JPH06140468A - インナリードボンダ - Google Patents
インナリードボンダInfo
- Publication number
- JPH06140468A JPH06140468A JP4287171A JP28717192A JPH06140468A JP H06140468 A JPH06140468 A JP H06140468A JP 4287171 A JP4287171 A JP 4287171A JP 28717192 A JP28717192 A JP 28717192A JP H06140468 A JPH06140468 A JP H06140468A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- die stage
- inner lead
- bonding
- chip
- carrier tape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、キャリアテープとチップ部品とを
高精度に位置決めするとともにコスト低減を図ることを
目的とする。 【構成】 ボンディングポジションにおけるキャリアテ
ープ1及びチップ部品7の位置認識を行う共通の認識カ
メラ13をボンディングポジションの上方に三次元方向
に移動可能に設置したことを特徴とする。
高精度に位置決めするとともにコスト低減を図ることを
目的とする。 【構成】 ボンディングポジションにおけるキャリアテ
ープ1及びチップ部品7の位置認識を行う共通の認識カ
メラ13をボンディングポジションの上方に三次元方向
に移動可能に設置したことを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、キャリアテープ上に形
成されたインナリードとICチップ等のチップ部品の電
極部とを接合するインナリードボンダに関する。
成されたインナリードとICチップ等のチップ部品の電
極部とを接合するインナリードボンダに関する。
【0002】
【従来の技術】インナリードボンダは、正確なボンディ
ング(接合)を行うために、キャリアテープとICチッ
プ等の位置認識を行ったのち、ボンディングツールによ
るボンディングが行われる。このような位置認識におい
て、従来のインナリードボンダは、各々専用の独立した
認識カメラが使用され、キャリアテープは、ボンディン
グポジションにおいて位置認識され、一方ICチップは
ダイステージ上に搬送後、ボンディングポジションに移
動する前に位置認識されるようになっていた。
ング(接合)を行うために、キャリアテープとICチッ
プ等の位置認識を行ったのち、ボンディングツールによ
るボンディングが行われる。このような位置認識におい
て、従来のインナリードボンダは、各々専用の独立した
認識カメラが使用され、キャリアテープは、ボンディン
グポジションにおいて位置認識され、一方ICチップは
ダイステージ上に搬送後、ボンディングポジションに移
動する前に位置認識されるようになっていた。
【0003】また、インナリードボンダは、ボンディン
グを行うと、キャリアテープに使用されている接着剤
や、ICチップの裏面に付着しているウエーハ引伸しシ
ートの接着剤等の汚れにより、ダイステージが汚れてし
まう。さらに、大量にボンディングを行うと、それらの
汚れが堆積し、次の様な悪影響を引き起す。即ち、
(1)ICチップ下に汚れがあると、ICチップ面とボ
ンディングツールとの平行度に狂いが生じ、ICチップ
上の全電極に均一な荷重がかからず、ボンディング不良
を生じる。(2)ICチップ裏面とダイステージ表面が
貼り付き、ボンディング終了時にICチップが下方に引
っぱられ、ボンディング部剥離等の不良が生じる。
(3)ICチップをダイステージ上にバキューム吸着で
固定しているので、ICチップ裏面とダイステージ表面
に隙間ができてバキュームが漏れるためICチップが固
定されない。これに対し、従来のインナリードボンダで
は、一定回数のボンディング毎に人手でダイステージの
クリーニング作業を行っていた。
グを行うと、キャリアテープに使用されている接着剤
や、ICチップの裏面に付着しているウエーハ引伸しシ
ートの接着剤等の汚れにより、ダイステージが汚れてし
まう。さらに、大量にボンディングを行うと、それらの
汚れが堆積し、次の様な悪影響を引き起す。即ち、
(1)ICチップ下に汚れがあると、ICチップ面とボ
ンディングツールとの平行度に狂いが生じ、ICチップ
上の全電極に均一な荷重がかからず、ボンディング不良
を生じる。(2)ICチップ裏面とダイステージ表面が
貼り付き、ボンディング終了時にICチップが下方に引
っぱられ、ボンディング部剥離等の不良が生じる。
(3)ICチップをダイステージ上にバキューム吸着で
固定しているので、ICチップ裏面とダイステージ表面
に隙間ができてバキュームが漏れるためICチップが固
定されない。これに対し、従来のインナリードボンダで
は、一定回数のボンディング毎に人手でダイステージの
クリーニング作業を行っていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のインナリードボ
ンダでは、キャリアテープとICチップとを、各々独立
した認識カメラで認識していたため、一方の認識カメラ
のみがボンディング時の熱の影響を受ける、或いは振動
等の外乱の影響を受けて2台の認識カメラの位置に狂い
が生じ、これらが位置ずれの原因となり易く精度のよい
位置決めが難しい。また同種のカメラ系を2系統に設置
することはコスト的に不利であるという問題があった。
また、ダイステージの汚れに対しては、一定回数のボン
ディング毎に人手でクリーニング作業を行っていたた
め、一定回数のボンディング毎に人手が必要となって効
率が悪いという問題があった。
ンダでは、キャリアテープとICチップとを、各々独立
した認識カメラで認識していたため、一方の認識カメラ
のみがボンディング時の熱の影響を受ける、或いは振動
等の外乱の影響を受けて2台の認識カメラの位置に狂い
が生じ、これらが位置ずれの原因となり易く精度のよい
位置決めが難しい。また同種のカメラ系を2系統に設置
することはコスト的に不利であるという問題があった。
また、ダイステージの汚れに対しては、一定回数のボン
ディング毎に人手でクリーニング作業を行っていたた
め、一定回数のボンディング毎に人手が必要となって効
率が悪いという問題があった。
【0005】そこで、本発明は、キャリアテープとチッ
プ部品とを高精度に位置決めすることができるとともに
コスト低減を図ることができ、またダイステージを効率
よくクリーニングすることができてボンディング歩留り
を向上させることのできるインナリードボンダを提供す
ることを目的とする。
プ部品とを高精度に位置決めすることができるとともに
コスト低減を図ることができ、またダイステージを効率
よくクリーニングすることができてボンディング歩留り
を向上させることのできるインナリードボンダを提供す
ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、第1に、キャリアテープ上に形成された
インナリードをボンディングポジションに送る一方、チ
ップ部品を載せたダイステージを前記インナリードの下
方に移動させ、ボンディングツールで前記インナリード
を前記チップ部品の電極部に接合するインナリードボン
ダにおいて、前記ボンディングポジションにおける前記
キャリアテープ及びチップ部品の位置認識を行う共通の
認識カメラを前記ボンディングポジションの上方に三次
元方向に移動可能に設置してなることを要旨とする。
に、本発明は、第1に、キャリアテープ上に形成された
インナリードをボンディングポジションに送る一方、チ
ップ部品を載せたダイステージを前記インナリードの下
方に移動させ、ボンディングツールで前記インナリード
を前記チップ部品の電極部に接合するインナリードボン
ダにおいて、前記ボンディングポジションにおける前記
キャリアテープ及びチップ部品の位置認識を行う共通の
認識カメラを前記ボンディングポジションの上方に三次
元方向に移動可能に設置してなることを要旨とする。
【0007】第2に、キャリアテープ上に形成されたイ
ンナリードをボンディングポジションに送る一方、チッ
プ部品を載せたダイステージを前記インナリードの下方
に移動させ、ボンディングツールで前記インナリードを
前記チップ部品の電極部に接合するインナリードボンダ
において、前記ダイステージをクリーニングするダイス
テージクリーニング用ツールを当該ダイステージ上方に
設けてなることを要旨とする。
ンナリードをボンディングポジションに送る一方、チッ
プ部品を載せたダイステージを前記インナリードの下方
に移動させ、ボンディングツールで前記インナリードを
前記チップ部品の電極部に接合するインナリードボンダ
において、前記ダイステージをクリーニングするダイス
テージクリーニング用ツールを当該ダイステージ上方に
設けてなることを要旨とする。
【0008】第3に、上記第2の構成において、前記ダ
イステージクリーニング用ツールが前記ダイステージに
押し当てられたのち、当該ダイステージクリーニング用
ツール又は前記ダイステージの少なくとも何れか一方を
当該押し当て方向に直交するX,Y,θ方向の少なくと
も一方向に移動させるように構成してなることを要旨と
する。
イステージクリーニング用ツールが前記ダイステージに
押し当てられたのち、当該ダイステージクリーニング用
ツール又は前記ダイステージの少なくとも何れか一方を
当該押し当て方向に直交するX,Y,θ方向の少なくと
も一方向に移動させるように構成してなることを要旨と
する。
【0009】
【作用】上記構成において、第1に、ダイステージ上の
チップ部品とキャリアテープに形成されたインナリード
のうち、例えば早くボンディングポジションへ移動した
方から共通の認識カメラによりそれぞれ位置認識が行わ
れる。このとき、キャリアテープとチップ部品の高さに
差異があるので認識カメラは上下方向に可動され、各々
にピントが合わせられて位置認識が行われる。チップ部
品の位置認識の際キャリアテープが妨げになることが考
えられるが、チップ部品はキャリアテープ上のデバイス
ホールを通して位置認識が可能である。キャリアテープ
とチップ部品の位置認識の終了後、両者間のずれ量が、
例えばダイステージの位置修正により補正される。この
あとボンディングツールでインナリードがチップ部品の
電極部にボンディングされる。キャリアテープとチップ
部品とは共通の認識カメラで位置認識されるので、各々
独立した認識カメラで位置認識を行った場合のように、
熱、振動等の外乱によるカメラ間の位置ずれが防止され
てキャリアテープとチップ部品とを高精度に位置決めす
ることが可能となる。またカメラ系を1系統廃止するこ
とができるのでコストダウンが可能となる。
チップ部品とキャリアテープに形成されたインナリード
のうち、例えば早くボンディングポジションへ移動した
方から共通の認識カメラによりそれぞれ位置認識が行わ
れる。このとき、キャリアテープとチップ部品の高さに
差異があるので認識カメラは上下方向に可動され、各々
にピントが合わせられて位置認識が行われる。チップ部
品の位置認識の際キャリアテープが妨げになることが考
えられるが、チップ部品はキャリアテープ上のデバイス
ホールを通して位置認識が可能である。キャリアテープ
とチップ部品の位置認識の終了後、両者間のずれ量が、
例えばダイステージの位置修正により補正される。この
あとボンディングツールでインナリードがチップ部品の
電極部にボンディングされる。キャリアテープとチップ
部品とは共通の認識カメラで位置認識されるので、各々
独立した認識カメラで位置認識を行った場合のように、
熱、振動等の外乱によるカメラ間の位置ずれが防止され
てキャリアテープとチップ部品とを高精度に位置決めす
ることが可能となる。またカメラ系を1系統廃止するこ
とができるのでコストダウンが可能となる。
【0010】第2に、インナリードボンディングの連続
自動運転中の例えば一定回数のボンディング毎に、ダイ
ステージクリーニング用ツールで自動的にダイステージ
のクリーニングが行われる。これにより効率のよいダイ
ステージクリーニングが可能となりダイステージの汚れ
が原因のボンディング不良が顕著に減少する。
自動運転中の例えば一定回数のボンディング毎に、ダイ
ステージクリーニング用ツールで自動的にダイステージ
のクリーニングが行われる。これにより効率のよいダイ
ステージクリーニングが可能となりダイステージの汚れ
が原因のボンディング不良が顕著に減少する。
【0011】第3に、ダイステージクリーニングは、具
体的にはダイステージクリーニング用ツールがダイステ
ージに押し当てられたのち、ダイステージクリーニング
用ツール又はダイステージの少なくとも何れか一方をそ
の押し当て方向に直交するX,Y,θ方向の少なくとも
一方向に移動させることにより行われる。これによりダ
イステージのクリーニングが確実に行われる。
体的にはダイステージクリーニング用ツールがダイステ
ージに押し当てられたのち、ダイステージクリーニング
用ツール又はダイステージの少なくとも何れか一方をそ
の押し当て方向に直交するX,Y,θ方向の少なくとも
一方向に移動させることにより行われる。これによりダ
イステージのクリーニングが確実に行われる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
【0013】図1及び図2は、本発明の第1実施例を示
す図である。本実施例は、キャリアテープとICチップ
とを共通の認識カメラで位置認識するようにしたもので
ある。まず、インナリードボンダの構成を説明すると、
図1において、1はキャリアテープであり、長さ方向の
一定間隔毎にデバイスホール2が開口され、このデバイ
スホール2の部分にインナリード3が形成されている。
キャリアテープ1はテープガイド5によって導かれ、テ
ープ送り用のスプロケットホイールで駆動されてインナ
リード3の部分がテープガイド5中央部の開口部からな
るボンディングポジションに順次送られるようになって
いる。7はチップ部品としてのICチップであり、周知
のように、その表面部には複数個の電極部が形成されて
いる。ICチップ7のピックアップポジションには、I
Cチップセット用のトレイ9を備えたトレイステージ8
が設置されている。10はピックアップヘッドである。
11はダイステージであり、ピックアップポジションか
ら搬送されたICチップ7が載せられるようになってい
る。ダイステージ11は、X,Y,Z,θ方向に移動可
能で位置修正も可能になっている。12はボンディング
ツールであり、X,Y方向に移動してボンディングポジ
ション上に位置設定されたのち下方に動くようになって
いる。また、ボンディングポジションの上方には、キャ
リアテープ1とICチップ7の位置認識を行うためのC
CDカメラからなる共通の認識カメラ13が設置されて
いる。14はそのカメラ鏡筒であり、認識カメラ13及
びカメラ鏡筒14は、ブラケット15に支持されてX,
Y方向に移動可能で、さらにキャリアテープ1とICチ
ップ7の高さの差異によるピントのずれを補正するため
に、上下方向に可動となっている。図2は、認識カメラ
13の上下動機構を示している。カメラ取付部20に上
下方向に設けられたレール17でガイドされるスライダ
ー16にブラケット15が固定され、スライダー16が
パルスモータ19で回転されるカム18により上下方向
に駆動されるようになっている。キャリアテープ1とI
Cチップの各々の位置認識の際のカメラ鏡筒14の位置
(パルスモータ19の停止位置)は、予めティーチング
されている。
す図である。本実施例は、キャリアテープとICチップ
とを共通の認識カメラで位置認識するようにしたもので
ある。まず、インナリードボンダの構成を説明すると、
図1において、1はキャリアテープであり、長さ方向の
一定間隔毎にデバイスホール2が開口され、このデバイ
スホール2の部分にインナリード3が形成されている。
キャリアテープ1はテープガイド5によって導かれ、テ
ープ送り用のスプロケットホイールで駆動されてインナ
リード3の部分がテープガイド5中央部の開口部からな
るボンディングポジションに順次送られるようになって
いる。7はチップ部品としてのICチップであり、周知
のように、その表面部には複数個の電極部が形成されて
いる。ICチップ7のピックアップポジションには、I
Cチップセット用のトレイ9を備えたトレイステージ8
が設置されている。10はピックアップヘッドである。
11はダイステージであり、ピックアップポジションか
ら搬送されたICチップ7が載せられるようになってい
る。ダイステージ11は、X,Y,Z,θ方向に移動可
能で位置修正も可能になっている。12はボンディング
ツールであり、X,Y方向に移動してボンディングポジ
ション上に位置設定されたのち下方に動くようになって
いる。また、ボンディングポジションの上方には、キャ
リアテープ1とICチップ7の位置認識を行うためのC
CDカメラからなる共通の認識カメラ13が設置されて
いる。14はそのカメラ鏡筒であり、認識カメラ13及
びカメラ鏡筒14は、ブラケット15に支持されてX,
Y方向に移動可能で、さらにキャリアテープ1とICチ
ップ7の高さの差異によるピントのずれを補正するため
に、上下方向に可動となっている。図2は、認識カメラ
13の上下動機構を示している。カメラ取付部20に上
下方向に設けられたレール17でガイドされるスライダ
ー16にブラケット15が固定され、スライダー16が
パルスモータ19で回転されるカム18により上下方向
に駆動されるようになっている。キャリアテープ1とI
Cチップの各々の位置認識の際のカメラ鏡筒14の位置
(パルスモータ19の停止位置)は、予めティーチング
されている。
【0014】次に、上述のように構成されたインナリー
ドボンダの動作を説明する。トレイステージ8上のトレ
イ9にセットされたICチップ7は、ピックアップヘッ
ド10によってダイステージ11上に1個づつ搬送さ
れ、ダイステージ11上に真空吸着により固定される。
ICチップ7を載せたダイステージ11はキャリアテー
プ1下方のボンディングポジションへ移動する。一方、
キャリアテープ1はテープガイド5に導かれて搬送され
インナリード3がボンディングポジションに送られる。
ICチップ7とインナリード3のうち、早くボンディン
グポジションへ移動した方から、認識カメラ13により
位置認識が行われる。このとき、図2に示すようにキャ
リアテープ1とICチップ7の高さに差異があるので、
認識カメラ13が上下方向に可動され、各々にピントが
合わせられて位置認識が行われる。ここで、ICチップ
7を位置認識する際に、キャリアテープ1が妨げになる
ことが考えられるが、ICチップ7はデバイスホール2
を通して位置認識が可能である。キャリアテープ1とI
Cチップ7の位置認識の終了後、両者間のずれ量がダイ
ステージ11により補正される。このあと、ダイステー
ジ11が上昇し、ボンディングツール12でインナリー
ド3がICチップ7の電極部にボンディングされる。
ドボンダの動作を説明する。トレイステージ8上のトレ
イ9にセットされたICチップ7は、ピックアップヘッ
ド10によってダイステージ11上に1個づつ搬送さ
れ、ダイステージ11上に真空吸着により固定される。
ICチップ7を載せたダイステージ11はキャリアテー
プ1下方のボンディングポジションへ移動する。一方、
キャリアテープ1はテープガイド5に導かれて搬送され
インナリード3がボンディングポジションに送られる。
ICチップ7とインナリード3のうち、早くボンディン
グポジションへ移動した方から、認識カメラ13により
位置認識が行われる。このとき、図2に示すようにキャ
リアテープ1とICチップ7の高さに差異があるので、
認識カメラ13が上下方向に可動され、各々にピントが
合わせられて位置認識が行われる。ここで、ICチップ
7を位置認識する際に、キャリアテープ1が妨げになる
ことが考えられるが、ICチップ7はデバイスホール2
を通して位置認識が可能である。キャリアテープ1とI
Cチップ7の位置認識の終了後、両者間のずれ量がダイ
ステージ11により補正される。このあと、ダイステー
ジ11が上昇し、ボンディングツール12でインナリー
ド3がICチップ7の電極部にボンディングされる。
【0015】上述したように、本実施例によれば、従来
技術の問題点であったテープ認識カメラとチップ認識カ
メラの熱、振動等の外乱による位置ずれを防止すること
ができてキャリアテープ1とICチップ7とを高精度に
位置決めすることが可能となる。また、カメラ系を1系
統廃止することができるので、コストダウンにもつなが
る。
技術の問題点であったテープ認識カメラとチップ認識カ
メラの熱、振動等の外乱による位置ずれを防止すること
ができてキャリアテープ1とICチップ7とを高精度に
位置決めすることが可能となる。また、カメラ系を1系
統廃止することができるので、コストダウンにもつなが
る。
【0016】なお、本実施例では、認識カメラを上下さ
せてピントの補正を行っているが、カメラ鏡筒のワーク
ディスタンスを可変にしてもよい。また、認識カメラを
上下させるアクチュエータとしてカムとパルスモータを
使用しているが、エアシリンダ、ボールねじ、リンク等
を使用してもよい。
せてピントの補正を行っているが、カメラ鏡筒のワーク
ディスタンスを可変にしてもよい。また、認識カメラを
上下させるアクチュエータとしてカムとパルスモータを
使用しているが、エアシリンダ、ボールねじ、リンク等
を使用してもよい。
【0017】次いで、図3には、本発明の第2実施例を
示す。本実施例は、ダイステージをクリーニングするダ
イステージクリーニング用ツールを設けたものである。
図3において、6はテープガイド5中央部の開口部から
なるボンディングポジション、21はキャリアテープ送
り用のスプロケットホイールであり、パルスモータで駆
動されるようになっている。本実施例のインナリードボ
ンダは、ボンディングツールを2本装着することが可能
な構造となっており、このうち、図の左側のボンディン
グツール取付部24にダイステージクリーニング用ツー
ル22が装着され、右側のボンディングツール取付部2
3にボンディングツール12が装着されている。両ツー
ル取付部23,24は同じ構造をしており、両者とも
X,Y,Z方向に移動可能である。ダイステージクリー
ニング用ツール22の先端部には、平坦なアルミナセラ
ミック砥石が用いられている。25はエアブローノズル
であり、ダイステージクリーニングの終了後、ダイステ
ージ11上に発生したゴミを除去するためにダイステー
ジ11のICチップ載置位置に向って設けられている。
このエアブローノズル25により、次のICチップ7が
載せられる前にダイステージ11上面がエアブローされ
る。なお、エアブローにより飛散したゴミを回収する場
合には、回収用の吸着ノズルを設けるとよい。
示す。本実施例は、ダイステージをクリーニングするダ
イステージクリーニング用ツールを設けたものである。
図3において、6はテープガイド5中央部の開口部から
なるボンディングポジション、21はキャリアテープ送
り用のスプロケットホイールであり、パルスモータで駆
動されるようになっている。本実施例のインナリードボ
ンダは、ボンディングツールを2本装着することが可能
な構造となっており、このうち、図の左側のボンディン
グツール取付部24にダイステージクリーニング用ツー
ル22が装着され、右側のボンディングツール取付部2
3にボンディングツール12が装着されている。両ツー
ル取付部23,24は同じ構造をしており、両者とも
X,Y,Z方向に移動可能である。ダイステージクリー
ニング用ツール22の先端部には、平坦なアルミナセラ
ミック砥石が用いられている。25はエアブローノズル
であり、ダイステージクリーニングの終了後、ダイステ
ージ11上に発生したゴミを除去するためにダイステー
ジ11のICチップ載置位置に向って設けられている。
このエアブローノズル25により、次のICチップ7が
載せられる前にダイステージ11上面がエアブローされ
る。なお、エアブローにより飛散したゴミを回収する場
合には、回収用の吸着ノズルを設けるとよい。
【0018】次に、ダイステージクリーニング用ツール
22によるダイステージクリーニングの動作を説明す
る。本実施例では、ダイステージクリーニングはボンデ
ィングポジション6で行うため、キャリアテープ1には
一定間隔毎(例えばデバイスホール2の100〜200
個間隔程度毎)にダイステージクリーニング用の孔4が
設けられている。連続運転中に、例えば光ファイバセン
サ等によりクリーニング用孔4を検知して、その孔4が
ボンディングポジション6に送られた時にダイステージ
クリーニングが行われる。ダイステージクリーニングを
行う際には、ダイステージ11上にICチップ7は載せ
られず、ダイステージ11のみをボンディングポジショ
ン6に移動させて上昇させる。一方、ダイステージクリ
ーニング用ツール22もボンディングポジション6に移
動させて下降させる。そしてダイステージ11の表面と
ダイステージクリーニング用ツール22の表面を接触さ
せ、適度な荷重をかけて、少なくともどちから一方を
X,Y,θ方向の少なくとも一方向に移動させることに
よりダイステージクリーニングを行う。どの方向の軸に
対してどの様に動かすかは、予めティーチングしてお
く。
22によるダイステージクリーニングの動作を説明す
る。本実施例では、ダイステージクリーニングはボンデ
ィングポジション6で行うため、キャリアテープ1には
一定間隔毎(例えばデバイスホール2の100〜200
個間隔程度毎)にダイステージクリーニング用の孔4が
設けられている。連続運転中に、例えば光ファイバセン
サ等によりクリーニング用孔4を検知して、その孔4が
ボンディングポジション6に送られた時にダイステージ
クリーニングが行われる。ダイステージクリーニングを
行う際には、ダイステージ11上にICチップ7は載せ
られず、ダイステージ11のみをボンディングポジショ
ン6に移動させて上昇させる。一方、ダイステージクリ
ーニング用ツール22もボンディングポジション6に移
動させて下降させる。そしてダイステージ11の表面と
ダイステージクリーニング用ツール22の表面を接触さ
せ、適度な荷重をかけて、少なくともどちから一方を
X,Y,θ方向の少なくとも一方向に移動させることに
よりダイステージクリーニングを行う。どの方向の軸に
対してどの様に動かすかは、予めティーチングしてお
く。
【0019】本実施例によれば、一定回数のボンディン
グ毎に人手によるダイステージのクリーニング作業を行
う必要がなくなる。また、一定回数のボンディング毎に
自動的にダイステージクリーニングが行われるので、ダ
イステージの汚れが原因の不良を減少させることができ
る。
グ毎に人手によるダイステージのクリーニング作業を行
う必要がなくなる。また、一定回数のボンディング毎に
自動的にダイステージクリーニングが行われるので、ダ
イステージの汚れが原因の不良を減少させることができ
る。
【0020】なお、本実施例では、ダイステージクリー
ニング用ツールをボンディングツール取付部に取付けた
が、ダイステージクリーニング専用のユニットを別に設
けてもよい。また、キャリアテープの搬送線上以外の場
所でダイステージクリーニングを行えば、キャリアテー
プに一定間隔毎のクリーニング用孔を設ける必要はな
い。さらに、ダイステージの材質(例えばステンレス、
セラミック、ガラス等)により、ダイステージクリーニ
ング用ツールの形状、材質を、例えばタングステンブラ
シ等その他に変えてもよい。
ニング用ツールをボンディングツール取付部に取付けた
が、ダイステージクリーニング専用のユニットを別に設
けてもよい。また、キャリアテープの搬送線上以外の場
所でダイステージクリーニングを行えば、キャリアテー
プに一定間隔毎のクリーニング用孔を設ける必要はな
い。さらに、ダイステージの材質(例えばステンレス、
セラミック、ガラス等)により、ダイステージクリーニ
ング用ツールの形状、材質を、例えばタングステンブラ
シ等その他に変えてもよい。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
第1に、ボンディングポジションにおけるキャリアテー
プ及びチップ部品の位置認識を行う共通の認識カメラを
ボンディングポジションの上方に三次元方向に移動可能
に設置したため、キャリアテープとチップ部品とを各々
独立した認識カメラで位置認識を行う場合のように、
熱、振動等の外乱によるカメラ間の位置ずれが防止され
てキャリアテープとチップ部品とを高精度に位置決めす
ることができ、ボンディング歩留りを向上させることが
できる。また、カメラ系を1系統廃止することができて
コスト低減を図ることができる。
第1に、ボンディングポジションにおけるキャリアテー
プ及びチップ部品の位置認識を行う共通の認識カメラを
ボンディングポジションの上方に三次元方向に移動可能
に設置したため、キャリアテープとチップ部品とを各々
独立した認識カメラで位置認識を行う場合のように、
熱、振動等の外乱によるカメラ間の位置ずれが防止され
てキャリアテープとチップ部品とを高精度に位置決めす
ることができ、ボンディング歩留りを向上させることが
できる。また、カメラ系を1系統廃止することができて
コスト低減を図ることができる。
【0022】第2に、ダイステージをクリーニングする
ダイステージクリーニング用ツールをダイステージ上方
に設けたため、インナリードボンディングの連続自動運
転中の例えば一定回数のボンディング毎にダイステージ
を自動的にクリーニングすることができて効率のよいダ
イステージクリーニングを実現することができ、ダイス
テージの汚れが原因のボンディング不良が確実に減少し
てボンディング歩留りを向上させることができる。
ダイステージクリーニング用ツールをダイステージ上方
に設けたため、インナリードボンディングの連続自動運
転中の例えば一定回数のボンディング毎にダイステージ
を自動的にクリーニングすることができて効率のよいダ
イステージクリーニングを実現することができ、ダイス
テージの汚れが原因のボンディング不良が確実に減少し
てボンディング歩留りを向上させることができる。
【0023】第3に、ダイステージクリーニングは、具
体的にはダイステージクリーニング用ツールがダイステ
ージに押し当てられたのち、ダイステージクリーニング
用ツール又はダイステージの少なくとも何れか一方をそ
の押し当て方向に直交するX,Y,θ方向の少なくとも
一方向に移動させるようにしたため、ダイステージクリ
ーニングの確実性が保証される。
体的にはダイステージクリーニング用ツールがダイステ
ージに押し当てられたのち、ダイステージクリーニング
用ツール又はダイステージの少なくとも何れか一方をそ
の押し当て方向に直交するX,Y,θ方向の少なくとも
一方向に移動させるようにしたため、ダイステージクリ
ーニングの確実性が保証される。
【図1】本発明に係るインナリードボンダの第1実施例
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図2】図1における認識カメラの上下動機構部分を拡
大して示す図である。
大して示す図である。
【図3】本発明の第2実施例を示す斜視図である。
1 キャリアテープ 3 インナリード 6 ボンディングポジション 7 ICチップ(チップ部品) 11 ダイステージ 12 ボンディングツール 13 認識カメラ 22 ダイステージクリーニング用ツール
Claims (3)
- 【請求項1】 キャリアテープ上に形成されたインナリ
ードをボンディングポジションに送る一方、チップ部品
を載せたダイステージを前記インナリードの下方に移動
させ、ボンディングツールで前記インナリードを前記チ
ップ部品の電極部に接合するインナリードボンダにおい
て、 前記ボンディングポジションにおける前記キャリアテー
プ及びチップ部品の位置認識を行う共通の認識カメラを
前記ボンディングポジションの上方に三次元方向に移動
可能に設置してなることを特徴とするインナリードボン
ダ。 - 【請求項2】 キャリアテープ上に形成されたインナリ
ードをボンディングポジションに送る一方、チップ部品
を載せたダイステージを前記インナリードの下方に移動
させ、ボンディングツールで前記インナリードを前記チ
ップ部品の電極部に接合するインナリードボンダにおい
て、 前記ダイステージをクリーニングするダイステージクリ
ーニング用ツールを当該ダイステージ上方に設けてなる
ことを特徴とするインナリードボンダ。 - 【請求項3】 前記ダイステージクリーニング用ツール
が前記ダイステージに押し当てられたのち、当該ダイス
テージクリーニング用ツール又は前記ダイステージの少
なくとも何れか一方を当該押し当て方向に直交するX,
Y,θ方向の少なくとも一方向に移動させるように構成
してなることを特徴とする請求項2記載のインナリード
ボンダ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4287171A JPH06140468A (ja) | 1992-10-26 | 1992-10-26 | インナリードボンダ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4287171A JPH06140468A (ja) | 1992-10-26 | 1992-10-26 | インナリードボンダ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06140468A true JPH06140468A (ja) | 1994-05-20 |
Family
ID=17714001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4287171A Pending JPH06140468A (ja) | 1992-10-26 | 1992-10-26 | インナリードボンダ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06140468A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007189015A (ja) * | 2006-01-12 | 2007-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品圧着方法 |
| JP2007189014A (ja) * | 2006-01-12 | 2007-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品圧着装置 |
| EP4742301A1 (en) * | 2024-11-11 | 2026-05-13 | ASML Netherlands B.V. | Bonding apparatus |
-
1992
- 1992-10-26 JP JP4287171A patent/JPH06140468A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007189015A (ja) * | 2006-01-12 | 2007-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品圧着方法 |
| JP2007189014A (ja) * | 2006-01-12 | 2007-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品圧着装置 |
| EP4742301A1 (en) * | 2024-11-11 | 2026-05-13 | ASML Netherlands B.V. | Bonding apparatus |
| WO2026098870A1 (en) * | 2024-11-11 | 2026-05-15 | Asml Netherlands B.V. | Bonding apparatus |
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