JPH06131831A - 磁気ディスク装置 - Google Patents
磁気ディスク装置Info
- Publication number
- JPH06131831A JPH06131831A JP27474392A JP27474392A JPH06131831A JP H06131831 A JPH06131831 A JP H06131831A JP 27474392 A JP27474392 A JP 27474392A JP 27474392 A JP27474392 A JP 27474392A JP H06131831 A JPH06131831 A JP H06131831A
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- JP
- Japan
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- head
- center
- control system
- parameter
- cylinder
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- Pending
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- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、位置制御系を構成する部品のばら
つき等により、制御系の全体特性の最良点からのずれを
自動補正して、常にヘッドの位置決め精度を良好に保持
することを目的としている。 【構成】 本発明において、磁気ヘッド２が目標シリン
ダａの中心に位置決めされた状態で、中心変化量設定部
４６から加算器４５に前記中心をステップ状に変化させ
る信号を出す。これにより、磁気ヘッド２は前記変化し
た中心に追従してアクチュエータ８により移動される
が、この時のヘッド軌跡をヘッド位置復調器３を介して
メモリ部４７に格納する。パラメータ設定部５０は前記
メモリ部４７に格納されたヘッド軌跡とメモリ部４８に
格納されている許容範囲とを比較し、ヘッド軌跡の前記
許容範囲からのずれを是正するパラメータをメモリ部４
９から読み出して、これを位置決めフィルタ４３及びゲ
イン４４に設定する。これにより、ヘッドの位置決め精
度が所定の精度内に保持される。
つき等により、制御系の全体特性の最良点からのずれを
自動補正して、常にヘッドの位置決め精度を良好に保持
することを目的としている。 【構成】 本発明において、磁気ヘッド２が目標シリン
ダａの中心に位置決めされた状態で、中心変化量設定部
４６から加算器４５に前記中心をステップ状に変化させ
る信号を出す。これにより、磁気ヘッド２は前記変化し
た中心に追従してアクチュエータ８により移動される
が、この時のヘッド軌跡をヘッド位置復調器３を介して
メモリ部４７に格納する。パラメータ設定部５０は前記
メモリ部４７に格納されたヘッド軌跡とメモリ部４８に
格納されている許容範囲とを比較し、ヘッド軌跡の前記
許容範囲からのずれを是正するパラメータをメモリ部４
９から読み出して、これを位置決めフィルタ４３及びゲ
イン４４に設定する。これにより、ヘッドの位置決め精
度が所定の精度内に保持される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁気ディスク装置に係わ
り、特にヘッドをシリンダの中心位置に一致させる位置
制御に関する。
り、特にヘッドをシリンダの中心位置に一致させる位置
制御に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の磁気ディスク装置にて、ヘッドを
ディスク上の目標のシリンダに移動させる所謂シーク動
作は、前記ディスクに予め記録されているサーボデータ
を前記ヘッドによって読み出し、この読み出したサーボ
データに基づいて前記ヘッドを目標シリンダに移動させ
る速度制御と、目標シリンダに近付いたところで前記ヘ
ッドを目標シリンダ上に持ってくる過度制御と、このヘ
ッドを目標シリンダの中心位置に位置させる位置制御と
から成っている。
ディスク上の目標のシリンダに移動させる所謂シーク動
作は、前記ディスクに予め記録されているサーボデータ
を前記ヘッドによって読み出し、この読み出したサーボ
データに基づいて前記ヘッドを目標シリンダに移動させ
る速度制御と、目標シリンダに近付いたところで前記ヘ
ッドを目標シリンダ上に持ってくる過度制御と、このヘ
ッドを目標シリンダの中心位置に位置させる位置制御と
から成っている。
【０００３】図６は従来の磁気ディスク装置の上記した
位置制御系を示したブロック図である。ディスク１上の
目標シリンダａに達した磁気ヘッド２からはヘッド位置
変調信号が読み出され、この位置変調信号がヘッド位置
復調器３に入力される。このヘッド位置復調器３は入力
されたヘッド位置変調信号を復調して、現在の磁気ヘッ
ド２の目標シリンダ内の位置を示す位置データを作成
し、この位置データをマイクロプロセッサ４内の減算器
４１に出力する。この減算器４１には同マイクロプロセ
ッサ４内に設けられている目標位置設定部４２から前記
目標シリンダａの中心位置に対応する基準データが入力
されている。このため、減算器４１では、前記磁気ヘッ
ド２の位置を示す位置データと前記基準データとの差が
求められ、この差であるエラーデータが位置決めフィル
タ４３に入力される。
位置制御系を示したブロック図である。ディスク１上の
目標シリンダａに達した磁気ヘッド２からはヘッド位置
変調信号が読み出され、この位置変調信号がヘッド位置
復調器３に入力される。このヘッド位置復調器３は入力
されたヘッド位置変調信号を復調して、現在の磁気ヘッ
ド２の目標シリンダ内の位置を示す位置データを作成
し、この位置データをマイクロプロセッサ４内の減算器
４１に出力する。この減算器４１には同マイクロプロセ
ッサ４内に設けられている目標位置設定部４２から前記
目標シリンダａの中心位置に対応する基準データが入力
されている。このため、減算器４１では、前記磁気ヘッ
ド２の位置を示す位置データと前記基準データとの差が
求められ、この差であるエラーデータが位置決めフィル
タ４３に入力される。
【０００４】位置決めフィルタ４３は伝達関数Ｇ（ｘ）
を有し、前記入力されたエラーデータをこの伝達関数Ｇ
（ｘ）で決まる特性にてゲイン設定部４４に出力する。
ゲイン設定部４４は入力されたエラーデータにゲインＣ
を掛けた後、これをマイクロプロセッサ４の外部にある
Ｄ／Ａ変換器５に出力する。Ｄ／Ａ変換器５では入力さ
れたエラーデータをアナログのエラー信号に変換した
後、パワーアンプ６に出力する。パワーアンプ６は入力
されたエラー信号に基づいてボイスコイルモータ７を駆
動することにより、アクチュエータ８の先端をシリンダ
１の半径方向に移動させるが、その移動方向は前記減算
器４１から出力されるエラーデータが０となる方向にな
る。このような、位置制御により、磁気ヘッド２は目標
シリンダａの中心に位置決めされる。
を有し、前記入力されたエラーデータをこの伝達関数Ｇ
（ｘ）で決まる特性にてゲイン設定部４４に出力する。
ゲイン設定部４４は入力されたエラーデータにゲインＣ
を掛けた後、これをマイクロプロセッサ４の外部にある
Ｄ／Ａ変換器５に出力する。Ｄ／Ａ変換器５では入力さ
れたエラーデータをアナログのエラー信号に変換した
後、パワーアンプ６に出力する。パワーアンプ６は入力
されたエラー信号に基づいてボイスコイルモータ７を駆
動することにより、アクチュエータ８の先端をシリンダ
１の半径方向に移動させるが、その移動方向は前記減算
器４１から出力されるエラーデータが０となる方向にな
る。このような、位置制御により、磁気ヘッド２は目標
シリンダａの中心に位置決めされる。
【０００５】ところで、シリンダ１は偏芯しているた
め、前記位置制御により一度磁気ヘッド２が目標シリン
ダａの中心に位置決めされても、この中心からずれてし
まう。従って、前記位置制御系は磁気ヘッド２の中心位
置からのシリンダ１の偏芯によるずれを補正すべく、前
記磁気ヘッド２を目標シリンダａ内の中心位置に置いて
おく、追従位置制御を行わなければならない。しかし、
従来の位置制御系は位置決めフィルタ４３及びゲイン設
定部４４の特性を決定するパラメータが固定であるた
め、ボイスコイルモータ７やアクチュエータ８の機械的
特性上のばらつきやパワーアンプ６等の電気的特性上の
ばらつき等によって、前記位置決め制御系全体の特性が
最良点からずれてしまうことがあり、上記のような磁気
ヘッド２を目標シリンダａの中心点に位置させる位置決
め精度を悪化させてしまうという欠点があった。この位
置決め精度が著しく悪化すると、上記のようなシリンダ
１の偏芯による磁気ヘッド２の前記中心点からのずれを
是正する際の位置決めができなくなり、場合によっては
隣接するシリンダに磁気ヘッド２が入り込んでデータを
破壊してしまったり、目標シリンダａからデータを読み
出せなくなってしまうなどの不具合が生じる可能性があ
った。尚、前記位置制御系を構成する各部品の機械的、
電気的バラツキは経年劣化等によっても生じる。
め、前記位置制御により一度磁気ヘッド２が目標シリン
ダａの中心に位置決めされても、この中心からずれてし
まう。従って、前記位置制御系は磁気ヘッド２の中心位
置からのシリンダ１の偏芯によるずれを補正すべく、前
記磁気ヘッド２を目標シリンダａ内の中心位置に置いて
おく、追従位置制御を行わなければならない。しかし、
従来の位置制御系は位置決めフィルタ４３及びゲイン設
定部４４の特性を決定するパラメータが固定であるた
め、ボイスコイルモータ７やアクチュエータ８の機械的
特性上のばらつきやパワーアンプ６等の電気的特性上の
ばらつき等によって、前記位置決め制御系全体の特性が
最良点からずれてしまうことがあり、上記のような磁気
ヘッド２を目標シリンダａの中心点に位置させる位置決
め精度を悪化させてしまうという欠点があった。この位
置決め精度が著しく悪化すると、上記のようなシリンダ
１の偏芯による磁気ヘッド２の前記中心点からのずれを
是正する際の位置決めができなくなり、場合によっては
隣接するシリンダに磁気ヘッド２が入り込んでデータを
破壊してしまったり、目標シリンダａからデータを読み
出せなくなってしまうなどの不具合が生じる可能性があ
った。尚、前記位置制御系を構成する各部品の機械的、
電気的バラツキは経年劣化等によっても生じる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の磁
気ディスク装置において、ヘッドを目標シリンダ内の中
心点に位置させるための位置制御系では、制御系の追従
特性などを決める位置決めフィルタやゲイン設定部のパ
ラメータが固定なため、前記位置制御系を構成するボイ
スコイルモータやアクチュエータ等の機械的特性のばら
つきや前記ボイスコイルモータの駆動回路等の電気的特
性のばらつき等によっては、制御系全体としての特性が
最適点からずれてしまって、ヘッドの位置決め精度を悪
化させてしまうことがある。この位置決め精度が著しく
悪化すると、ヘッドが隣接するシリンダに入り込んでデ
ータを破壊してしまったり、目標シリンダからデータを
読み出せなくなってしまうなどの欠点が生じる。
気ディスク装置において、ヘッドを目標シリンダ内の中
心点に位置させるための位置制御系では、制御系の追従
特性などを決める位置決めフィルタやゲイン設定部のパ
ラメータが固定なため、前記位置制御系を構成するボイ
スコイルモータやアクチュエータ等の機械的特性のばら
つきや前記ボイスコイルモータの駆動回路等の電気的特
性のばらつき等によっては、制御系全体としての特性が
最適点からずれてしまって、ヘッドの位置決め精度を悪
化させてしまうことがある。この位置決め精度が著しく
悪化すると、ヘッドが隣接するシリンダに入り込んでデ
ータを破壊してしまったり、目標シリンダからデータを
読み出せなくなってしまうなどの欠点が生じる。
【０００７】そこで本発明は上記の欠点を除去し、位置
制御系を構成する部品のばらつき等により、制御系の全
体特性の最良点からのずれを自動補正して、常にヘッド
の位置決め精度を良好に保持するができる磁気ディスク
装置を提供することを目的としている。
制御系を構成する部品のばらつき等により、制御系の全
体特性の最良点からのずれを自動補正して、常にヘッド
の位置決め精度を良好に保持するができる磁気ディスク
装置を提供することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明はヘッドをディス
ク上の目標のシリンダの中心に位置決めする制御系を有
する磁気ディスク装置において、前記ヘッドが目標のシ
リンダの中心に位置決めされた状態で、前記シリンダの
中心を一定期間変化させる目標変化手段と、この目標変
化手段により前記シリンダの中心が変化した際の前記ヘ
ッドの追従軌跡を記憶する記憶手段と、この記憶手段に
より記憶された前記ヘッド追従軌跡と予め設定されてい
る許容範囲とのずれを求める比較手段と、この比較手段
によって求められた前記ずれがなくなるように前記制御
系の特性を変化させるパラメータを求めるパラメータ取
得手段と、このパラメータ取得手段により求まったパラ
メータを前記制御系に設定する設定手段とを具備した構
成を有する。
ク上の目標のシリンダの中心に位置決めする制御系を有
する磁気ディスク装置において、前記ヘッドが目標のシ
リンダの中心に位置決めされた状態で、前記シリンダの
中心を一定期間変化させる目標変化手段と、この目標変
化手段により前記シリンダの中心が変化した際の前記ヘ
ッドの追従軌跡を記憶する記憶手段と、この記憶手段に
より記憶された前記ヘッド追従軌跡と予め設定されてい
る許容範囲とのずれを求める比較手段と、この比較手段
によって求められた前記ずれがなくなるように前記制御
系の特性を変化させるパラメータを求めるパラメータ取
得手段と、このパラメータ取得手段により求まったパラ
メータを前記制御系に設定する設定手段とを具備した構
成を有する。
【０００９】
【作用】本発明の磁気ディスク装置において、目標変化
手段はヘッドが目標のシリンダの中心に位置決めされた
状態で、前記シリンダの中心を一定期間変化させる。記
憶手段は前記目標変化手段により前記シリンダの中心が
変化した際の前記ヘッドの追従軌跡を記憶する。比較手
段は前記記憶手段により記憶された前記ヘッド追従軌跡
と予め設定されている許容範囲とのずれを求める。パラ
メータ取得手段は前記比較手段によって求められた前記
ずれがなくなるように前記制御系の特性を変化させるパ
ラメータを求める。設定手段は前記パラメータ取得手段
により求まったパラメータを前記制御系に設定する。
手段はヘッドが目標のシリンダの中心に位置決めされた
状態で、前記シリンダの中心を一定期間変化させる。記
憶手段は前記目標変化手段により前記シリンダの中心が
変化した際の前記ヘッドの追従軌跡を記憶する。比較手
段は前記記憶手段により記憶された前記ヘッド追従軌跡
と予め設定されている許容範囲とのずれを求める。パラ
メータ取得手段は前記比較手段によって求められた前記
ずれがなくなるように前記制御系の特性を変化させるパ
ラメータを求める。設定手段は前記パラメータ取得手段
により求まったパラメータを前記制御系に設定する。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。図１は本発明の磁気ディスク装置の位置制御系
の一実施例を示したブロック図である。１はデータが読
み書きされる複数のシリンダが同心円状に割り付けられ
たディスク、２は前記シリンダにデータを読み書きする
ヘッド、３は磁気ヘッド２により読み出された目標トラ
ック内のヘッド位置変調信号を復調してヘッド位置信号
を得るヘッド位置復調器、４は位置制御系を構成するマ
イクロプロセッサで、減算器４１、目標位置設定部４
２、位置決めフィルタ４３、ゲイン設定部４４、加算器
４５、中心変化量設定部４６、ヘッド追従特性メモリ部
４７、ヘッド追従許容範囲メモリ部４８、設定パラメー
タ群メモリ部４９及びパラメータ設定部５０の各種機能
をソフトウェアにて構成している。５はデジタルのエラ
ーデータをアナログのエラー信号に変換するＤ／Ａ変換
器、６はボイスコイルモータ７を駆動するバワーアン
プ、７はアクチュエータ８を回動させるボイスコイルモ
ータ、８は先端に取り付けてある磁気ヘッド２をディス
ク１の半径方向に往動させるアクチュエータである。
明する。図１は本発明の磁気ディスク装置の位置制御系
の一実施例を示したブロック図である。１はデータが読
み書きされる複数のシリンダが同心円状に割り付けられ
たディスク、２は前記シリンダにデータを読み書きする
ヘッド、３は磁気ヘッド２により読み出された目標トラ
ック内のヘッド位置変調信号を復調してヘッド位置信号
を得るヘッド位置復調器、４は位置制御系を構成するマ
イクロプロセッサで、減算器４１、目標位置設定部４
２、位置決めフィルタ４３、ゲイン設定部４４、加算器
４５、中心変化量設定部４６、ヘッド追従特性メモリ部
４７、ヘッド追従許容範囲メモリ部４８、設定パラメー
タ群メモリ部４９及びパラメータ設定部５０の各種機能
をソフトウェアにて構成している。５はデジタルのエラ
ーデータをアナログのエラー信号に変換するＤ／Ａ変換
器、６はボイスコイルモータ７を駆動するバワーアン
プ、７はアクチュエータ８を回動させるボイスコイルモ
ータ、８は先端に取り付けてある磁気ヘッド２をディス
ク１の半径方向に往動させるアクチュエータである。
【００１１】次に本実施例の動作について説明する。磁
気ヘッド２を目標シリンダａに移動させるには、当初、
速度制御により前記シリンダａの近くまで磁気ヘッド２
を移動させた後、過度制御により前記磁気ヘッド２を目
標シリンダａに到達させ、更にこの磁気ヘッド２を目標
シリンダａの中心に位置させるための位置制御が開始さ
れる。ディスク１上の目標シリンダａに達した磁気ヘッ
ド２からはヘッド位置変調信号が読み出され、この位置
変調信号がヘッド位置復調器３に入力される。このヘッ
ド位置復調器３は入力されたヘッド位置変調信号を復調
して、現在の磁気ヘッド２の目標シリンダａ内の位置を
示す位置信号を作成し、この位置信号をマイクロプロセ
ッサ４内の減算器４１に出力する。この減算器４１には
同マイクロプロセッサ４内に設けられている目標位置設
定部４２から前記目標シリンダａの中心位置に対応する
基準データが入力されている。このため、減算器４１で
は、磁気ヘッド２の前記目標シリンダａ内の現在の位置
を示す位置データと前記基準データとの差が求められ、
この差であるエラーデータが加算器４５を通過して位置
決めフィルタ４３に入力される。但し、通常の場合は、
中心変化量設定部４６から加算器４５には何のデータも
出力されていないため、エラーデータはこの加算器４５
をそのままの形で通過する。
気ヘッド２を目標シリンダａに移動させるには、当初、
速度制御により前記シリンダａの近くまで磁気ヘッド２
を移動させた後、過度制御により前記磁気ヘッド２を目
標シリンダａに到達させ、更にこの磁気ヘッド２を目標
シリンダａの中心に位置させるための位置制御が開始さ
れる。ディスク１上の目標シリンダａに達した磁気ヘッ
ド２からはヘッド位置変調信号が読み出され、この位置
変調信号がヘッド位置復調器３に入力される。このヘッ
ド位置復調器３は入力されたヘッド位置変調信号を復調
して、現在の磁気ヘッド２の目標シリンダａ内の位置を
示す位置信号を作成し、この位置信号をマイクロプロセ
ッサ４内の減算器４１に出力する。この減算器４１には
同マイクロプロセッサ４内に設けられている目標位置設
定部４２から前記目標シリンダａの中心位置に対応する
基準データが入力されている。このため、減算器４１で
は、磁気ヘッド２の前記目標シリンダａ内の現在の位置
を示す位置データと前記基準データとの差が求められ、
この差であるエラーデータが加算器４５を通過して位置
決めフィルタ４３に入力される。但し、通常の場合は、
中心変化量設定部４６から加算器４５には何のデータも
出力されていないため、エラーデータはこの加算器４５
をそのままの形で通過する。
【００１２】位置決めフィルタ４３は伝達関数Ｇ（ｘ）
を有し、前記入力されたエラーデータをこの伝達関数Ｇ
（ｘ）で決まる特性にてゲイン設定部４４に出力する。
ゲイン設定部４４は入力されたエラーデータにゲインＣ
を掛けた後、これをマイクロプロセッサ４の外部にある
Ｄ／Ａ変換器５に出力する。Ｄ／Ａ変換器５では、入力
されたエラーデータをアナログのエラー信号に変換した
後、パワーアンプ６に出力する。パワーアンプ６は入力
されたエラー信号に基づいて、ボイスコイルモータ７を
駆動することによりアクチュエータ８の先端をシリンダ
１の半径方向に移動させるが、その移動方向は前記減算
器４１から出力されるエラーデータが０となる方向にな
る。このような、位置制御により磁気ヘッド２は目標シ
リンダａの中心に位置決めされる。
を有し、前記入力されたエラーデータをこの伝達関数Ｇ
（ｘ）で決まる特性にてゲイン設定部４４に出力する。
ゲイン設定部４４は入力されたエラーデータにゲインＣ
を掛けた後、これをマイクロプロセッサ４の外部にある
Ｄ／Ａ変換器５に出力する。Ｄ／Ａ変換器５では、入力
されたエラーデータをアナログのエラー信号に変換した
後、パワーアンプ６に出力する。パワーアンプ６は入力
されたエラー信号に基づいて、ボイスコイルモータ７を
駆動することによりアクチュエータ８の先端をシリンダ
１の半径方向に移動させるが、その移動方向は前記減算
器４１から出力されるエラーデータが０となる方向にな
る。このような、位置制御により磁気ヘッド２は目標シ
リンダａの中心に位置決めされる。
【００１３】その後、マイクロプロセッサ４は位置制御
系が最良の特性となるようなパラメータを位置決めフィ
ルタ４３及びゲイン設定部４４に設定する制御を行う。
まず、中心変化量設定部４６は図２のイに示すような中
心位置をステップ状に変化させる中心位置変化データを
加算器４５に出力する。これにより、磁気ヘッド２、ヘ
ッド位置復調器３、マイクロプロセッサ４、Ｄ／Ａ変換
器５、パワーアンプ６、ボイスコイルモータ７及びアク
チュエータ８で構成される位置制御系は、磁気ヘッド２
の位置を前記ステップ状に変化した中心位置に追従させ
る。図２の１００はこの時の磁気ヘッド２の追従軌跡を
示した例である。この追従軌跡１００はヘッド位置復調
器３からヘッド追従特性メモリ部４７に記憶される。と
ころで、ヘッド追従特性許容範囲メモリ部４８には、位
置制御系が最良な特性を有していた場合に、前記磁気ヘ
ッド２が上記したステップ状の目標変化に対して追従す
る際に残す追従軌跡の許容範囲２００（図３参照）が予
め格納されている。そこで、パラメータ設定部５０はヘ
ッド追従特性メモリ部４７に記憶された前記ヘッド追従
軌跡１００と、ヘッド追従特性許容範囲メモリ部４８に
格納されている前記追従軌跡の許容範囲２００を比較し
て、前記ヘッドの追従軌跡１００がこの許容範囲２００
に入っているか否かをまず判定する。
系が最良の特性となるようなパラメータを位置決めフィ
ルタ４３及びゲイン設定部４４に設定する制御を行う。
まず、中心変化量設定部４６は図２のイに示すような中
心位置をステップ状に変化させる中心位置変化データを
加算器４５に出力する。これにより、磁気ヘッド２、ヘ
ッド位置復調器３、マイクロプロセッサ４、Ｄ／Ａ変換
器５、パワーアンプ６、ボイスコイルモータ７及びアク
チュエータ８で構成される位置制御系は、磁気ヘッド２
の位置を前記ステップ状に変化した中心位置に追従させ
る。図２の１００はこの時の磁気ヘッド２の追従軌跡を
示した例である。この追従軌跡１００はヘッド位置復調
器３からヘッド追従特性メモリ部４７に記憶される。と
ころで、ヘッド追従特性許容範囲メモリ部４８には、位
置制御系が最良な特性を有していた場合に、前記磁気ヘ
ッド２が上記したステップ状の目標変化に対して追従す
る際に残す追従軌跡の許容範囲２００（図３参照）が予
め格納されている。そこで、パラメータ設定部５０はヘ
ッド追従特性メモリ部４７に記憶された前記ヘッド追従
軌跡１００と、ヘッド追従特性許容範囲メモリ部４８に
格納されている前記追従軌跡の許容範囲２００を比較し
て、前記ヘッドの追従軌跡１００がこの許容範囲２００
に入っているか否かをまず判定する。
【００１４】パラメータ設定部５０は上記判定の結果、
図２に示した磁気ヘッド２の追従軌跡１００が図３に示
した許容範囲２００内に入っていた場合、位置決めフィ
ルタ４３及びゲイン設定部４４に設定されているパラメ
ータをそのままとする。しかし、前記磁気ヘッド２の追
従軌跡１００が前記許容範囲２００からはみ出している
場合には、そのはみ出し方に対応して設定パラメータ群
メモリ部４８に格納されている図４に示すようなパラメ
ータ群（１）〜（ｎ）の中から１群を選び出して、これ
らパラメータを位置決めフィルタ４３及びゲイン設定部
４４にセットする。これにより、位置決めフィルタ４３
の伝達関数Ｇ（ｘ）やゲイン設定部４４のゲインを前記
追従軌跡１００が前記許容範囲２００に入るように変化
させて、位置制御系全体の特性を最適な方向へ持ってい
く。
図２に示した磁気ヘッド２の追従軌跡１００が図３に示
した許容範囲２００内に入っていた場合、位置決めフィ
ルタ４３及びゲイン設定部４４に設定されているパラメ
ータをそのままとする。しかし、前記磁気ヘッド２の追
従軌跡１００が前記許容範囲２００からはみ出している
場合には、そのはみ出し方に対応して設定パラメータ群
メモリ部４８に格納されている図４に示すようなパラメ
ータ群（１）〜（ｎ）の中から１群を選び出して、これ
らパラメータを位置決めフィルタ４３及びゲイン設定部
４４にセットする。これにより、位置決めフィルタ４３
の伝達関数Ｇ（ｘ）やゲイン設定部４４のゲインを前記
追従軌跡１００が前記許容範囲２００に入るように変化
させて、位置制御系全体の特性を最適な方向へ持ってい
く。
【００１５】ここで、上記位置決めフィルタ４３の伝達
関数はＧ（ｘ）＝（Ｂ1 Ｚ-2＋Ｂ2Ｚ-1＋Ｂ3 Ｚ）／
（Ａ1 Ｚ-2＋Ａ2 Ｚ-1＋Ａ3 Ｚ）となる。又、ゲイン設
定部４４のゲインはＣである。従って、パラメータ設定
部５０は前記Ａ1 、Ａ2 、Ａ3、Ｂ1 、Ｂ2 、Ｂ3 及び
Ｃを設定パラメータ群メモリ部４８に格納されているパ
ラメータ群の中の最適な値に変更する。このようにし
て、位置決めフィルタ４３とゲイン設定部４４のパラメ
ータを変更すると、再び中心変化量設定部４６からステ
ップ状の中心変化データを加算器４５に出力して、上記
と同様に磁気ヘッド２の追従軌跡を求めて、これをヘッ
ド追従特性メモリ部４７に格納することにより、上記と
同様な動作をパラメータ設定部５０に行わせる。このよ
うなパラメータ設定動作は、得られたヘッド追従軌跡１
００が上記した許容範囲２００内に入るまで繰り返し行
われる。その後、通常のデータの読み書きが磁気ヘッド
２を介してディスク１に行われる。尚、上記パラメータ
の設定動作は、例えば電源の立ち上げ時等に行われるも
のとする。
関数はＧ（ｘ）＝（Ｂ1 Ｚ-2＋Ｂ2Ｚ-1＋Ｂ3 Ｚ）／
（Ａ1 Ｚ-2＋Ａ2 Ｚ-1＋Ａ3 Ｚ）となる。又、ゲイン設
定部４４のゲインはＣである。従って、パラメータ設定
部５０は前記Ａ1 、Ａ2 、Ａ3、Ｂ1 、Ｂ2 、Ｂ3 及び
Ｃを設定パラメータ群メモリ部４８に格納されているパ
ラメータ群の中の最適な値に変更する。このようにし
て、位置決めフィルタ４３とゲイン設定部４４のパラメ
ータを変更すると、再び中心変化量設定部４６からステ
ップ状の中心変化データを加算器４５に出力して、上記
と同様に磁気ヘッド２の追従軌跡を求めて、これをヘッ
ド追従特性メモリ部４７に格納することにより、上記と
同様な動作をパラメータ設定部５０に行わせる。このよ
うなパラメータ設定動作は、得られたヘッド追従軌跡１
００が上記した許容範囲２００内に入るまで繰り返し行
われる。その後、通常のデータの読み書きが磁気ヘッド
２を介してディスク１に行われる。尚、上記パラメータ
の設定動作は、例えば電源の立ち上げ時等に行われるも
のとする。
【００１６】図５は上記したパラメータを設定する動作
の概略を示したフローチャートである。まず、ステップ
５０１にてシリンダの中心位置をステップ状に変化させ
た後、ステップ５０２にて磁気ヘッド２を前記ステップ
状に変化した中心位置に追従させる位置制御を行い、こ
の時得られるヘッド追従軌跡をステップ５０３にて記憶
する。その後ステップ５０４では前記記憶したヘッド軌
跡が許容範囲内にあるか否かを判定し、許容範囲内であ
れば、ステップ５０５に進み、ここでパラメータを変更
することなく処理を終了する。一方、前記ヘッド軌跡が
許容範囲外であった場合は、ステップ５０６に進み、位
置決めフィルタ４３及びゲイン設定部４４のパラメータ
を前記ヘッド軌跡が許容範囲内に入るように変更した
後、ステップ５０１に戻る。
の概略を示したフローチャートである。まず、ステップ
５０１にてシリンダの中心位置をステップ状に変化させ
た後、ステップ５０２にて磁気ヘッド２を前記ステップ
状に変化した中心位置に追従させる位置制御を行い、こ
の時得られるヘッド追従軌跡をステップ５０３にて記憶
する。その後ステップ５０４では前記記憶したヘッド軌
跡が許容範囲内にあるか否かを判定し、許容範囲内であ
れば、ステップ５０５に進み、ここでパラメータを変更
することなく処理を終了する。一方、前記ヘッド軌跡が
許容範囲外であった場合は、ステップ５０６に進み、位
置決めフィルタ４３及びゲイン設定部４４のパラメータ
を前記ヘッド軌跡が許容範囲内に入るように変更した
後、ステップ５０１に戻る。
【００１７】本実施例によれば、電源立ち上げ時等に、
磁気ヘッド２を一旦目標シリンダａの中心に位置決めし
た後、前記中心をステップ状に変化させ、その時得られ
た前記磁気ヘッド２の追従軌跡が所定の範囲内に入るよ
うに、位置決めフィルタ４３及びゲイン設定部４４のパ
ラメータを変化させて、位置制御系が最適な特性を有す
るように調整することができる。従って、本例では経年
変化や制御系の一部部品の交換に拘らず常に磁気ヘッド
２の位置決め精度を良好に保持して、円滑且つ確実なデ
ータの読み書きを行うことができる。
磁気ヘッド２を一旦目標シリンダａの中心に位置決めし
た後、前記中心をステップ状に変化させ、その時得られ
た前記磁気ヘッド２の追従軌跡が所定の範囲内に入るよ
うに、位置決めフィルタ４３及びゲイン設定部４４のパ
ラメータを変化させて、位置制御系が最適な特性を有す
るように調整することができる。従って、本例では経年
変化や制御系の一部部品の交換に拘らず常に磁気ヘッド
２の位置決め精度を良好に保持して、円滑且つ確実なデ
ータの読み書きを行うことができる。
【００１８】尚、上記実施例では目標シリンダａの中心
位置をステップ状に変化させたが、これをｓｉｎカーブ
状に変化させたり、或いは鋸波状に変化させるなどの各
種のやり方があるが、どのように変化させても上記した
実施例と同様の構成にて同様の効果を得ることができ
る。又、上記実施例では制御系の特性を是正するための
複数組のパラメータ群を予めメモリ部４９に設定してお
き、この設定されたパラメータ群の中から最適なものを
選ぶ構成としたが、マイクロプロセッサ４が前記ヘッド
追従軌跡の許容範囲からのずれに基づいて、最適なパラ
メータを計算して求める構成としても、同様の効果があ
る。
位置をステップ状に変化させたが、これをｓｉｎカーブ
状に変化させたり、或いは鋸波状に変化させるなどの各
種のやり方があるが、どのように変化させても上記した
実施例と同様の構成にて同様の効果を得ることができ
る。又、上記実施例では制御系の特性を是正するための
複数組のパラメータ群を予めメモリ部４９に設定してお
き、この設定されたパラメータ群の中から最適なものを
選ぶ構成としたが、マイクロプロセッサ４が前記ヘッド
追従軌跡の許容範囲からのずれに基づいて、最適なパラ
メータを計算して求める構成としても、同様の効果があ
る。
【００１９】
【発明の効果】以上記述した如く本発明の磁気ディスク
装置によれば、位置制御系を構成する部品のばらつき等
により、制御系の全体特性の最良点からのずれを自動補
正して、常にヘッドの位置決め精度を良好に保持するが
できる。
装置によれば、位置制御系を構成する部品のばらつき等
により、制御系の全体特性の最良点からのずれを自動補
正して、常にヘッドの位置決め精度を良好に保持するが
できる。
【図１】本発明の磁気ディスク装置の位置制御系の一実
施例を示したブロック図。
施例を示したブロック図。
【図２】目標シリンダの中心位置をステップ状に変化さ
せた際の図１に示したヘッドの追従軌跡例を示した波形
図。
せた際の図１に示したヘッドの追従軌跡例を示した波形
図。
【図３】図１に示したヘッド追従特性許容範囲メモリ部
に格納されている許容範囲例を示した波形図。
に格納されている許容範囲例を示した波形図。
【図４】図１に示した設定パラメータ群メモリ部に格納
されているパラメータ群を示した図。
されているパラメータ群を示した図。
【図５】図１に示した位置制御系におけるパラメータを
設定する動作の概略を示したフローチャート。
設定する動作の概略を示したフローチャート。
【図６】従来の磁気ディスク装置の位置制御系の一例を
示したブロック図。
示したブロック図。
１…ディスク ２…磁気ヘッド ３…ヘッド位置復調器 ４…マイクロプ
ロセッサ ５…Ｄ／Ａ変換器 ６…パワーアン
プ ７…ボイスコイルモータ ８…アクチュエ
ータ ４１…減算器 ４２…目標位置
設定部 ４３…位置決めフィルタ ４４…ゲイン設
定部 ４５…加算器 ４６…中心変化
量設定部 ４７…ヘッド追従特性メモリ部 ４８…ヘッド追従特性許容範囲メモリ部 ４９…設定パラメータ群メモリ部 ５０…パラメー
タ設定部
ロセッサ ５…Ｄ／Ａ変換器 ６…パワーアン
プ ７…ボイスコイルモータ ８…アクチュエ
ータ ４１…減算器 ４２…目標位置
設定部 ４３…位置決めフィルタ ４４…ゲイン設
定部 ４５…加算器 ４６…中心変化
量設定部 ４７…ヘッド追従特性メモリ部 ４８…ヘッド追従特性許容範囲メモリ部 ４９…設定パラメータ群メモリ部 ５０…パラメー
タ設定部
Claims (1)
- 【請求項１】 ヘッドをディスク上の目標のシリンダの
中心に位置決めする制御系を有する磁気ディスク装置に
おいて、前記ヘッドが目標のシリンダの中心に位置決め
された状態で、前記シリンダの中心を一定期間変化させ
る目標変化手段と、この目標変化手段により前記シリン
ダの中心が変化した際の前記ヘッドの追従軌跡を記憶す
る記憶手段と、この記憶手段により記憶された前記ヘッ
ド追従軌跡と予め設定されている許容範囲とのずれを求
める比較手段と、この比較手段によって求められた前記
ずれがなくなるように前記制御系の特性を変化させるパ
ラメータを求めるパラメータ取得手段と、このパラメー
タ取得手段により求まったパラメータを前記制御系に設
定する設定手段とを具備したことを特徴とする磁気ディ
スク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27474392A JPH06131831A (ja) | 1992-10-14 | 1992-10-14 | 磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27474392A JPH06131831A (ja) | 1992-10-14 | 1992-10-14 | 磁気ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06131831A true JPH06131831A (ja) | 1994-05-13 |
Family
ID=17545975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27474392A Pending JPH06131831A (ja) | 1992-10-14 | 1992-10-14 | 磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06131831A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1146517A4 (en) * | 1998-11-26 | 2004-12-15 | Hitachi Global Storage Tech | DISK DRIVE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND DISK DRIVE CONTROL UNIT |
-
1992
- 1992-10-14 JP JP27474392A patent/JPH06131831A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1146517A4 (en) * | 1998-11-26 | 2004-12-15 | Hitachi Global Storage Tech | DISK DRIVE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND DISK DRIVE CONTROL UNIT |
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