JPH06150010A - 画像信号の分析装置 - Google Patents

画像信号の分析装置

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JPH06150010A
JPH06150010A JP30262892A JP30262892A JPH06150010A JP H06150010 A JPH06150010 A JP H06150010A JP 30262892 A JP30262892 A JP 30262892A JP 30262892 A JP30262892 A JP 30262892A JP H06150010 A JPH06150010 A JP H06150010A
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一弘 鈴木
Yutaka Koshi
裕 越
Setsu Kunitake
節 國武
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功 上澤
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 波形情報、利得情報の両方に対して分析する
ことにより波形の分析精度を向上させること。 【構成】 ブロック抽出部2によって入力された画像が
m×n画素(m,nは正整数)の入力ブロックが抽出さ
れる。続いて、平均値分離部4によって入力ブロックの
平均値が計算されたのちに各画素から平均値を減算する
ことにより、平均値分離ブロックが出力される。この平
均値分離ブロックに対し、波形分析部14では、階調変
化の方向の特徴量を分析する。また、利得分析部20に
おいては、振幅方向の特徴量が分析される。これらの結
果に基づいて領域判定部12で入力ブロックの波形を判
定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、画像信号の形状に基づ
いて、画像の処理あるいは符号化を行う場合の対象画像
の形状を分析する画像信号の分析装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】画像符号化など、画像に対して処理を行
う場合には、対象となる画像の波形の特徴に基づく適応
化手法が有効である。画像信号の波形を効率的に分析す
るための手法が、本出願人により特願平3−20212
9号として出願されている。
【0003】図6は、上記特願平3−202129号明
細書に記載されている方式の構成を示す。図において、
1は入力画像、3はブロック抽出部2によって切り出さ
れたm×n画素(m,nは正整数)の入力ブロック、6
は平均値分離部4によって入力ブロック3の平均値を各
画素から減じた平均値分離ブロック、16は形状分析部
15によって平均値分離ブロック6の波形を分析した結
果である形状インデックス、2は入力画像1からm×n
画素の入力ブロック2を抽出するブロック抽出部、4は
入力ブロック3の平均値を計算し、各画素から平均値を
減じて平均値分離ブロック6を得る平均値分離部、15
は平均値分離ブロックの波形を分析して形状インデック
ス16を出力する形状分析部である。
【0004】以下、動作について説明する。
【0005】ブロック抽出部2では、図7に示すように
入力画像1からm×n画素入力ブロック3が切り出され
る。以降、m×n画素を基本として処理が行われる。
【0006】図6の平均値分離部4は、入力ブロック3
を構成するm×n画素の値Sij(i=1,2,・・・
・,m,j=1,2,・・・・,n)の平均値μを算出
し、その後、入力ブロック3を構成するm×n画素それ
ぞれの画素値から平均値μを減算し、平均値分離された
m×n画素の値Xij(i=1,2,・・・・,m,j=
1,2,・・・・,n)から平均値分離ブロック6を算
出する。ここで、μおよびXijは以下の式で表される。
【0007】
【数1】 図6の形状分析部15は、平均値分離ブロック6の階調
変化の2次元的な方向を分析し、その結果から平均値分
離ブロック6の波形を表す形状インデックス16を出力
する。
【0008】図6の形状分析部15は、例えば図8に示
すように、予め用意された代表的な波形情報を有する代
表ベクトル・セットと、分析対象ブロック(以後分析ブ
ロックと呼ぶ)すなわち平均値分離ブロック6とのパタ
ーン・マッチングにより波形情報分析を行う。波形情報
分析により、分析ブロックの階調変化の方向として形状
インデックス16が得られる。
【0009】m×n画素の分析ブロックをx={xi
i=1,2,...,m×n}、k個の代表ベクトルか
らなる代表ベクトル・セットをY={yi |i=1,
2,...,k}とすると、パタン・マッチングは以下
の式で定義できる。
【0010】d(x,yp )=min{d(x,
i )} (全てのiに対して) (i=1,2,....,k) ここで、d(x,yi )はxとyi との歪み測度であ
り、2乗歪み等で定義される。pは代表ベクトルのイン
デックスすなわち形状インデックス16であり、pの表
す代表ベクトルyp が、分析ブロックに最も近い波形情
報を持つ代表ベクトルとして選択されたことを示してい
る。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】画像の情報としては、
階調変化の方向を示す波形情報と、画素の振幅方向の特
徴を示す利得情報がある。従来技術は、波形情報の分析
の効率化に主眼をおくもので、利得情報については考慮
されていなかった。より詳細な画像信号の分析を行うた
めには、波形情報、利得情報の両方に対して分析するこ
とが望ましい。
【0012】本発明は、上記問題点に鑑み、波形分析手
段に加えて利得分析手段を設けて画像信号の波形の分析
を行うことにより、より詳細な画像信号の分析を行うこ
とを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明に係る画像信号の
分析装置は、画像を標本化し複数の画素からなるm×n
画素(m,nは正整数)の入力ブロックに分割するブロ
ック抽出手段と、前記入力ブロック内の各画素から平均
値を減算する平均値分離手段と、前記平均値分離手段に
よって得られる平均値分離ブロックの階調変化の方向の
特徴量を分析する第1の分析手段と、前記平均値分離ブ
ロックの振幅方向の特徴量を分析する第2の分析手段
と、前記第1の分析手段の分析結果と第2の分析手段の
分析結果に基づいて前記入力ブロックの波形の特徴を判
定する判定手段を備えたことを特徴とする。
【0014】
【作用】本発明においては、まずブロック抽出手段によ
って入力された画像からm×n画素(m,nは正整数)
の入力ブロックが抽出される。続いて、平均値分離手段
によって入力ブロックの平均値が計算されたのちに各画
素から平均値を減算することにより、平均値分離ブロッ
クが出力される。この平均値分離ブロックに対し、第1
の分析手段では、階調変化の方向の特徴量が分析され
る。また、第2の分析手段においては、振幅方向の特徴
量が分析される。これらの結果に基づいて入力ブロック
の波形を判定するため、波形の分析精度が向上する。
【0015】
【実施例】図1は、本発明の実施例の構成を示す図であ
る。図において、図6の従来例と対応する部分には同一
符号を付している。
【0016】図において、1は入力画像、3はブロック
抽出部2によって切り出されたm×n画素(m,nは正
整数)の入力ブロック、6は平均値分離部4によって入
力ブロック3の平均値を各画素から減じた平均値分離ブ
ロック、18は波形分析部14によって平均値分離ブロ
ック6の波形を分析した結果である波形情報、27は利
得分析部20によって平均値分離ブロック6の利得を分
析した結果である利得情報、13は領域判定部12にお
いて波形情報18と利得情報27に基づいて判定された
領域を示す領域情報、2は入力画像1からm×n画素の
入力ブロック2を抽出するブロック抽出部、4は入力ブ
ロック3の平均値を計算し、各画素から平均値を減じて
平均値分離ブロック6を得る平均値分離部、14は平均
値分離ブロック6の波形を分析して波形情報18を出力
する波形分析部、20は平均値分離ブロック6の利得情
報を分析して利得情報27を出力する利得分析部、12
は波形情報18と利得情報27から入力ブロック3の領
域を判定して領域情報13を出力する領域判定部であ
る。
【0017】以下、波形分析に関する動作について説明
する。
【0018】図2は、図1に示す波形分析部14の構成
図である。図において、16は形状分析部15によって
選択された代表ベクトルを表す形状インデックス、18
は波形マッピング・テーブル17が出力する波形情報、
15は代表的な波形情報を有する代表ベクトルのセット
とm×n画素から成るブロックである平均値分離ブロッ
ク6とのパターン・マッチングを行い、最も近い波形情
報を持つ代表ベクトルを選ぶ形状分析部、17は形状イ
ンデックス16から波形情報18を得るための波形マッ
ピング・テーブルである。代表ベクトルのセットは、水
平、垂直、その他の方向をもつ階調変化に対して主成分
分析を行うことによって設計する。代表ベクトルのセッ
トを記憶するメモリの削減のために、パターンマッチン
グは部分ブロックに分割して行われる。例えば、入力ブ
ロック3が8×8のサイズであれば、4×4画素の4つ
の部分ブロックごとにパターンマッチングが行われる。
部分ブロックごとに得られた4つの形状インデックス
は、8×8画素の入力ブロック中の4×4画素ブロック
の2次元の波形の特徴を表している。これらの4つのイ
ンデックスは、波形マッピングテーブル17において8
×8画素ブロック全体の波形を示す情報にマッピングさ
れ、波形情報18として出力される。この時、波形情報
18は、四つの部分ブロックの波形の方向と、方向のば
らつき(複雑度)に基づいて一意に決定される。複雑度
は、四つの部分ブロックの階調変化の方向の一致する比
率を示すものであり、方向が全て一致すれば複雑度は低
く、方向が全て異なる場合には複雑度は高いものとす
る。このように波形情報からは、8×8画素ブロック全
体の波形の方向と、方向のばらつき(複雑度)を知るこ
とができる。
【0019】図3は、図1に示す利得分析部20の構成
図である。図において23は分散算出器22が出力する
分散値、25はヒストグラム計数器24が出力するヒス
トグラム情報、27は利得情報、31は平均値分離ブロ
ック6内の最大値と最小値の比率であるダイナミックレ
ンジ比であり、22は平均値分離ブロック6のm×n画
素の値の分散値を算出する分散算出器、24は平均値分
離ブロック6のm×n画素の値の頻度分布を計数するヒ
ストグラム計数器、30は平均値分離ブロック6内の最
大値と最小値を検出し、最大値と最小値の比率を算出す
る最大最小検出器、26は分散値23、ヒストグラム情
報25、およびダイナミックレンジ比31から利得情報
27を得るための利得マッピング・テーブルである。
【0020】以下、利得分析に関する動作について説明
する。
【0021】図3の利得分析部20は、平均値分離ブロ
ック6の振幅、画素値の頻度分布、最大値と最小値の比
率を分析し、その結果から入力ブロック3が、文字部の
ブロックであるか写真領域のブロックであるかを判定す
る。利得情報分析は、平均値分離ブロック6を構成する
m×n画素の値の分散値σ2 の計算、ヒストグラムの計
数、最大値と最小値の比率によって行われる。
【0022】図3の分散算出器22は、平均値分離ブロ
ック6を構成するm×n画素の値の分散値σ2 すなわち
分散値23を算出する。平均値を分離したm×n画素の
分散値は次式で定義される。
【0023】
【数2】 あるいは、
【数3】 ここでは、以後、分散値σを用いて説明する。
【0024】図3のヒストグラム計数器24は、図4に
示すように、分散値σにより平均値分離ブロック6を閾
値処理して頻度を計数する。すなわち、閾値を±σ/a
に設定し、−σ/a未満、−σ/a以上かつσ/a以
下、σ/aより大きい範囲の3か所で頻度を計数する。
ここでaは0でない正の実数であり、本実施例では、例
えばa=3とする。3か所で計数した頻度値をそれぞれ
-1、H0 、H1 とする。図4に示すように、H-1、H
0 、H1 から、ヒストグラムが単峰分布(同図(a)参
照)かあるいは双峰分布(同図(b)参照)かを判断し
結果をヒストグラム情報25として得る。例えば、H-1
≦H0 かつH0 ≧H1 の場合に単峰分布であり、その他
の場合に双峰分布であると判断する。
【0025】一般的に文字領域の場合には、文字色と背
景色に相当する位置にヒストグラムのピークが現れるこ
とから、双峰分布の場合は文字領域と判定することがで
きる。
【0026】最大最小検出器30では、最大値と最小値
の比率であるダイナミックレンジ比rが次式に基づいて
計算される。
【0027】r=max{xij}/min{xij}, (i=1,・・・,m,j=1,・・・,n). 文字領域において、ブロック境界に文字等のエッジの一
部がかかっている場合には、背景色の画素数と文字色の
画素数が著しく異なるため、分散、ヒストグラムによっ
て判定を誤る場合がある。ダイナミックレンジ比rを導
入することにより、rが大きい場合には、ブロック境界
に文字等のエッジの一部がかかっていると判定される。
これにより写真領域との判定誤りを回避できる。
【0028】図3の利得マッピング・テーブル26は、
分散値23、ヒストグラム情報25、およびダイナミッ
クレンジ比31から、文字領域、写真領域の識別結果で
ある利得情報27を得る。
【0029】図5に利得マッピング・テーブル26にお
ける領域判定の木構造の例を示す。それぞれの節におい
て、ヒストグラム情報25、分散値23、およびダイナ
ミックレンジ比31に対して閾値処理を行い、分岐の判
定を行う。すなわち、ヒストグラムが双峰の分布を示す
場合には文字と判定し、ヒストグラムが単峰の分布でブ
ロック内分散が大と判定された場合には、写真領域と判
定する。ヒストグラムが単峰の分布であり、ブロック内
の分散が小と判定された場合には、更にダイナミックレ
ンジの比の大小により、文字と写真領域とを区別する。
判定基準となる各節での閾値は、入力される画像の特性
に対して設定する。なお、ここでは、ヒストグラム情報
25、分散値23、およびダイナミックレンジ比31の
それぞれを単一の閾値で判定する場合について説明した
が、閾値の数はこれに限るものではない。したがって、
各節での分岐の数も2に限定されるものではなく、さら
に多くの分岐を持つ木構造を構成することも可能であ
る。
【0030】利得分析部20で得られた利得情報27
は、先に説明した波形分析部14からの波形情報18と
ともに図1の領域判定部12に供給される。
【0031】領域判定部12では、上述した波形分析と
利得分析の結果である波形情報18と利得情報27から
領域情報13を決定する。
【0032】領域情報13は、文字領域、写真領域の区
別を表す情報と、それぞれの領域での階調変化の方向と
階調変化のばらつきを示す情報から構成される。
【0033】
【発明の効果】以上述べたように、波形分析手段に加え
て利得情報を分析する手段を備えたことにより、単に階
調変化の方向の特徴だけでなく、振幅方向の特徴につい
ても分析が可能となる。これにより、画像信号をより詳
細に分析できるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例の構成図である。
【図2】 波形分析部の構成図である。
【図3】 利得分析部の構成図である。
【図4】 利得情報分析の説明図である。
【図5】 領域分離の判定の木構造を示す説明図であ
る。
【図6】 従来例の構成図である。
【図7】 ブロック抽出の説明図である。
【図8】 波形情報分析の説明図である。
【符号の説明】
1…入力画像、2…ブロック抽出部、3…入力ブロッ
ク、4…平均値分離部、6…平均値分離ブロック、12
…領域判定部、13…領域情報、14…波形分析部、1
5…形状分析部、16…形状インデックス、17…波形
マッピング・テーブル、18…波形情報、20…利得分
析部、22…分散算出器、23…分散値、24…ヒスト
グラム計数器、25…ヒストグラム情報、26…利得マ
ッピング・テーブル、27…利得情報、30…最大最小
検出器、31…ダイナミックレンジ比
フロントページの続き (72)発明者 上澤 功 神奈川県海老名市本郷2274番地富士ゼロッ クス株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画像を標本化し複数の画素からなるm×
    n画素(m,nは正整数)の入力ブロックに分割するブ
    ロック抽出手段と、前記入力ブロック内の各画素から平
    均値を減算する平均値分離手段と、前記平均値分離手段
    によって得られる平均値分離ブロックの階調変化の方向
    の特徴量を分析する第1の分析手段と、前記平均値分離
    ブロックの振幅方向の特徴量を分析する第2の分析手段
    と、前記第1の分析手段の分析結果と第2の分析手段の
    分析結果に基づいて前記入力ブロックの波形の特徴を判
    定する判定手段を備えたことを特徴とする画像信号の分
    析装置。
  2. 【請求項2】 前記第1の分析手段が、予め求めたm×
    n画素(m,nは正整数)、あるいは、その正整数比j
    (jは正整数)で分割した画素からなる複数の代表形状
    のブロックの組のそれぞれと前記平均値分離ブロックと
    の近似度を求め、最も近似度の高い代表形状ブロックの
    インデックス、あるいは、j個に分割されたブロックご
    との最も近似度の高い代表形状のブロックのインデック
    スの組を前記入力ブロックの階調変化の方向の第1の特
    徴量とし、少なくとも前記インデックス、あるいは得ら
    れたj個のインデックスの組が互いに一致する比率を前
    記平均値分離ブロックの形状の複雑度を示すパラメータ
    とし、この複雑度を前記階調変化の方向の第2の特徴量
    とするものである請求項1に記載の画像信号の分析装
    置。
  3. 【請求項3】 前記第2の分析手段が、前記平均値分離
    ブロック内の各画素値の二乗平均値、あるいは、絶対値
    を平均した値を前記入力ブロックの分散値とし、この分
    散値を1種以上の閾値と比較した結果を前記振幅方向の
    第1の特徴量とし、前記平均値分離ブロック内の各画素
    値の累積頻度分布を求め、この累積頻度分布の形状をあ
    らかじめ設定した単一あるいは複数の正規化された分布
    を前記分散値に対応して補正したのち比較し、一致した
    あるいは最も近い分布のインデックスを前記振幅方向の
    第2の特徴量とするものである請求項1に記載の画像信
    号の分析装置。
  4. 【請求項4】 前記第2の分析手段が、前記平均値分離
    ブロック内の最大値と最小値を検出し、最大値と最小値
    の比率を計算し、この比率を1種以上の閾値と比較した
    結果を前記振幅方向の第3の特徴量とする手段を更に含
    んでいる請求項3に記載の画像信号の分析装置。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60177782A (ja) * 1984-02-23 1985-09-11 Mitsubishi Electric Corp ダイナミツク多段ベクトル量子化器
JPS6276992A (ja) * 1985-09-30 1987-04-09 Mitsubishi Electric Corp ベクトル量子化器

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