Inc. Overlay applicator tray and method of using the same
WO2021168334A1 (en) 2020-02-19 2021-08-26 Belkin International, Inc. Overlay applicator machines and methods of providing the same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017527794A (ja) * 2014-08-13 2017-09-21 ブルーカー ナノ ゲーエムベーハーBruker Nano Gmbh X線光学系による試料の走査方法及び試料走査用装置
US12106867B2 (en) 2014-08-13 2024-10-01 Bruker Nano Gmbh Method for scanning a sample by means of X-ray optics and an apparatus for scanning a sample
CN116399282A (zh) * 2023-02-23 2023-07-07 中国人民解放军第五七二一工厂 一种小角度测量仪校准装置的角度精准控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3221751B2 (ja) 2001-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1978328B1 (en) Oscillating scanning probe with constant contact force
US7783445B2 (en) Method of path planning
JPH0224441B2 (ja)
EP1877729A2 (en) Method for scanning the surface of a workpiece
US3802087A (en) Measuring apparatus
EP1750085A3 (en) Laser tracking interferometer
JP2790826B2 (ja) リニア・アクチエータ
JP3221751B2 (ja) X線回折装置の微回転ゴニオメータ
EP0364252A2 (en) Wear testing devices
JPH11514740A (ja) 表面測定装置
US4646566A (en) Apparatus for testing gear wheel tooth flank profile and tooth flank lines (toot angle) and a method for positioning this apparatus for the measurement apparatus
JP2011069680A (ja) 表面粗さ測定装置及び表面粗さ測定方法
CN1105621C (zh) 改进的磨床
JP3170527B2 (ja) X線回折装置の微回転ゴニオメータ
JP2006201167A (ja) 位置決め装置
JP4909562B2 (ja) 表面性状測定装置
JP2853307B2 (ja) 雄ねじの精度測定装置
JP3865974B2 (ja) 円筒研削盤
JPH0642942A (ja) 回転角度測定装置
JPS6318684B2 (ja)
US4112580A (en) Device for determining angles
JPH09178438A (ja) 3次元形状測定装置
JP2000138278A (ja) チルトステージ
JPS62223655A (ja) 格子定数測定装置
CN114589557A (zh) 一种圆锥滚子球基面磨床用校准装置及其导轮盘角度、砂轮零位校正方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080817

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090817

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090817

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100817

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100817

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110817

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees