JPH06150031A - Cpuモジュール - Google Patents

Cpuモジュール

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JPH06150031A
JPH06150031A JP4316614A JP31661492A JPH06150031A JP H06150031 A JPH06150031 A JP H06150031A JP 4316614 A JP4316614 A JP 4316614A JP 31661492 A JP31661492 A JP 31661492A JP H06150031 A JPH06150031 A JP H06150031A
Authority
JP
Japan
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cache memory
substrate
wiring
cpu module
cpu
Prior art date
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Pending
Application number
JP4316614A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Takemura
浩一 竹村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH06150031A publication Critical patent/JPH06150031A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/072Connecting or disconnecting of bump connectors
    • H10W72/07251Connecting or disconnecting of bump connectors characterised by changes in properties of the bump connectors during connecting
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/20Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps

Landscapes

  • Microcomputers (AREA)
  • Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 少なくともマイクロプロセッサとキャッシュ
・メモリを含むCPUモジュールにおいて、高速動作に
対応した、キャッシュ容量が大きく、小型、かつ高密度
のCPUモジュールを提供する。 【構成】 パッケージされていないCPU3,FPU4
等を絶縁層に低誘電率材料を用いた多層配線2を介し
て、パッケージされていないキャッシュ・メモリ1上に
3次元的に配置し、そのモジュールを一つのパッケージ
に収納する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロプロセッサ及
び周辺デバイスが同一基板上に実装されたCPUモジュ
ールに関し、特に40MHz以上の高速動作のシステム
に用いるCPUモジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】上方処理システムの中心となるマイクロ
プロセッサは、その動作周波数の向上や新アーキテクチ
ャの採用などにより、飛躍的にデータ処理能力の向上が
実現されている。特に、RISCアーキテクチャは、高
周波への対応が容易なために、近年、同アーキテクチャ
を採用したマイクロプロセッサが多く開発されている。
【0003】このようなマイクロプロセッサの高速化に
対して、これらを用いたシステムでは、ノイズ対策やタ
イミング調整などプロセッサ周辺の設計や実装が困難と
なってきている。そのために、マイクロプロセッサと周
辺デバイスとをモジュール化し、配線長や負荷容量など
を正確に見積もって設計されたプリント基板上に実装し
たCPUモジュールが開発されている。図4と図5はR
ISCアーキテクチャを採用したマイクロプロセッサを
実装したCPUモジュールの例である。
【0004】図4において、7はPGAタイプのCPU
(中央演算処理装置)パッケージ、8はコネクタ、9は
キャッシュ・メモリ・パッケージ、10はプリント配線
基板である。プリント配線基板にコネクタや半田付けで
各チップのパッケージを実装している。
【0005】図5において、9はキャッシュ・メモリ・
パッケージ、10はプリント配線基板、11はQFPタ
イプのCPUパッケージ、12はFPU(浮動小数点演
算処理装置)パッケージである。プリント配線基板の両
面に各パッケージを配置し、実装密度を向上させてい
る。典型的なモジュールの大きさは、キャッシュ容量が
命令64Kバイト+データ64Kバイトの場合で112
mm×165mm程度である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】これらプリント配線基
板10上に個々のパッケージされたデバイス9,11,
12を実装する図4及び図5に示した従来のCPUモジ
ュールでは、必然的にモジュールの堆積は大きくなり、
それにとも内デバイス間の配線長も大きくなる。また、
チップとパッケージ,パッケージとプリント配線基板と
いったモジュール内部の接続には、ボンディング・ワイ
ヤ,I/Oピン,リードフレーム等が用いられる。これ
らの点は、特に高周波領域では、配線長や接続部での寄
生容量の増加などのために遅延時間の増加や信号波形の
歪みなどがCPUの高速動作を妨げるという不都合が生
じる。
【0007】一方、マイクロプロセッサの高周波化に伴
い、そこからの発熱量は増大してゆくために、マイクロ
プロセッサのパッケージを大型化して熱放散経路を確保
する必要が生じる。そのうえシステムの高速化に対して
キャッシュ・メモリ容量を増加することは、モジュール
の小型化を妨げる不都合が生じる。
【0008】また、従来のCPUモジュールを用いて情
報処理システムを組み立てる場合、メイン・メモリ等が
実装されるマザー・ボードには、コネクタを介して接続
されるために、他のパッケージと一括して接続すること
ができず、製造工程を増加させる生産上の不都合も生じ
る。
【0009】本発明の目的は、従来のCPUモジュール
の欠点を除去し、高周波動作のマイクロプロセッサ,大
容量のキャッシュ・メモリを実装した40MHz以上の
高速動作に対応した小型のモジュール構造を実現するこ
とを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係るCPUモジュールは、基板と、マイク
ロプロセッサとを有するCPUモジュールであって、基
板は、キャッシュ・メモリが内蔵されたシリコン・ウェ
ハーであり、マイクロプロセッサは、少なくともCPU
(中央演算処理装置),FPU(浮動小数点演算処理装
置)を含み、配線を介して基板の能動層側に実装され、
基板内のキャッシュ・メモリに電気的に接続されたもの
である。
【0011】また、基板と、マイクロプロセッサとを有
するCPUモジュールであって、基板は、少なくともキ
ャッシュ・メモリ・チップを含む複数個の半導体チップ
を他の基材と一体化したものであり、マイクロプロセッ
サは、少なくともCPU(中央演算処理装置),FPU
(浮動小数点演算処理装置)を含み、配線を介して基板
の能動層側に実装され、基板内のキャッシュ・メモリに
電気的に接続されたものである。
【0012】また、前記キャッシュ・メモリとプロセッ
サを接続する配線は、同一配線層内の一部を切断して、
基板内の任意のキャッシュ・メモリをプロセッサから電
気的に切り離すものである。
【0013】また、前記キャッシュ・メモリとプロセッ
サを接続する配線は、同一配線層内で予め接続されてお
らず、その一部を選択的に接続して、基板内のキャッシ
ュ・メモリとプロセッサとを電気的に接続するものであ
る。
【0014】また、前記キャッシュ・メモリとプロセッ
サを接続する配線は、Cu或いはAu或いはAl及びA
l−Si合金を主たる導体層とする配線層と、ポリイミ
ド或いは誘電率が4以下のポリマーの絶縁層とを多層に
積層した多層配線である。
【0015】また、前記基板内に内蔵され、或いは一体
化されるキャッシュ・メモリは、強誘電体の分極反転を
利用した不揮発性メモリである。
【0016】
【作用】パッケージされていないマイクロプロセッサを
絶縁層に低誘電率材料を用いた多層配線を介して、パッ
ケージされていないキャッシュ・メモリ上に3次元的に
配置してある。このため、モジュールの面積は実質的に
キャッシュ・メモリ・チップの面積の和とほぼ等しくな
り、モジュールの大幅な小型化が実現すると同時に、配
線長の短縮,接続点数の減少が実現される。
【0017】
【実施例】以下、本発明の実施例を図により説明する。
図1は、本発明を命令128Kバイト+データ128K
バイトのキャッシュ・システムのR3000CPUモジ
ュールに適用した例である。図1において、キャッシュ
・メモリ(NEC製μPD46710)1として、ダイ
シング前のウェハーから6個×4個づつ切り取ったメモ
リ・チップ・アレイが内蔵されたシリコン・ウェハー1
3を用い、その上にCu/ポリイミド多層配線2を形成
し基板とする。ポリイミドは、原料に感光基が含まれた
材料を用い、直接に露光,現像を行い、ビア・ホールを
あける。ポリイミド絶縁層の厚さは、約30μmであ
る。尚、ポリイミドに代えて誘電率が4以下のポリマー
を用いてもよい。配線層のCuとポリイミドの間には、
密着性を良くするために、100nm程度のCu層をス
パッタ法で形成する。尚、Cuに代えてAu或いはAl
及びAl−Si合金を用いてもよい。基板上には、CP
U(NEC製μPD30310)3とFPU(NEC製
μPD30311)4を半田バンプ5を介して、他のチ
ップはTABリードを介して基板に実装されて電気的に
接続されている。
【0018】図2は図1に示した実施例におけるCPU
3とキャッシュ・メモリ1との接続例である。本適用例
では、前述の容量の2倍に相当する接続配線を左右がほ
ぼ対称となるように、しかもバスからメモリ・チップへ
の各配線の一部が必ず最上配線層を経由するように形成
する。そして、マイクロプロセッサ実装前に所定のキャ
ッシュ容量となるようにバスから不良のメモリ・チップ
への配線のうち、最上配線層に形成された部分を切断6
する。切断方法は、切断しない部分をレジストでマスク
した後に、塩化第二銅エッチング液で所定の配線部をエ
ッチングし、更に酸素プラズマでアッシングを行い、レ
ジストを剥離してから最後に最上絶縁保護層を形成す
る。
【0019】本実施例では、配線を形成した後に不必要
な配線をウェット・エッチングにより切断したが、レー
ザ光やイオンビームを用いた切断や、予め各バスからキ
ャッシュ・メモリへは接続せず、基板作製後に例えばレ
ーザCVD法で必要な部分を接続する方法においても、
同様の効果が得られることは明かである。
【0020】本実施例の場合、ダイシング前のメモリ・
チップ・アレイを基板とするので、従来例の4倍のチッ
プ数のメモリを内蔵しながら、基板の大きさは約55m
m×50mmに収まり、しかもマイクロプロセッサ等の
メモリ以外の素子は、基板上にキャッシュ・メモリに対
して3次元的に実装されるために基板の外形がモジュー
ルの外形とほぼ等しくなり、従来の2倍のキャッシュ・
メモリの大容量化を達成すると同時に、大きさは、従来
の1/6以下という大幅な小型化,高密度化が実現され
ている。
【0021】本実施例では、モジュールの大きさは、従
来例のCPUのパッケージの大きさよりわずかに大き
い。CPUのパッケージの外形は、発熱量,冷却システ
ムによって制限されるある一定の大きさが必要であるか
ら、CPUの高速化が進みキャッシュ・メモリの実装容
量が増加すれば、一層本発明の適用による小型化の効果
は顕著になる。
【0022】更に、製造工程においては、多層配線形成
後にウェハーからダイシングすれば良いので、個別にパ
ッケージする工程が省略される。また、既存のシステム
に適用する場合、専用のキャッシュ・メモリを新たに設
計,製作する必要はなく、接続配線のみを設計すれば良
く配線遅延分を効率的に高速化することが可能となる。
【0023】図3は、強誘電体Pb(Ti,Zr)O3
を利用した不揮発性メモリ16をキャッシュ・メモリと
して用いて、本発明を命令64Kバイト+データ64K
バイトのキャッシュ・システムのCPUモジュールに適
用した例である。Siベース14上にSiウェハーを格
子状に4×3個のテーパがついた穴を開けたフレーム1
5とキャッシュ・メモリ16とを接着し、その隙間をエ
ポキシ樹脂17で埋めて平坦化する。その上に図1に示
した実施例と同様にポリイミド絶縁層18及び配線層1
9からなるCu/ポリイミド多層配線を形成し、上部に
CPU3を半田バンプ5を介して接続する。
【0024】本実施例の大きさは、約70mm×75m
mであり、この不揮発性メモリは、従来のSRAMと比
較して集積度が低く16Kバイトであるが、本発明を適
用することで実質的にこの困難を克服できる。
【0025】また、一般にキャッシュ・メモリの歩留り
が悪い場合、従来通り1チップづつウェハーからダイシ
ングした後に性能が確認されたチップのみを本実施例の
ように別の基板,基材に樹脂による埋め込み等で一体化
させれば、生産性良く同様な効果が得られることは明か
である。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、従
来の製造プロセスよりも容易に高速動作のCPUモジュ
ールを作製することが可能となり、しかも高周波数動作
のマイクロプロセッサや大容量のキャッシュ・メモリな
どを1つのパッケージに収めるために、情報処理システ
ムの組立も一層容易となり、生産性も著しく向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明をRISC型CPUモジュールに適用し
た例の断面図である。
【図2】図1に示した本発明適用例のCPUとキャッシ
ュ・メモリとを結ぶ配線の模式図である。
【図3】キャッシュ・メモリ・チップを樹脂で一体化し
たものを基板とした場合の実施例を示す断面図である。
【図4】従来例のCPUモジュールを示す断面図であ
る。
【図5】従来例のCPUモジュールを示す断面図であ
る。
【符号の説明】
1 キャッシュ・メモリ(NEC製μPD46710) 2 Cu/ポリイミド多層配線 3 CPU(NEC製μPD30310) 4 FPU(NEC製μPD30311) 5 半田バンプ 6 配線の切断箇所 7 PGAタイプのCPUパッケージ 8 コネクタ 9 キャッシュ・メモリ・パッケージ 10 プリント配線基板 11 QFPタイプのCPUパッケージ 12 FPUパッケージ 13 シリコン・ウェハー 14 Siベース 15 フレーム 16 強誘電体を利用した不揮発性メモリ 17 エポキシ樹脂 18 ポリイミド絶縁層 19 配線層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11C 11/401 H01L 25/065 25/07 25/18

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板と、マイクロプロセッサとを有する
    CPUモジュールであって、 基板は、キャッシュ・メモリが内蔵されたシリコン・ウ
    ェハーであり、 マイクロプロセッサは、少なくともCPU(中央演算処
    理装置),FPU(浮動小数点演算処理装置)を含み、
    配線を介して基板の能動層側に実装され、基板内のキャ
    ッシュ・メモリに電気的に接続されたものであることを
    特徴とするCPUモジュール。
  2. 【請求項2】 基板と、マイクロプロセッサとを有する
    CPUモジュールであって、 基板は、少なくともキャッシュ・メモリ・チップを含む
    複数個の半導体チップを他の基材と一体化したものであ
    り、 マイクロプロセッサは、少なくともCPU(中央演算処
    理装置),FPU(浮動小数点演算処理装置)を含み、
    配線を介して基板の能動層側に実装され、基板内のキャ
    ッシュ・メモリに電気的に接続されたものであることを
    特徴とするCPUモジュール。
  3. 【請求項3】 請求項1、又は請求項2に記載のCPU
    モジュールであって、 前記キャッシュ・メモリとプロセッサを接続する配線
    は、同一配線層内の一部を切断して、基板内の任意のキ
    ャッシュ・メモリをプロセッサから電気的に切り離すも
    のであることを特徴とするCPUモジュール。
  4. 【請求項4】 請求項1、又は請求項2に記載のCPU
    モジュールであって、 前記キャッシュ・メモリとプロセッサを接続する配線
    は、同一配線層内で予め接続されておらず、その一部を
    選択的に接続して、基板内のキャッシュ・メモリとプロ
    セッサとを電気的に接続するものであることを特徴とす
    るCPUモジュール。
  5. 【請求項5】 請求項1,請求項2,請求項3、又は請
    求項4に記載のCPUモジュールであって、 前記キャッシュ・メモリとプロセッサを接続する配線
    は、Cu或いはAu或いはAl及びAl−Si合金を主
    たる導体層とする配線層と、ポリイミド或いは誘電率が
    4以下のポリマーの絶縁層とを多層に積層した多層配線
    であることを特徴とするCPUモジュール。
  6. 【請求項6】 請求項1,請求項2,請求項3,請求項
    4、又は請求項5に記載のCPUモジュールであって、 前記基板内に内蔵され、或いは一体化されるキャッシュ
    ・メモリは、強誘電体の分極反転を利用した不揮発性メ
    モリであることを特徴とするCPUモジュール。
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