JPH0613533Y2 - リレ−盤 - Google Patents

リレ−盤

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JPH0613533Y2
JPH0613533Y2 JP10746487U JP10746487U JPH0613533Y2 JP H0613533 Y2 JPH0613533 Y2 JP H0613533Y2 JP 10746487 U JP10746487 U JP 10746487U JP 10746487 U JP10746487 U JP 10746487U JP H0613533 Y2 JPH0613533 Y2 JP H0613533Y2
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JP
Japan
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test
board
pin
pinboard
door
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JP10746487U
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English (en)
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JPS6412408U (ja
Inventor
高 本嶋
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Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、前面に扉を有しその内部に試験用ピンボード
が設けられたタイプのリレー盤に係り、詳しくは、試験
用ピンボードのピン挿し込み部分の構造に関する。
〈従来の技術〉 従来上記構成のリレー盤においては、内部のリレー装置
のシーケンステストなどを行う時に、正面の扉を開いて
試験用ピンボードを露出させ、試験用ピンボードもしく
はその近傍に予め保持しておいた試験用ピンを試験用ピ
ンボードの所要のジャックに差し込むようにしていた。
〈考案が解決しようとする問題点〉 しかし、上記従来構造では、試験用ピンボードに試験用
ピンを差したままでも扉を閉じることができるために、
テスト終了後に試験用ピンを試験用ジャックに挿し込ん
だまま元の位置に戻し忘れ、その状態で扉を閉じてしま
つて、実運転時に誤動作をもたらすおそれがあつた。
本考案は、試験用ピンボードのピン挿し込み部分の構造
に改良を加えることで、試験用ピンの抜き忘れ、戻し忘
れを確実に防止することを目的とする。
〈問題点を解決するための手段〉 そこで、本考案においては、盤ケースの前面に扉を設
け、その内部に試験用回路が形成された試験用ピンボー
ドを設けたリレー盤において、前記試験用ピンボードの
近傍で該ピンボードより退入した位置に、試験用ピンを
差込み保持する保管用ピンボードを設けるとともに、試
験用ピンボードの前面には、試験用ピンが差し込まれて
いない試験用ピンボードを被覆可能でかつ試験用ピンボ
ードに差し込まれた試験用ピンにより閉止が阻止される
保護カバーを開閉自在に設け、この保護カバーの延出長
さを、該カバーが試験用ピンボードに差し込まれた試験
用ピンにより閉止を阻止された状態では扉の閉止に干渉
する位置に延出する程度の長さとした。
〈作用〉 上記構成によると、試験用ピンを試験用ピンボードに差
込んだ状態では、保護カバーを閉じることができず、か
つ、これに伴なって扉を閉じることが不能となり、全て
のピンが保管用ピンボードに差込み保管されている場合
のみ、保護カバー及び扉を閉じることが可能となる。
〈実施例〉 以下、本考案の詳細を図示の一実施例に基づいて説明す
る。
第1図にリレー盤の全体が示されている。このリレー盤
は、縦形箱状の盤ケース1の前面に観音開き式の扉2、
2が上下複数段設けられ、各段の内部に左右一対づつの
リレーユニット(図示せず)が収められている。
各段の下部には、前方下方に揺動開放される保護カバー
3が備えられ、その内部にシーケンステストなどを行な
う試験用ピンボード4が配備されている。この試験用ピ
ンボード4には試験用回路が形成されている。
第2図は保護カバー3の内部を示しており、前記試験用
ピンボード4には試験用ピン5を差込むピンジャック6
が多数設けられている。このボード4の下部に、試験用
ピン5を差込み保管するピンジャック7を備えた保管用
ピンボード8が設けられている。この保管用ピンボード
8は試験用ピンボード4より一定間隔退入している。
保護カバー3は、試験用ピンボード4と保管用ピンボー
ド8とを覆うもので、保管用ボード8にピン5を差込み
保管した状態では閉じ位置に操作できるが、ピン5を試
験用ピンボード4に差込んだ状態ではピン5の頭部が保
護カバー3の閉じ位置に干渉して閉じ操作ができないよ
うになっている。また、保護カバー3は、扉2の閉止位
置に達する延出長さを有し、開放した状態では、前方に
突出し、扉2の閉じ位置と干渉して扉2の閉じを牽制す
るようになっている。
〈考案の効果〉 以上のように、本考案によれば、試験用ピンボードのピ
ン抜き忘れがある場合は扉を閉じることができず、ピン
を試験用のジャックに差したままで実運転に入ることを
未然に防止できるようになった。
又、テスト中はカバーを閉じることができないので、テ
スト担当者が現場を離れても、他人がテスト中であるこ
とを容易に認識することができ、誤ってテスト中の盤を
操作することも未然に防止できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はリレー盤の全体外観図、第2図は要部縦断側面
図、である。 1……盤ケース、2……正面カバー、3……保護カバ
ー、 4……試験用ピンボード、5……試験用ピン、 8……保管用ピンボード、

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】盤ケースの前面に扉を設け、その内部に試
    験用回路が形成された試験用ピンボードを設けたリレー
    盤において、 前記試験用ピンボードの近傍で該ピンボードより退入し
    た位置に、試験用ピンを差込み保持する保管用ピンボー
    ドを設けるとともに、試験用ピンボードの前面には、試
    験用ピンが差し込まれていない試験用ピンボードを被覆
    可能でかつ試験用ピンボードに差し込まれた試験用ピン
    により閉止が阻止される保護カバーを開閉自在に設け、
    この保護カバーの延出長さを、該カバーが試験用ピンボ
    ードに差し込まれた試験用ピンにより閉止を阻止された
    状態では扉の閉止に干渉する位置に延出する程度の長さ
    としたことを特徴とするリレー盤。
JP10746487U 1987-07-13 1987-07-13 リレ−盤 Expired - Lifetime JPH0613533Y2 (ja)

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JP10746487U JPH0613533Y2 (ja) 1987-07-13 1987-07-13 リレ−盤

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Publication Number Publication Date
JPS6412408U JPS6412408U (ja) 1989-01-23
JPH0613533Y2 true JPH0613533Y2 (ja) 1994-04-06

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JP10746487U Expired - Lifetime JPH0613533Y2 (ja) 1987-07-13 1987-07-13 リレ−盤

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