JPH0613146B2 - ア−ク溶接方法 - Google Patents
ア−ク溶接方法Info
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- JPH0613146B2 JPH0613146B2 JP61063394A JP6339486A JPH0613146B2 JP H0613146 B2 JPH0613146 B2 JP H0613146B2 JP 61063394 A JP61063394 A JP 61063394A JP 6339486 A JP6339486 A JP 6339486A JP H0613146 B2 JPH0613146 B2 JP H0613146B2
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Landscapes
- Arc Welding Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明はアーク溶接方法に関し、特に溶接母材の開先
に沿って、消耗電極を移動しながらこの開先部分に溶接
を行う方法に関するものである。
に沿って、消耗電極を移動しながらこの開先部分に溶接
を行う方法に関するものである。
[従来技術] 第3図はこの種の溶接方法の一例を示したものであり、
1は溶接母材であり、この開先2は位置によって幅が異
なっている。開先2の裏側にはセラミック製の裏当材3
が開先2に沿って設置されている。
1は溶接母材であり、この開先2は位置によって幅が異
なっている。開先2の裏側にはセラミック製の裏当材3
が開先2に沿って設置されている。
4は溶接トーチであり、台車5に装着され開先2と同方
向に並設されたレール6上を移動しつつ、該溶接トーチ
4から繰り出される消耗電極式の溶接ワイヤ7によって
開先2にアーク溶接によるビード8が形成される。第3
図に示すような開先ギャップが一定していない突合せ溶
接を行う場合、第3図のaa’の位置ですなわち第4図
イ,ロの位置で溶接条件を調整して適切なものにして
も、溶接条件を一定にしておくと溶接が進行するに従っ
て第3図bb’の位置では第5図イ,ロのようなものとな
る。すなわち、第4図イ,ロでは溶接部の裏波は出る
が、第5図イ,ロでは裏開先が溶かされず裏波は充分出
ていない。溶接ワイヤ7の位置を見ると、第4図イ,第
5図イでは非常に異なったものとなっている。
向に並設されたレール6上を移動しつつ、該溶接トーチ
4から繰り出される消耗電極式の溶接ワイヤ7によって
開先2にアーク溶接によるビード8が形成される。第3
図に示すような開先ギャップが一定していない突合せ溶
接を行う場合、第3図のaa’の位置ですなわち第4図
イ,ロの位置で溶接条件を調整して適切なものにして
も、溶接条件を一定にしておくと溶接が進行するに従っ
て第3図bb’の位置では第5図イ,ロのようなものとな
る。すなわち、第4図イ,ロでは溶接部の裏波は出る
が、第5図イ,ロでは裏開先が溶かされず裏波は充分出
ていない。溶接ワイヤ7の位置を見ると、第4図イ,第
5図イでは非常に異なったものとなっている。
一般に、溶接ワイヤ7の溶融速度をV、溶接速度をυと
すると、開先2の単位長さに供給される溶接金属量S
は、 S=V/υ ……(1) で表わされ、溶接金属高さHは開先ギャップGに応じ
て、 H=S/G=V/(υG) ……(2) となる。溶接金属の供給量Sや開先ギャップGが変化し
て溶接金属の高さHが表面張力により支えられる高さH
0を越えると、すなわち、H>H0のなると開先2の溶
接進行方向に溶接金属が流れ出す。流出した溶接金属の
高さH0以下になると、再び表面張力により支えられる
のでそれ以上は流出しない。流出長さd、すなわち、溶
接金属先端から溶接ワイヤ7の先端までの距離は(流出
長さdは小さいので、この範囲で開先ギャップGはほと
んど変化しないので) d=(H−H0)/H0=(V/υGH0)−1…(3) で与えられる。d<0の場合、溶接ワイヤ7が溶接金属
より先行し溶接ワイヤ7の先端は裏当材3を突き破る。
なぜならば、裏当材3はガラス繊維あるいはセラミック
でできたものであるから溶接電流が流れなくなるからで
ある。
すると、開先2の単位長さに供給される溶接金属量S
は、 S=V/υ ……(1) で表わされ、溶接金属高さHは開先ギャップGに応じ
て、 H=S/G=V/(υG) ……(2) となる。溶接金属の供給量Sや開先ギャップGが変化し
て溶接金属の高さHが表面張力により支えられる高さH
0を越えると、すなわち、H>H0のなると開先2の溶
接進行方向に溶接金属が流れ出す。流出した溶接金属の
高さH0以下になると、再び表面張力により支えられる
のでそれ以上は流出しない。流出長さd、すなわち、溶
接金属先端から溶接ワイヤ7の先端までの距離は(流出
長さdは小さいので、この範囲で開先ギャップGはほと
んど変化しないので) d=(H−H0)/H0=(V/υGH0)−1…(3) で与えられる。d<0の場合、溶接ワイヤ7が溶接金属
より先行し溶接ワイヤ7の先端は裏当材3を突き破る。
なぜならば、裏当材3はガラス繊維あるいはセラミック
でできたものであるから溶接電流が流れなくなるからで
ある。
d>>0の場合には、溶接金属に妨げられて開先裏への
アーク熱が充分与えられず、裏波は充分出ていない。従
って、流出長さdは0≦d≦dpの適切な範囲に保つ必要
がある。ただし、dpは適正最大距離である。
アーク熱が充分与えられず、裏波は充分出ていない。従
って、流出長さdは0≦d≦dpの適切な範囲に保つ必要
がある。ただし、dpは適正最大距離である。
第4図イ,ロでは、溶接条件が適切に調整されているた
めdは0≦d≦dpの範囲内にあるが、第5図イ,ロでは
溶接条件V,υは第4図イ,ロと同一であるが、開先ギ
ャップGが小さくなったため、dがd>dpとなり裏波が
充分出ない。このとき、dを0≦d≦dpの適切範囲内に
保つためには、溶接ワイヤ7の溶融速度Vを小さくする
か又は溶接速度υを大きくする必要がある。
めdは0≦d≦dpの範囲内にあるが、第5図イ,ロでは
溶接条件V,υは第4図イ,ロと同一であるが、開先ギ
ャップGが小さくなったため、dがd>dpとなり裏波が
充分出ない。このとき、dを0≦d≦dpの適切範囲内に
保つためには、溶接ワイヤ7の溶融速度Vを小さくする
か又は溶接速度υを大きくする必要がある。
先に出願した特願昭59−241872号(特開昭61
−119380号公報)では、開先ギャップGの変動に
対して溶接速度あるいは消耗電極の溶接速度を制御する
方法について述べている。この方法では、溶接金属の先
端から溶接ワイヤ7の先端までの距離である流出長さd
が変化すると、これに対応して単位時間内の短絡回数あ
るいは短絡時間率が変化する。このときの単位時間内の
短絡回数あるいは短絡時間率を検出して、溶接金属先端
から溶接ワイヤ7の先端までの距離dが0≦d≦dpにな
るように、溶接速度あるいは消耗電極の溶融量が制御さ
れている。
−119380号公報)では、開先ギャップGの変動に
対して溶接速度あるいは消耗電極の溶接速度を制御する
方法について述べている。この方法では、溶接金属の先
端から溶接ワイヤ7の先端までの距離である流出長さd
が変化すると、これに対応して単位時間内の短絡回数あ
るいは短絡時間率が変化する。このときの単位時間内の
短絡回数あるいは短絡時間率を検出して、溶接金属先端
から溶接ワイヤ7の先端までの距離dが0≦d≦dpにな
るように、溶接速度あるいは消耗電極の溶融量が制御さ
れている。
[発明が解決しようとする問題点] 第6図は、ワイヤの直径が1.2mm、溶接電流が150
A、溶接電圧が21Vであるときの溶接金属先端・ワイ
ヤ先端間距離d対短絡回数n特性であり、溶接電流が1
50A前後の低電流域で行う場合、溶接金属が短時間で
凝固するため、溶融池の振動が小さく、従って、第6図
に示すように、溶接金属先端とワイヤ先端間距離dに対
して、短絡回数n、すなわち短絡時間率ηの変化がほと
んどなくなるということがわかる。
A、溶接電圧が21Vであるときの溶接金属先端・ワイ
ヤ先端間距離d対短絡回数n特性であり、溶接電流が1
50A前後の低電流域で行う場合、溶接金属が短時間で
凝固するため、溶融池の振動が小さく、従って、第6図
に示すように、溶接金属先端とワイヤ先端間距離dに対
して、短絡回数n、すなわち短絡時間率ηの変化がほと
んどなくなるということがわかる。
従って、上述の従来の方法では、例えば直径1.2mmの
ワイヤを用いて溶接電流200〜300Aの範囲で行う
下向溶接の場合には適しているが、立向溶接や上向溶接
のように溶接金属の垂れ落ちを防止するために、150
A前後の溶接電流である比較的低電流域で従来の方法を
用いて行う場合、短絡回数n又は短絡時間率ηを検出
し、この検出値で溶接速度あるいは消耗電極の溶融量を
制御して、溶接金属先端とワイヤ先端間距離dを0≦d
≦dp(dpは適正最大距離)になるように制御することが
困難になるという問題点があった。
ワイヤを用いて溶接電流200〜300Aの範囲で行う
下向溶接の場合には適しているが、立向溶接や上向溶接
のように溶接金属の垂れ落ちを防止するために、150
A前後の溶接電流である比較的低電流域で従来の方法を
用いて行う場合、短絡回数n又は短絡時間率ηを検出
し、この検出値で溶接速度あるいは消耗電極の溶融量を
制御して、溶接金属先端とワイヤ先端間距離dを0≦d
≦dp(dpは適正最大距離)になるように制御することが
困難になるという問題点があった。
[発明の目的] 本発明の目的は以上の問題点を解決し、比較的低電流域
でも精度よく開先寸法の変動に対して良好な溶接が行う
ことができる自動化の容易な溶接方法を提供することに
ある。
でも精度よく開先寸法の変動に対して良好な溶接が行う
ことができる自動化の容易な溶接方法を提供することに
ある。
[発明の概要] 第7図は、ワイヤの直径が1.2mm、溶接電流が150
A、溶接電圧が21Vのときの短絡時間Tsの分布特性
を示す図である。
A、溶接電圧が21Vのときの短絡時間Tsの分布特性
を示す図である。
第7図において、短絡時間は、表面張力により溶滴が移
行する短絡時間Tsが2[msec]未満のA型短絡と、ピン
チ力により溶滴が移行する短絡時間Tsが2[msec]以上
のB型短絡に大別される。
行する短絡時間Tsが2[msec]未満のA型短絡と、ピン
チ力により溶滴が移行する短絡時間Tsが2[msec]以上
のB型短絡に大別される。
第8図(A)は、第7図と同一の溶接条件の場合の短絡柱
長L対短絡時間Ts特性を示す図である。短絡柱長L
は、第8図(B)に示すように、短絡直後における溶接ワ
イヤ7の先端からビード8までの溶滴23の長さであ
る。
長L対短絡時間Ts特性を示す図である。短絡柱長L
は、第8図(B)に示すように、短絡直後における溶接ワ
イヤ7の先端からビード8までの溶滴23の長さであ
る。
第8図(A)に示すように、短絡時間Tsが概略2[msec]
未満のA型短絡では、短絡柱長Lの変化に対して短絡時
間Tsはほぼ一定であるが、短絡時間Tsが概略2[mse
c]以上のB型短絡では短絡柱長Lが短くなるにつれて、
短絡時間Tsは長くなり、従って、短絡柱長Lは短絡時
間Tsに対しておおむね反比例の関係にある。
未満のA型短絡では、短絡柱長Lの変化に対して短絡時
間Tsはほぼ一定であるが、短絡時間Tsが概略2[mse
c]以上のB型短絡では短絡柱長Lが短くなるにつれて、
短絡時間Tsは長くなり、従って、短絡柱長Lは短絡時
間Tsに対しておおむね反比例の関係にある。
第9図は、第7図と同一の溶接条件の場合であって短絡
時間が2〜4[msec]のときの経過時間t対短絡柱長Lの
関係を示す図であり、短絡柱長Lは時間tが経過するに
つれて溶融池のある変化振幅内で変化する。すなわち、
溶融池の振動は溶接ワイヤ7の非溶融部先端と溶融池間
の距離である短絡柱長Lの時間変化で表わされ、短絡柱
長Lが溶融池の変化振幅の範囲内の短絡柱長値L0にな
る単位時間内の回数Nは、溶融池の振動数νと、N=2
νなる関係がある。
時間が2〜4[msec]のときの経過時間t対短絡柱長Lの
関係を示す図であり、短絡柱長Lは時間tが経過するに
つれて溶融池のある変化振幅内で変化する。すなわち、
溶融池の振動は溶接ワイヤ7の非溶融部先端と溶融池間
の距離である短絡柱長Lの時間変化で表わされ、短絡柱
長Lが溶融池の変化振幅の範囲内の短絡柱長値L0にな
る単位時間内の回数Nは、溶融池の振動数νと、N=2
νなる関係がある。
従って、溶融池の振動数の変化を精度よく検出するため
には、短絡柱長Lが溶融池の変化振幅の範囲内のある値
L0になる単位時間内の回数、すなわち、短絡時間Ts
がある短絡柱長値L0に対応する短絡時間Ts0を示す単
位時間内の短絡回数ntを測定すればよいことがわかる。
すなわち、短絡時間Tsがある一つの値だけでは回数が
少ないので、短絡時間Tsがある範囲のものの回数を選
べば回数が多くなるので、溶融池の振動数の変化を検出
するのに適している場合がある。なお、単位時間内の短
絡回数のかわりに短絡時間率(短絡時間/(短絡時間+
アーク発生時間))を検出しても同様に溶融池の振動を
検出できる。
には、短絡柱長Lが溶融池の変化振幅の範囲内のある値
L0になる単位時間内の回数、すなわち、短絡時間Ts
がある短絡柱長値L0に対応する短絡時間Ts0を示す単
位時間内の短絡回数ntを測定すればよいことがわかる。
すなわち、短絡時間Tsがある一つの値だけでは回数が
少ないので、短絡時間Tsがある範囲のものの回数を選
べば回数が多くなるので、溶融池の振動数の変化を検出
するのに適している場合がある。なお、単位時間内の短
絡回数のかわりに短絡時間率(短絡時間/(短絡時間+
アーク発生時間))を検出しても同様に溶融池の振動を
検出できる。
第10図に示すように、溶接金属8の先端と溶接ワイヤ
7の先端間の距離dが比較的大きい場合、溶接ワイヤ7
の先端は溶融池10のほぼ中央に位置しているので、溶
融池10の振動の影響を受け溶接ワイヤ7と溶融池10
間の短絡回数は多くなり短絡時間率は増す。しかし、第
11図に示すように、溶接金属8の先端と溶接ワイヤ7
の先端間の距離dが小さい場合、溶接ワイヤ7と溶接池
10の間の短絡回数は少なくなる(短絡時間率は小にな
る)。すなわち、溶接金属8の先端と溶接ワイヤ7の先
端間の距離dと特定の時間長を有する短絡の単位時間内
の短絡回数ntあるいは短絡時間率ηtには、上記のよ
うに比較的小電流で溶融池の振動が小さい場合でも明確
な関係があることが明らかとなった。
7の先端間の距離dが比較的大きい場合、溶接ワイヤ7
の先端は溶融池10のほぼ中央に位置しているので、溶
融池10の振動の影響を受け溶接ワイヤ7と溶融池10
間の短絡回数は多くなり短絡時間率は増す。しかし、第
11図に示すように、溶接金属8の先端と溶接ワイヤ7
の先端間の距離dが小さい場合、溶接ワイヤ7と溶接池
10の間の短絡回数は少なくなる(短絡時間率は小にな
る)。すなわち、溶接金属8の先端と溶接ワイヤ7の先
端間の距離dと特定の時間長を有する短絡の単位時間内
の短絡回数ntあるいは短絡時間率ηtには、上記のよ
うに比較的小電流で溶融池の振動が小さい場合でも明確
な関係があることが明らかとなった。
第12図及び第13図はこれを実証した測定データであ
り、短絡時間Tsが2[msec]から4[msec]までの短絡回
数nt及び短絡時間率ηtを測定したものである。
り、短絡時間Tsが2[msec]から4[msec]までの短絡回
数nt及び短絡時間率ηtを測定したものである。
いま、ある開先ギャップG0で適正溶接速度の場合、溶
接金属8の先端と溶接ワイヤ7の先端間距離がd0とな
り、従って第4図イ,ロのようになり裏波が良好であ
る。このときの短絡回数はnt0(短絡時間率はηt0)とな
る。ワイヤ送給速度はそのままで開先ギャップG1と小
さく(G1<G0)なると、(3)式の関係により溶接金属
8の先端と溶接ワイヤ7の先端間の距離d1は大きく(d1
>d0)なり、適正最大距離dpを越えると第5図イ,ロの
ように裏波は充分出ず短絡回数はnt1(短絡時間率η
t1)となり、nt1>ntp>nt0(ηt1>ηtp>ηt0)(ntp,
ηtpは、それぞれ適正最大距離dpのときの短絡回数及び
短絡時間率)となる。
接金属8の先端と溶接ワイヤ7の先端間距離がd0とな
り、従って第4図イ,ロのようになり裏波が良好であ
る。このときの短絡回数はnt0(短絡時間率はηt0)とな
る。ワイヤ送給速度はそのままで開先ギャップG1と小
さく(G1<G0)なると、(3)式の関係により溶接金属
8の先端と溶接ワイヤ7の先端間の距離d1は大きく(d1
>d0)なり、適正最大距離dpを越えると第5図イ,ロの
ように裏波は充分出ず短絡回数はnt1(短絡時間率η
t1)となり、nt1>ntp>nt0(ηt1>ηtp>ηt0)(ntp,
ηtpは、それぞれ適正最大距離dpのときの短絡回数及び
短絡時間率)となる。
次に、溶接速度υを増すと(3)式の関係により、dは小
さくなりd0に近づきntはnt0(ηtはηt0)に近づく。従っ
て、第4図イ,ロのようになり裏波は良好になる。開先
ギャップが広くなった場合は上記と逆の現象が生じ、溶
接速度υを遅くすることによりnt(ηt)をnt0(ηt0)に近
づけることができる。
さくなりd0に近づきntはnt0(ηtはηt0)に近づく。従っ
て、第4図イ,ロのようになり裏波は良好になる。開先
ギャップが広くなった場合は上記と逆の現象が生じ、溶
接速度υを遅くすることによりnt(ηt)をnt0(ηt0)に近
づけることができる。
[発明の構成] この発明の溶接方法は上述の知見に基づいてなされたも
のであり、開先ギャップが変化する開先の形成された開
先形成部材間に間隔を有する溶接継手の開先裏側に裏当
材を設け、消耗電極をその開先に沿って低電流域でアー
ク溶接を行い、前記消耗電極と溶接母材との間で発生す
る短絡のうち、ピンチ力による溶滴移行によって生ずる
時間長の短絡を選択し、上記選択した短絡を単位時間当
たりの短絡回路又は短絡時間率として検出し、この検出
値を常に設定値に保つように溶接速度を制御することを
特徴とする。
のであり、開先ギャップが変化する開先の形成された開
先形成部材間に間隔を有する溶接継手の開先裏側に裏当
材を設け、消耗電極をその開先に沿って低電流域でアー
ク溶接を行い、前記消耗電極と溶接母材との間で発生す
る短絡のうち、ピンチ力による溶滴移行によって生ずる
時間長の短絡を選択し、上記選択した短絡を単位時間当
たりの短絡回路又は短絡時間率として検出し、この検出
値を常に設定値に保つように溶接速度を制御することを
特徴とする。
このように短絡回数nt(短絡時間率ηt)を検出し、この
検出値を適切な設定値nt0(ηt0)に保持するように溶接
速度υを制御することにより、溶接金属先端と溶接ワイ
ヤ先端間距離dを裏波の良好な範囲に保持することがで
きる。
検出値を適切な設定値nt0(ηt0)に保持するように溶接
速度υを制御することにより、溶接金属先端と溶接ワイ
ヤ先端間距離dを裏波の良好な範囲に保持することがで
きる。
[実施例] 以下にこの発明の一実施例について説明する。
第1図に短絡回数を検出して、溶接台車の速度を制御す
る装置の一実施例を示す。同図において溶接電極10の
出力側は溶接トーチ4と被溶接材1に接続されている。
11は溶接トーチ4と被溶接材1との間に接続された短
絡検出回路であり、溶接ワイヤ7と被溶接材1との間が
短絡したとき所定レベルの信号電圧をパルス発生回路1
3に出力する。短絡検出回路11には溶接ケーブルに分
流器12を設けて溶接電流を入力として加えてもよい。
る装置の一実施例を示す。同図において溶接電極10の
出力側は溶接トーチ4と被溶接材1に接続されている。
11は溶接トーチ4と被溶接材1との間に接続された短
絡検出回路であり、溶接ワイヤ7と被溶接材1との間が
短絡したとき所定レベルの信号電圧をパルス発生回路1
3に出力する。短絡検出回路11には溶接ケーブルに分
流器12を設けて溶接電流を入力として加えてもよい。
パルス発生回路13に入力された信号電圧は波形整形さ
れ所定のハイレベルのパルス電圧とされた後、パルス幅
弁別回路14に出力され、パルス幅弁別回路14におい
て、2〜4[msec]の時間の間ハイレベルであるパルス電
圧のみを回数検出回路15に出力する。一方、ハイレベ
ルが2〜4[msec]の時間以外のパルスでは回数検出回路
15に出力されない。このパルス幅弁別回路14におい
て、弁別を行う上述の動作によって、短絡時間が2ない
し4[msec]の溶接ワイヤ7と母材1間の短絡のみが検出
され、2ないし4[msec]の短絡が生じた単位時間当たり
の回数が検出される。上記パルス幅は上述の短絡時間T
sに対応し、この回路14において、他のパルス幅弁別
時間を設定してもよい。
れ所定のハイレベルのパルス電圧とされた後、パルス幅
弁別回路14に出力され、パルス幅弁別回路14におい
て、2〜4[msec]の時間の間ハイレベルであるパルス電
圧のみを回数検出回路15に出力する。一方、ハイレベ
ルが2〜4[msec]の時間以外のパルスでは回数検出回路
15に出力されない。このパルス幅弁別回路14におい
て、弁別を行う上述の動作によって、短絡時間が2ない
し4[msec]の溶接ワイヤ7と母材1間の短絡のみが検出
され、2ないし4[msec]の短絡が生じた単位時間当たり
の回数が検出される。上記パルス幅は上述の短絡時間T
sに対応し、この回路14において、他のパルス幅弁別
時間を設定してもよい。
回数検出回路15は入力されたパルス電圧の回数を検出
し、単位時間当たりの短絡回数に対応した信号電圧をス
イッチ16のa端子を介して比較器20に出力するとと
もに、サンプリング回路17に出力する。
し、単位時間当たりの短絡回数に対応した信号電圧をス
イッチ16のa端子を介して比較器20に出力するとと
もに、サンプリング回路17に出力する。
18a、18bおよび18cはそれぞれウィービング左端
検出回路、ウィービング中央検出回路及びウィービング
右端検出回路であり、各回路18a、18b及び18cは
それぞれウィービングの左端、中央部及び右端又はそれ
らの近傍で短絡が生じたときハイレベル信号をサンプリ
ング回路17に出力する。
検出回路、ウィービング中央検出回路及びウィービング
右端検出回路であり、各回路18a、18b及び18cは
それぞれウィービングの左端、中央部及び右端又はそれ
らの近傍で短絡が生じたときハイレベル信号をサンプリ
ング回路17に出力する。
サンプリング回路17は、ウィービング左端検出回路1
8a、ウィービング中央検出回路18b及びウィービング
右端検出回路18cからのハイレベル信号に応答して、
入力された信号電圧を所定の周期でサンプリングを行
い、サンプリングされた信号を保持回路19に出力す
る。サンプリング回路17においては、上記各回路18
a、18b及び18cから出力されるハイレベル信号のい
ずれかを操作者の設定により選択して上記所望の動作を
行う。
8a、ウィービング中央検出回路18b及びウィービング
右端検出回路18cからのハイレベル信号に応答して、
入力された信号電圧を所定の周期でサンプリングを行
い、サンプリングされた信号を保持回路19に出力す
る。サンプリング回路17においては、上記各回路18
a、18b及び18cから出力されるハイレベル信号のい
ずれかを操作者の設定により選択して上記所望の動作を
行う。
保持回路19は入力されたサンプリング信号のレベルを
次のサンプリング信号が入力されるまで一時的に保持
し、その保持された信号をスイッチ16のb端子を介し
て比較器20に出力する。
次のサンプリング信号が入力されるまで一時的に保持
し、その保持された信号をスイッチ16のb端子を介し
て比較器20に出力する。
スイッチ16は、短絡回路の検出をウィービングの中央
部又は端部で行うか否かを切り換える切換スイッチであ
り、短絡回数の検出をウィービングの中央部又は端部で
行う場合スイッチ16をb側に切り換え、一方短絡回数
の検出をウィービング位置にかかわらず行う場合スイッ
チ16をa側に切り換える。
部又は端部で行うか否かを切り換える切換スイッチであ
り、短絡回数の検出をウィービングの中央部又は端部で
行う場合スイッチ16をb側に切り換え、一方短絡回数
の検出をウィービング位置にかかわらず行う場合スイッ
チ16をa側に切り換える。
21は予め設定される基準短絡回路nt0に対応する基準
電圧発生装置で、この基準電圧は比較回路20で回数検
出回路15又は保持回路19からの信号電圧と比較され
て、その差電圧を溶接台車モータ制御装置22に入力と
して加える。溶接台車モータ制御装置22の出力は溶接
台車モータ5aに加えられて溶接台車5の走行速度を調
整する。
電圧発生装置で、この基準電圧は比較回路20で回数検
出回路15又は保持回路19からの信号電圧と比較され
て、その差電圧を溶接台車モータ制御装置22に入力と
して加える。溶接台車モータ制御装置22の出力は溶接
台車モータ5aに加えられて溶接台車5の走行速度を調
整する。
以下、スイッチ16をa側に切り換え、下向き突合わせ
溶接のI形開先の場合について説明すると、この場合、
溶接台車モータ制御装置22は、入力信号すなわち回数
検出回路15又は保持回路19の出力と基準電圧との差
が正のときは、この差電圧を無くするように溶接台車モ
ータ5aの速度を制御して台車速度を上げるように動作
する。すなわち、短絡回数ntが第2図に示す基準値M点
より高いN点にある場合は、溶接台車モータ制御装置2
2に正の値の入力信号が印加されて溶接台車モータ5a
の回転数をあげ、台車速度を上昇せしめる。溶接速度が
上昇すると第2図のように短絡回数ntの値は減少してゆ
き、基準値(M点)に達してその差が無くなり、溶接台車
モータ制御装置22の入力信号は零となって台車速度の
上昇が停止する。短絡回路ntが基準値Mより低いL点の
場合は、上記と逆の動作を行い、溶接速度が低下し短絡
回数ntの値は増加してゆき、基準値(M点)に達すると台
車速度の低下は停止する。従って、溶接台車速度は常に
短絡回数ntが基準値と合致するように調整されるため、
裏波の状態を常に良好に保つことができる。ある一定の
開先ギャップでの溶接速度υと短絡回数ntの関係を示す
と第2図のようになるので、この図から開先ギャップで
は溶接速度をυ0にすれば短絡回数が設定値nt0にな
り、溶接速度がυ0より遅れれば短絡回数が増し、溶接
速度がυ0より速ければ短絡回数は減ずることがわか
る。それ故、上述の制御により、溶接速度υと短絡回数
ntとを第2図の適正溶接速度域に保てば良好な裏波のあ
る溶接をすることができる。前記実施例は短絡回数ntで
溶接速度を調整する場合を示したが、短絡時間とアーク
発生時間を検出し両者の比、すなわち短絡時間率ηtで
溶接速度を調整するように構成してもよい。
溶接のI形開先の場合について説明すると、この場合、
溶接台車モータ制御装置22は、入力信号すなわち回数
検出回路15又は保持回路19の出力と基準電圧との差
が正のときは、この差電圧を無くするように溶接台車モ
ータ5aの速度を制御して台車速度を上げるように動作
する。すなわち、短絡回数ntが第2図に示す基準値M点
より高いN点にある場合は、溶接台車モータ制御装置2
2に正の値の入力信号が印加されて溶接台車モータ5a
の回転数をあげ、台車速度を上昇せしめる。溶接速度が
上昇すると第2図のように短絡回数ntの値は減少してゆ
き、基準値(M点)に達してその差が無くなり、溶接台車
モータ制御装置22の入力信号は零となって台車速度の
上昇が停止する。短絡回路ntが基準値Mより低いL点の
場合は、上記と逆の動作を行い、溶接速度が低下し短絡
回数ntの値は増加してゆき、基準値(M点)に達すると台
車速度の低下は停止する。従って、溶接台車速度は常に
短絡回数ntが基準値と合致するように調整されるため、
裏波の状態を常に良好に保つことができる。ある一定の
開先ギャップでの溶接速度υと短絡回数ntの関係を示す
と第2図のようになるので、この図から開先ギャップで
は溶接速度をυ0にすれば短絡回数が設定値nt0にな
り、溶接速度がυ0より遅れれば短絡回数が増し、溶接
速度がυ0より速ければ短絡回数は減ずることがわか
る。それ故、上述の制御により、溶接速度υと短絡回数
ntとを第2図の適正溶接速度域に保てば良好な裏波のあ
る溶接をすることができる。前記実施例は短絡回数ntで
溶接速度を調整する場合を示したが、短絡時間とアーク
発生時間を検出し両者の比、すなわち短絡時間率ηtで
溶接速度を調整するように構成してもよい。
以上の実施例では短絡時間が2[msec]から4[msec]まで
の短絡の回数あるいは短絡時間率について説明したが、
最適な短絡時間はワイヤ径、ワイヤ成分、溶接電流、溶
接電圧及び突出し長さ等によって異なるので、それぞれ
の場合に応じて決める必要がある。
の短絡の回数あるいは短絡時間率について説明したが、
最適な短絡時間はワイヤ径、ワイヤ成分、溶接電流、溶
接電圧及び突出し長さ等によって異なるので、それぞれ
の場合に応じて決める必要がある。
本発明の実施例は下向突合せ溶接のI形開先の場合につ
いて説明したが、V形開先でウィービングを行う場合
は、スイッチ16をb側に切り換え、サンプリング回路
17においてウィービング中央検出回路18bからのハ
イレベル信号のみに応答してサンプリングを行うように
し、短絡回数ntあるいは短絡時間率ηtの検出を、ウィ
ービングの中央部もしくはその近傍で断続的に行う方法
が好ましい。
いて説明したが、V形開先でウィービングを行う場合
は、スイッチ16をb側に切り換え、サンプリング回路
17においてウィービング中央検出回路18bからのハ
イレベル信号のみに応答してサンプリングを行うように
し、短絡回数ntあるいは短絡時間率ηtの検出を、ウィ
ービングの中央部もしくはその近傍で断続的に行う方法
が好ましい。
また、横向姿勢溶接の場合、溶接線に対して斜め上下方
向にウィービングするが、その溶接金属が重力の影響で
下に垂れ下がり厚みが上下不均一になる。従って、スイ
ッチ16をb側に切り換え、サンプリング回路17にお
いてウィービング左端検出回路18a又はウィービング
右端検出回路18cからのハイレベル信号のみに応答し
てサンプリングを行うようにし、短絡回数nt又は短絡時
間率ηtの検出をウィービングの上端又は下端のいずれ
かの端部もしくはその近傍で断続的に行う方法が好まし
い。
向にウィービングするが、その溶接金属が重力の影響で
下に垂れ下がり厚みが上下不均一になる。従って、スイ
ッチ16をb側に切り換え、サンプリング回路17にお
いてウィービング左端検出回路18a又はウィービング
右端検出回路18cからのハイレベル信号のみに応答し
てサンプリングを行うようにし、短絡回数nt又は短絡時
間率ηtの検出をウィービングの上端又は下端のいずれ
かの端部もしくはその近傍で断続的に行う方法が好まし
い。
さらに、本発明は下向姿勢に限らず、立向姿勢、上向姿
勢にも適用できることは云うまでもない。
勢にも適用できることは云うまでもない。
その他、溶接金属先端とワイヤ先端の距離が常に一定し
ているので、下方へ与えられるアーク熱は一定となり、
下層への溶込みが一定となる。従って、多層溶接での2
層目以降の溶込みの安定化(制御)や薄板での溶落防止
にも使用できる。
ているので、下方へ与えられるアーク熱は一定となり、
下層への溶込みが一定となる。従って、多層溶接での2
層目以降の溶込みの安定化(制御)や薄板での溶落防止
にも使用できる。
[発明の効果] 以上のように本発明によれば、ピンチ力による溶滴移行
によって生ずる時間長の短絡を選択し、上記選択した短
絡を単位時間当たりの短絡回数又は短絡時間率として検
出し、この検出値を常に設定値に保つように溶接速度を
制御するので、短絡柱長すなわち溶接池の状態に応じた
溶接ができ、開先寸法が変化する溶接の場合でも良好な
溶接が可能となる。そして、各種溶接姿勢での片面裏波
溶接にて開先ギャップの変動に対応して安定した溶け込
みのある表・裏波溶接ビードを完全無人化で得ることが
できる。
によって生ずる時間長の短絡を選択し、上記選択した短
絡を単位時間当たりの短絡回数又は短絡時間率として検
出し、この検出値を常に設定値に保つように溶接速度を
制御するので、短絡柱長すなわち溶接池の状態に応じた
溶接ができ、開先寸法が変化する溶接の場合でも良好な
溶接が可能となる。そして、各種溶接姿勢での片面裏波
溶接にて開先ギャップの変動に対応して安定した溶け込
みのある表・裏波溶接ビードを完全無人化で得ることが
できる。
【図面の簡単な説明】 第1図はこの発明の溶接方法に適用される制御装置の一
実施例を示すブロック図、第2図は溶接速度と短絡回数
の関係を示すグラフ、第3図は従来の溶接方法を説明す
るための斜視図、第4図イは第3図のc−c’線断面
図、第4図ロは第3図のa−a’線断面図、第5図イは
第3図のc−c’線断面図、第5図ロは第3図のb−
b’線断面図、第6図は低電流域における溶接金属先端
とワイヤ先端間の距離と短絡回数の関係を説明するため
の図、第7図は低電流域における短絡時間の分布を示す
図、第8図(A)は短絡柱長Lと短絡時間Tsの関係を示
す図、第8図(B)は短絡柱長Lを示す図、第9図は時間
t対短絡柱長Lの関係を示す図、第10図と第11図は
溶接条件と溶融池の関係を示す側断面図、第12図と第
13図は溶接金属先端と溶接ワイヤ先端間の距離と特定
の短絡時間を有する短絡回数あるいは短絡時間率の関係
を示すグラフ図である。 1……溶接母材、2……開先、3……裏当材、4……溶
接トーチ、5……台車、6……レール、7……溶接ワイ
ヤ、8……溶接金属、10……溶接電源、11……短絡
検出回路、13……パルス発生回路、14……パルス幅
弁別回路、15……回数検出回路、16……切換スイッ
チ、17……サンプリング回路、18a……ウィービン
グ左端検出回路、18b……ウィービング中央検出回
路、18c……ウィービング右端検出回路、19……保
持回路、20……比較器、21……基準電圧発生装置、
22……台車モータ制御装置、23……溶滴。
実施例を示すブロック図、第2図は溶接速度と短絡回数
の関係を示すグラフ、第3図は従来の溶接方法を説明す
るための斜視図、第4図イは第3図のc−c’線断面
図、第4図ロは第3図のa−a’線断面図、第5図イは
第3図のc−c’線断面図、第5図ロは第3図のb−
b’線断面図、第6図は低電流域における溶接金属先端
とワイヤ先端間の距離と短絡回数の関係を説明するため
の図、第7図は低電流域における短絡時間の分布を示す
図、第8図(A)は短絡柱長Lと短絡時間Tsの関係を示
す図、第8図(B)は短絡柱長Lを示す図、第9図は時間
t対短絡柱長Lの関係を示す図、第10図と第11図は
溶接条件と溶融池の関係を示す側断面図、第12図と第
13図は溶接金属先端と溶接ワイヤ先端間の距離と特定
の短絡時間を有する短絡回数あるいは短絡時間率の関係
を示すグラフ図である。 1……溶接母材、2……開先、3……裏当材、4……溶
接トーチ、5……台車、6……レール、7……溶接ワイ
ヤ、8……溶接金属、10……溶接電源、11……短絡
検出回路、13……パルス発生回路、14……パルス幅
弁別回路、15……回数検出回路、16……切換スイッ
チ、17……サンプリング回路、18a……ウィービン
グ左端検出回路、18b……ウィービング中央検出回
路、18c……ウィービング右端検出回路、19……保
持回路、20……比較器、21……基準電圧発生装置、
22……台車モータ制御装置、23……溶滴。
Claims (3)
- 【請求項1】開先ギャップが変化する開先の形成された
開先形成部材間に間隔を有する溶接継手の開先裏側に裏
当材を設け、消耗電極をその開先に沿って低電流域でア
ーク溶接を行い、前記消耗電極と溶接母材との間で発生
する短絡のうち、ピンチ力による溶滴移行によって生ず
る時間長の短絡を選択し、上記選択した短絡を単位時間
当たりの短絡回数又は短絡時間率として検出し、この検
出値を常に設定値に保つように溶接速度を制御すること
を特徴とするアーク溶接方法。 - 【請求項2】上記短絡回数あるいは上記短絡時間率の検
出をウィービングの中央部もしくはその近傍で断続的に
行うことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のアー
ク溶接方法。 - 【請求項3】上記短絡回数あるいは上記短絡時間率の検
出をウィービングの端部もしくはその近傍で断続的に行
なうことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のアー
ク溶接方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61063394A JPH0613146B2 (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | ア−ク溶接方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61063394A JPH0613146B2 (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | ア−ク溶接方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62234663A JPS62234663A (ja) | 1987-10-14 |
| JPH0613146B2 true JPH0613146B2 (ja) | 1994-02-23 |
Family
ID=13228046
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61063394A Expired - Lifetime JPH0613146B2 (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | ア−ク溶接方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0613146B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5270516A (en) * | 1991-04-01 | 1993-12-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Arc welding machine |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS501051A (ja) * | 1973-05-09 | 1975-01-08 | ||
| JPS5823402B2 (ja) * | 1975-07-16 | 1983-05-14 | 住友化学工業株式会社 | サクサンビニル−エチレンキヨウジユウゴウタイスイセイブンサンエキノ セイゾウホウ |
| JPS61119380A (ja) * | 1984-11-15 | 1986-06-06 | Kobe Steel Ltd | ア−ク溶接方法 |
-
1986
- 1986-03-19 JP JP61063394A patent/JPH0613146B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62234663A (ja) | 1987-10-14 |
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